CN217112444U - 一种半导体加工用测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体技术领域，且公开了一种半导体加工用测试装置，包括底座机构、移动机构、翻转机构和检测机构，所述移动机构位于底座机构上端的左右两侧，所述翻转机构位于移动机构的下方，所述检测机构位于移动机构的前端，所述移动机构包括固定块、连接盒、滑槽。该半导体加工用测试装置，通过推动电机带动电动推杆推动滑块，滑块再带动移动块进行滑动，避免了还需手动移动检测机构，提高了便捷性，转轴转动使得安装座和连接卡块进行翻转，再由固定垫将需要检测的半导体进行固定，遇到大小不同的半导体时，将旋转按钮旋转，使得螺杆带动防护垫向前挤压即可进行固定，适用于不同大小的半导体进行固定，且具有翻转效果，提高了检测效率。

Description

一种半导体加工用测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体加工用测试装置。

背景技术

半导体现已广泛应用于我们的生活之中，半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，其在商业应用具有一定的影响力。

现有技术CN202120277694.9的中国专利文献公开了一种半导体检测用工作台，其通过放置座、防护层、检测台、螺纹孔、螺纹孔、摇盘、固定块、活动轴承和防护垫的相互配合使用，达到了该半导体检测用工作台固定效果好的目的，解决了一般的检测用工作台固定效果不是很好的问题，有效避免人们在对半导体检测的过程中仪器发生移动的现象，一定程度上保障了半导体检测的进度，同时给人们的工作带来了便利，进一步提高了人们的工作效率，从而满足了人们的使用需求，使人们在使用该半导体检测用工作台的过程中更加的省心。

上述专利固定效果好，在半导体加工检测工作时，需时常将需要检测的元件翻转，现有的检测设备一般不具备翻转调节功能，且无法将不同大小的半导体固定翻转，影响了检测效率。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种半导体加工用测试装置，以解决上述背景技术中提出在半导体加工检测工作时，需时常将需要检测的元件翻转，现有的检测设备一般不具备翻转调节功能，且无法将不同大小的半导体固定翻转，影响了检测效率的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体加工用测试装置，包括底座机构、移动机构、翻转机构和检测机构，所述移动机构位于底座机构上端的左右两侧，所述翻转机构位于移动机构的下方，所述检测机构位于移动机构的前端。

优选的，所述移动机构包括固定块、连接盒、滑槽、滑块、移动块、电动推杆和推动电机，所述连接盒固定安装在固定块的上端，所述滑槽固定设置在连接盒上端的内部，所述滑块活动安装在滑槽的内部，所述移动块固定安装在滑块的上端，通过安装滑块，滑块可在滑槽内部进行滑动，带动移动块进行移动，使得移动块具有移动效果。

优选的，所述电动推杆与滑块固定连接，所述推动电机固定安装在电动推杆的后端，通过推动电机带动电动推杆推动滑块，滑块再带动移动块进行滑动，避免了还需手动移动检测机构，提高了便捷性。

优选的，所述底座机构包括检测台、绝缘板、支撑杆、支撑底座、推拉抽屉和把手，所述绝缘板固定安装在检测台的上端，所述支撑杆固定安装在检测台的下端，所述支撑底座固定安装在支撑杆的下端，通过安装支撑杆和支撑底座，其可在检测台下端进行支撑固定，提高了该检测装置整体稳定性。

优选的，所述推拉抽屉活动安装在检测台的内端，所述把手固定安装在推拉抽屉的前端，通过安装把手可将推拉抽屉进行开合，可将检测的工具用具放置其中，避免工作用具无法储存，提高了储物空间。

优选的，所述翻转机构包括固定座、转轴、安装座、固定螺栓、连接卡块、固定垫、防护垫、固定盒、旋转按钮和螺杆，所述固定座固定安装在检测台的上方，所述转轴固定安装在固定座的前端，所述安装座固定安装在转轴的前端，所述固定螺栓固定安装在安装座的上端，所述连接卡块固定安装在安装座的前端，所述固定垫固定安装在连接卡块的内端，所述防护垫活动安装在固定垫的中部，所述固定盒固定安装在连接卡块的外端，所述旋转按钮固定安装在固定盒的外侧，所述螺杆固定安装在旋转按钮的前端，通过转轴转动使得安装座和连接卡块进行翻转，再由固定垫将需要检测的半导体进行固定，遇到大小不同的半导体时，将旋转按钮旋转，使得螺杆带动防护垫向前挤压即可进行固定，适用于不同大小的半导体进行固定，且具有翻转效果，提高了检测效率。

优选的，所述检测机构包括安装板和检测头，所述安装板与移动块固定连接，所述检测头固定安装在安装板的下端，通过安装安装板可将检测头进行固定，提高了检测头的稳定性。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该半导体加工用测试装置，通过推动电机带动电动推杆推动滑块，滑块再带动移动块进行滑动，避免了还需手动移动检测机构，能够自动移动，提高了便捷性；

2、该半导体加工用测试装置，通过安装把手，将把手拉动可将推拉抽屉进行开合，可将检测的工具用具放置其中，避免工作用具无法储存，提高了储物空间；

3、该半导体加工用测试装置，通过转轴转动使得安装座和连接卡块进行翻转，再由固定垫将需要检测的半导体进行固定，遇到大小不同的半导体时，将旋转按钮旋转，使得螺杆带动防护垫向前挤压即可进行固定，适用于不同大小的半导体进行固定，且具有翻转效果，提高了检测效率。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型连接盒剖面结构示意图；

图3为本实用新型移动块放大立体结构示意图；

图4为本实用新型翻转机构放大立体结构示意图。

图中：1、底座机构；101、检测台；102、绝缘板；103、支撑杆；104、支撑底座；105、推拉抽屉；106、把手；2、移动机构；201、固定块；202、连接盒；203、滑槽；204、滑块；205、移动块；206、电动推杆；207、推动电机；3、翻转机构；301、固定座；302、转轴；303、安装座；304、固定螺栓；305、连接卡块；306、固定垫；307、防护垫；308、固定盒；309、旋转按钮；310、螺杆；4、检测机构；401、安装板；402、检测头。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一：

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体加工用测试装置，包括底座机构1、移动机构2、翻转机构3和检测机构4，移动机构2位于底座机构1上端的左右两侧，翻转机构3位于移动机构2的下方，检测机构4位于移动机构2的前端。

移动机构2包括固定块201、连接盒202、滑槽203、滑块204、移动块205、电动推杆206和推动电机207，连接盒202固定安装在固定块201的上端，滑槽203固定设置在连接盒202上端的内部，滑块204活动安装在滑槽203的内部，移动块205固定安装在滑块204的上端，通过安装滑块204，滑块204可在滑槽203内部进行滑动，带动移动块205进行移动，使得移动块205具有移动效果。

电动推杆206与滑块204固定连接，推动电机207固定安装在电动推杆206的后端，通过推动电机207带动电动推杆206推动滑块204，滑块204再带动移动块205进行滑动，避免了还需手动移动检测机构4，提高了便捷性。

底座机构1包括检测台101、绝缘板102、支撑杆103、支撑底座104、推拉抽屉105和把手106，绝缘板102固定安装在检测台101的上端，支撑杆103固定安装在检测台101的下端，支撑底座104固定安装在支撑杆103的下端，通过安装支撑杆103和支撑底座104，其可在检测台101下端进行支撑固定，提高了该检测装置整体稳定性。

在本实施例中，检测台101通过支撑杆103和支撑底座104进行固定，支撑杆103和支撑底座104可提高该检测装置的整体稳定性，推动电机207带动电动推杆206推动滑块204，滑块204再带动移动块205进行滑动，避免了还需手动移动检测机构4，使得检测机构4能够在不同的位置进行检测，提高了便捷性。

实施例二：

请参阅图1和图4，本实用新型提供一种技术方案：推拉抽屉105活动安装在检测台101的内端，把手106固定安装在推拉抽屉105的前端，通过安装把手106可将推拉抽屉105进行开合，可将检测的工具用具放置其中，避免工作用具无法储存，提高了储物空间。

翻转机构3包括固定座301、转轴302、安装座303、固定螺栓304、连接卡块305、固定垫306、防护垫307、固定盒308、旋转按钮309和螺杆310，固定座301固定安装在检测台101的上方，转轴302固定安装在固定座301的前端，安装座303固定安装在转轴302的前端，固定螺栓304固定安装在安装座303的上端，连接卡块305固定安装在安装座303的前端，固定垫306固定安装在连接卡块305的内端，防护垫307活动安装在固定垫306的中部，固定盒308固定安装在连接卡块305的外端，旋转按钮309固定安装在固定盒308的外侧，螺杆310固定安装在旋转按钮309的前端，通过转轴302转动使得安装座303和连接卡块305进行翻转，再由固定垫306将需要检测的半导体进行固定，遇到大小不同的半导体时，将旋转按钮309旋转，使得螺杆310带动防护垫307向前挤压即可进行固定，适用于不同大小的半导体进行固定，且具有翻转效果，提高了检测效率。

检测机构4包括安装板401和检测头402，安装板401与移动块205固定连接，检测头402固定安装在安装板401的下端，通过安装安装板401可将检测头402进行固定，提高了检测头402的稳定性。

在本实施例中，当需要存放工作用具时将把手106推动，可将推拉抽屉105进行开合，可将检测的工具用具放置其中，避免工作用具无法储存，提高了储物空间，检测时将半导体放置在连接卡块305内端，由固定垫306进行固定，当遇到不同的半导体时，将旋转按钮309旋转，使得螺杆310带动防护垫307向前挤压即可进行固定，适用于不同大小半导体固定，然后通过转轴302转动使得安装座303和连接卡块305进行翻转，即可完成双面检测，提高了检测效率。

最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (7)

1.一种半导体加工用测试装置，包括底座机构(1)、移动机构(2)、翻转机构(3)和检测机构(4)，其特征在于：所述移动机构(2)位于底座机构(1)上端的左右两侧，所述翻转机构(3)位于移动机构(2)的下方，所述检测机构(4)位于移动机构(2)的前端。

2.根据权利要求1所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述移动机构(2)包括固定块(201)、连接盒(202)、滑槽(203)、滑块(204)、移动块(205)、电动推杆(206)和推动电机(207)，所述连接盒(202)固定安装在固定块(201)的上端，所述滑槽(203)固定设置在连接盒(202)上端的内部，所述滑块(204)活动安装在滑槽(203)的内部，所述移动块(205)固定安装在滑块(204)的上端。

3.根据权利要求2所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述电动推杆(206)与滑块(204)固定连接，所述推动电机(207)固定安装在电动推杆(206)的后端。

4.根据权利要求3所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述底座机构(1)包括检测台(101)、绝缘板(102)、支撑杆(103)、支撑底座(104)、推拉抽屉(105)和把手(106)，所述绝缘板(102)固定安装在检测台(101)的上端，所述支撑杆(103)固定安装在检测台(101)的下端，所述支撑底座(104)固定安装在支撑杆(103)的下端。

5.根据权利要求4所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述推拉抽屉(105)活动安装在检测台(101)的内端，所述把手(106)固定安装在推拉抽屉(105)的前端。

6.根据权利要求5所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述翻转机构(3)包括固定座(301)、转轴(302)、安装座(303)、固定螺栓(304)、连接卡块(305)、固定垫(306)、防护垫(307)、固定盒(308)、旋转按钮(309)和螺杆(310)，所述固定座(301)固定安装在检测台(101)的上方，所述转轴(302)固定安装在固定座(301)的前端，所述安装座(303)固定安装在转轴(302)的前端，所述固定螺栓(304)固定安装在安装座(303)的上端，所述连接卡块(305)固定安装在安装座(303)的前端，所述固定垫(306)固定安装在连接卡块(305)的内端，所述防护垫(307)活动安装在固定垫(306)的中部，所述固定盒(308)固定安装在连接卡块(305)的外端，所述旋转按钮(309)固定安装在固定盒(308)的外侧，所述螺杆(310)固定安装在旋转按钮(309)的前端。

7.根据权利要求6所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述检测机构(4)包括安装板(401)和检测头(402)，所述安装板(401)与移动块(205)固定连接，所述检测头(402)固定安装在安装板(401)的下端。

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