CN110017970A - 激光巴条检测系统 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种激光巴条检测系统。激光巴条检测系统包括光接收装置、图像采集装置、控制装置、位置调整装置和检测装置。控制装置控制图像采集装置采集激光巴条的表面图像。控制装置根据表面图像判断激光巴条的表面的光洁度是否合格。控制装置根据判断结果确定是否发出位置指令。所述激光巴条检测系统对激光巴条进行初次筛选，筛选出表面图像的光洁度合格的激光巴条。控制装置控制位置调整装置自动将激光巴条移动至光电检测工位。控制装置通过检测装置采集单管的发光功率信号和光谱信号，并判断单管的发光功率和光谱是否合格。激光巴条检测系统通过初次筛选和自动移位，节约了激光巴条的检测时间，提高了激光巴条的大批量筛选效率。
Description
技术领域
本申请涉及检测技术领域，特别是涉及一种激光巴条检测系统。
背景技术
半导体激光器及其阵列因其体积小、重量轻、效率高、成本低等优点已经在工业、医疗、通信、军事等诸多领域获得了广泛的应用。激光巴条是激光器阵列的基本组成单元，既可以单独应用，也可进一步组成线阵和叠阵。半导体激光器封装有巴条封装和单管封装。激光巴条封装由多个边缘发光的激光单管并排封装组成。
激光巴条在出厂之前需要对每个激光单管的进行表面检测和光电检测，筛选出合格的激光巴条。怎样提高从大批量激光巴条中的筛选出合格产品的效率是亟待解决的问题。
发明内容
基于此，有必要针对怎样提高从大批量激光巴条中的筛选出合格产品的效率的问题，提供一种激光巴条检测系统。
一种激光巴条检测系统，所述激光巴条包括多个并排排布的单管。所述激光巴条检测系统包括光接收装置、图像采集装置、控制装置、位置调整装置和检测装置。
所述图像采集装置用于采集所述激光巴条的表面图像。所述控制装置与所述图像采集装置电连接，用于控制所述图像采集装置采集所述表面图像。所述控制装置根据所述表面图像判断所述激光巴条表面的光洁度是否合格。所述控制装置根据判断结果确定是否发出位置指令。所述位置调整装置与所述控制装置电连接。所述位置调整装置用于根据所述位置指令将所述激光巴条移动至光电检测工位，以使所述控制装置与所述多个单管电连接。
所述控制装置用于控制所述多个单管选择性发射激光，并使得所述激光摄入所述光接收装置。所述检测装置与所述光接收装置电连接，用于根据所述激光生成所述单管的发光功率信号和光谱信号。所述控制装置与所述检测装置电连接，用于根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管的发光功率和光谱是否合格。
在一个实施例中，所述检测装置包括功率检测装置。所述功率检测装置设置于所述光接收装置，用于根据所述激光生成所述单管的所述发光功率信号。所述控制装置与所述功率检测装置电连接，用于采集所述发光功率信号。
在一个实施例中，所述检测装置还包括光谱检测装置。所述光谱检测装置电连接于所述光接收装置和所述控制装置之间，用于根据所述激光生成所述单管的所述光谱信号，并将所述光谱信号输送给所述控制装置。
在一个实施例中，所述光接收装置包括入射口。所述激光巴条检测系统还包括负极板、限位装置、正极固定板和探针阵列。
所述负极板用于与所述单管的负极接触。所述限位装置设置于所述负极板，并形成所述光电检测工位，用于限定所述激光巴条，以使所述激光巴条的发光面与所述入射口相对设置。所述正极固定板可拆卸设置于所述负极板。所述探针阵列设置于所述正极固定板。所述探针阵列包括多个探针。所述多个探针用于与所述多个单管的正极一一对应接触。所述控制装置与所述负极板和所述多个探针电连接，用于选择性导通所述多个探针中的一个，使与所述探针接触的所述单管发射激光。
在一个实施例中，所述激光巴条包括第一表面、第二表面和第三表面，所述第一表面与所述第三表面相对设置。所述第二表面设置于所述第一表面和所述第三表面之间，且与所述第一表面和所述第三表面连接。所述图像采集装置具有第一采集口、第二采集口和第三采集口。所述控制装置用于控制所述图像采集装置的所述第一采集口采集所述第一表面的第一图像，根据所述第一图像生成位置信息。所述位置调整装置用于接收所述位置信息。所述位置调整装置根据所述位置信息将所述激光巴条从第一工位移动到第二工位，以使所述第二采集口采集所述第二表面的第二图像，所述第三采集口采集所述第三表面的第三图像。
在一个实施例中，所述位置调整装置包括驱动装置。所述驱动装置与所述控制装置电连接。所述控制装置用于根据所述位置信息通过控制所述驱动装置将所述激光巴条从第一工位移动到第二工位，以使所述第二采集口采集所述第二图像，所述第三采集口采集所述第三图像。所述控制装置还用于根据所述位置指令将所述激光巴条由所述第二工位移动至所述光电检测工位。
在一个实施例中，所述位置调整装置还包括信号处理装置。所述信号处理装置电连接于所述控制装置与所述驱动装置之间。所述信号处理装置用于接收所述位置信息，并将所述位置信息转换为第一电流信号。所述驱动装置根据所述第一电流信号将所述激光巴条从所述第一工位移动到所述第二工位。
所述信号处理装置还用于接收所述位置指令，并将所述位置指令转换为第二电流信号。所述驱动装置根据所述第二电流信号将所述激光巴条从所述第二工位移动到所述光电检测工位。
在一个实施例中，所述激光巴条检测系统还包括吸附装置。所述吸附装置固定于所述驱动装置，所述吸附装置与所述控制装置电连接，用于根据所述位置信息吸附所述激光巴条。
在一个实施例中，所述激光巴条检测系统还包括工作台和反射镜。所述工作台开设第一通孔，所述第二工位正对所述第一通孔的中心。所述反射镜设置于所述工作台背离所述第二工位的一侧。所述反射镜正对所述第一通孔，且与所述工作台成45°角，所述第三采集口通过反射镜采集所述第三表面的所述第三图像。
一种激光巴条检测系统的控制方法，所述激光巴条包括多个并排排布的单管，所述控制方法包括：
控制装置控制图像采集装置采集所述单管的表面图像，并根据所述表面图像判断所述单管表面的光洁度是否合格，若所述单管表面的光洁度合格，所述控制装置发出位置指令。
位置调整装置根据所述位置指令将所述激光巴条移动至光电检测工位，以使所述控制装置与所述多个单管电连接。
所述控制装置控制所述多个单管选择性发射激光，所述激光摄入所述光接收装置，所述光接收装置对所述激光进行均匀化处理，并将所述激光输送给所述检测装置。
检测装置根据所述激光生成发光功率信号和光谱信号，并将所述发光功率信号和所述光谱信号传输给所述控制装置，所述控制装置根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管的发光功率和光谱是否合格。
本申请提供的所述激光巴条检测系统，包括光接收装置、图像采集装置、控制装置、位置调整装置和检测装置。所述控制装置与所述图像采集装置电连接，用于控制所述图像采集装置采集所述激光巴条的表面图像。所述控制装置根据所述表面图像判断所述激光巴条的表面的光洁度是否合格。所述控制装置根据判断结果确定是否发出位置指令。所述激光巴条检测系统通过所述控制装置和所述图像采集装置，对所述激光巴条进行初次筛选，筛选出光洁度合格的所述激光巴条。所述控制装置控制所述位置调整装置自动将所述激光巴条移动至光电检测工位，以通过所述检测装置对所述单管的发光功率和光谱进行检测。所述控制装置与所述检测装置电连接，用于采集所述单管的发光功率信号和光谱信号，并判断所述单管的发光功率和光谱是否合格。所述激光巴条检测系统通过初次筛选和自动移位，节约了所述激光巴条的检测时间，提高了所述激光巴条的大批量筛选效率。
附图说明
图1为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条的结构示意图；
图2为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的电连接示意图；
图3为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的结构示意图；
图4为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的表面检测部分结构的结构示意图；
图5为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的局部A的结构示意图；
图6为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的部分结构示意图；
图7为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的光电检测结构示意图；
图8为本申请一个实施例中提供的所述限位装置的结构示意图；
图9为本申请一个实施例中提供的所述限位装置与所述负极板安装的俯视图；
图10为本申请另一个实施例中提供的所述限位装置与所述负极板安装的A-A剖面图；
图11为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条所在结构的结构示意图；
图12为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条检测系统的控制方法流程图。
附图标号：
激光巴条检测系统10
激光巴条100
单管110
第一表面101
第二表面102
第三表面103
第一工位210
第二工位220
光电检测工位230
光接收装置310
入射口311
导轨312
导块313
负极板320
第一定位孔321
螺栓柱322
第一通孔323
倒角324
限位装置330
第一卡块332
第二卡块333
第一凹槽334
第二凹槽335
正极固定板340
探针阵列341
探针300
第一定位柱343
螺栓孔344
螺栓345
检测装置40
功率检测装置410
光谱检测装置420
控制装置50
图像采集装置60
第一采集口611
第二采集口621
第三采集口631
第一图像采集组件610
第二图像采集组件620
第三图像采集组件630
照明装置640
位置调整装置70
驱动装置710
基座711
驱动电机组712
X轴驱动电机713
Y轴驱动电机714
Z轴驱动电机715
X-Y面转角电机716
信号处理装置720
吸附装置80
工作台910
第一通孔911
第一凹槽912
透光板913
第二凹槽914
反射镜920
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。
本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
请参见图1和图2，本申请实施例提供一种激光巴条检测系统10，所述激光巴条100包括多个并排排布的单管110。所述激光巴条检测系统10包括光接收装置310、图像采集装置60、控制装置50、位置调整装置70和检测装置40。
所述图像采集装置60用于采集所述激光巴条100的表面图像。所述控制装置50与所述图像采集装置60电连接，用于控制所述图像采集装置60采集所述表面图像。所述图像采集装置60根据所述表面图像判断所述激光巴条100表面的光洁度是否合格。所述图像采集装置60根据判断结果确定是否发出位置指令。所述位置调整装置70与所述控制装置50电连接。所述位置调整装置70用于根据所述位置指令将所述激光巴条100移动至光电检测工位230，以使所述控制装置50与所述多个单管110电连接。
所述控制装置50用于控制所述多个单管110选择性发射激光，并使得所述激光摄入所述光接收装置310。所述检测装置40与所述光接收装置310电连接，用于根据所述激光生成所述单管110的发光功率信号和光谱信号。所述控制装置50与所述检测装置40电连接，用于根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管110的发光功率和光谱是否合格。
本申请实施例提供的所述激光巴条检测系统20，包括所述光接收装置310、所述图像采集装置60、所述控制装置50、所述位置调整装置70和所述检测装置40。所述控制装置50与所述图像采集装置60电连接，用于控制所述图像采集装置60采集所述激光巴条100的表面图像。所述控制装置50根据所述表面图像判断所述激光巴条100的表面的光洁度是否合格。所述控制装置50根据判断结果确定是否发出位置指令。所述激光巴条检测系统10通过所述控制装置50和所述图像采集装置60，对所述激光巴条100进行初次筛选，筛选出光洁度合格的所述激光巴条100。所述控制装置50控制所述位置调整装置70自动将所述激光巴条100移动至所述光电检测工位230，以通过所述检测装置40对所述单管110的发光功率和光谱进行检测。所述控制装置50与所述检测装置40电连接，用于采集所述单管110的发光功率信号和光谱信号。所述控制装置50根据所述发光功率信号和所述光谱信号，判断所述单管110的发光功率和光谱是否合格。所述激光巴条检测系统10通过初次筛选和自动移位，节约了所述激光巴条100的检测时间，提高了所述激光巴条100的大批量筛选效率。
在一个实施例中，所述光接收装置310为积分球，用于接收激光，并对所述激光进行均匀化处理，以增加检测的准确性。所述积分球包括所述入射口311。所述入射口311的形状不限，只要能使光摄入所述积分球的内部元件即可。在上一个实施例中，所述入射口311的形状为圆形。所述圆形的中心与所述激光巴条100的中心正对，增加所述积分球的接收范围。
所述图像采集装置60接受所述控制装置50的控制。所述图像采集装置60用于所述激光巴条100的三个表面的图像，并将所述图像传输给所述控制装置50。
请一并参见图3和图4，在一个实施例中，所述激光巴条100包括第一表面101、第二表面102和第三表面103。所述第一表面101与所述第三表面103相对设置，所述第二表面102设置于所述第一表面101和所述第三表面103之间，且与所述第一表面101和所述第三表面103连接。所述图像采集装置60具有第一采集口611、第二采集口621和第三采集口631。所述控制装置50用于控制所述图像采集装置60的所述第一采集口611采集所述第一表面101的第一图像。所述控制装置50根据所述第一图像生成位置信息。所述位置调整装置70用于接收所述位置信息。所述位置调整装置70根据所述位置信息将所述激光巴条100从第一工位移动到第二工位，以使所述第二采集口621采集所述第二表面102的第二图像，所述第三采集口631采集所述第三表面103的第三图像。
在一个实施例中，所述图像采集装置60包括第一图像采集组件610、第二图像采集组件620和第三图像采集组件630。
所述第一图像采集组件610具有所述第一采集口611。所述第一采集口611正对所述凹槽912的开口。所述第一采集口611采集所述第一表面101的所述第一图像。所述第一图像采集组件610与所述控制装置50电连接。所述第一图像采集组件610将所述第一图像上传给所述控制装置50。
所述第二图像采集组件620具有所述第二采集口621。所述第二采集口621采集所述第二表面102的第二图像。所述第二图像采集组件620与所述控制装置50电连接。所述第二图像采集组件620将所述第二图像上传给所述控制装置50。
所述第三图像采集组件630与所述第二图像采集组件620平行设置。所述第三图像采集组件630具有所述第三采集口631。所述反射镜920的反射光射入所述第三采集口631。所述第三采集口631采集所述第三表面103的所述第三图像。所述第三图像采集组件630与所述控制装置50电连接。所述第三图像采集组件630将所述第三图像上传给所述控制装置50。
所述图像采集装置60可以为摄像机、录像机或CCD摄像装置等。在一个实施例中，所述第一图像采集组件610、所述第二图像采集组件620和所述第三图像采集组件630为CCD摄像装置，清晰度高，增加检测的准确性。
在一个实施例中，所述图像采集装置60也可以为一个采集组件，所述采集组件包括所述第一采集口611、所述第二采集口621和所述第三采集口631。
所述控制装置50通过将所述第一图像进行处理，生成位置信息。在一个实施例中，所述控制装置50将所述位置信息传输给所述位置调整装置70。当所述第一采集口611未采集到所述第一图像时，所述控制装置50无法生成位置信息，则所述位置调整装置70不运动。
在一个实施例中，所述控制装置50可以将所述第一图像与内部存储的标准位置图像进行比较，并生成所述位置信息。所述控制装置50根据所述位置信息使所述位置调整装置70准确抓取所述激光巴条100，并移动所述激光巴条100的位置。
在一个实施例中，所述控制装置50包括CPU、控制软件或数模转换装置等。在一个实施例中，所述控制装置50为电脑，所述电脑中安装与所述图像采集装置60相匹配的图像分析软件。
所述位置调整装置70通过调整所述激光巴条100的位置，使所述第二采集口621采集所述第二表面102的所述第二图像，所述第三采集口631采集所述第三表面103的所述第三图像。
在一个实施例中，所述位置调整装置70包括驱动装置710。所述驱动装置710与所述控制装置50电连接。所述控制装置50用于根据所述位置信息通过控制所述驱动装置710将所述激光巴条100从第一工位210移动到第二工位220，以使所述第二采集口621采集所述第二图像，所述第三采集口631采集所述第三图像。所述控制装置50还用于根据所述位置指令将所述激光巴条100由所述第二工位220移动至所述光电检测工位230。
所述激光巴条100处于所述第一工位210时，所述第一表面101正对所述第一采集口611。所述第一采集口611采集所述第一表面101的所述第一图像，并将所述第一图像传输给所述控制装置50。
所述激光巴条100处于所述第二工位220时，所述第二表面102正对所述第二采集口621，所述第三表面103的反射光入射所述第二采集口621。所述第二采集口621采集所述第二表面102的所述第二图像，并将所述第二图像传输给所述控制装置50。所述第三采集口631采集所述第三图像，并将所述第三图像传输给所述控制装置50。
当所述控制装置50根据所述第一图像、所述第二图像和所述第三图像判断所述激光巴条100的三个表面的光洁度均合格时，所述控制装置50发出所述位移指令。所述位置调整装置70根据所述位置指令将所述激光巴条100由所述第二工位220移动至所述光电检测工位230，以进行所述多个单管110的光电检测。
当所述控制装置50根据所述第一图像、所述第二图像和所述第三图像判断所述激光巴条100的三个表面的光洁度不全合格时，所述控制装置50不发出所述位移指令。所述控制装置50发出不合格报警，以提示工作人员所述激光巴条100不合格。
在一个实施例中，所述位置调整装置70还包括信号处理装置720。所述信号处理装置720电连接于所述控制装置50与所述驱动装置710之间。所述信号处理装置720用于接收所述位置信息，并将所述位置信息转换为第一电流信号。所述驱动装置710根据所述第一电流信号将所述激光巴条100从所述第一工位210移动到所述第二工位220。
所述信号处理装置720还用于接收所述位置指令，并将所述位置指令转换为第二电流信号。所述驱动装置710根据所述第二电流信号将所述激光巴条100从所述第二工位220移动到所述光电检测工位230。
所述信号处理装置720可以为数模转换装置、模块或数模转换卡等。
请一并参见图5，在一个实施例中，所述激光巴条检测系统10还包括吸附装置80。所述吸附装置80固定于所述驱动装置710，所述吸附装置80与所述控制装置50电连接，用于根据所述位置信息吸附所述激光巴条100。
所述吸附装置80根据所述位置信息准确吸附于所述第一表面101，并在所述驱动装置710产生位移的过程中，所述吸附装置80一直吸附于所述第一表面101。
所述吸附装置80可以将所述激光巴条100从所述第一工位210移动至所述第二工位220，再移动至所述光电检测工位230.
在一个实施例中，所述驱动装置710包括基座711和驱动电机组712。所述吸附装置80固定于所述基座711。所述驱动电机组712的输出轴与所述基座711固定连接。所述驱动电机组712与所述信号处理装置720电连接。所述驱动电机组712用于接收所述电流信号，并根据所述电流信号调节所述基座711的位置。
所述驱动电机组712包括X轴驱动电机713、Y轴驱动电机714、Z轴驱动电机715和X-Y面转角电机716。所述X轴驱动电机713、所述Y轴驱动电机714、所述Z轴驱动电机715和所述X-Y面转角电机716的输出轴分别与所述基座711固定连接，用于根据所述电流信号改变所述基座711的X轴、Y轴、Z轴方向的位移和X-Y面内转角。
所述基座711还可以包括底盘和驱动臂。所述底盘与所述驱动机组712的各个输出轴固定连接。所述驱动臂的一端固定设置于所述底盘。所述驱动臂的另一端与所述吸附装置的吸附组件固定连接。所述底盘带动所述驱动臂移动，所述驱动臂带动所述吸附装置移动，所述吸附装置带动所述激光巴条100从所述第一工位210移动到所述第二工位220，在移动至所述光电检测工位230。
请一并参见图6，在一个实施例中，所述激光巴条检测系统10还包括工作台910和反射镜920。所述工作台910开设第一通孔911，所述第二工位220正对所述第一通孔911的中心。所述反射镜920设置于所述工作台910背离所述第二工位220的一侧。所述反射镜920正对所述第一通孔911，且与所述工作台910成45°角，所述第三采集口631通过反射镜920采集所述第三表面103的所述第三图像。
在一个实施例中，所述工作台910背离所述反射镜920的表面挖设第一凹槽912，所述第一采集口611正对所述第一凹槽912的开口，所述第一工位210设置于所述第一凹槽912的底面。
所述激光巴条检测装置200还包括收纳体。所述收纳体设置于所述第一凹槽912。所述收纳体远离所述第一凹槽912的表面挖设第二凹槽，所述第二凹槽设置与所述收纳体表面的中心。所述激光巴条100收纳于所述第二凹槽，便于所述吸附装置80吸取。
在一个实施例中，所述激光巴条检测装置200还包括透光板913，卡设于所述第一通孔911。
所述透光板913可以为玻璃、亚克力或其他透明材料。在一个实施例中，所述第三表面103贴合于所述透光板913的表面。所述透光板913可以避免所述吸附装置80失控时掉落损坏。
在一个实施例中，所述图像采集装置60还包括照明装置640。所述照明装置640套设于所述第一采集口611。所述照明装置640可以增加所述第一工位210的光照度，增加检测的准确性。所述照明装置640包括节能灯、荧光灯、LED灯、卤化物灯、钠灯、汞灯或冷阴极管等。
请一并参见图7，在一个实施例中，所述检测装置40包括功率检测装置410。所述功率检测装置410设置于所述光接收装置310，用于根据所述激光生成所述单管110的所述发光功率信号。所述控制装置50与所述功率检测装置410电连接，用于采集所述发光功率信号。
所述控制装置50包括数模转换装置。所述数模转换装置包括多个接口。所述多个接口与所述多个探针300一一对应电连接。所述控制装置50可以为CPU、电脑或控制主板等。
所述功率检测装置410可以为功率检测仪、检测探头或检测器等。
在一个实施例中，所述检测装置40还包括光谱检测装置420。所述光谱检测装置420电连接于所述光接收装置310和所述控制装置50之间，用于根据所述激光生成所述单管110的所述光谱信号，并将所述光谱信号输送给所述控制装置50。所述光谱检测装置420可以为光谱仪。
在一个实施例中，所述控制装置50能够接收外部控制，选择性控制所述多个探针300中的一个，以使所述多个单管110顺次发光。所述单管110发出的光从所述入射口311进入所述光接收装置310。所述光接收装置310对光进行均匀化处理。被处理后的光一部分摄入所述功率探头，用于测量所述单管110的发光功率。被处理后的光另一部分进入所述光谱仪，进行光谱测试。所述功率探头将所述发光功率信号传输给所述控制装置50。所述光谱仪将所述光谱信号输送给所述控制装置50。
在一个实施例中，所述光接收装置310包括入射口311。所述激光巴条检测系统10还包括负极板320、限位装置330、正极固定板340和探针阵列341。
所述负极板320用于与所述单管110的负极接触。所述限位装置330设置于所述负极板320，并形成所述光电检测工位230，用于限定所述激光巴条100，以使所述激光巴条100的发光面与所述入射口311相对设置。所述正极固定板340可拆卸设置于所述负极板320。所述探针阵列341设置于所述正极固定板340。所述探针阵列341包括多个探针300。所述多个探针300用于与所述多个单管110的正极一一对应接触。所述控制装置50与所述负极板320和所述多个探针300电连接，用于选择性导通所述多个探针300中的一个，使与所述探针300接触的所述单管110发射激光。
请一并参见图8、图9和图10，在一个实施例中，所述限位装置330包括相对间隔设置的第一卡块332和第二卡块333。所述第一卡块332靠近所述第二卡块333的表面开设第一凹槽334。所述第二卡块333靠近所述第一卡块332的表面开设与所述第一凹槽334相对的第二凹槽335。所述激光巴条100卡设于所述第一凹槽334与所述第二凹槽335之间，便于所述激光巴条100的取放。
所述第一凹槽334与所述第二凹槽335之间形成的限位空间。所述限位空间的开口形状与所述激光巴条100的最大表面的形状相同。所述激光巴条100直接放置于所述限位空间中，减少了所述激光巴条100的位置调整的时间，提高了检测效率。
请一并参见图11，在一个实施例中，所述负极板320开设第一定位孔321。所述正极固定板340包括第一定位柱343。所述第一定位柱343与所述第一定位孔321一一对应设置。所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321，使所述正极固定板340固定于所述负极板320。
在上一个实施例中，所述探针阵列341垂直穿过所述正极固定板340。所述多个探针300与所述单管110的接触，并相互导通。所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321，使所述正极固定板340固定于所述负极板320。只要将所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321进而，所述多个探针300对所述多个单管110一一对应接触，减少了调整所述多个探针300的时间，提高了检测效率。
在一个实施例中，所述负极板320还包括螺栓柱322。所述螺栓柱322设置于所述负极板320靠近所述正极固定板340的表面。所述正极固定板340开设与所述螺栓柱322对应的螺栓孔344，用于螺栓345穿过所述螺栓孔344，并拧入所述螺栓柱322。
所述螺栓345穿过所述螺栓孔344，并拧入所述螺栓柱322，使所述负极板320与所述正极固定板340相互固定。通过调整所述螺栓345的松紧度，可以调整所述多个探针300对所述多个单管110一一对应接触的力度。在一个实施例中，所述多个探针300对所述多个单管110的一一对应接触力度不易过大，以保护所述多个单管110的。
在一个实施例中，所述激光巴条100覆盖的所述负极板320表面开设第一通孔323，所述第一通孔323用于与真空装置的吸附接口连通，以利用负压使所述激光巴条100贴合于所述负极板320。
所述激光巴条100紧贴于所述负极板320，减少了所述激光巴条100晃动的概率，提高了所述多个探针300与所述多个单管110一一对应接触的准确性，提高了检测的精度。
在一个实施例中，所述负极板320靠近所述激光巴条100的边沿开设倒角324。所述激光巴条100发出的光为散射光，所述散射光的散射角为30°。所述倒角324的开设范围45°-60°。在一个实施例中，所述倒角324为45°倒角，可以使所述单管110发出的光全部摄入所述入射口311，提高了检测的精度。
在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置10还包括导轨312和导块313。所述导轨312的延伸方向与所述激光巴条100的发光方向一致。所述导块313与所述光接收装置310固定连接。所述导块313带动所述光接收装置310沿所述导轨312移动。所述激光巴条100取放过程中，所述光接收装置310可以沿所述导轨312远离所述负极板320，保护所述光接收装置310不被划伤，增加操作的准确性。
在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置10还包括推动装置。所述推动装置与所述导块313固定连接。造作人员推动所述推动装置，所述推动装置带动所述导块313，沿所述导轨312滑动。
请一并参见图12，本申请实施例提供一种激光巴条检测系统的控制方法，所述激光巴条100包括多个并排排布的单管110，所述控制方法包括：
控制装置50控制图像采集装置60采集所述单管110的表面图像，并根据所述表面图像判断所述单管110表面的光洁度是否合格，若所述单管110表面的光洁度合格，所述控制装置50发出位置指令。
位置调整装置70根据所述位置指令将所述激光巴条100移动至光电检测工位230，以使所述控制装置50与所述多个单管110电连接。
所述控制装置50控制所述多个单管110选择性发射激光，所述激光摄入所述光接收装置310，所述光接收装置310对所述激光进行均匀化处理，并将所述激光输送给所述检测装置40。
检测装置40根据所述激光生成发光功率信号和光谱信号，并将所述发光功率信号和所述光谱信号传输给所述控制装置50，所述控制装置50根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管110的发光功率和光谱是否合格。
本申请实施例提供的所述激光巴条检测系统的控制方法，所述控制装置50控制所述图像采集装置60采集所述激光巴条100的表面图像，并根据所述表面图像判断所述激光巴条100的表面的光洁度是否合格，并根据判断结果确定是否发出位置指令。若所述单管110表面的光洁度合格，所述控制装置50发出位置指令。所述激光巴条检测系统10通过所述控制装置50和所述图像采集装置60，对所述激光巴条100进行初次筛选，筛选出所述表面图像的光洁度合格的所述激光巴条100。
所述控制装置50控制所述位置调整装置70自动将所述激光巴条100移动至所述光电检测工位230。所述检测装置40对所述单管110的发光功率和光谱进行检测。所述控制装置采集所述单管110的发光功率信号和光谱信号，并判断所述单管110的发光功率和光谱是否合格。所述激光巴条检测系统的控制方法通过初次筛选和自动移位，节约了所述激光巴条100的检测时间，提高了所述激光巴条100的大批量筛选效率。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种激光巴条检测系统，所述激光巴条(100)包括多个并排排布的单管(110)，其特征在于，所述激光巴条检测系统(10)包括：
光接收装置(310)；
图像采集装置(60)，用于采集所述激光巴条(100)的表面图像；
控制装置(50)，与所述图像采集装置(60)电连接，用于控制所述图像采集装置(60)采集所述表面图像，所述控制装置(50)根据所述表面图像判断所述激光巴条(100)表面的光洁度是否合格，并根据判断结果确定是否发出位置指令；
位置调整装置(70)，与所述控制装置(50)电连接，所述位置调整装置(70)用于根据所述位置指令将所述激光巴条(100)移动至光电检测工位(230)，以使所述控制装置(50)与所述多个单管(110)电连接，所述控制装置(50)用于控制所述多个单管(110)选择性发射激光，并使得所述激光摄入所述光接收装置(310)；
检测装置(40)，与所述光接收装置(310)电连接，用于根据所述激光生成所述单管(110)的发光功率信号和光谱信号，所述控制装置(50)与所述检测装置(40)电连接，用于根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管(110)的发光功率和光谱是否合格。
2.如权利要求1所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述检测装置(40)包括：
功率检测装置(410)，设置于所述光接收装置(310)，用于根据所述激光生成所述单管(110)的所述发光功率信号，所述控制装置(50)与所述功率检测装置(410)电连接，用于采集所述发光功率信号。
3.如权利要求1所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述检测装置(40)还包括：
光谱检测装置(420)，电连接于所述光接收装置(310)和所述控制装置(50)之间，用于根据所述激光生成所述单管(110)的所述光谱信号，并将所述光谱信号输送给所述控制装置(50)。
4.如权利要求1所述的激光巴条检测系统，所述光接收装置(310)包括入射口(311)，其特征在于，所述激光巴条检测系统(10)还包括：
负极板(320)，用于与所述单管(110)的负极接触；
限位装置(330)，所述限位装置(330)设置于所述负极板(320)，并形成所述光电检测工位(230)，用于限定所述激光巴条(100)，以使所述激光巴条(100)的发光面与所述入射口(311)相对设置；
正极固定板(340)，可拆卸设置于所述负极板(320)；
探针阵列(341)，设置于所述正极固定板(340)，所述探针阵列(341)包括多个探针(300)，所述多个探针(300)用于与所述多个单管(110)的正极一一对应接触，所述控制装置(50)与所述负极板(320)和所述多个探针(300)电连接，用于选择性导通所述多个探针(300)中的一个，使与所述探针(300)接触的所述单管(110)发射激光。
5.如权利要求1所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述激光巴条(100)包括第一表面(101)、第二表面(102)和第三表面(103)，所述第一表面(101)与所述第三表面(103)相对设置，所述第二表面(102)设置于所述第一表面(101)和所述第三表面(103)之间，且与所述第一表面(101)和所述第三表面(103)连接，所述图像采集装置(60)具有第一采集口(611)、第二采集口(621)和第三采集口(631)，所述控制装置(50)用于控制所述图像采集装置(60)的所述第一采集口(611)采集所述第一表面(101)的第一图像，根据所述第一图像生成位置信息，所述位置调整装置(70)用于接收所述位置信息，并根据所述位置信息将所述激光巴条(100)从第一工位移动到第二工位，以使所述第二采集口(621)采集所述第二表面(102)的第二图像，所述第三采集口(631)采集所述第三表面(103)的第三图像。
6.如权利要求5所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述位置调整装置(70)包括：
驱动装置(710)，与所述控制装置(50)电连接，所述控制装置(50)用于根据所述位置信息通过控制所述驱动装置(710)将所述激光巴条(100)从第一工位(210)移动到第二工位(220)，以使所述第二采集口(621)采集所述第二图像，所述第三采集口(631)采集所述第三图像；
所述控制装置(50)还用于根据所述位置指令将所述激光巴条(100)由所述第二工位(220)移动至所述光电检测工位(230)。
7.如权利要求6所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述位置调整装置(70)还包括：
信号处理装置(720)，电连接于所述控制装置(50)与所述驱动装置(710)之间，所述信号处理装置(720)用于接收所述位置信息，并将所述位置信息转换为第一电流信号，所述驱动装置(710)根据所述第一电流信号将所述激光巴条(100)从所述第一工位(210)移动到所述第二工位(220)；
所述信号处理装置(720)还用于接收所述位置指令，并将所述位置指令转换为第二电流信号，所述驱动装置(710)根据所述第二电流信号将所述激光巴条(100)从所述第二工位(220)移动到所述光电检测工位(230)。
8.如权利要求7所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述激光巴条检测系统(10)还包括：
吸附装置(80)，所述吸附装置(80)固定于所述驱动装置(710)，所述吸附装置(80)与所述控制装置(50)电连接，用于根据所述位置信息吸附所述激光巴条(100)。
9.如权利要求6所述的激光巴条检测系统，其特征在于，所述激光巴条检测系统(10)还包括：
工作台(910)，所述工作台(910)开设第一通孔(911)，所述第二工位(220)正对所述第一通孔(911)的中心；
反射镜(920)，设置于所述工作台(910)背离所述第二工位(220)的一侧，所述反射镜(920)正对所述第一通孔(911)，且与所述工作台(910)成45°角，所述第三采集口(631)通过反射镜(920)采集所述第三表面(103)的所述第三图像。
10.一种激光巴条检测系统的控制方法，所述激光巴条(100)包括多个并排排布的单管(110)，其特征在于，所述控制方法包括：
控制装置(50)控制图像采集装置(60)采集所述单管(110)的表面图像，并根据所述表面图像判断所述单管(110)表面的光洁度是否合格，若所述单管(110)表面的光洁度合格，所述控制装置(50)发出位置指令；
位置调整装置(70)根据所述位置指令将所述激光巴条(100)移动至光电检测工位(230)，以使所述控制装置(50)与所述多个单管(110)电连接；
所述控制装置(50)控制所述多个单管(110)选择性发射激光，所述激光摄入光接收装置(310)，所述光接收装置(310)对所述激光进行处理，并将所述激光输送给检测装置(40)；
所述检测装置(40)根据所述激光生成发光功率信号和光谱信号，并将所述发光功率信号和所述光谱信号传输给所述控制装置(50)，所述控制装置(50)根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管(110)的发光功率和光谱是否合格。
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