CN217332561U - Ook接收芯片的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及OOK接收芯片测试技术领域,公开了OOK接收芯片的测试装置，包括PCB测试板，所述PCB测试板上设有芯片安装座、时钟信号产生电路、第一信号输入接头、第一阻抗匹配电路、第二信号输入接头、第二阻抗匹配电路和接口电路；在实际使用时，芯片安装座上可以放置两种引脚定义的OOK接收芯片，OOK接收芯片通过第一阻抗匹配电路或者第二阻抗匹配电路接收或发射信号，能对多种型号的OOK接收芯片进行测试，避免在PCB电路板制造完成后出现OOK接收芯片不符合要求的情况。

Description

OOK接收芯片的测试装置

技术领域

本实用新型涉及OOK接收芯片测试技术领域，具体涉及OOK接收芯片的测试装置。

背景技术

在电子产品的开发历程中，大多需要进行元器件选型(包括MCU型号选型、驱动芯片选型、通信芯片信号选型、无线信号接收芯片选型、AD转换芯片选型和电源芯片选型等等)、PCB板的电路布局设计、PCB板生产、元器件焊接和PCB 电路板测试等等，整个开发历程周期较长且需大量成本投入，如果PCB电路板的最后测试结果达不到要求，例如信号接收芯片不能在特定的环境中接收信号，都会造成成本浪费，因此需要在PCB电路板制成前完成芯片的功能测试，从而避免过长的研发周期和成本浪费。

目前，对于国内外主流的生产厂家生产的(sub-1G)OOK接收芯片的架构和引脚存在差异，对于采用OOK接收芯片的研发人员来说，如果只是根据OOK 接收芯片的产品手册进行选型，而不经过测试，那么在产品设计完成后极有可能芯片不匹配的情况，因此需要提前对OOK接收芯片进行测试，来筛选出符合要求的OOK接收芯片。另外由于OOK接收芯片的引脚差异，缺少一种测试装置能对多种型号的OOK接收芯片进行测试。

实用新型内容

鉴于背景技术的不足，本实用新型是提供了OOK接收芯片的测试装置，能对多种OOK接收芯片进行测试。

为解决以上技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：OOK接收芯片的测试装置，包括PCB测试板，所述PCB测试板上设有芯片安装座、时钟信号产生电路、第一信号输入接头、第一阻抗匹配电路、第二信号输入接头、第二阻抗匹配电路和接口电路；所述接口电路包括电源连接端子、接地端子和信号端子；所述芯片安装座包括两排引脚，每排引脚包括八个引脚，一排引脚从上往下分别为第一引脚、第二引脚……第八引脚，另一排引脚从下往上分别为第九引脚、第十引脚……第十六引脚；所述时钟信号产生电路的信号输出端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接；第六引脚、第八引脚、第十四引脚和第十五引脚均与所述接地端子电连接；第四引脚、第十引脚和第十一引脚分别通过电容接地；第三引脚和第七引脚均与所述电源连接端子电连接；第九引脚和第十六引脚均与所述信号端子电连接；所述第一信号输入接头与所述第一阻抗匹配电路的输入端电连接，所述第一阻抗匹配电路的输出端与第二引脚电连接；所述第二信号输入接头与所述第二阻抗匹配电路的输入端电连接，所述第二阻抗匹配电路的输出端与第五引脚电连接。

在某种实施方式中，所述第一阻抗匹配电路包括电感L1、电容C3、电容 C4、和电感L2，所述第一信号输入接头分别与所述电感L1一端、电容C3一端和电容C4一端电连接，所述电容C3另一端分别与电感L2一端和第二引脚电连接；所述电感L1另一端、电容C4另一端和电感L2另一端均与所述接地端子电连接。

在某种实施方式中，所述第二阻抗匹配电路包括电感L3、电容C6、电容 C8、和电感L4，所述第二信号输入接头分别与所述电感L3一端、电容C6一端和电容C8一端电连接，所述电容C6另一端分别与电感L4一端和第五引脚电连接；所述电感L3另一端、电容C8另一端和电感L4另一端均与所述接地端子电连接。

在某种实施方式中，所述时钟信号产生电路包括晶振，所述晶振一端接地，所述晶振另一端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接。在实际使用时，通过更换晶振的型号来产生不同频率的时钟信号，以此适配工作在不同频段的OOK接收芯片。

在某种实施方式中，所述电源连接端子分别与电容C1一端和电容C2一端电连接，所述电容C1另一端和电容C2另一端均接地。

在某种实施方式中，所述芯片安装座包括底座和插座，所述底座焊接在所述 PCB测试板上，所述插座插在所述底座上。

在实际使用时，芯片安装座的第一至第四引脚、第十二至第十六引脚用于与第一种引脚定义的OOK接收芯片(例如JS3090、SYN470、SYN480、SYN590、 SYN590、CMT2220LS、WS480、WS490F、WL600、WL700和RR232)的引脚电连接，第一种引脚定义的OOK接收芯片通过第一阻抗匹配电路接收信号，第一种引脚分布的OOK接收芯片的输出信号与输入到信号端子上，可以使用示波器或者单片机对信号端子处的信号进行显示检测，从而判断OOK接收芯片是否能满足要求。

在实际使用时，芯片安装座的第五至第八引脚、第九至第十二引脚用于与第二种引脚定义的OOK接收芯片(例如JS3091、SYN531R、CMT2220LY、WS531、 VT831R和WL531)的引脚电连接，第一种引脚定义的OOK接收芯片通过第二阻抗匹配电路接收信号，第二种引脚定义的OOK接收芯片的输出信号与输入到信号端子上，可以使用示波器或者单片机对信号端子处的信号进行显示检测，从而判断OOK接收芯片是否能满足要求。

本实用新型与现有技术相比所具有的有益效果是：通过使用本实用新型可以提前对OOK接收芯片进行测试，判断选用的OOK接收芯片是否符合要求，避免在PCB电路板制造完成后出现OOK接收芯片不符合要求的情况；另外通过使用本实用新型可以对多种型号的OOK接收芯片进行测试；最后由于芯片安装座包括底座和插座，底座焊接在PCB电路板上，通过将插座焊接在PCB电路板上，将插座插在底座上，在实际使用时，只需将芯片放在底座上即可，不用焊接芯片，方便芯片取放。

附图说明

图1为实施例中的PCB电路板上的电路结构示意图；

图2为实施例中的芯片安装座的引脚连接示意图；

图3为实施例中的接口电路的电路图；

图4为实施例中的第一信号输入接头和第一阻抗匹配电路的电路图；

图5为实施例中的第二信号输入接头和第一阻抗匹配电路的电路图。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1所示，OOK接收芯片的测试装置，包括PCB测试板，PCB测试板上设有芯片安装座1、时钟信号产生电路2、第一信号输入接头4、第一阻抗匹配电路5、第二信号输入接头6、第二阻抗匹配电路7和接口电路3；

如图3所示，接口电路3包括电源连接端子VDD、接地端子和信号端子DATA；

如图2所示，芯片安装座包括两排引脚，每排引脚包括八个引脚，一排引脚从上往下分别为第一引脚、第二引脚……第八引脚，另一排引脚从下往上分别为第九引脚、第十引脚……第十六引脚；其中第一至第四引脚、第十二至第十六引脚用于与第一种引脚定义的OOK接收芯片(例如JS3090、SYN470、SYN480、 SYN590、SYN590、CMT2220LS、WS480、WS490F、WL600、WL700和RR232) 的引脚电连接；第五至第八引脚、第九至第十二引脚用于与第二种引脚定义的 OOK接收芯片(例如JS3091、SYN531R、CMT2220LY、WS531、VT831R和 WL531)的引脚电连接；

时钟信号产生电路2的信号输出端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接，分别向第十六引脚和第十二引脚输入时钟信号，该时钟信号用于驱动第一种引脚定义的OOK接收芯片或者第二种引脚定义的OOK接收芯片工作；具体地，时钟信号产生电路2包括晶振，晶振一端接地，晶振另一端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接；在实际使用时，通过更换晶振的型号来产生不同频率的时钟信号，以此适配工作在不同频段的OOK接收芯片；

第六引脚、第八引脚、第十四引脚和第十五引脚均与接地端子电连接；第四引脚、第十引脚和第十一引脚分别通过电容C5、电容C9和电容C7接地；第三引脚和第七引脚均与电源连接端子VDD电连接；第九引脚和第十六引脚均与信号端子DATA电连接；

如图1所示，第一信号输入接头4与第一阻抗匹配电路5的输入端电连接，第一阻抗匹配电路5的输出端与第二引脚电连接；第二信号输入接头6与第二阻抗匹配电路7的输入端电连接，第二阻抗匹配电路7的输出端与第五引脚电连接。

另外，本实施例中，芯片安装座1包括底座和插座，底座焊接在PCB电路板上，插座插在底座上。在实际使用时，只需让OOK接收芯片放在插座上即可，不用将OOK接收芯片焊接在PCB电路板上，方便测试。

需要注意的是，在实际测试时，本实用新型同时只能对一种引脚定义的OOK 接收芯片进行测试。当OOK接收芯片放在底座上时，OOK接收芯片通过第一阻抗匹配电路5或者第二阻抗匹配电路7接收或者发送信号，OOK接收芯片的输出信号输出到信号端子DATA上，通过示波器或者单片机对信号端子DATA处的信号进行显示检测，从而判断OOK接收芯片是否能满足要求。

另外在实际使用时，本实用新型可以对多种型号的OOK接收芯片进行测试，不用针对某一种型号的OOK接收芯片设计特定的测试电路。

如图4所示，本实施例中，第一阻抗匹配电路5包括电感L1、电容C3、电容C4、和电感L2，第一信号输入接头4分别与电感L1一端、电容C3一端和电容C4一端电连接，电容C3另一端分别与电感L2一端和第二引脚电连接；所述电感L1另一端、电容C4另一端和电感L2另一端均与所述接地端子电连接。

如图5所示，本实施例中，第二阻抗匹配电路7包括电感L3、电容C6、电容C8、和电感L4，第二信号输入接头6分别与电感L3一端、电容C6一端和电容C8一端电连接，电容C6另一端分别与电感L4一端和第五引脚电连接；电感 L3另一端、电容C8另一端和电感L4另一端均与接地端子电连接。

在实际使用时，当OOK接收芯片需要匹配不同的阻抗时，只需更换第一阻抗匹配电路5的电感和电容的值或者第二阻抗匹配电路7的电感和电容的值即可。

综上，通过使用本实用新型可以提前对OOK接收芯片进行测试，判断选用的OOK接收芯片是否符合要求，避免在PCB电路板制造完成后出现OOK接收芯片不符合要求的情况；另外通过使用本实用新型可以对多种型号的OOK接收芯片进行测试；最后由于芯片安装座1包括底座和插座，底座焊接在PCB电路板上，通过将插座焊接在PCB电路板上，将插座插在底座上，在实际使用时，只需将芯片放在底座上即可，不用焊接芯片，方便芯片取放。

上述依据本实用新型为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (6)

1.OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，包括PCB测试板，所述PCB测试板上设有芯片安装座、时钟信号产生电路、第一信号输入接头、第一阻抗匹配电路、第二信号输入接头、第二阻抗匹配电路和接口电路；所述接口电路包括电源连接端子、接地端子和信号端子；所述芯片安装座包括两排引脚，每排引脚包括八个引脚，一排引脚从上往下分别为第一引脚、第二引脚……第八引脚，另一排引脚从下往上分别为第九引脚、第十引脚……第十六引脚；所述时钟信号产生电路的信号输出端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接；第六引脚、第八引脚、第十四引脚和第十五引脚均与所述接地端子电连接；第四引脚、第十引脚和第十一引脚分别通过电容接地；第三引脚和第七引脚均与所述电源连接端子电连接；第九引脚和第十六引脚均与所述信号端子电连接；所述第一信号输入接头与所述第一阻抗匹配电路的输入端电连接，所述第一阻抗匹配电路的输出端与第二引脚电连接；所述第二信号输入接头与所述第二阻抗匹配电路的输入端电连接，所述第二阻抗匹配电路的输出端与第五引脚电连接。

2.根据权利要求1所述的OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，所述第一阻抗匹配电路包括电感L1、电容C3、电容C4、和电感L2，所述第一信号输入接头分别与所述电感L1一端、电容C3一端和电容C4一端电连接，所述电容C3另一端分别与电感L2一端和第二引脚电连接；所述电感L1另一端、电容C4另一端和电感L2另一端均与所述接地端子电连接。

3.根据权利要求1所述的OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，所述第二阻抗匹配电路包括电感L3、电容C6、电容C8、和电感L4，所述第二信号输入接头分别与所述电感L3一端、电容C6一端和电容C8一端电连接，所述电容C6另一端分别与电感L4一端和第五引脚电连接；所述电感L3另一端、电容C8另一端和电感L4另一端均与所述接地端子电连接。

4.根据权利要求1所述的OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，所述时钟信号产生电路包括晶振，所述晶振一端接地，所述晶振另一端分别与第十六引脚和第十二引脚电连接。

5.根据权利要求1所述的OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，所述电源连接端子分别与电容C1一端和电容C2一端电连接，所述电容C1另一端和电容C2另一端均接地。

6.根据权利要求1所述的OOK接收芯片的测试装置，其特征在于，所述芯片安装座包括底座和插座，所述底座焊接在所述PCB测试板上，所述插座插在所述底座上。

Images