CN217675332U - 一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构、定位机构与进料机构，所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘，所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘，所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘，本实用新型为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片的测试效率还为企业节约了大量的成本。

Description

一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置

技术领域

本实用新型涉及一种存储芯片测试技术领域，特别是涉及一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。

而自动化存储芯片上下料技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术,自动化存储芯片上下料技术可以有效的减少人力的投入，不但能实现芯片测试的效率还可为企业节约大量的成本。存储芯片只有采用自动化的测试才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本、以及提高企业的核心竞争力。

实用新型内容

针对以上现有技术的不足，本实用新型公开了一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案具体如下：

一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构、定位机构与进料机构。

本技术方案具体来说，所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘；所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘;所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘。

进一步地, 所述的升降机构包含竖直设置的支撑板、驱动电机、被所述的驱动电机驱动的丝杆滑轨、以及第一滑动件。

在更优的技术方案中，所述的第一滑动件为两个，分别竖直设置在所述支撑板靠近两竖直边处的一面上；所述的丝杆滑轨竖直设置在所述支撑板设置有所述第一滑动件一面的中间位置。

本技术方案中的驱动电机设置在所述支撑板的另一面。需要指出的是，所述的驱动电机与所述的丝杆滑轨皮带传动或齿轮传动。

进一步地,所述的升降机构还包含可升降的托盘。所述的托盘包含连接座与第一承托板，所述的第一承托板的一端固定在所述的连接座上。

进一步地,所述的连接座的中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨，所述的连接座的两端分别滑动连接两个所述的第一滑动件。

进一步地,所述的进料机构包固定板与滑动仓，所述的固定板上设置有第二滑动件，所述的滑动仓与所述的固定板通过所述的第二滑动件滑动连接。

进一步地,所述的第一滑动件为导轨或滑槽，所述的第二滑动件为导轨或滑槽。

进一步地,所述的滑动仓由底板、竖直设置在所述底板外端的推拉板、以及四根分别竖直设置在所述底板四角的第一定位柱组成。

进一步地,所述的定位机构包含定位板，所述的定位板开设有方形缺口，所述的定位机构还包含第二承托板与第二定位柱。

在更优的技术方案中，所述的第二承托板的数量为2个，分别设置在所述定位板的方形缺口的两边，用于承托到达所述的目标工作位的芯片料盘；所述的第二定位柱的数量为4根，分别竖直设置在所述的定位板方形缺口内的四角处。

进一步地, 所述的定位机构还包含第一气缸，所述的第一气缸设置在所述的第二承托板与所述的定位板之间。

所述的第一气缸包含固定部与滑动部，所述的固定部设置在所述的定位板上，所述的滑动部设置在所述的第二承托板上，所述的第二承托板可相对于所述的定位板直线滑动。

进一步地, 本技术方案中所述的定位机构还包含第二气缸。

所述的第二气缸的数量为三个，两个所述第二承托板中任一之上设置有一个所述的第二气缸。

所述定位板的方形缺口内部的两个所述第二定位柱顶端分别设置有一个所述的第二气缸或所述定位板的方形缺口靠外部的两个所述第二定位柱顶端分别设置有一个所述的第二气缸。

三个所述的第二气缸处于同一水平位置，所述的第二气缸用于压紧所述的芯片料盘。

本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置，为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。

附图说明

图1本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置的整体结构示意图。

图2本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置中进料机构闭合的示意图。

图3本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置中进料机构打开的示意图。

图4本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置装入料盘的示意图。

图5本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置把料盘运送至目标工作位的示意图。

图6本实用新型一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置工作状态的俯视图视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。

现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的存储芯片自动化上下料装置，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。

本实用新型主要公开了一种用于实现存储芯片自动化测试的自动化上下料装置，这个自动化上下料装置是存储芯片自动测试设备中的一个关键机构，主要用于在测试活动中自动化装载或卸载存储芯片，以自动化上下料替代人员上下料可以实现规模化生产与提高企业的核心竞争力。

本自动化上下料装置为规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本,最终达到提高企业的核心竞争力的目的。

本实用新型的具体实施例如下:

如图1与图2所示,本实施例一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构10、定位机构20与进料机构30。

本实施例中，所述的升降机构10用于运送所述的芯片料盘41。所述的定位机构20设置在所述升降机构10的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘41(如图5所示),芯片料盘41用于置放存储芯片。需要指出的是, 定位机构20设置在升降机构10上端的具体位置根据实际需求来确定。定位机构20可以直接固定在升降机构10上，也可以不用与升降机构10连接，比如定位机构20与升降机构10的相对目标工作位不变，而且无连接关系，都固定在存储芯片自动测试设备上等。

本实施例中所记载的目标工作位指的是升降机构10把芯片料盘41运送的最终位置，在这个位置上存储芯片自动测试设备可以自动抓取芯片料盘41上的待测存储芯片，以及把完成测试的存储芯片转移至这个位置上的芯片料盘41上，下面将不再赘述。

本实施例中，所述的进料机构30设置在所述升降机构10的下端,用于装卸芯片料盘41(如图4所示)。需要指出的是, 进料机构30设置在升降机构10的下端，进料机构30合上后刚好在定位机构20的正下端，此时升降机构10可以把进料机构30中的芯片料盘41运送至定位机构20上。进料机构30可以固定在升降机构10的下端，也可以与升降机构10一起固定在存储芯片自动测试设备上，本实施例不再赘述。

如图1、图2与图3所示，在本实施例中所述的升降机构10包含竖直设置的支撑板11、驱动电机12、被所述的驱动电机12驱动的丝杆滑轨13、以及第一滑动件14。

本实施例在更优的技术方案中，所述的第一滑动件14为两个，分别竖直固定设置在所述支撑板11靠近两竖直边处的一面上，如图1所示。

所述的丝杆滑轨13竖直设置在所述支撑板11设置有所述第一滑动件14一面的中间位置，具体来说丝杆滑轨13的两端设置有第一安装板17与第二安装板18，丝杆滑轨13通过第一安装板17与第二安装板18固定在支撑板11上，具体如图1所示。

本实施例中的驱动电机10设置在所述支撑板11的另一面，即支撑板11安装丝杆滑轨13与第一滑动件14一面的背面。需要指出的是，本实施例中的驱动电机12与所述的丝杆滑轨13皮带传动或齿轮传动。

需要指出的是，本实施例中的升降机构10还包含第一角码16，第一角码16用于把升降机构10固定在存储芯片自动测试设备上。

本技术方案中,所述的第一滑动件14为导轨或滑槽，本实施例中第一滑动件14优选为导轨。

本实施例中,所述的升降机构10还包含可升降的托盘15，托盘15上置放芯片料盘41，随着托盘15的升降可以实现存储芯片的上下料。需要指出的是，托盘15一次可以置放一摞整齐的芯片料盘41。

本实施例在更优的技术方案中，托盘15包含连接座151与第一承托板152，所述的第一承托板152的一端固定在所述的连接座151上，而连接座151的中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨13，所述的连接座151的两端分别滑动连接两个所述的第一滑动件14。

连接座151可以在丝杆滑轨13的转动下沿着第一滑动件14上下运动。

本实施例如图1、图2与图3所示,所述的进料机构30包固定板31与滑动仓32，所述的固定板31上设置有第二滑动件33，所述的滑动仓32与所述的固定板31通过所述的第二滑动件33滑动连接。

本技术方案中,所述的第二滑动件33为导轨或滑槽，本实施例中第二滑动件33优选为导轨，数量优选为两根，平行设置在固定板31上，滑动仓32可以在第二滑动件33向里与向外滑动，从而实现滑动仓32的闭合与打开。

本实施例中,所述的滑动仓32由底板321、竖直设置在所述底板外端的推拉板322、以及四根分别竖直设置在所述底板四角的第一定位柱323组成。

需要指出的是，推拉板322用于推拉滑动仓32的开合，四个第一定位柱323组成一个方形底面的仓体，这个方形底面的大小与芯片料盘41的大小匹配，所述的方形底面的仓体刚好可以容纳一摞整齐的芯片料盘41。本实施例中，所述的第一定位柱323优选为角铝。

本实施例中，底板321可以为一整块板子，一整块板子的四个角分别竖直设置一根第一定位柱323。底板321也可以由多块板子组成，如图1与图3所示，底板321由两块板子组成，每块板子的两端各设置有一根第一定位柱323，每块板子下面连接一个第二滑动件33。

本实施例如图1与图2所示,所述的定位机构20包含定位板21，所述的定位板21开设有方形缺口，所述的定位机构20还包含第二承托板22与第二定位柱23。

本实施例在更优的技术方案中，所述的第二承托板22的数量为2个，分别设置在所述定位板21的方形缺口的两边，用于承托到达所述的目标工作位的芯片料盘41（如图5所示）。

本实施例中，所述的第二定位柱23的数量为4根，分别竖直设置在所述的定位板21方形缺口内的四角处，具体来说第二定位柱23的上端通过第二角码26固定在定位板21方形缺口内的四角处，如图1所示。

需要指出的是，当进料机构30的滑动仓32装好芯片料盘41闭合后，四根第二定位柱23与四根第一定位柱323一一对应，并形成运送芯片料盘41的通道。

本实施例的优选方案中定位机构20与升降机构10无连接关系，而是定位机构20的定位板21直接固定在存储芯片自动测试设备上，但是目标工作位不变。

本实施例如图1与图2所示, 所述的定位机构20还包含第一气缸24，所述的第一气缸24设置在所述的第二承托板22与所述的定位板21之间。

本实施例中，所述的第一气缸24包含固定部241与滑动部242，所述的固定部241设置在所述的定位板21上，所述的滑动部242设置在所述的第二承托板22上，所述的第二承托板22可相对于所述的定位板21直线滑动。

当滑动部242无滑动时，第二承托板22是处于打开状态，当升降机构10把芯片料盘41运送至目标工作位时，第一气缸24启动，滑动部242向里滑动，此时两个第二承托板22相对闭合承托起到达目标工作位的芯片料盘41。

本实施例如图1与图2所示, 本技术方案中所述的定位机构20还包含第二气缸25。

本实施例中，所述的第二气缸25的数量为三个，具体的分布为：

两个所述第二承托板22中任一之上设置有一个所述的第二气缸25；所述定位板21的方形缺口内部的两个所述第二定位柱23顶端分别设置有一个所述的第二气缸25或所述定位板21的方形缺口靠外部的两个所述第二定位柱23顶端分别设置有一个所述的第二气缸25，具体如图1、图2与图6所示。

需要特别指出的是，三个所述的第二气缸25处于同一水平位置，第二气缸25的作用是压紧处在目标工作位的芯片料盘41，使芯片料盘41在工作过程中不产生位移。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于，包含升降机构、定位机构与进料机构，

所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘；所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘;所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘。

2.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于, 所述的升降机构包含竖直设置的支撑板、驱动电机、被所述的驱动电机驱动的丝杆滑轨、以及第一滑动件；

所述的第一滑动件为两个，分别竖直设置在所述支撑板靠近两竖直边处的一面上；所述的丝杆滑轨竖直设置在所述支撑板设置有所述第一滑动件一面的中间位置；

所述的驱动电机设置在所述支撑板的另一面。

3.如权利要求2所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于,所述的升降机构还包含可升降的托盘；

所述的托盘包含连接座与第一承托板，所述的第一承托板的一端固定在所述的连接座上；

所述的连接座的中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨，所述的连接座的两端分别滑动连接两个所述的第一滑动件。

4.如权利要求3所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于, 所述的进料机构包含固定板与滑动仓，所述的固定板上设置有第二滑动件，所述的滑动仓与所述的固定板通过所述的第二滑动件滑动连接。

5.如权利要求4所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于,所述的第一滑动件为导轨或滑槽；所述的第二滑动件为导轨或滑槽。

6.如权利要求4所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于,所述的滑动仓由底板、竖直设置在所述底板外端的推拉板、以及四根分别竖直设置在所述底板四角的第一定位柱组成。

7.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于,所述的定位机构包含定位板，所述的定位板开设有方形缺口；所述的定位机构还包含：

第二承托板，数量为2个，分别设置在所述定位板的方形缺口的两边，用于承托到达所述的目标工作位的芯片料盘；

第二定位柱，数量为4根，分别竖直设置在所述定位板方形缺口内的四角处。

8.如权利要求7所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于, 所述的定位机构还包含第一气缸，所述的第一气缸设置在所述的第二承托板与所述的定位板之间；

所述的第一气缸包含固定部与滑动部，所述的固定部设置在所述的定位板上，所述的滑动部设置在所述的第二承托板上，所述的第二承托板可相对于所述的定位板直线滑动。

9.如权利要求7所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于, 所述的定位机构还包含第二气缸；

所述的第二气缸的数量为三个，两个所述第二承托板中任一之上设置有一个所述的第二气缸；

所述定位板的方形缺口内部的两个所述第二定位柱顶端分别设置有一个所述的第二气缸或所述定位板的方形缺口靠外部的两个所述第二定位柱顶端分别设置有一个所述的第二气缸；

三个所述的第二气缸处于同一水平位置，所述的第二气缸用于压紧所述的芯片料盘。

10.如权利要求2所述的用于自动化存储芯片测试的上下料装置, 其特征在于,所述的驱动电机与所述的丝杆滑轨皮带传动或齿轮传动。

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