CN217404406U - 天线测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种天线测试治具，包括固定支架、测试平台、复位弹簧组件、驱动机构、浮动机构、以及测试机构，其中固定支架的侧板上设有第一通孔结构，浮动机构上设有与第一通孔结构相对设置的凹槽结构，凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿第一通孔结构的推杆，推杆远离驱动件的一端与凹槽结构匹配连接；测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，限位槽用于固定待测天线，测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，测试夹贯穿线夹通孔结构。与现有技术相比，本申请便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高，具有复位功能，有利于进行自动化测试。

Description

天线测试治具

技术领域

本实用新型涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线测试治具。

背景技术

现有的天线测试治具，一般将待测天线置于测试位置后，通过气缸或电机将测试板覆盖在待测天线上方进行测试。这种测试方法，挡住了操作人员的实现，容易造成待测天线摆放位置不准确，且测试时测试板下压与馈点接触存在接触不良的现象。

因此，亟需一种便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高的天线测试治具。

实用新型内容

本申请实施例提供一种天线测试治具，便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高，具有复位功能，有利于进行自动化测试，提高测试效率，解放劳动力。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：

一种天线测试治具，包括固定支架和位于所述固定支架上方的测试平台，所述固定支架与所述测试平台通过复位弹簧组件连接，还包括驱动机构、与所述测试平台固定连接的浮动机构、以及与所述固定支架固定连接的测试机构，其中：

所述固定支架的侧板上设有第一通孔结构，所述浮动机构上设有与所述第一通孔结构相对设置的凹槽结构，所述凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；

所述驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿所述第一通孔结构的推杆，所述推杆远离所述驱动件的一端与所述凹槽结构匹配连接；

所述测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，所述限位槽用于固定待测天线，所述测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，所述测试夹贯穿所述线夹通孔结构；

当向靠近所述驱动件一端拉动所述推杆，所述复位弹簧组件解压，所述测试平台上移，所述测试夹紧夹所述待测天线；

当向远离所述驱动件一端推动所述推杆，所述复位弹簧组件压缩，所述测试平台下移，所述测试夹松夹所述待测天线。

优选地，所述推杆上设有第一限位环，所述第一限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第一限位环位于所述推杆远离所述浮动机构的一侧。

优选地，所述推杆上设有第二限位环，所述第二限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第二限位环位于所述固定支架与所述浮动机构之间。

优选地，所述推杆与所述第一通孔结构通过螺纹结构连接。

优选地，还包括设置在所述浮动机构内且与所述固定支架固定连接的固定机构，所述固定机构包括固定筒和固定闩，所述固定闩穿过所述测试夹将所述测试夹固定在所述固定筒上，所述测试机构贯穿所述固定筒。

优选地，还包括限位片，所述测试平台上设有安装所述限位片的限位卡槽，所述限位片用于精准定位所述待测天线。

优选地，所述测试夹包括线夹本体和收紧部，所述线夹本体与测试馈线电性连接，所述收紧部用于根据所述推杆的位置夹紧或夹松所述待测天线。

优选地，所述收紧部靠近所述待测天线的侧壁上设有凸起结构，当所述收紧部夹紧所述待测天线时，所述凸起结构与所述待测天线抵接。

优选地，还包括固定在所述固定支架上的防护罩，所述防护罩用于防护所述天线测试治具。

本实用新型的有益效果在于：不管出于测试状态还是未测试状态，待测天线均位于测试平台顶部，便于操作人员观察；测试机构为提前电性连接好的测试夹、测试馈线和测试电路板，待测天线通过浮动机构能够在测试状态下与测试夹形成良好的电性接触，在完成测试后又可以通过复位弹簧组件恢复至未测试状态，保障测试过程接触稳定性的同时，还有利于促进测试过程的自动化发展，提高测试效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例中天线测试治具的结构示意图；

图2为图1所示的天线测试治具的结构爆炸示意图；

图3为本实用新型实施例中天线测试治具(含防护罩)的结构示意图；

图4为图3所示的天线测试治具未测试状态下的结构示意图；

图5为图4所示的天线测试治具的正视图；

图6为图4所示的天线测试治具的第一剖面示意图；

图7为图4所示的天线测试治具的第二剖面示意图；

图8为图3所示的天线测试治具测试状态下的结构示意图；

图9为图8所示的天线测试治具的正视图；

图10为图8所示的天线测试治具的第一剖面示意图；

图11为图8所示的天线测试治具的第二剖面示意图；

图12为本实用新型实施例中测试平台的结构示意图；

图13为本实用新型实施例中固定筒的结构示意图；

图14为本实用新型实施例中测试夹与测试馈线的结构示意图；

图15为本实用新型实施例中限位片的结构示意图。

附图标记：100、固定支架；110、侧板；111、第一通孔结构；200、测试平台；210、限位槽；220、限位卡槽；230、线夹通孔结构；300、复位弹簧组件；310、固定柱；320、复位弹簧；330、固定螺栓；400、驱动机构；410、驱动件；420、推杆；421、端部；430、第一限位环；500、浮动机构；511、凹槽结构；512、第二通孔结构；600、测试机构；610、测试夹；611、线夹本体；611A、第三通孔结构；612、收紧部；612A、凸起结构；620、测试馈线；630、测试电路板；700、固定机构；710、固定筒；711、第四通孔结构；712、馈线出口；720、固定闩；810、限位片；811、固定部；812、限位部；812A、限位凹槽；820、防护罩；900、被测天线；910、导电层；920、屏蔽层。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。

本申请实施例通过提供一种天线测试治具，解决现有技术中天线测试过程观察不便且测试时测试板下压与馈点存在接触不良的技术问题。需要说明的是，本申请中，上、上侧、或顶、顶部指的是测试平台相对于固定支架所在的方向，与之相反的方向为下、下侧、或底、底部。

如图1至图15所示，为本申请实施例：

一种天线测试治具包括固定支架100、测试平台200、复位弹簧组件300以及驱动机构400、浮动机构500和测试机构600，用于测试被测天线900的驻波比。其中，复位弹簧组件300包括固定柱310、复位弹簧320和固定螺栓330，固定柱310固定安装在固定支架100的顶部并贯穿测试平台200，复位弹簧320套设在固定柱310上，测试平台200位于复位弹簧320上侧，固定螺栓330位于测试平台200的上方。浮动机构500位于测试平台200的下方并与测试平台200固定连接，测试机构600与固定支架100之间固定连接。

固定支架100的侧板110上设有第一通孔结构111，浮动机构500上设有与第一通孔结构111相对设置的凹槽结构511，凹槽结构511沿着斜向上的方向延伸。驱动机构400包括相互连接的驱动件410和贯穿第一通孔结构111的推杆420，推杆420远离驱动件410的一端端部421与凹槽结构511匹配连接。其中，驱动件410可以是气缸，也可以是电机，还可以是其他驱动设备，本申请不再作具体限定。测试平台200上设有限位槽210与线夹通孔结构230，限位槽210用于固定待测天线900，测试机构600包括依次电性连接的测试夹610、测试馈线620和测试电路板630，测试夹610贯穿线夹通孔结构230。需要说明的是，一般天线测试治具中，有两组测试机构600，一组测试机构600的测试夹610与被测天线900的屏蔽层920电性连接，另一组测试机构600的测试夹610与被测天线900的导电层910电性连接。

当天线测试治具处于未测试的状态时，如图6所示，推杆420的端部421嵌入凹槽结构511内，对浮动机构500施加一个向下的作用力，测试平台200向下压缩复位弹簧320，此时测试夹610夹松待测天线900；如图10所示，当向靠近驱动件410一端拉动推杆420，端部421部分脱离凹槽结构511，对浮动机构500施加向下的作用力减小，复位弹簧320恢复部分长度使得测试平台200与浮动机构500向上移动，此时测试夹610夹紧待测天线900，天线测试治具处于测试状态；当完成测试后，向着远离驱动件410一端推动推杆420，端部421重新嵌入凹槽结构511内，重新对浮动机构500施加一个较大的作用力，压缩复位弹簧320使得测试平台200下移，测试夹610松夹待测天线900，恢复至测试前的状态。

本申请所要求保护的天线测试治具，不管出于测试状态还是未测试状态，待测天线均位于测试平台顶部，便于操作人员观察；测试机构为提前电性连接好的测试夹、测试馈线和测试电路板，待测天线通过浮动机构能够在测试状态下与测试夹形成良好的电性接触，在完成测试后又可以通过复位弹簧组件恢复至未测试状态，保障测试过程接触稳定性的同时，还有利于促进测试过程的自动化发展，提高测试效率。

优选地，如图5、图6和图9、图10所示，推杆420上设有第一限位环430，第一限位环430的内径不小于第一通孔结构111的直径，第一限位环430位于推杆420远离浮动机构500的一侧。设置第一限位环430能够确保每次推动推杆420至相同的位置，保障测试的一致性。

优选地，推杆420上设有第二限位环(图中未示出)，第二限位环的内径不小于第一通孔结构111的直径，第二限位环位于固定支架100与浮动机构500之间。设置第二限位环，能够防止在向靠近驱动件410的方向拉动推杆420时，将推杆420脱离凹槽结构511，影响测试完成后天线测试治具的复位，进而有利于保障测试过程的连贯性，有利于促进测试过程自动化。

优选地，推杆420与第一通孔结构111通过螺纹结构连接，即在推杆420上设置外螺纹结构，并在第一通孔结构111的内壁上设置与外螺纹匹配的螺纹结构，并对推杆420的端部421的连接结构进行改进，通过转动推杆420使得端部421直接向着凹槽结构511前进或者后退，可以通过控制转动推杆420的圈数来保障测试过程的一致性。

优选地，天线测试治具还包括设置在浮动机构500内且与固定支架100固定连接的固定机构700，固定机构700包括固定筒710和固定闩720，固定闩720穿过测试夹610将测试夹610固定在固定筒710上，测试机构600贯穿固定筒710。具体地，如图2、图6、图13和图14所示，浮动机构500设有第二通孔结构512，固定筒710置于第二通孔结构512内，且固定筒710与固定支架100固定连接。固定筒710的顶部相对两侧壁上设有第四通孔结构711，测试夹610上设置有第三通孔结构611A，固定闩720贯穿第三通孔结构611A与第四通孔结构711将测试夹610与固定筒710固定连接。固定筒710的底部或者其侧壁的底部设有馈线出口712，测试馈线620穿过馈线出口712与测试电路板630电性连接在一起。

优选地，天线测试治具还包括限位片810，测试平台200上设有安装限位片810的限位卡槽220，限位片810用于精准定位待测天线900。更为具体地，如图15所示，限位片810包括固定部811和限位部812，固定部811与限位卡槽220嵌合，限位部812上设有限位凹槽812A，待测天线900与限位凹槽812A卡合，能够实现待测天线900的精准定位，且能够防止测试平台200在上下浮动过程中待测天线900发生晃动。

优选地，测试夹610包括线夹本体611和收紧部612，线夹本体611与测试馈线620电性连接，收紧部612用于根据推杆420的位置夹紧或夹松待测天线900。示例性的，如图14所示，线夹本体611呈U型，其相对设置的一对侧壁的底部设有第三通孔结构611A供固定闩720穿过，以将测试夹610固定在固定筒710上。收紧部612的两侧壁之间的距离大于线夹本体611两侧壁之间的距离，当测试平台200上移后，收紧部612对位于其中央的待测天线900形成一个挤压力，提高测试过程中测试夹610与待测天线900接触的稳定性。更为具体地，如图14所示，收紧部612靠近待测天线900的侧壁上设有凸起结构612A，当收紧部612夹紧待测天线900时，凸起结构612A与待测天线900抵接，可进一步提高测试过程中测试夹610与待测天线900接触的稳定性，提高测试结果的准确度。

优选地，如图3所示，天线测试治具还包括固定在固定支架100上的防护罩820，防护罩820用于防护天线测试治具。更为具体地，在固定支架100的安装待测天线900的一侧安装防护罩820，或者在固定支架100的安装待测天线900的一侧及与其相对的一侧均安装防护罩820。防护罩820一般选用透明材料制品，在防护天线测试治具的同时，便于观察天线测试治具的内部状况。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种天线测试治具，其特征在于，包括固定支架和位于所述固定支架上方的测试平台，所述固定支架与所述测试平台通过复位弹簧组件连接，还包括驱动机构、与所述测试平台固定连接的浮动机构、以及与所述固定支架固定连接的测试机构，其中：

所述固定支架的侧板上设有第一通孔结构，所述浮动机构上设有与所述第一通孔结构相对设置的凹槽结构，所述凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；

所述驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿所述第一通孔结构的推杆，所述推杆远离所述驱动件的一端与所述凹槽结构匹配连接；

所述测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，所述限位槽用于固定待测天线，所述测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，所述测试夹贯穿所述线夹通孔结构；

当向靠近所述驱动件一端拉动所述推杆，所述复位弹簧组件解压，所述测试平台上移，所述测试夹紧夹所述待测天线；

当向远离所述驱动件一端推动所述推杆，所述复位弹簧组件压缩，所述测试平台下移，所述测试夹松夹所述待测天线。

2.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：所述推杆上设有第一限位环，所述第一限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第一限位环位于所述推杆远离所述浮动机构的一侧。

3.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：所述推杆上设有第二限位环，所述第二限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第二限位环位于所述固定支架与所述浮动机构之间。

4.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：所述推杆与所述第一通孔结构通过螺纹结构连接。

5.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：还包括设置在所述浮动机构内且与所述固定支架固定连接的固定机构，所述固定机构包括固定筒和固定闩，所述固定闩穿过所述测试夹将所述测试夹固定在所述固定筒上，所述测试机构贯穿所述固定筒。

6.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：还包括限位片，所述测试平台上设有安装所述限位片的限位卡槽，所述限位片用于精准定位所述待测天线。

7.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：所述测试夹包括线夹本体和收紧部，所述线夹本体与测试馈线电性连接，所述收紧部用于根据所述推杆的位置夹紧或夹松所述待测天线。

8.根据权利要求7所述的天线测试治具，其特征在于：所述收紧部靠近所述待测天线的侧壁上设有凸起结构，当所述收紧部夹紧所述待测天线时，所述凸起结构与所述待测天线抵接。

9.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：还包括固定在所述固定支架上的防护罩，所述防护罩用于防护所述天线测试治具。

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