CN216979229U - 一种集成电路测试系统测试板拆卸装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及集成电路测试系统测试板拆卸的工具,具体公开了一种集成电路测试系统测试板拆卸装置,该装置包括:上U形框、下U形框和折叠连杆;所述上U形框和下U形框的内框与测试母板插槽间距相匹配,上U形框和下U形框均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边;所述折叠连杆包括铰接的上支杆和下支杆;所述上U形框和下U形框上下相对平行设置,两侧设置有折叠连杆;所述折叠连杆的两端分别与上U形框和上U形框的侧边铰接;所述折叠连杆中的至少一个的下支杆向上伸长,构成升降摇杆。本实用新型提供的拆卸装置不需要直接接触测试板,也不会造成测试板倾斜插拔,有效保护了测试板,并且使用简单,操作方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试系统测试板拆卸的工具,特别是涉及一种集成电路测试系统测试板拆卸装置。
背景技术
拟集成电路测试系统在元器件筛选中应用广泛,多年来,随着技术和制造工艺的不断更新迭代,元器件的种类也在不断增多,在进行元器件筛选测试时,所用到的测试板也随之增多。目前模拟集成电路测试系统测试板采用的为母板与子板组合的方式,根据不同的器件工作时调用母板上的不同资源制作相应的测试子板,测试母板与子板之间通过插槽与插针连通。因此,在测试不同元器件时,需要更换不同测试子板,在以往更换测试子板时,操作人员通常会用手直接取下测试子板,这种操作方法可能会因为拆卸时用力不均匀,导致测试板插针弯折,严重时还会损坏母板插槽,造成经济损失,拖延工作效率。
实用新型内容
针对现有技术的缺陷,本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试系统测试板拆卸装置,旨在解决用手直接取下测试子板时,可能会因为拆卸时用力不均匀,导致测试板插针弯折,严重时还会损坏母板插槽,造成经济损失,拖延工作效率的问题。
为解决上述问题,本实用新型提供了一种集成电路测试系统测试板拆卸装置,它包括:上U形框、下U形框和折叠连杆;
所述上U形框和下U形框的内框与测试母板插槽间距相匹配,上U形框和下U形框均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边;
所述折叠连杆包括铰接的上支杆和下支杆;
所述上U形框和下U形框上下相对平行设置,两侧设置有折叠连杆;
所述折叠连杆的两端分别与上U形框和上U形框的侧边铰接。
优选的,折叠连杆中的至少一个的下支杆向上伸长,构成升降摇杆。
优选的,升降摇杆的上端部包有防滑涂层,用于增大操作的摩擦力。
优选的,上U形框、下U形框和折叠连杆铰接处均设置有销孔,并在销孔中穿有对应销轴。
优选的,折叠连杆在上U形框和下U形框的两侧对称布置。
优选的,上U形框和下U形框中的内框为少一条边的矩形。
优选的,上U形框和下U形框的U形口端的框切面为斜面。
优选的,拆卸装置由防静电塑料材质制成,用于保护测试板。
总体而言,本实用新型的技术方案与现有技术相比,用于取得下列有益效果:
本实用新型提供的拆卸装置代替了原本直接用手更换测试板的方式,使得在测试过程中更换测试板子板时,不会因为受力不均匀导致测试板插针损坏,有效保护了测试板,且该装置具有使用方便、操作简单、耐用的特点。
附图说明
图1为本实用新型实施例的结构示意图;
附图中标记为:上U形框1,下U形框2,折叠连杆3,升降摇杆4。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
如图1所示,本实用新型实施例提供了一种集成电路测试系统测试板拆卸装置,该装置包括:上U形框1、下U形框2和折叠连杆3;
所述上U形框1和下U形框2的内框与测试母板插槽间距相匹配,上U形框1和下U形框2均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边;
所述折叠连杆3包括铰接的上支杆和下支杆;
所述上U形框1和下U形框2上下相对平行设置,两侧设置有折叠连杆3;
所述折叠连杆3的两端分别与上U形框1和上U形框1的侧边铰接。
优选的,折叠连杆3中的至少一个的下支杆向上伸长,构成升降摇杆4。
优选的,升降摇杆4的上端部包有防滑涂层,用于增大操作的摩擦力。
优选的,上U形框1、下U形框2和折叠连杆3铰接处均设置有销孔,并在销孔中穿有对应销轴。
优选的,折叠连杆3在上U形框1和下U形框2的两侧对称布置。
优选的,上U形框1和下U形框2中的内框为少一条边的矩形。
优选的,上U形框1和下U形框2的U形口端的框切面为斜面。
优选的,拆卸装置由防静电塑料材质制成,用于保护测试板。
优选的,上U形框1和下U形框2为U型矩形受力板,根据测试母板槽插间距在两块防静电塑料板上各开一个长宽均为13CM的U型口与之匹配,将其分为上U型受力板1和下U型受力板,用于配合放置在测试板的母板与子板之间。
拆卸测试子板时,只需要将折叠的U型板放入子母板的间隔中,然后扳动升降摇杆4升起上U型受力板,顶起子板,将测试子板与母板的插针与插槽分离。该拆卸装置代替了原本直接用手更换测试板的方式,使得在测试过程中更换测试子板时,不会因为受力不均匀导致测试版插针损坏,有效保护了测试板。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种集成电路测试系统测试板拆卸装置,其特征在于,该装置包括:上U形框(1)、下U形框(2)和折叠连杆(3);
所述上U形框(1)和下U形框(2)的内框与测试母板插槽间距相匹配,上U形框(1)和下U形框(2)均具有两条平行的侧边和链接两条侧边的一条端边;
所述折叠连杆(3)包括铰接的上支杆和下支杆;
所述上U形框(1)和下U形框(2)上下相对平行设置,两侧设置有折叠连杆(3);
所述折叠连杆(3)的两端分别与上U形框(1)和上U形框(1)的侧边铰接。
2.如权利要求1所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述折叠连杆(3)中的至少一个的下支杆向上伸长,构成升降摇杆(4)。
3.如权利要求2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述升降摇杆(4)的上端部包有防滑涂层。
4.如权利要求1或2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述上U形框(1)、下U形框(2)和折叠连杆(3)铰接处均设置有销孔,并在销孔中穿有对应销轴。
5.如权利要求1或2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述折叠连杆(3)在上U形框(1)和下U形框(2)的两侧对称布置。
6.如权利要求1或2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述上U形框(1)和下U形框(2)中的内框为少一条边的矩形。
7.如权利要求1或2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述上U形框(1)和下U形框(2)的U形口端的框切面为斜面。
8.如权利要求1或2所述的测试板拆卸装置,其特征在于,所述拆卸装置由防静电塑料材质制成。
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Publications (1)
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