CN217586266U - 键盘按键寿命及性能测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种键盘按键寿命及性能测试工装，包括支架和设置在所述支架上的滑移组件，其中，所述滑移组件包括：滑块和带动所述滑块往复移动的滑块驱动部，在所述滑块的端部设置有测试传感器，所述测试传感器的触发端设置有突出的测试顶杆，所述测试顶杆的突出方向与滑块的移动方向相同或相反，在所述滑块往复移动的过程中带动测试顶杆往复移动，实现键盘上按键的连续按压。本实用新型通过滑移组件带动测试传感器实现周期性的往复滑动，通过测试顶杆实现对键盘按键的多次不间断的按压，从而完成对键盘按键的使用寿命的测试，通过测试传感器检测到的压力变化情况，对键盘按键的按压特性和回弹特性进行测试。

Description

键盘按键寿命及性能测试工装

技术领域

本实用新型涉及传感器使用技术领域，尤其是指一种键盘按键寿命及性能测试工装。

背景技术

一款好的计算机键盘需要有较长的使用寿命，一款新的键盘产品研发出来需要对键盘按键进行敲打测试，对按键进行不间断的几十万次的敲击，目前市面上的按键寿命测试仪价格非常昂贵，而且结构复杂，日常维护检修困难，现有的测试方式成本高，难以被广泛接受；

并且，现有的按键寿命测试仪也只能测试出键盘的使用寿命，没有办法对键盘的性能进行测试，例如，有些键盘在使用一段时间后，虽然还没有达到使用寿命，但是按键时的触感与出厂时还是有一定的差距的，也就是键盘的使用性能发生改变，通过现有的按键寿命测试仪无法对其使用性能进行评估。

实用新型内容

为此，本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中通过现有设备难以实现键盘按键寿命及性能的测试问题，提供一种键盘按键寿命及性能测试工装，设置测试传感器和滑移组件，通过滑移组件实现对键盘按键的反复冲压，通过测试传感器对冲压过程中的压力的实时变化进行监控。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种键盘按键寿命及性能测试工装，包括支架和设置在所述支架上的滑移组件，其中，所述滑移组件包括：滑块和带动所述滑块往复移动的滑块驱动部，在所述滑块的端部设置有测试传感器，所述测试传感器的触发端设置有突出的测试顶杆，所述测试顶杆的突出方向与滑块的移动方向相同或相反，在所述滑块往复移动的过程中带动测试顶杆往复移动，实现键盘上按键的连续按压。

在本实用新型的一个实施例中，所述滑块驱动部包括分别设置在滑块两端的动力驱动源和复位弹簧；

所述动力驱动源包括驱动电机和设置在驱动电机输出端的偏心轮，所述驱动电机带动所述偏心轮转动，所述偏心轮在转动的过程中，偏心的突出部推动所述滑块；

所述复位弹簧抵接在所述滑块上，在所述偏心轮转动到突出部朝向滑块时，所述突出部推动所述滑块移动，所述滑块向远离所述驱动电机的方向移动，所述滑块压缩所述复位弹簧，在所述偏心轮转动到突出部远离所述滑块时，所述滑块不再受到偏心轮的挤压，被压缩的复位弹簧回弹，所述复位弹簧推动所述滑块向靠近驱动电机的方向移动。

在本实用新型的一个实施例中，控制所述驱动电机的转动速度，从而控制滑块往复移动的频率。

在本实用新型的一个实施例中，控制所述驱动电机的转动次数，从而控制滑块往复移动的次数。

在本实用新型的一个实施例中，所述支架上设置有供所述滑块滑动的滑轨，所述滑块包括与滑轨配合的滑动部和突出于所述滑动部的用于安装所述测试传感器的安装部。

在本实用新型的一个实施例中，在所述安装部上能够并排安装多个测试传感器。

在本实用新型的一个实施例中，所述测试传感器与检测设备电连接，在按压键盘时，通过检测设备能够实时监控按压时和回弹时受力的变化。

在本实用新型的一个实施例中，所述支架上设置有接近开关，在所述滑块上设置有与接近开关配合的感应块，所述滑块每往复运动一次，感应块遮挡一次接近开关。

在本实用新型的一个实施例中，所述支架上设置有限位板，在所述限位板上设置有插入到所述滑块中的限位柱，所述复位弹簧套设在所述限位柱上，所述复位弹簧的两端分别抵接在限位板和滑块上。

在本实用新型的一个实施例中，所述支架滑动设置在Z轴滑台上。

本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

本实用新型所述的键盘按键寿命及性能测试工装，通过滑移组件带动测试传感器实现周期性的往复滑动，在测试传感器的触发端设置测试顶杆，在周期性往复滑动的过程中，通过测试顶杆实现对键盘按键的多次不间断的按压，通过控制滑移组件中滑块的滑动次数和滑动速度，控制对键盘按键的按压次数和按压频率，从而完成对键盘按键的使用寿命的测试，通过测试传感器检测到的压力变化情况，对键盘按键的按压特性和回弹特性进行测试。

附图说明

为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中

图1是本实用新型的键盘按键寿命及性能测试工装的整体结构示意图；

图2是本实用新型的支架和滑移组件的结构示意图；

说明书附图标记说明：1、支架；11、限位板；12、限位柱；13、接触开关；14、感应块；2、滑移组件；21、滑轨；22、滑块；23、驱动电机；24、偏心轮；25、复位弹簧；3、测试传感器；4、测试顶杆；5、Z轴滑台；

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。

参照图1和图2所示，本实用新型的键盘按键寿命及性能测试工装，包括支架1和设置在所述支架1上的滑移组件2，其中，所述滑移组件2包括：设置在所述支架1上的滑轨21、沿所述滑轨21延伸方向滑动的滑块22和带动所述滑块22往复移动的滑块驱动部；

所述滑块22包括与滑轨21配合的滑动部和突出于所述滑动部的安装部，在所述滑块22的安装部设置有测试传感器3，所述测试传感器3的触发端设置有突出的测试顶杆4，所述测试顶杆4的突出方向与滑块22的移动方向相同或相反，在所述滑块22往复移动的过程中带动测试顶杆4往复移动，实现键盘上按键的连续按压；

本实施例的键盘按键寿命及性能测试工装，通过滑移组件2带动测试传感器3实现周期性的往复滑动，在测试传感器3的触发端设置测试顶杆4，在周期性往复滑动的过程中，通过测试顶杆4实现对键盘按键的多次不间断的按压，通过控制滑移组件2中滑块的滑动次数和滑动速度，控制对键盘按键的按压次数和按压频率，从而完成对键盘按键的使用寿命的测试，通过测试传感器3检测到的压力变化情况，对键盘按键的按压特性和回弹特性进行测试。

本实施例的滑块驱动部需要带动所述滑块22周期性往复移动，所述滑块驱动部包括分别设置在滑块22两端的动力驱动源和复位弹簧25；

所述动力驱动源包括驱动电机23和设置在驱动电机23输出端的偏心轮24，所述偏心轮24的轴偏心连接在所述驱动电机23的输出端，所述驱动电机23带动所述偏心轮24转动，所述偏心轮24在转动的过程中，偏心的突出部推动所述滑块22；

所述支架1上设置有限位板11，在所述限位板11上设置有插入到所述滑块22中的限位柱12，所述复位弹簧25套设在所述限位柱12上，所述复位弹簧25的两端分别抵接在限位板11和滑块22上，在所述偏心轮24转动到突出部朝向滑块22时，所述突出部推动所述滑块22移动，所述滑块22向远离所述驱动电机23的方向移动，所述滑块22压缩所述复位弹簧25，对此时的滑块22受力分析，所述滑块22受到偏心轮24抵压的推力，同时也受到复位弹簧25压缩的反弹力，但是所述推力大于所述反弹力，在所述偏心轮24转动到突出部远离所述滑块22时，所述滑块22不再受到偏心轮24的挤压，被压缩的复位弹簧25回弹，对此时的滑块22受力分析，所述滑块22不在受到偏心轮24抵压的推力，仅受到复位弹簧25压缩的反弹力，所述复位弹簧25推动所述滑块22向靠近驱动电机23的方向移动，这样只要驱动电机23带动偏心轮24转动一周，就实现了一次滑块22往复移动的动作，控制驱动电机23连续匀速转动，从而就实现了滑块22周期性往复移动。

根据对上述实现滑块22周期性往复移动的分析，得知控制驱动电机23的转动情况能够控制测试的条件：

控制所述驱动电机23的转动速度，从而控制滑块22往复移动的频率，所述驱动电机23的转动速度越快，按压的频率越快；

控制所述驱动电机23的转动次数，从而控制滑块22往复移动的次数，驱动电机23每转动一周，就能完成一次的按压测试。

具体地，在所述支架1上设置有接近开关13，在所述滑块22上设置有与接近开关13配合的感应块14，所述滑块22每往复运动一次，感应块14遮挡一次接近开关13，通过感应块14与接近开关13配合实现对实际按压次数的实时统计。

具体地，为了进一步扩展本实施例的测试工装的使用范围，提高测试工装的工作效率和适用性，一方面对测试数量进行增加，在所述安装部上能够并排安装多个测试传感器3，通过滑块22的一次的周期性往复移动，实现对多个按键的同步测试；另一方面，对测试的按键类型进行扩展，将所述支架1滑动设置在Z轴滑台5上，在Z轴滑台5上调节支架1相对于底面的高度，适用于对不同高度的按键进行冲击，并且，所述测试顶杆4通过螺栓可拆卸的设置连接在测试传感器3上，根据不同的按键大小，可以采用不同的测试顶杆4。

本实施例中，将所述测试传感器3与检测设备电连接，在按压键盘时，通过检测设备能够实时监控按压时和回弹时受力的变化，并且，将每一次力的变化情况都拟合为时间和力度的曲线，正常情况下，在每一次冲压后，所述曲线都是完全重合的，即按键的性能没有发生改变，但是，随着测试数量的增加，即使能够正常按键，但是按键的性能也会逐渐发生变化，此时的曲线就不会完全重合，通过此测试工装，能够检测出性能发生变化的临界点，也能够检测出性能变化的情况。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。

Claims (8)

1.一种键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：包括支架和设置在所述支架上的滑移组件，其中，所述滑移组件包括：滑块和带动所述滑块往复移动的滑块驱动部，在所述滑块的端部设置有测试传感器，所述测试传感器的触发端设置有突出的测试顶杆，所述测试顶杆的突出方向与滑块的移动方向相同或相反，在所述滑块往复移动的过程中带动测试顶杆往复移动，实现键盘上按键的连续按压。

2.根据权利要求1所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述滑块驱动部包括分别设置在滑块两端的动力驱动源和复位弹簧；

所述动力驱动源包括驱动电机和设置在驱动电机输出端的偏心轮，所述驱动电机带动所述偏心轮转动，所述偏心轮在转动的过程中，偏心的突出部推动所述滑块；

所述复位弹簧抵接在所述滑块上。

3.根据权利要求1所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述支架上设置有供所述滑块滑动的滑轨，所述滑块包括与滑轨配合的滑动部和突出于所述滑动部的用于安装所述测试传感器的安装部。

4.根据权利要求3所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：在所述安装部上能够并排安装多个测试传感器。

5.根据权利要求1所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述测试传感器与检测设备电连接，在按压键盘时，通过检测设备能够实时监控按压时和回弹时受力的变化。

6.根据权利要求1所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述支架上设置有接近开关，在所述滑块上设置有与接近开关配合的感应块，所述滑块每往复运动一次，感应块遮挡一次接近开关。

7.根据权利要求2所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述支架上设置有限位板，在所述限位板上设置有插入到所述滑块中的限位柱，所述复位弹簧套设在所述限位柱上，所述复位弹簧的两端分别抵接在限位板和滑块上。

8.根据权利要求1所述的键盘按键寿命及性能测试工装，其特征在于：所述支架滑动设置在Z轴滑台上。

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