CN216694699U - 一种电子配件检测工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子配件检测工装，包括外圈检测结构、内圈检测结构和立柱，电子配件套设在内圈检测结构上，内圈检测结构用于检测电子配件内圈开设的结构的尺寸和位置，外圈检测结构用于检测电子配件外圈开设的结构的尺寸和位置，外圈检测结构包括第一定位板，第一定位板的中心开设有检测通孔，检测通孔的两边开设有安装通孔，安装通孔套设在立柱上，内圈检测结构包括第二定位板，第二定位板的中心位置设有一凸起的检测块，该检测块位于检测通孔的正下方，立柱的下端与第二定位板的上表面垂直固定连接。本实用新型结构简单，操作方便，实现了对筒状电子配件的形状、尺寸以及内外圈结构的同时初步检测。
Description
技术领域
本实用新型属于配件精准度检测装置技术领域，具体涉及一种电子配件检测工装。
背景技术
一些筒状结构的电子配件的内外圈会设置有一些凸起或内凹的定位条，用于连接定位在应用装置上，起到固定或连接的作用，在制备这些电子配件的过程中，可能会存在误差，而这些误差直接导致制备得到的电子配件的形状或内外圈结构出现问题，影响电子配件与应用装置的连接，因此需要一个装置去检测电子配件的形状、大小以及内外圈的结构设置是否符合标准。
实用新型内容
为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种电子配件检测工装。
为达到上述目的，提出以下技术方案：
一种电子配件检测工装，包括外圈检测结构、内圈检测结构和立柱，内圈检测结构固定在立柱的底端，外圈检测结构套设在立柱上，电子配件套设在内圈检测结构上，内圈检测结构用于检测电子配件内圈开设的结构的尺寸和位置，外圈检测结构用于检测电子配件外圈开设的结构的尺寸和位置。
进一步地，外圈检测结构包括第一定位板，第一定位板的中心开设有检测通孔，检测通孔的两边开设有安装通孔，安装通孔套设在立柱上。
进一步地，内圈检测结构包括第二定位板，第二定位板的中心位置设有一凸起的检测块，该检测块位于检测通孔的正下方，立柱的下端与第二定位板的上表面垂直固定连接。
进一步地，立柱上套设有弹簧，弹簧的上端与第一定位板的下表面连接，下端与第二定位板的上表面固定连接，用于支撑第一定位板。
进一步地，第一定位板的检测通孔的形状与标准电子配件的外圈形状相同，检测通孔的内壁开设有与标准电子配件的外圈开设的结构相契合的凹槽或凸起，第二定位板上的检测块的形状与标准电子配件的内圈形状相同，检测块的外侧开设有与标准电子配件的内圈开设的结构相契合的凹槽或凸起。
进一步地，检测通孔的长度等于标准电子配件的高度，检测块的高度大于标准电子配件的高度，因为弹簧被压缩之后，第一定位板和第二定位板之间还有一定的距离。
进一步地，第二定位板的下表面固定有支撑底座。
一种电子配件检测工装的使用方法，具体为：将需要检测的电子配件套设在检测块上，对电子配件的内圈结构进行检测，是否与检测块的凹槽或凸起完全契合，套设好后，对第一定位板进行下压，使电子配件穿过检测通孔，对电子配件的外圈结构进行检测，是否与检测通孔的凹槽或凸起完全契合。
本实用新型的有益效果在于：本实用新型结构简单，操作方便，可以同时实现对电子配件的内外圈结构的初步检测。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
图中：1、立柱；11、弹簧；2、第一定位板；21、检测通孔；22、安装通孔；3、第二定位板；31、检测块；4、支撑底座。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型做进一步地说明，但本实用新型的保护范围并不仅限于此。
如图1所示，一种电子配件检测工装，包括两根立柱1、第一定位板2、第二定位板3和支撑底座4，两根立柱1的底端与第二定位板3垂直固定连接，立柱1上套设有弹簧11，弹簧11的底端与第二定位板3固定连接，第一定位板2上开设有两个安装通孔22和一个检测通孔21，安装通孔22位于检测通孔21的两侧，立柱1的上端穿过安装通孔22将第一定位板2套设在立柱1上，弹簧11的上端固定在第一定位板2的下表面上，第二定位板3的上表面的中心设有一凸起的检测块31，该检测块31位于检测通孔21的正下方，第二定位板3的下表面固定有支撑底座4；第一定位板2的检测通孔21的形状与标准电子配件的外圈形状相同，检测通孔21的内壁开设有与标准电子配件的外圈开设的结构相契合的凹槽或凸起，第二定位板3上的检测块31的形状与标准电子配件的内圈形状相同，检测块31的外侧开设有与标准电子配件的内圈开设的结构相契合的凹槽或凸起，检测通孔21的长度等于标准电子配件的高度，检测块31的高度大于标准电子配件的高度。
本实用新型的检测通孔21的形状并不仅限于图中的圆形，还可以是矩形、椭圆形等其它形状，检测块31的形状与检测通孔21的形状相同，用于同时检测一个电子配件的内外圈结构。
Claims (7)
1.一种电子配件检测工装，其特征在于，包括外圈检测结构、内圈检测结构和立柱（1），内圈检测结构固定在立柱（1）的底端，外圈检测结构套设在立柱（1）上，电子配件套设在内圈检测结构上，内圈检测结构用于检测电子配件内圈开设的结构的尺寸和位置，外圈检测结构用于检测电子配件外圈开设的结构的尺寸和位置。
2.如权利要求1所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，外圈检测结构包括第一定位板（2），第一定位板（2）的中心开设有检测通孔（21），检测通孔（21）的两边开设有安装通孔（22），安装通孔（22）套设在立柱（1）上。
3.如权利要求2所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，内圈检测结构包括第二定位板（3），第二定位板（3）的中心位置设有一凸起的检测块（31），该检测块（31）位于检测通孔（21）的正下方，立柱（1）的下端与第二定位板（3）的上表面垂直固定连接。
4.如权利要求3所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，立柱（1）上套设有弹簧（11），弹簧（11）的上端与第一定位板（2）的下表面连接，下端与第二定位板（3）的上表面固定连接，用于支撑第一定位板（2）。
5.如权利要求4所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，第一定位板（2）的检测通孔（21）的形状与标准电子配件的外圈形状相同，检测通孔（21）的内壁开设有与标准电子配件的外圈开设的结构相契合的凹槽或凸起，第二定位板（3）上的检测块（31）的形状与标准电子配件的内圈形状相同，检测块（31）的外侧开设有与标准电子配件的内圈开设的结构相契合的凹槽或凸起。
6.如权利要求5所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，检测通孔（21）的长度等于标准电子配件的高度，检测块（31）的高度大于标准电子配件的高度。
7.如权利要求2所述的一种电子配件检测工装，其特征在于，第二定位板（3）的下表面固定有支撑底座（4）。
Priority Applications (1)
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2021
- 2021-11-30 CN CN202122961746.7U patent/CN216694699U/zh active Active
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