CN217443400U - 一种用于加电检测多个激光器芯片的装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，包括工作台，工作台侧壁端部开设有条形槽，工作台端部两侧均设有竖杆，位于右端的竖杆与工作台活动连接，竖杆侧壁开设有矩形槽，矩形槽内部设置有滑柱，滑柱端部套设有夹板一，夹板一两两相对的那面上均开设有放置槽，两个放置槽分别开设于夹板一侧面上下两端，夹板一侧壁中心部位活动安装有中心柱，中心柱端部套设有夹板二，夹板一和夹板二侧壁贴合部分两两分别通过连接柱安装在一起，夹板二通过连接柱与竖杆活动连接，工作台侧壁内部设置有推动机构，在夹板一和夹板二的相对收缩下对激光器芯片进行夹持，使得该设备可适用于任意大小的激光器芯片，适用范围更广。

Description

一种用于加电检测多个激光器芯片的装置

技术领域

本申请涉及激光器芯片检测技术领域，尤其涉及一种用于加电检测多个激光器芯片的装置。

背景技术

激光器是能发射激光的装置，按工作介质分，激光器可分为气体激光器、固体激光器、半导体激光器和染料激光器，近来还发展了自由电子激光器，大功率激光器通常都是脉冲式输出。

如中国专利公开了：一种加工车间用电子芯片检测装置，公开号：CN212341375U，其是通过治具和放置槽等的配合使用，测试完成后，将不合格芯片取出，放置有芯片的治具整体放入带有与滑块相对应滑槽的存储架，一方面避免会造成芯片之间的碰撞，另一方面避免造成芯片之间产生静电从而导致检测完成后的芯片受损，但该检测装置只能单独加电检测质量，需要逐个针对芯片进行拆卸，再逐个检测，工步比较繁琐，检测效率低下，且无法针对大小不同的芯片进行检测。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

本申请实施例采用下述技术方案：一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，包括工作台，所述工作台侧壁端部开设有条形槽，所述工作台端部两侧均设有竖杆，位于右端的所述竖杆与工作台活动连接，所述竖杆侧壁开设有矩形槽，所述矩形槽内部设置有滑柱，所述滑柱端部套设有夹板一，所述夹板一侧壁中心部位活动安装有中心柱，所述中心柱端部套设有夹板二，所述夹板二通过连接柱与竖杆活动连接；

所述工作台侧壁内部设置有推动机构。

所述推动机构包括螺纹柱，所述螺纹柱螺纹内设在工作台侧壁内部，所述螺纹柱端部固定安装有螺帽，所述螺纹柱远离螺帽的那端套设有套环，所述套环端部固定安装有连接块，所述连接块活动安装在条形槽内部，所述工作台侧壁中部开设有螺纹槽，所述螺纹槽内壁端部开设有柱槽；

所述中心柱两侧端部均固定安装有限位机构。

所述限位机构包括挡片，所述挡片固定安装在中心柱两侧端部，所述夹板二侧壁中部开设有连接孔一，所述夹板一侧壁中部开设有连接孔二，所述中心柱活动内设在连接孔一和连接孔二内部，所述夹板二侧壁开设有芯片槽。

优选的，所述夹板一和夹板二侧壁贴合部分两两分别通过连接柱安装在一起。

优选的，两个所述挡片相对的那面分别贴合在夹板一和夹板二侧壁上。

优选的，所述连接块与安装板相对的那面固定安装在一起。

优选的，所述夹板一两两相对的那面上均开设有放置槽，两个所述放置槽分别开设于夹板一侧面上下两端。

本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：

其一，使用时，使用者可先将激光器芯片放置在芯片槽内部，此时转动螺帽，在螺帽的转动下带动螺纹柱在螺纹槽内部随之发生转动并向左发生移动，此时螺纹柱带动套设在其表面的套环向左移动，在套环的移动下带动与之固定的连接块发生移动，此时连接块带动与之固定的安装板向左移动，安装板带动竖杆随之向左发生移动，此时竖杆带动夹板一和夹板二分别绕着中心柱发生收缩，在夹板一和夹板二的相对收缩下对激光器芯片进行夹持，使得该设备在使用时可适用于任意大小的激光器芯片，适用范围更广。

其二，使用时，可先在多个夹板一和夹板二内部的芯片槽和放置槽内部放置激光器芯片，正反面和上下端均可放置，当转动螺帽带动夹板一和夹板二发生收缩后，可同时对多个激光器芯片进行夹持，使得该设备在使用时可同时对多个激光器芯片进行加电检测，检测效率更高。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型工作台连接结构示意图；

图3为本实用新型螺纹柱连接爆炸结构示意图；

图4为本实用新型中心柱连接爆炸结构示意图；

图5为本实用新型夹板二结构示意图。

图中：11、工作台；12、条形槽；13、安装板；14、竖杆；15、矩形槽；16、滑柱；17、夹板一；18、中心柱；19、夹板二；21、螺纹柱；22、螺帽；23、套环；24、连接块；25、螺纹槽；26、柱槽；31、挡片；32、连接孔一；33、连接孔二；34、芯片槽。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。

实施例一，请参阅图1、图4和图5，本实用新型提供一种用于加电检测多个激光器芯片的装置技术方案：包括工作台11，工作台11侧壁端部开设有条形槽12，工作台11端部两侧均设有竖杆14，位于右端的竖杆14与工作台11活动连接，竖杆14侧壁开设有矩形槽15，矩形槽15内部设置有滑柱16，滑柱16端部套设有夹板一17，夹板一17两两相对的那面上均开设有放置槽，两个放置槽分别开设于夹板一17侧面上下两端，夹板一17侧壁中心部位活动安装有中心柱18，中心柱18端部套设有夹板二19，夹板一17和夹板二19侧壁贴合部分两两分别通过连接柱安装在一起，夹板二19通过连接柱与竖杆14活动连接；

工作台11侧壁内部设置有推动机构。

推动机构包括螺纹柱21，螺纹柱21螺纹内设在工作台11侧壁内部，螺纹柱21端部固定安装有螺帽22，螺纹柱21远离螺帽22的那端套设有套环23，套环23端部固定安装有连接块24，连接块24与安装板13相对的那面固定安装在一起，连接块24活动安装在条形槽12内部，工作台11侧壁中部开设有螺纹槽25，螺纹槽25内壁端部开设有柱槽26；

使用时：使用者可先将激光器芯片放置在芯片槽34内部，此时转动螺帽22，在螺帽22的转动下带动螺纹柱21在螺纹槽25内部随之发生转动并向左发生移动，此时螺纹柱21带动套设在其表面的套环23向左移动，在套环23的移动下带动与之固定的连接块24发生移动，此时连接块24带动与之固定的安装板13向左移动，安装板13带动竖杆14随之向左发生移动，此时竖杆14带动夹板一17和夹板二19分别绕着中心柱18发生收缩，在夹板一17和夹板二19的相对收缩下对激光器芯片进行夹持，使得该设备在使用时可适用于任意大小的激光器芯片，适用范围更广。

实施例二，请参阅图2和图3，在实施例一的基础上，中心柱18两侧端部均固定安装有限位机构。

限位机构包括挡片31，挡片31固定安装在中心柱18两侧端部，两个挡片31相对的那面分别贴合在夹板一17和夹板二19侧壁上，夹板二19侧壁中部开设有连接孔一32，夹板一17侧壁中部开设有连接孔二33，中心柱18活动内设在连接孔一32和连接孔二33内部，夹板二19侧壁开设有芯片槽34。

使用时：可先在多个夹板一17和夹板二19的芯片槽34和放置槽内部内部放置激光器芯片，正反面和上下端均可放置，当转动螺帽22带动夹板一17和夹板二19发生收缩后，可同时对多个激光器芯片进行夹持，使得该设备在使用时可同时对多个激光器芯片进行加电检测，检测效率更高。

本领域内的技术人员应明白，本实用新型的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本实用新型可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本实用新型可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (7)

1.一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，包括工作台（11），所述工作台（11）侧壁端部开设有条形槽（12），所述工作台（11）端部两侧均设有竖杆（14），位于右端的所述竖杆（14）与工作台（11）活动连接，其特征在于：所述竖杆（14）侧壁开设有矩形槽（15），所述矩形槽（15）内部设置有滑柱（16），所述滑柱（16）端部套设有夹板一（17），所述夹板一（17）侧壁中心部位活动安装有中心柱（18），所述中心柱（18）端部套设有夹板二（19），所述夹板二（19）通过连接柱与竖杆（14）活动连接；

所述工作台（11）侧壁内部设置有推动机构。

2.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：所述推动机构包括螺纹柱（21），所述螺纹柱（21）螺纹内设在工作台（11）侧壁内部，所述螺纹柱（21）端部固定安装有螺帽（22），所述螺纹柱（21）远离螺帽（22）的那端套设有套环（23），所述套环（23）端部固定安装有连接块（24），所述连接块（24）活动安装在条形槽（12）内部，所述工作台（11）侧壁中部开设有螺纹槽（25），所述螺纹槽（25）内壁端部开设有柱槽（26）；

所述中心柱（18）两侧端部均固定安装有限位机构。

3.根据权利要求2所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：所述限位机构包括挡片（31），所述挡片（31）固定安装在中心柱（18）两侧端部，所述夹板二（19）侧壁中部开设有连接孔一（32），所述夹板一（17）侧壁中部开设有连接孔二（33），所述中心柱（18）活动内设在连接孔一（32）和连接孔二（33）内部，所述夹板二（19）侧壁开设有芯片槽（34）。

4.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：所述夹板一（17）和夹板二（19）侧壁贴合部分两两分别通过连接柱安装在一起。

5.根据权利要求3所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：两个所述挡片（31）相对的那面分别贴合在夹板一（17）和夹板二（19）侧壁上。

6.根据权利要求2所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：所述连接块（24）与安装板（13）相对的那面固定安装在一起。

7.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于：所述夹板一（17）两两相对的那面上均开设有放置槽，两个所述放置槽分别开设于夹板一（17）侧面上下两端。

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