CN216620937U - 一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，包括显微镜，还包括检测板(1)，该检测板上设有三条深度不同的凹槽：凹槽a(11)、凹槽b(12)和凹槽c(13)，各凹槽边缘设有标准刻度线(2)，检测板(1)上还设有两个圆孔：圆孔d(4)和圆孔e(5)，以及贯穿圆孔中心连接检测板邻边的裂缝(3)。与现有技术相比，本实用新型胶管可以高效准确测量导电胶粒壁厚，内径，外径，同轴度等。

Description

一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装

技术领域

本实用新型涉及导电胶粒的测量，尤其是涉及一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装。

背景技术

电子通信领域经常需要使用导电胶粒来实现导电，导电胶粒一般是在弹性材料如橡胶等内外涂覆一层导电涂层制得，涂层的厚度是衡量导电胶粒导电性能的重要数据，但是由于导电胶粒体积较小，涂层厚度薄，测量方式一般包括：

1.通过显微镜配合标尺，即将导电胶粒置于标尺旁，通过显微镜观察涂层厚度对应的刻度，但是由于标尺都有一定的厚度，在调整胶粒与标尺位置的过程中，很难保证每次都在相同位置，导致测量误差大。

2.将待测导电胶粒置于透明玻璃上，玻璃上印刷有尺寸，通过显微镜进行观察，但是无论将导电胶粒置于玻璃上方还是下方，玻璃的厚度都会对检测结果产生不良影响。

上述现有通过显微镜观察和测量时，可能会造成胶粒的污染或丢失，且每次测量都只能测量一枚胶粒，影响了测量效率，且显微镜每次使用前都需要标定，如果没有进行标定，将会影响测量的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了解决上述技术问题而提供一种测量准确、效率高的覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，包括显微镜，还包括检测板，该检测板上设有三条深度不同的凹槽：凹槽a、凹槽b和凹槽c，各凹槽边缘设有标准刻度线，检测板上还设有两个圆孔：圆孔d和圆孔e，以及贯穿圆孔中心连接检测板邻边的裂缝。

所述的三条凹槽平行设置，长度X和宽度Y均相等，凹槽a的深度为Y/2，凹槽b的深度为Y。

所述的凹槽a的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y/2。

所述的凹槽b的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y。

所述的凹槽c的横截面为矩形，宽为Y，深度为E。

所述的圆孔d和圆孔e的直径相等，均为Y，即与凹槽的宽度相等。

所述的圆孔d和圆孔e的深度与凹槽c的深度相当，均为E。

所述的圆孔d和圆孔e设置在检测板的顶角处。

所述的裂缝的深度与两个圆孔的深度相当，均为E。

所述的裂缝为引导刀片垂直切割的缝，其宽度与刀片宽度相当。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

(1)多功能性：在一块工装上就可以完成对于导电胶粒的内外涂层外观的观察以及测量，以及导电胶粒自身的壁厚，内径，外径，同轴度等的观察与测量。

(2)测量准确：在每条凹槽的上方都有刻度尺，便于显微镜的标定；而且凹槽的设置便于导电胶粒的放置，不会出现丢失以及污染等问题。圆孔的设置可以用于定位导电胶粒，并通过裂缝引导刀片垂直均匀切割导电胶粒，保证了切割位置的一致性和平整度，便于观察胶粒内侧，提高了测量精度。

(3)大大提高工作效率，每一条的凹槽都可以容纳数十枚导电胶粒，可以在保证显微镜不动的情况下，连续观察与测量导电胶粒。

附图说明

图1为本实用新型的平面结构示意图；

图2为本实用新型的剖面图；

图中标识：检测板1、凹槽a11、凹槽b12、凹槽c13、标准刻度线2、圆孔d4和圆孔e5、裂缝3。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。

实施例1

如图1-2所示，一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，包括显微镜，还包括检测板1，该检测板上设有三条深度不同的凹槽：凹槽a11、凹槽b12和凹槽c13，各凹槽边缘设有标准刻度线2，检测板1上还设有两个圆孔：圆孔d4和圆孔e5，以及贯穿圆孔中心连接检测板邻边的裂缝3。

其中，所述的三条凹槽平行设置，长度X和宽度Y均相等，凹槽a11的深度为Y/2，凹槽b12的深度为Y。三条凹槽主要用于定位各待检测导电胶粒，三条凹槽的宽度与待检测导电胶粒的直径相当。凹槽的深度与导电胶粒或切开后的导电胶粒的高度相当。

具体地，所述的凹槽a11的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y/2。使用时，先将导电胶粒置于圆孔d4或圆孔e5中，采用刀片沿裂缝3将其均匀切割为两半，然后将切割好的两部分，放入凹槽a11中，然后使用标定过的显微镜，选择合适位置来观察测量胶粒的内外涂层厚度，导电胶粒自身的壁厚，以及内涂层的外观。

所述的凹槽b12的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y。使用时，将需要测量的导电胶粒，呈底面向左(或向右)状态放入凹槽b12中，然后使用标定过的显微镜，选择合适位置，来观察胶粒的外观，是否出现涂层不均，涂层缺失或涂层污染等问题。

所述的凹槽c13的横截面为矩形，宽为Y，深度为E。使用时将需要测量的导电胶粒，呈底面向上的状态放入凹槽c13中，然后使用标定过的显微镜，选择合适位置来观察测量导电胶粒的内径，外径，外圆与内圆的同轴度等。

所述的圆孔d4和圆孔e5的直径相等，均为Y，即与凹槽的宽度相等。所述的圆孔d4和圆孔e5的深度与凹槽c13的深度相当，均为E。所述的圆孔d4和圆孔e5设置在检测板的顶角处。所述的裂缝3的深度与两个圆孔的深度相当，均为E。所述的裂缝3为引导刀片垂直切割的缝，其宽度与刀片宽度相当。使用时将需要测量的胶粒放入任一圆孔中，将刀片从裂缝中放入，将胶粒均匀切开，然后放入凹槽a中进行后续观察测量工作。

导电胶粒可以为圆柱体状、圆环柱状、空心球状、片状等，本实施例以圆环柱状导电胶粒为例，通过以下方法进行检测：

1.将导电胶粒置于圆孔d4或圆孔e5中，由于导电胶粒的直径与圆孔直径相当，导电胶粒高度与圆孔深度相当，采用刀片沿裂缝3将其均匀切割为两半，不会发生切斜导致切面不平现象，而且由于裂缝是贯通圆孔中心的，因此也不会有切割不均的现象；

2.将多个切割后导电胶粒呈切面向上的排列放入凹槽a11中，由于凹槽a11直径为Y(与导电胶粒直径相当)，深度为Y/2(与一半的导电胶粒高度相当)，切割后的导电胶粒置于凹槽a11中，切面正好与凹槽a11表面齐平，并位于凹槽a11旁的准刻度线2处，使用标定过的显微镜，选择合适位置来观察测量胶粒的内外涂层厚度，胶粒自身的壁厚，以及内涂层的外观。

3.将完整，未被切割过得圆柱形胶粒，呈底面向左(或向右)状态放入凹槽b12中，由于凹槽b12直径为Y(与导电胶粒直径相当)，深度为Y(与导电胶粒直径相当)，然后使用标定过的显微镜，选择合适位置，来观察胶粒的外观，是否出现涂层不均，涂层缺失或涂层污染等问题。

4.将经步骤3检测后的导电胶粒取出，呈底面向上的状态放入凹槽c13中，由于凹槽c13直径为Y(与导电胶粒的直径相当)，深度为E(与导电胶粒高度相当)，然后使用标定过的显微镜，选择合适位置来观察测量导电胶粒的内径，外径，外圆与内圆的同轴度等。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。

以上实施例仅用于说明本实用新型技术方案，并非是对本实用新型的限制，本技术领域的普通技术人员在本实用新型的实质范围内所做的改变、替代、修饰、简化均为等效的变换，都不脱离本实用新型的宗旨，也应属于本实用新型的权利要求保护范围。

Claims (10)

1.一种覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，包括显微镜，其特征在于，还包括检测板(1)，该检测板上设有三条深度不同的凹槽：凹槽a(11)、凹槽b(12)和凹槽c(13)，各凹槽边缘设有标准刻度线(2)，检测板(1)上还设有两个圆孔：圆孔d(4)和圆孔e(5)，以及贯穿圆孔中心连接检测板邻边的裂缝(3)。

2.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的三条凹槽平行设置，长度X和宽度Y均相等，凹槽a(11)的深度为Y/2，凹槽b(12)的深度为Y。

3.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的凹槽a(11)的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y/2。

4.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的凹槽b(12)的横截面为半圆形，直径为Y，深度为Y。

5.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的凹槽c(13)的横截面为矩形，宽为Y，深度为E。

6.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的圆孔d(4)和圆孔e(5)的直径相等，均为Y，即与凹槽的宽度相等。

7.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的圆孔d(4)和圆孔e(5)的深度与凹槽c(13)的深度相当，均为E。

8.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的圆孔d(4)和圆孔e(5)设置在检测板的顶角处。

9.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的裂缝(3)的深度与两个圆孔的深度相当，均为E。

10.根据权利要求1所述覆有内外涂层的导电胶粒的测量工装，其特征在于，所述的裂缝(3)为引导刀片垂直切割的缝，其宽度与刀片宽度相当。

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