CN216525602U - 一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及焊缝检测技术领域，尤其涉及一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架、调节块和探头夹持架；所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽；所述固定架对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。本实用新型确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面良好接触。

Description

一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置

技术领域

本实用新型涉及焊缝检测技术领域，尤其涉及一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置。

背景技术

在锅炉、压力容器和压力管道等特种设备制造和安装过程中，无损检测是确保焊缝质量的重要手段，对于埋藏缺陷主要的检测方法包括：射线检测、超声检测、衍射时差法超声检测(TOFD检测)、相控阵检测等。其中，TOFD检测是利用在固体中声速传播最快的纵波在缺陷端部产生的衍射波及其传播时间差进行缺陷检测与定位和定量，缺陷尺寸测定不依靠信号振幅，检测结果以图像方式显示。检测时将一对频率相同的纵波斜探头相向对称放置在焊缝两侧，一个作为发射探头，另一个作为接收探头。发射探头发射的纵波入射到被检焊缝，在无缺陷部位接收探头会接收到沿工件表面传播的直通波和底面反射波；而在有缺陷存在时，在上述两波之间，接收探头会接收到缺陷上端部和下端部的衍射波。

现有的TOFD检测是将接收探头和发射探头通过夹持件分别夹持后放置在焊缝两侧进行扫描，但由于结构原因，许多重要部位的焊缝难以采用夹持件分别夹持接收探头和发射探头放置在焊缝两侧进行检测，比如：锅筒下降管角焊缝、厚壁管道弯头焊缝和法兰焊缝等，这些工件的表面均为弧面，焊缝两侧无法相向放置接收探头和发射探头，而且难以适配弧形表面与工件进行接触，造成扫查难度加大，检测结果误差大。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，能够实现两个超声信号源同侧放置进行检测，并且与检测面形成良好接触。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述固定架对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，所述探头夹持架的连接部设在所述调节块和固定架之间的间隙内，且所述连接部通过插销插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内，使得探头夹持架能够相对所述调节块和固定架活动，从而能够通过调节两个夹持部之间的位置关系调整两个超声信号源的声束角度，使得两个所述超声信号源能够根据检测设置要求实现两个所述超声信号源之间的间距与角度调节，并可确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面良好接触。

附图说明

图1为本实用新型一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的两个超声信号源的设置位置关系；

图2为本实用新型一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的结构示意图；

图3为本实用新型一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的固定架的结构示意图；

图4为本实用新型一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的调节块的结构示意图；

图5为本实用新型一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的探头夹持架的结构示意图；

标号说明：

1、超声信号源；11、声波发射探头；12、声波接收探头；2、待检工件；3、焊缝；31、焊缝缺陷；4、固定架；41、第一固定部；42、第二固定部；411、第一滑槽；412、第一螺孔；5、调节块；51、通孔；52、第二滑槽；6、探头夹持架；61、夹持部；62、连接部；63、插销；7、编码器；

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1至图5，

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

本实用新型还提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述固定架对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

由上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：所述探头夹持架的连接部设在所述调节块和固定架之间的间隙内，且所述连接部通过插销插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内，使得探头夹持架能够相对所述调节块和固定架活动，从而能够通过调节两个夹持部之间的位置关系调整两个超声信号源的声束角度，使得两个所述超声信号源能够根据检测设置要求实现两个所述超声信号源之间的间距与角度调节，并可确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面良好接触。

进一步的，所述第一滑槽的数量为两个，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上。

由上述描述可知，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上，使得两个所述夹持部能够以对称轴为参照相对所述第一滑槽同时相向或相背进行间距调节和角度调节。

进一步的，所述调节块上的第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，且所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠；

所述探头夹持架的连接部上设有两个插销，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。

由上述描述可知，所述探头夹持架通过两个插销沿所述第一滑槽和所述第二滑槽对应的弧向移动从而调节两个所述探头夹持架之间的间距和角度，使得设置在两个所述探头夹持架上的纵波斜探头沿周向形成一定的角度，从而能够更好与呈曲面的待检测工件表面的检测面形成良好接触。

进一步的，所述固定架包括第一固定部，两个所述第一滑槽均设置在第一固定部上，所述第一固定部在两个所述第一滑槽之间的对称轴位置上设有第一螺孔；所述调节块的中心设有与所述第一螺孔相适配的通孔，所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。

由上述描述可知，所述调节块和所述固定架之间通过连接所述第一螺孔与所述通孔的螺钉固定并通过螺钉设置调节块与固定架之间的间距。

进一步的，所述固定架包括第二固定部，所述第二固定部上设有编码器；

所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架分别与所述第一固定部连接，且两个所述连接架上分别设有供所述编码器主体穿过的连接孔，所述编码器主体分别嵌设在两个所述连接孔内。

由上述描述可知，所述编码器主体分设置在两个所述连接架之间并嵌设在两个所述连接孔内可以减少所述编码器主体的磨损。

请参照图1至图5，本实用新型的实施例一为：

提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，设置两个超声信号源1，且将两个超声信号源设置在待检测工件2的焊缝3的同侧对焊缝缺陷31进行检测。所述超声信号源是一对频率相同的纵波斜探头，且两个所述纵波斜探头中一个作为声波发射探头11，另一个作为声波接收探头12。本实用新型提供一种超声检测装置，即用于夹持上述同侧放置的所述声波发射探头和所述声波接收探头。

所述衍射时差法超声检测装置包括固定架4、调节块5、探头夹持架6和编码器7。所述固定架包括第一固定部41和第二固定部42，所述第一固定部的截面呈矩形，且所述第一固定部上设有两个沿圆周分布的第一滑槽411且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形。两个所述第一滑槽呈对称设置，且两个所述第一滑槽的对称轴与所述第一固定部的中心轴线同轴。所述第一固定部位于两个所述第一滑槽的对称轴位置上设有第一螺孔412。所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架呈间隔设置，且两个所述连接架的一端分别与所述第一固定部的一端面的两端连接。两个所述连接架上分别设有同轴设置的连接孔。所述连接孔与所述编码器相适配，所述编码器主体的两端分别嵌设在两个所述连接孔内。

所述调节块呈弧形，所述调节块以层叠的方式设置在所述固定架的第一固定部上，且所述调节块与所述固定架之间具有间隙。具体的，所述调节块的中心位置上设有与所述固定架的第一螺孔相适配的通孔51，且所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。通过所述调第一节螺钉固定所述调节块和固定架，并通过拧紧所述调第一节螺钉能够调整所述调节块与所述固定架之间具有间隙大小。所述调节块对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽52。且所述第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠。

所述探头夹持架的数量为两个，所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源1的夹持部61，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部62。所述探头夹持部呈U形，所述探头夹持部对应的U形的两个相对设置的侧壁上分别设有同轴设置的螺丝孔，两个所述超声信号源是一对频率相同的纵波斜探头，所述纵波斜探头与所述探头夹持部对应的U形相适配，所述纵波斜探头嵌设在所述夹持部对应的U形的凹槽内，且所述纵波斜探头对应所述螺丝孔位置设有固定孔，采用螺丝旋紧所述纵波斜探头使其固定于所述探头夹持架上。所述探头夹持架的连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有两个插销63，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。且插设在所述第一滑槽内的插销远离两个所述第一滑槽的对称轴设置，插设在所述第二滑槽内的插销靠近两个所述第一滑槽的对称轴设置。具体的，所述插销为第二调节螺钉，两个所述探头夹持架分别通过插销沿所述第一滑槽和所述第二滑槽对应的弧向移动从而调节两个所述探头夹持架之间的间距和角度，使得设置在两个所述探头夹持架上的纵波斜探头沿周向形成一定的角度，从而能够更好与呈曲面的待检测工件表面的检测面形成良好接触。

综上所述，本实用新型提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，所述探头夹持架的连接部设在所述调节块和固定架之间的间隙内，且所述连接部通过插销插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内，使得探头夹持架能够相对所述调节块和固定架活动，从而能够通过调节两个夹持部之间的位置关系调整两个超声信号源的声束角度，使得两个所述超声信号源能够根据检测设置要求实现两个所述超声信号源之间的间距与角度调节，并可确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面良好接触。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述调节块对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

2.根据权利要求1所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述第一滑槽的数量为两个，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上。

3.根据权利要求2所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述调节块上的第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，且所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠；

所述探头夹持架的连接部上设有两个插销，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。

4.根据权利要求2所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述固定架包括第一固定部，两个所述第一滑槽均设置在第一固定部上，所述第一固定部在两个所述第一滑槽之间的对称轴位置上设有第一螺孔；所述调节块的中心设有与所述第一螺孔相适配的通孔，所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。

5.根据权利要求4所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述固定架包括第二固定部，所述第二固定部上设有编码器；

所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架分别与所述第一固定部连接，且两个所述连接架上分别设有供所述编码器主体穿过的连接孔，所述编码器主体分别嵌设在两个所述连接孔内。

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