CN217654882U - 一种硅晶片压力测试样品限位调节机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及硅晶片压力检测技术领域，且公开了一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，包括底座，所述底座顶部的两侧固定连接有立柱，所述立柱外部的中间位置滑动套接有调节板，所述调节板顶部的两侧固定连接有限位板，所述限位板的内部滑动套接有限位架。该硅晶片压力测试样品限位调节机构，首先将样品放置在检测盘的顶部，然后转动固定螺杆，通过两侧的固定螺杆对内进行收缩将样品进行夹持，且由于每个固定螺杆都处于独立运动状态，所以相对两个固定螺杆的夹持距离可以根据检测需求进行相应的调节，在纵向距离确定好后，可以通过左右移动滑动块使得样品进行横向距离的调节，由此提高了本装置检测的完整性。

Description

一种硅晶片压力测试样品限位调节机构

技术领域

本实用新型涉及硅晶片压力检测技术领域，具体为一种硅晶片压力测试样品限位调节机构。

背景技术

元素硅是一种灰色、易碎、四价的非金属化学元素，地壳成分中27.8％是硅元素构成的，仅次于氧元素含量排行第二，硅是自然界中比较富的元素，在石英、玛瑙、燧石和普通的滩石中就可以发现硅元素，硅晶片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在硅晶片上刻蚀出数以百万计的晶体管，被广泛应用于集成电路的制造，物理学上的压力，是指发生在两个物体的接触表面的作用力，或者是气体对于固体和液体表面的垂直作用力，或者是液体对于固体表面的垂直作用力，压力的方向是垂直于接触面，并指向被压物体(注意：“垂直”与“竖直”意义不同)，产生条件是物体之间接触且发生相互挤压，而硅晶片压力测试机就是基于这种环境下的一种测压设备。

目前市场上大多数的硅晶片压力测试机，其采用的测试方法是将待测样品摆放在固定检测盘上，然后进行压力测试，由于每种待测样品内部厚实度不能完全保证一致，故而在检测时，需要将待测样品进行通体检测才能得到完整的数据，而现有的硅晶片压力测试机没有这种可以调节和限位待测样品的装置，为此我们提出一种硅晶片压力测试样品限位调节机构。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，具备可以快速调节待测样品和对样品进行精准夹持并翻转的优点，解决了上述背景技术中提出的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，包括底座，所述底座顶部的两侧固定连接有立柱，所述立柱外部的中间位置滑动套接有调节板，所述调节板顶部的两侧固定连接有限位板，所述限位板的内部滑动套接有限位架，所述限位架的内部滑动套接有滑动块，所述滑动块的内部螺纹套接有固定螺杆，所述滑动块的顶部螺纹套接有定位螺栓。

优选的，所述立柱外部的上方滑动套接有滑动板，所述滑动板的正面安装有测试机构，所述测试机构位于限位架的正上方。

优选的，所述限位架底部的中间位置固定连接有弹簧，所述限位架顶部的中间位置固定连接有检测盘。

优选的，所述弹簧的底部与底座的顶部固定连接，所述底座的正面设置有操控按键。

优选的，所述限位架的宽度数值长于检测盘直径的长度，所述限位板的高度数值长于限位板的宽度数值。

优选的，所述限位架的左右两侧穿过限位板，所述限位架的两侧设有螺帽。

与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

1、该硅晶片压力测试样品限位调节机构，通过在限位架内部滑动套接的滑动块，当需要限位待测样品时，首先将样品放置在检测盘的顶部，然后转动固定螺杆，通过两侧的固定螺杆对内进行收缩将样品进行夹持，且由于每个固定螺杆都处于独立运动状态，所以相对两个固定螺杆的夹持距离可以根据检测需求进行相应的调节，在纵向距离确定好后，可以通过左右移动滑动块使得样品进行横向距离的调节，由此提高了本装置检测的完整性。

2、该硅晶片压力测试样品限位调节机构，通过在限位板的内部滑动套接的限位架，当待测样品的一面测试完成后，可以转动限位架外部的螺帽使得限位架和限位板脱离固定状态，然后将限位架向上提起并进行翻转，由此使得样品被翻面，当样品翻面后，将限位架重新下降到检测盘的顶部，并通过螺帽将限位板和限位架进行固定，即可继续进行检查，由此提高了本装置的检测的全面性。

附图说明

图1为本实用新型结构主视图；

图2为本实用新型检测盘剖视图；

图3为本实用新型限位架正视图；

图4为本实用新型固定螺杆正视图。

图中：1、底座；2、立柱；3、滑动板；4、测试机构；5、调节板；6、限位板；7、限位架；8、滑动块；9、固定螺杆；10、定位螺栓；11、弹簧；12、检测盘。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，包括底座1，底座1作为承重台，其负责承载所要检测的样品，底座1顶部的两侧固定连接有立柱2，立柱2作为导轨结构使得滑动板3和调节板5可以在立柱2的外部进行上下距离的调节，并且起到了限位滑动板3和调节板5，保证了测试机构4只能进行垂直移动，提高了本装置的检测精准性，立柱2外部的中间位置滑动套接有调节板5，调节板5起到了承载检测盘12和其顶部样品的作用，同时起到了缓冲效果，避免了测试机构4撞损样品，调节板5顶部的两侧固定连接有限位板6，限位板6起到了定位限位架7的效果，同时为限位架7的翻转提供了移动空间，保证了限位架7在翻转后仍旧处于原地，限位板6的内部滑动套接有限位架7，限位架7作为本装置的调节机构，保证了将样品夹持后可以进行翻转的效果，并且保证了样品维持在原地不动的效果，提高了本装置的稳定性，限位架7的内部滑动套接有滑动块8，滑动块8起到了控制样品横向滑动的作用，提高了本装置检测的全面性，滑动块8的内部螺纹套接有固定螺杆9，固定螺杆9起到了夹持样品的作用，保证了样品可以在检测盘12顶部的任意位置对其进行夹持，滑动块8的顶部螺纹套接有定位螺栓10，定位螺栓10起到了固定滑动块8的作用，保证了滑动块8在调节好后，可以被固定在指定位置，提高了本装置的稳定性，立柱2外部的上方滑动套接有滑动板3，滑动板3的正面安装有测试机构4，测试机构4作为现有技术，起到了对硅晶片进行压力测试的作用，本文不再进行详细叙述，测试机构4位于限位架7的正上方，限位架7底部的中间位置固定连接有弹簧11，限位架7顶部的中间位置固定连接有检测盘12，检测盘12起到了承载样品的作用，并且保证了固定螺杆9在调节时不会将样品脱落的情况发生，弹簧11的底部与底座1的顶部固定连接，底座1的正面设置有操控按键，操控按键起到了控制测试机构4的作用，限位架7的左右两侧穿过限位板6，限位架7的两侧设有螺帽，螺帽起到了控制限位架7进行翻转的效果，并且保证了限位架7在翻转后的稳定性。

请参阅图2－4，限位架7的宽度数值长于检测盘12直径的长度，限位板6的高度数值长于限位板6的宽度数值，限位板6的长度保证了限位架7在翻转时不会受到检测盘12的阻挡。

工作原理：使用时，首先将滑动板3移动到立柱2的顶部，然后将待测样品摆放在检测盘12的顶部，并根据需要检测的位置，摆放在指定的位置，由于每个固定螺杆9都是处于独立运动的状态，当样品的位置被确定好后，转动相对固定螺杆9，使得固定螺杆9对内进行收缩并将样品继续夹持限位，当所有的固定螺杆9都夹持住样品后，所有的固定螺杆9即处于联动的状态，此时滑动滑动块8，任意一个滑动块8的滑动即可带动样品的整体在限位架7的内部进行横向距离的调节，然后启动测试机构4，通过测试机构4对样品进行检测即可，当本样品需要调节纵向距离时，同时对向转动两个相对的固定螺杆9，由此使得样品可以进行纵向调节，然后继续进行检测，当样品的一面检测完毕后，可以转动限位架7外部的螺帽，使得限位架7和限位板6变为活动状态，然后对上提拉限位架7，并且将限位架7进行翻转，当限位架7翻转过后，重新将限位架7放回检测盘12的顶部，再通过螺帽将限位架7和限位板6进行固定，然后重复上述检测调节的操作即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。同时在本实用新型的附图中，填充图案只是为了区别图层，不做其他任何限定。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶部的两侧固定连接有立柱(2)，所述立柱(2)外部的中间位置滑动套接有调节板(5)，所述调节板(5)顶部的两侧固定连接有限位板(6)，所述限位板(6)的内部滑动套接有限位架(7)，所述限位架(7)的内部滑动套接有滑动块(8)，所述滑动块(8)的内部螺纹套接有固定螺杆(9)，所述滑动块(8)的顶部螺纹套接有定位螺栓(10)。

2.根据权利要求1所述的一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，其特征在于：所述立柱(2)外部的上方滑动套接有滑动板(3)，所述滑动板(3)的正面安装有测试机构(4)，所述测试机构(4)位于限位架(7)的正上方。

3.根据权利要求1所述的一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，其特征在于：所述限位架(7)底部的中间位置固定连接有弹簧(11)，所述限位架(7)顶部的中间位置固定连接有检测盘(12)。

4.根据权利要求3所述的一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，其特征在于：所述弹簧(11)的底部与底座(1)的顶部固定连接，所述底座(1)的正面设置有操控按键。

5.根据权利要求3所述的一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，其特征在于：所述限位架(7)的宽度数值长于检测盘(12)直径的长度，所述限位板(6)的高度数值长于限位板(6)的宽度数值。

6.根据权利要求1所述的一种硅晶片压力测试样品限位调节机构，其特征在于：所述限位架(7)的左右两侧穿过限位板(6)，所述限位架(7)的两侧设有螺帽。

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