CN217687540U - 探测器缺陷像元的检测系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种探测器缺陷像元的检测系统，其中检测探测器缺陷像元的系统，包括辐照源、衰减片架与衰减片；辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置；衰减片架位于辐照源与探测器之间；辐照源用于辐射光子供探测器探测，辐照源的辐照端为辐照源向外辐射光子的一端，探测器的探测端为探测器接收光子的一端；衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。本实用新型通过衰减片架，可以实现不改变辐照源本身的情形下，改变辐照源辐射向探测器的能量，使得变量的控制更为精准，从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体光电子技术领域，尤其涉及一种探测器缺陷像元的检测系统。
背景技术
现有的探测器可以将探测到的光信号转换成电信号，经过探测器转换得到的电信号在经过图像处理后便可以投射到屏幕进行成像，也可传输至特定的接收装置，从而针对接收到的图像进行反馈，在生产、军事、医疗以及各种领域当中均发挥着巨大的作用。在探测器的生产与使用中，需要检测探测器中是否存在缺陷像元以及缺陷像元的数量，由于在不同的使用场景中对探测器像元的精度有着不同的需求，因此，对缺陷像元的检测标准也就存在着不同。在现有的缺陷像元检测方法中，同一检测系统仅能对一种检测标准下的探测器进行检测，因此在需要对一个探测器的不同标准进行检测时，需要频繁更换检测系统，很不便捷，且由于不同设备之间的其他参数不能做到完全的统一，检测结果的准确性也比较低。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中对一个探测器的不同标准进行检测时，不便捷且检测结果的准确性低的缺陷，提供一种探测器缺陷像元的检测系统。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
本实用新型提供一种探测器缺陷像元的检测系统，包括辐照源、衰减片架与衰减片；
所述辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置；
所述衰减片架位于所述辐照源与所述探测器之间；
所述辐照源用于辐射光子供所述探测器探测，所述辐照源的辐照端为所述辐照源向外辐射光子的一端，所述探测器的探测端为所述探测器接收光子的一端；
所述衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。
较佳地，还包括测试电子模块与第一传动系统；
所述第一传统系统用于将衰减片传送至所述衰减片架上；
所述测试电子模块与所述第一传动系统电连接；
所述测试电子模块驱动所述第一传动系统以传送衰减片至所述衰减片架。
较佳地，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；
所述测试电子模块与所述第二传动系统电连接；
所述测试工装模块与探测器可拆卸连接；
所述测试工装模块与所述旋转固定平台固定连接；
所述测试电子模块用于驱动所述第二传动系统以带动所述旋转固定平台旋转所述测试工装模块。
较佳地，所述测试工装模块包括锁紧插座；
所述锁紧插座设置于所述测试工装模块内；
所述锁紧插座用于放置所述探测器。
较佳地，所述测试工装模块包括遮光盒；
所述探测器位于所述遮光盒中。
较佳地，所述辐照源为黑体辐照源。
较佳地，所述衰减片为中性密度衰减片。
较佳地，所述测试电子模块还包括电源与时序输入接口；
所述电源与所述时序输入接口分别与探测器电连接，用于为所述探测器提供电压与脉冲。
较佳地，所述测试电子模块还包括处理器与上位机；
所述处理器分别与所述上位机、探测器电连接，所述处理器用于中转所述上位机与探测器之间的电信号。
较佳地，所述处理器还分别与第一传动系统、第二传动系统电连接，所述处理器用于接收所述上位机的指令以驱动所述第一传动系统、所述第二传动系统。
本实用新型的积极进步效果在于：通过衰减片架，可以实现不改变辐照源本身的情形下，改变辐照源辐射向探测器的能量，使得变量的控制更为精准，从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度；通过电子模块与传动系统实现对衰减片的便捷更换，也可便捷且精确的改变探测器与辐照源之间的角度，从而使缺陷像元检测系统更为方便操作，且具备更多方面的检测功能。
附图说明
图1为本实用新型较佳实施例的探测器缺陷像元的检测系统的结构示意图。
具体实施方式
下面通过较佳实施例的方式进一步说明本实用新型，但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。
本实施例提供一种探测器缺陷像元的检测系统，参照图1，该检测系统包括辐照源6、衰减片架3、衰减片31、测试电子模块4、旋转固定平台1、测试工装模块2、第一传动系统51、第二传动系统52。
将探测器与辐照源6对应放置，使探测器的探测端可以稳定地对辐照源6的辐照端进行探测。辐照源6为黑体辐照源，用于辐射光子供探测器探测，辐照源6的辐照端为辐照源6向外辐射光子的一端。探测器可为光电探测器，用于将光信号转换为电信号，探测器包括若干像元，本系统即用于检测探测器的缺陷像元。
将衰减片架3设置于探测器与辐照源6之间，衰减片架3为可更换镜片的镜架，衰减片架3用于将衰减片31固定于辐照源6与探测器之间，衰减片31为具备一定滤光性的镜片，可为中性密度滤光镜，用于衰减辐照源的光线。
测试工装模块2与旋转固定平台1固定连接，测试工装模块2与探测器的型号相适配，测试工装模块2与探测器可拆卸连接。旋转固定平台1可旋转测试工装模块2。
测试工装模块2包括遮光盒与固定工装，遮光盒可为经过阳极氧化工艺的金属板所构成的方形盒子，固定工装位于遮光盒中以避免部分辐照源外的杂散辐照对测试造成影响，且遮光盒留有一面空窗用于放置固定工装，且遮光盒的一侧留有线路传输的窗口。固定工装用于固定安装探测器，且固定工装与探测器可拆卸连接。
固定工装包括锁紧插座，锁紧插座用于放置探测器。
测试电子模块4包括电路板与电子学板，电路板设置于测试工装模块2，电路板包括电源与时序输入接口，电源与时序输入接口皆与探测器电连接，电源与时序输入接口分别用于为探测器提供正常工作所必要的电压与脉冲。且电路板与电子学板电连接，电子学板可用于接收探测器的输出信号。
电子学板包括差分芯片，差分芯片设置于测试电子模块的输入接口，当测试电子模块4采集到探测器的输出信号时，首先进入差分芯片完成减法运算，一定程度上减少信号传输需要的带宽以及仓储空间。
电子学板还包括处理器与上位机，处理器与差分芯片的输出端电连接，处理器还与上位机电连接，处理器用于中转差分芯片与上位机之间的电信号。
处理器还分别与第一传动系统51及第二传动系统52电连接，第一传动系统51与衰减片架3电连接，第二传动系统52与旋转固定平台1电连接。上位机可向处理器发送驱动第一传动系统51或第二传动系统52的控制指令，处理器接收控制指令后，驱动第一传动系统51以传送指定衰减片31至衰减片架3，从而达到改变衰减片31滤光性的效果；或驱动第二传动系统52以带动旋转固定平台1旋转测试工装模块2。
本实施例通过衰减片架3，可以实现不改变辐照源6本身的情形下，改变辐照源6射向探测器的能量，使得变量的控制更为精准，从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度；通过测试电子模块4与第一传动系统51及第二传动系统52实现对衰减片31的便捷更换，也可便捷且精确的改变探测器与辐照源6之间的角度，从而使缺陷像元检测系统更为方便操作，且具备更多方面的检测功能。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，包括辐照源、衰减片架与衰减片；
所述辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置；
所述衰减片架位于所述辐照源与所述探测器之间；
所述辐照源用于辐射光子供所述探测器探测，所述辐照源的辐照端为所述辐照源向外辐射光子的一端，所述探测器的探测端为所述探测器接收光子的一端；
所述衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。
2.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块与第一传动系统；
所述第一传动系统用于将衰减片传送至所述衰减片架上；
所述测试电子模块与所述第一传动系统电连接；
所述测试电子模块驱动所述第一传动系统以传送衰减片至所述衰减片架。
3.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；
所述测试电子模块与所述第二传动系统电连接；
所述测试工装模块与探测器可拆卸连接；
所述测试工装模块与所述旋转固定平台固定连接；
所述测试电子模块用于驱动所述第二传动系统以带动所述旋转固定平台旋转所述测试工装模块。
4.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括锁紧插座；
所述锁紧插座设置于所述测试工装模块内；
所述锁紧插座用于放置所述探测器。
5.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括遮光盒；
所述探测器位于所述遮光盒中。
6.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述辐照源为黑体辐照源。
7.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述衰减片为中性密度衰减片。
8.如权利要求2或权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试电子模块还包括电源与时序输入接口；
所述电源与所述时序输入接口分别与探测器电连接，用于为所述探测器提供电压与脉冲。
9.如权利要求2或权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试电子模块还包括处理器与上位机；
所述处理器分别与所述上位机、探测器电连接，所述处理器用于中转所述上位机与探测器之间的电信号。
10.如权利要求9所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述处理器还分别与第一传动系统、第二传动系统电连接，所述处理器用于接收所述上位机的指令以驱动所述第一传动系统、所述第二传动系统。
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