CN217304932U - 一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，它包括框架，投影装置，采集装置，传送装置及其数据处理模块；其中，框架架在传送装置上，框架上安装投影装置和采集装置，用于采集传送装置上的待测产品上的图像，并将采集到的图像传送至数据处理模块中；所述的投影装置包括投影仪，投影仪通过投影仪调节单元安装在框架上；所述的采集装置包括至少一个工业相机，工业相机通过相机调节单元安装到框架上。本实用新型中的框架能够进行高低调节，相机调节单元与投影仪调节单元能够调节投影仪与相机的相对位置，能够使两个相机的公共视野最大化，公共视野越大，可检测的产品表面越大，减小了环境因素的影响，更快地检测出缺陷，也提高了缺陷检测的精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及产品表面缺陷检测技术领域，特别涉及一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置。
背景技术
随着用户对产品质量的要求越来越高，生产企业对产品出货质量要求越来越严格，但在产品制造的过程中，往往难以避免表面缺陷的产生。表面缺陷不仅影响产品的美观和舒适度，而且一般也会对其使用性能带来不良影响。目前，常用的表面检测方法有：传统的人工检测，基于机器视觉的线激光扫描的检测方法。然而，传统人工检测容易受人工经验和主观因素的影响，基于视觉的检测装置容易受环境的影响，导致检测效果不好。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是：如何提高缺陷检测精度，提供一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置。
本实用新型采用的技术方案是：
一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，它包括框架，投影装置，采集装置，传送装置及其数据处理模块；其中，框架架在传送装置上，框架上安装投影装置和采集装置，用于采集传送装置上的待测产品上的图像，并将采集到的图像传送至数据处理模块中；所述的投影装置包括投影仪，投影仪通过投影仪调节单元安装在框架上；所述的采集装置包括至少一个工业相机，工业相机通过相机调节单元安装到框架上。
框架为倒U型框架，倒U型框架的横架上安装投影装置和采集装置，倒U型框架的两侧支架上沿高度方向均对应设有若干个调节孔，倒U型框架下方连接支撑架，两侧支架分别通过螺栓连接在支撑架上。
在倒U型框架的横架上，中心位置为投影装置，投影装置的两侧对称安装两个工业相机。
所述采集装置包括第一工业相机，第二工业相机及设置在框架上的第一相机调节单元与第二相机调节单元，第一工业相机和第二工业相机分别通过第一相机调节单元和第二相机调节单元安装到框架上。
投影仪调节单元包括固定在框架上的U型架，U型架两侧均通过销轴连接夹板，两个夹板上固定投影仪。
所述传送装置包括传送带、分别设置于传送带两端支撑传送带的第一滚轴与第二滚轴、以及支撑传送装置的底座。
采用上述技术方案的本实用新型，针对双目视觉结合结构光技术检测方法提出的一种检测装置，此装置中的框架能够进行高低调节，相机调节单元与投影仪调节单元能够调节投影仪与相机的相对位置，能够使两个相机的公共视野最大化，公共视野越大，可检测的产品表面越大，此装置使用光栅投影进行检测，减小了环境因素的影响，可以更快地检测出缺陷，也提高了缺陷检测的精度。
附图说明
图1是本实用新型中产品表面缺陷检测装置结构示意图。
图2是本实用新型中产品表面缺陷检测装置的工业相机及投影仪部分的结构示意图。
图3是本实用新型中产品表面缺陷检测装置的传送部分的结构示意图。
图中：01框架 02第一相机调节单元 03第二相机调节单元 04投影仪调节单元 05第一工业相机 06第二工业相机 07投影仪 08传送带 09待测产品 10第一滚轴 11第二滚轴 12底座。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1所示为一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其包括：框架01，投影装置，采集装置，传送装置及其数据处理模块。其中，框架01架在传送装置上，框架01上安装投影装置和采集装置，用于采集传送装置上的待测产品上的图像，并将采集到的图像传送至数据处理模块中。
上述投影装置包括投影仪07及设置在框架01上的投影仪调节单元04，投影仪07通过投影仪调节单元04安装在框架01上。所述采集装置包括第一工业相机05，第二工业相机06及设置在框架01上的第一相机调节单元02与第二相机调节单元03，第一工业相机05和第二工业相机06分别通过第一相机调节单元02和第二相机调节单元03安装到框架01上。所述投影装置中，投影仪通过VGA接口与计算机连接，投影仪调节单元可根据现场实际位置进行调节投影仪的投影方向,能够保证光栅能完全投影在待测产品上,投影仪具体是用于将预先设定好的光栅条纹投射到待测产品表面。
上述传送装置包括传送带08、分别设置于传送带两端支撑传送带的第一滚轴10与第二滚轴11、以及支撑传送装置的底座12；所述数据处理模块包括计算机，通过VGA接口与投影仪07连接，通过以太网与工业相机连接。所述传送装置主要是将待测产品传送至两个工业相机的公共视野，以便进行投射光栅到待测产品及其对变形光栅图像的采集。
上述框架01是一种可调节框架，可根据现场实际情况还有相机投影仪的相对位置关系可对其高低进行调节，本实例中的框架选用的是铝型材质。具体地，框架01为倒U型框架，倒U型框架的横架上安装投影装置和采集装置，倒U型框架的两侧支架上沿高度方向均对应设有若干个调节孔，倒U型框架下方连接支撑架，两侧支架分别通过螺栓连接在支撑架上。这样，通过螺栓安装在不同的调节孔中，调节倒U型框架的横架距离传送带08的距离。在倒U型框架的横架上，中心位置为投影装置，投影装置的两侧对称安装两个工业相机。
更进一步地，在倒U型框架01的横架上，中心位置为投影装置，投影装置的两侧对称安装两个工业相机，这样，两个工业相机分别拍摄投影装置投射到待测产品上的图像。
所述投影装置中，投影仪07通过VGA接口与计算机连接，投影仪调节单元04可根据现场实际位置进行调节投影仪07的投影方向,能够保证光栅能完全投影在待测产品09上。需要说明的是，投影仪调节单元04包括固定在框架01上的U型架，U型架两侧均通过销轴连接夹板，两个夹板上固定投影仪07。这样，手动调节夹板相对于U型架的角度，即可调节投影仪的投影角度。投影仪07具体是用于将预先设定好的光栅条纹投射到待测产品09表面，本实例中的投影仪选用的是BENQ的一款分辨率为1280*720的投影仪。
所述采集装置包括第一工业相机05，第二工业相机06及分别设置在框架01上的第一相机调节单元02与第二相机调节单元03，其中，第一工业相机05与第二工业相机06通过以太网与计算机连接，第一相机调节单元02与第二相机调节单元03可调整相机拍摄方向与位置，能够使两个相机的公共视野达到最大化，能够更准确得拍摄投影在待测产品09上的光栅图像。需要说明的是，第一相机调节单元02与第二相机调节单元03的结构与投影仪调节单元04的结构相同，本具体实施例中的工业相机选用的是两个分辨率为1280pixel*1024pixel、接口为GigE、的balser的黑白CCD相机，可根据实际情况选用相机个数及类型。
所述数据处理模块包括计算机，通过VGA接口与投影仪连接，通过以太网与工业相机连接，数据处理主要是对采集的变形光栅图像进行图像处理得出缺陷。上述的图像处理为现有技术，不属于本实用新型的保护范围。
本实用新型例的工作原理：首先，将待测产品置于传送带上，待传送带将待测产品传送至投影仪正下方，同时触发投影仪与两个工业相机，投影仪将计算机预先设定好的光栅图像投影到待测产品上，两个相机同时进行采集，采集完成后，通过计算机对采集的光栅图像进行图像处理，得出此待测产品是否存在缺陷，有缺陷则传送至不合格产品处，无缺陷则传送至合格产品处。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：它包括框架（01），投影装置，采集装置，传送装置及其数据处理模块；其中，框架（01）架在传送装置上，框架（01）上安装投影装置和采集装置，用于采集传送装置上的待测产品上的图像，并将采集到的图像传送至数据处理模块中；所述的投影装置包括投影仪（07），投影仪（07）通过投影仪调节单元（04）安装在框架（01）上；所述的采集装置包括至少一个工业相机，工业相机通过相机调节单元安装到框架（01）上。
2.根据权利要求1所述的基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：框架（01）为倒U型框架，倒U型框架的横架上安装投影装置和采集装置，倒U型框架的两侧支架上沿高度方向均对应设有若干个调节孔，倒U型框架下方连接支撑架，两侧支架分别通过螺栓连接在支撑架上。
3.根据权利要求2所述的基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：在倒U型框架（01）的横架上，中心位置为投影装置，投影装置的两侧对称安装两个工业相机。
4.根据权利要求1或3所述的基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：所述采集装置包括第一工业相机（05），第二工业相机（06）及设置在框架（01）上的第一相机调节单元（02）与第二相机调节单元（03），第一工业相机（05）和第二工业相机（06）分别通过第一相机调节单元（02）和第二相机调节单元（03）安装到框架（01）上。
5.根据权利要求1所述的基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：投影仪调节单元（04）包括固定在框架（01）上的U型架，U型架两侧均通过销轴连接夹板，两个夹板上固定投影仪（07）。
6.根据权利要求1所述的基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置，其特征在于：所述传送装置包括传送带（08）、分别设置于传送带两端支撑传送带的第一滚轴（10）与第二滚轴（11）、以及支撑传送装置的底座（12）。
Priority Applications (1)
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| CN202122852733.6U CN217304932U (zh) | 2021-11-21 | 2021-11-21 | 一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN217304932U true CN217304932U (zh) | 2022-08-26 |
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| CN202122852733.6U Active CN217304932U (zh) | 2021-11-21 | 2021-11-21 | 一种基于光栅投影的产品表面缺陷检测装置 |
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2021
- 2021-11-21 CN CN202122852733.6U patent/CN217304932U/zh active Active
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