CN114047257A - 一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及焊缝检测技术领域，尤其涉及一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置，包括以下步骤：S1：两个相向设置的超声信号源对待检工件对应直段部分进行超声检测并扫描所述直段部分，得到对应的比对图谱；S2：两个超声信号源对待检工件对应弯段部分进行超声检测并扫描所述弯段部分，得到检测图谱；所述弯段部分具有焊缝，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧；S3：根据步骤S1得到的比对图谱对步骤S2得到的检测图谱进行基准线设置，分析得到所述焊缝的检测结果。本发明不仅检测速度快，而且基于比对图谱的参照得到的检测结果准确度更高。

Description

一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置

技术领域

本发明涉及焊缝检测技术领域，尤其涉及一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置。

背景技术

在锅炉、压力容器和压力管道等特种设备制造和安装过程中，无损检测是确保焊缝质量的重要手段，对于埋藏缺陷主要的检测方法包括：射线检测、超声检测、衍射时差法超声检测(TOFD检测)和相控阵检测等。其中，TOFD检测是利用在固体中声速传播最快的纵波在缺陷端部产生的衍射波及其传播时间差进行缺陷检测与定位和定量，缺陷尺寸测定不依靠信号振幅，检测结果以图像方式显示。检测时将一对频率相同的纵波斜探头相向对称放置在焊缝两侧，一个作为发射探头，另一个作为接收探头。发射探头发射的纵波入射到被检焊缝，在无缺陷部位接收探头会接收到沿工件表面传播的直通波和底面反射波；而在有缺陷存在时，在上述两波之间，接收探头会接收到缺陷上端部和下端部的衍射波。

但由于结构原因，许多重要部位的焊缝还是无法采用现有的检测技术进行有效的检测，比如：锅筒下降管角焊缝、厚壁管道弯头焊缝和法兰焊缝等，这些部位的焊缝一般无法进行射线检测；超声检测和相控阵检测只能进行单侧检测，而且受缺陷的类型和方位影响较大，对于面积型缺陷容易漏检；TOFD检测也无法把两探头相向分别放置在焊缝两侧进行检测。所以在现有技术中，如：CN102507734A，名称为一种焊缝的超声波时差衍射检测方法的在先技术，公开通过将两探头放置在焊缝的同一侧进行检测，但是将两探头放置在焊缝的同一侧进行检测不能得到完整的检测图谱，所以通过二元二次方程组进行复杂的运算得到检测焊缝的位置和深度信息，但是该运算方式已经偏离了TOFD检测方法的手段，存在检测手段复杂，检测结果准确性存疑的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置，能够采用双探头相对焊缝同侧设置的方式利用衍射时差法超声检测得到焊缝的检测结果。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，包括以下步骤：

S1：两个相向设置的超声信号源对待检工件对应直段部分进行超声检测并扫描所述直段部分，得到对应的比对图谱；

S2：两个超声信号源对待检工件对应弯段部分进行超声检测并扫描所述弯段部分，得到检测图谱；所述弯段部分具有焊缝，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧；

S3：根据步骤S1得到的比对图谱对步骤S2得到的检测图谱进行基准线设置，分析得到所述焊缝的检测结果。

本发明采用的另一技术方案为：

一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述固定架对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

本发明的有益效果在于：

本发明提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置，通过先在步骤S1中采用两个超声信号源对待检工件对应直段部分进行扫描得到对应的比对图谱，得到的比对图谱与采用传统的衍射时差法超声检测方法得到的图谱一致，从而能够从比对图谱中得到清晰的直通波和底面反射波作为基准线。再通过步骤S2，将两个超声信号源同侧放置在待检工件对应弯段部分的焊缝一侧进行超声检测并得到检测图谱，将比对图谱对照至检测图谱进行基准线设置，检测图谱设置基准线后能够通过图谱分析进行读数，从而快速得到检测图谱中对应的焊缝的检测结果。本发明不仅检测速度快，而且基于比对图谱的参照得到的检测结果准确度更高。

附图说明

图1为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法的步骤流程图；

图2为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法中两个超声信号源的设置位置示意图；

图3为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法中两个超声信号源的设置位置示意图；

图4为一含缺陷模拟平板试块采用双探头相向放置的衍射时差法超声检测方法的步骤S1中得到的比对图谱；

图5为一含缺陷模拟平板试块采用本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法的步骤S2中得到的检测图谱；

图6为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的结构示意图；

图7为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的固定架的结构示意图；

图8为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的调节块的结构示意图；

图9为本发明一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置的探头夹持架的结构示意图；

标号说明：

1、超声信号源；11、声波发射探头；12、声波接收探头；

2、待检工件；

3、焊缝；31、焊缝缺陷；

4、固定架；41、第一固定部；42、第二固定部；411、第一滑槽；412、第一螺孔；

5、调节块；51、通孔；52、第二滑槽；

6、探头夹持架；61、夹持部；62、连接部；63、插销；

7、编码器。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1至图5，为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，包括以下步骤：

S1：两个相向设置的超声信号源对待检工件对应直段部分进行超声检测并扫描所述直段部分，得到对应的比对图谱；

S2：两个超声信号源对待检工件对应弯段部分进行超声检测并扫描所述弯段部分，得到检测图谱；所述弯段部分具有焊缝，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧；

S3：根据步骤S1得到的比对图谱对步骤S2得到的检测图谱进行基准线设置，分析得到所述焊缝的检测结果。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：本发明提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法和装置，通过先在步骤S1中采用两个超声信号源对待检工件对应直段部分进行扫描得到对应的比对图谱，得到的比对图谱与采用传统的衍射时差法超声检测方法得到的图谱一致，从而能够从比对图谱中得到清晰的直通波和底面反射波作为基准线。再通过步骤S2，将两个超声信号源同侧放置在待检工件对应弯段部分的焊缝一侧进行超声检测并得到检测图谱，将比对图谱对照至检测图谱进行基准线设置，检测图谱设置基准线后能够通过图谱分析进行读数，从而快速得到检测图谱中对应的焊缝的检测结果。本发明不仅检测速度快，而且基于比对图谱的参照得到的检测结果准确度更高。

进一步的，根据待检工件的厚度以及两个超声信号源的入射角度参数，计算得到两个超声信号源之间的间距参数，并根据所述间距参数设置两个超声信号源的位置；两个超声信号源之间的间距参数的计算公式如下：

PCS为两个超声信号源之间的间距，t为工件厚度，α为超声信号源入射角度。

进一步的，两个相向设置的超声信号源同步沿待检工件的表面移动预设距离，且两个相向设置的超声信号源的移动方向垂直于两个相向设置的超声信号源之间的连线方向。

由上述描述可知，两个相向设置的超声信号源可以根据需要同步沿待检工件的表面移动预设距离，优先的，两个相向设置的超声信号源沿待检工件的表面移动一周，使得整个比对图谱更完整。

进一步的，调节两个超声信号源之间的传播角度，使超声信号源的声束入射点到两个超声信号源的声束交点的距离等于步骤S1中两个超声信号源之间间距的一半。

由上述描述可知，两个超声信号源的声束交点位于焊缝的中心线，将超声信号源的声束入射点设置为到两个超声信号源的声束交点的距离等于两个超声信号源之间间距的一半，得到的检测图谱中对应的焊缝缺陷的衍射波信号的清晰度更高。

请参照图6至图9，本发明还提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述固定架对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

由上述描述可知，本发明的有益效果在于：所述探头夹持架的连接部设在所述调节块和固定架之间的间隙内，且所述连接部通过插销插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内，使得探头夹持架能够相对所述调节块和固定架活动，从而能够通过调节两个夹持部之间的位置关系调整两个超声信号源的声束角度，使得两个所述超声信号源能够根据检测设置要求，实现两个所述超声信号源之间的间距与角度调节，确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面能够良好接触。

进一步的，所述第一滑槽的数量为两个，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上。

由上述描述可知，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上，使得两个所述夹持部能够以对称轴为参照相对所述第一滑槽同时相向或相背进行间距调节和角度调节。

进一步的，所述调节块上的第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，且所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠；

所述探头夹持架的连接部上设有两个插销，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。

由上述描述可知，所述探头夹持架通过两个插销沿所述第一滑槽和所述第二滑槽对应的弧向移动从而调节两个所述探头夹持架之间的间距和角度，使得设置在两个所述探头夹持架上的纵波斜探头沿周向形成一定的角度，从而能够更好与呈曲面的待检测工件表面的检测面形成良好接触。

进一步的，所述固定架包括第一固定部，两个所述第一滑槽均设置在第一固定部上，所述第一固定部在两个所述第一滑槽之间的对称轴位置上设有第一螺孔；所述调节块的中心设有与所述第一螺孔相适配的通孔，所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。

由上述描述可知，所述调节块和所述固定架之间通过连接所述第一螺孔与所述通孔的螺钉固定并通过螺钉设置调节块与固定架之间的间距。

进一步的，所述固定架包括第二固定部，所述第二固定部上设有编码器；

所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架分别与所述第一固定部连接，且两个所述连接架上分别设有供所述编码器主体穿过的连接孔，所述编码器主体分别嵌设在两个所述连接孔内。

由上述描述可知，所述编码器主体分设置在两个所述连接架之间并嵌设在两个所述连接孔内，可以减少所述编码器主体的磨损。

请参照图1至图3，本发明的实施例一为：

提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，包括以下步骤：

S1：两个相向设置的超声信号源1对待检工件2对应直段部分进行超声检测并扫描所述直段部分，得到对应的比对图谱；

具体的，两个相向设置的超声信号源是一对频率相同的纵波斜探头，且两个所述纵波斜探头中一个作为声波发射探头11发射纵波至被检焊缝，另一个作为声波接收探头12接收到沿工件表面传播的直通波，底面反射波以及缺陷上端部和下端部的衍射波。

两个相向设置的超声信号源分别采用探头夹持架夹持固定后放置到扫查架上，并通过探头夹持架调节两个超声信号源之间的间距。具体的，根据待检工件的厚度和所选用的两个超声信号源入射角度参数，计算得到两个超声信号源之间的间距参数，并根据所述间距参数设置两个超声信号源的位置。且两个超声信号源之间的间距参数的计算公式如下：

其中，PCS为两个超声信号源之间的间距，t为工件厚度，α为超声信号源入射角度。

所述待检工件的检测表面优选呈弧面，所述待检工件包括管状、管管状或管板状，优选的，所述待检工件为管状，两个相向设置的超声信号源之间的连线方向垂直于所述待检工件的轴向。两个所述超声信号源分别与TOFD仪器连接，扫描架带动两个相向设置的超声信号源同步沿待检工件的表面移动预设距离，且两个相向设置的超声信号源的移动方向垂直于两个相向设置的超声信号源之间的连线方向。优先的，两个相向设置的超声信号源沿管状的待检工件的周向环绕一周，扫描得到对应的比对图谱。

请参照图4，步骤S1从原理上采用的是传统衍射时差法超声检测方法，一个作为声波发射探头的超声信号源向待检工件位于两个超声信号源之间所在位置发射声波并沿待检工件表面和内部传递纵波信号，而另一个作为声波接收探头的超声信号源接收沿待检工件表面传播的直通波和底面反射波，而所述比对图谱反应的就是完整的沿待检工件表面传播的直通波和底面反射波。

S2：两个超声信号源对待检工件对应弯段部分进行超声检测并扫描所述弯段部分，得到检测图谱；所述弯段部分具有焊缝3，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧；

具体的，所述待检工件的弯段包括弯管与直管的连接位置或锅筒下降管角折弯部的位置等。所述待检工件的弯段和直段对应的管壁厚度相等。所述弯段部分具有焊缝，所述焊缝为锅筒下降管角焊缝、弯管与直管对接焊缝或法兰焊缝等，上述焊缝均存在不能在焊缝两侧相向放置两个超声信号源的问题，所以将两个超声信号源设于所述焊缝的同侧进行检测。且位于所述焊缝的同侧的两个超声信号源之间的连线方向与所述待检工件的轴向同向，同样采用探头夹持架夹持固定后放置到扫查架上，同步沿待检工件的焊缝轨迹移动一周扫描得到检测图谱。

请参照图5，所述检测图谱中显示，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧时，作为声波接收探头的超声信号源不能接收沿待检工件表面传播的直通波和底面反射波，但是接收探头接收到了沿待检工件表面传播的焊缝缺陷31的衍射信号，且缺陷衍射信号更强，在检测图谱中表现更明显。

S3：根据步骤S1得到的比对图谱对步骤S2得到的检测图谱进行基准线设置，分析得到所述焊缝的检测结果。

具体的，将所述比对图谱中得到清晰的直通波和底面反射波作为基准线，由于比对图谱与所述检测图谱检测的待检工件为同一待检工件的不同区间段位置，所以将对比对图谱中的直通波和底面反射波作为基准线对照至检测图谱进行基准线设置，弥补了检测图谱无基准线的缺陷。分析所述焊缝的检测结果时，采用TOFD检测法首先通过观察缺陷衍射波的相位和直通波的相位关系，确定缺陷是哪类缺陷，如：上表面开口型、下表面开口型和埋藏型，然后通过坐标的移动来确定缺陷的深度、宽度和长度，对焊缝中的缺陷处进行定位和定量。

本实施例中，步骤S2还包括：调节两个超声信号源之间的传播角度，使超声信号源的声束入射点到两个超声信号源的声束交点的距离等于步骤S1中两个超声信号源之间间距的一半。

参阅图6至图9，本发明还提供一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，包括固定架4、调节块5、探头夹持架6和编码器7。所述固定架包括第一固定部41和第二固定部42，所述第一固定部的截面呈矩形，且所述第一固定部上设有两个沿圆周分布的第一滑槽411且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形。两个所述第一滑槽呈对称设置，且两个所述第一滑槽的对称轴与所述第一固定部的中心轴线同轴。所述第一固定部位于两个所述第一滑槽的对称轴位置上设有第一螺孔412。所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架呈间隔设置，且两个所述连接架的一端分别与所述第一固定部的一端面的两端连接。两个所述连接架上分别设有同轴设置的连接孔。所述连接孔与所述编码器相适配，所述编码器主体的两端分别嵌设在两个所述连接孔内。

所述调节块呈弧形，所述调节块以层叠的方式设置在所述固定架的第一固定部上，且所述调节块与所述固定架之间具有间隙。具体的，所述调节块的中心位置上设有与所述固定架的第一螺孔相适配的通孔51，且所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。通过所述调第一节螺钉固定所述调节块和固定架，并通过拧紧所述调第一节螺钉能够调整所述调节块与所述固定架之间具有间隙大小。所述调节块对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽52。且所述第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠。

所述探头夹持架的数量为两个，所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源1的夹持部61，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部62。所述探头夹持部呈U形，所述探头夹持部对应的U形的两个相对设置的侧壁上分别设有同轴设置的螺丝孔，两个所述超声信号源是一对频率相同的纵波斜探头，所述纵波斜探头与所述探头夹持部对应的U形相适配，所述纵波斜探头嵌设在所述夹持部对应的U形的凹槽内，且所述纵波斜探头对应所述螺丝孔位置设有固定孔，采用螺丝旋紧所述纵波斜探头使其固定于所述探头夹持架上。所述探头夹持架的连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有两个插销63，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。且插设在所述第一滑槽内的插销远离两个所述第一滑槽的对称轴设置，插设在所述第二滑槽内的插销靠近两个所述第一滑槽的对称轴设置。具体的，所述插销为第二调节螺钉，两个所述探头夹持架分别通过插销沿所述第一滑槽和所述第二滑槽对应的弧向移动从而调节两个所述探头夹持架之间的间距和角度，使得设置在两个所述探头夹持架上的纵波斜探头沿周向形成一定的角度，从而能够更好与呈曲面的待检测工件表面的检测面形成良好接触。

综上所述，本发明提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，通过先在步骤S1中采用两个超声信号源先对待检工件对应直段部分进行扫描得到对应的比对图谱，得到的比对图谱与采用传统的衍射时差法超声检测方法得到的图谱一致，从而能够从比对图谱中得到清晰的直通波和底面反射波作为基准线。再通过步骤S2，将两个超声信号源同侧放置在待检工件对应弯段部分的焊缝一侧进行超声检测并得到检测图谱，将比对图谱对照至检测图谱进行基准线设置，检测图谱设置基准线后能够通过图谱分析进行读数，从而快速得到检测图谱中对应的焊缝的检测结果。本发明不仅检测速度快，而且基于比对图谱的参照得到的检测结果准确度更高。本发明提供的一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，所述探头夹持架的连接部设在所述调节块和固定架之间的间隙内，且所述连接部通过插销插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内，使得探头夹持架能够相对所述调节块和固定架活动，从而能够通过调节两个夹持部之间的位置关系调整两个超声信号源的声束角度，使得两个所述超声信号源能够根据检测设置要求实现两个所述超声信号源之间的间距与角度调节，确保检测呈曲面的待检工件时所述超声信号源与检测面良好接触。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：两个相向设置的超声信号源对待检工件对应直段部分进行超声检测并扫描所述直段部分，得到对应的比对图谱；

S2：两个超声信号源对待检工件对应弯段部分进行超声检测并扫描所述弯段部分，得到检测图谱；所述弯段部分具有焊缝，两个超声信号源设于所述焊缝的同侧；

S3：根据步骤S1得到的比对图谱对步骤S2得到的检测图谱进行基准线设置，分析得到所述焊缝的检测结果。

2.根据权利要求1所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，其特征在于，步骤S1具体为：

根据待检工件的厚度以及两个超声信号源的入射角度参数，计算得到两个超声信号源之间的间距参数，并根据所述间距参数设置两个超声信号源的位置；两个超声信号源之间的间距参数的计算公式如下：

PCS为两个超声信号源之间的间距，t为工件厚度，α为超声信号源入射角度。

3.根据权利要求1所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，其特征在于，步骤S1还包括：

两个相向设置的超声信号源同步沿待检工件的表面移动预设距离，且两个相向设置的超声信号源的移动方向垂直于两个相向设置的超声信号源之间的连线方向。

4.根据权利要求1所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，其特征在于，步骤S2还包括：

调节两个超声信号源之间的传播角度，使超声信号源的声束入射点到两个超声信号源的声束交点的距离等于步骤S1中两个超声信号源之间间距的一半。

5.根据权利要求1所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测方法，其特征在于，步骤S3的检测结果具体为：

对焊缝中的缺陷处进行定位和定量。

6.一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，包括固定架、调节块和探头夹持架；

所述固定架上设有两个以上沿圆周分布的第一滑槽，且所述第一滑槽呈与所述圆周相适配的弧形；

所述调节块设置在所述固定架上且所述调节块与所述固定架之间具有间隙，所述调节块对应所述第一滑槽所在位置设有与所述第一滑槽相适配的第二滑槽；

所述探头夹持架的一端设有用于固定两个超声信号源的夹持部，所述探头夹持架的另一端设有分别与所述调节块和固定架连接的连接部，且所述连接部位于所述调节块和固定架之间的间隙内，所述连接部上设有插销，所述插销分别活动插设在所述第一滑槽和所述第二滑槽内。

7.根据权利要求6所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述第一滑槽的数量为两个，两个所述第一滑槽呈对称设置在所述固定架上。

8.根据权利要求7所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述调节块上的第二滑槽的长度小于所述第一滑槽的长度，且所述第二滑槽靠近对称轴的一端与所述第一滑槽靠近对称轴的一端重叠；

所述探头夹持架的连接部上设有两个插销，一个所述插销活动插设在所述第一滑槽内，另一个所述插销活动插设在所述第二滑槽内。

9.根据权利要求6所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述固定架包括第一固定部，两个所述第一滑槽均设置在第一固定部上，所述第一固定部在两个所述第一滑槽之间的对称轴位置上设有第一螺孔；所述调节块的中心设有与所述第一螺孔相适配的通孔，所述第一螺孔与所述通孔通过调第一节螺钉连接。

10.根据权利要求9所述一种双探头同侧放置的衍射时差法超声检测装置，其特征在于，所述固定架包括第二固定部，所述第二固定部上设有编码器；

所述第二固定部包括两个连接架，两个所述连接架分别与所述第一固定部连接，且两个所述连接架上分别设有供所述编码器主体穿过的连接孔，所述编码器主体分别嵌设在两个所述连接孔内。

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