CN216448743U - 一种半导体器件的测试验证平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体器件的测试验证平台，验证板外侧设置有检验组件，承载板顶面滑动安装有滑板，滑板顶面总部开设有转槽，转槽内部转动安装有定位圆，定位圆顶面均匀开设有卡孔，检验槽内部两侧均安装有滑轨，位于同一个检验槽的两个滑轨分别滑动安装于量块两侧，量块中部开设有导向槽，导向槽内部通过连接弹簧连接有导管，位于验证板同一侧的导管均连接于拉板侧面，定位胶圈内部镶嵌有磁板，验证板背面设置有收集组件，本实用新型通过将半导体的引脚卡接于卡孔内，量块挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽内的定位圆即可进行多角度的测量，且多个检验槽内同时进行检测，方便进行对比的同时检验效率也更高。

Description

一种半导体器件的测试验证平台

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体器件的测试验证平台。

背景技术

工艺验证是通过试生产，对设备、原材料和零配件、工艺和操作规程以及生产环境等进行分析，确认生产系统所生产的产品能达到质量要求，以保证投产后产品能够稳定地符合各项质量要求，半导体器件常见的工艺验证为抽样后从外观、尺寸、耐压耐热等方面进行检测。

但是目前市场上的半导体器件在对尺寸进行检测时，常利用游标卡尺一个个测量，耗费时间长，操作繁琐，速度慢，且不易进行对比，检测效率低下。

实用新型内容

本实用新型提供一种半导体器件的测试验证平台，可以有效解决上述背景技术中提出的半导体器件在对尺寸进行检测时，常利用游标卡尺一个个测量，耗费时间长，操作繁琐，速度慢，且不易进行对比，检测效率低下的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：包括验证板，所述验证板外侧设置有检验组件，所述检验组件包括推板、承载板、转槽、定位圆、卡孔、检验槽、量块和磁板；

所述卡孔内连接半导体的引脚，量块挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽内的定位圆即可进行多角度的测量，操作简单，多个检验槽内同时进行检测，推动推板，将检验槽内的承载板顶起，半导体抬升，再拆下磁板，承载板失去磁性，取下检验后的半导体。

优选的，所述检验组件包括推动槽、推板、承载板、滑板、转槽、定位圆、卡孔、检验槽、滑轨、量块、导向槽、连接弹簧、导管、拉板、定位胶圈、磁板、拉把和弹性复位胶条；

所述推动槽开设于验证板底面中部，所述推动槽内部滑动安装有推板，所述推板两侧对称焊接有承载板，所述承载板顶面滑动安装有滑板，所述推板顶面两侧靠近滑板处安装有弹性复位胶条，所述滑板顶面总部开设有转槽，所述转槽内部转动安装有定位圆，所述定位圆顶面均匀开设有卡孔，所述验证板对应承载板处开设有检验槽，所述检验槽内部两侧均安装有滑轨，位于同一个所述检验槽的两个滑轨分别滑动安装于量块两侧，所述量块中部开设有导向槽，所述导向槽内部通过连接弹簧连接有导管，位于所述验证板同一侧的导管均连接于拉板侧面；

所述推板底面中部粘接有定位胶圈，所述定位胶圈内部镶嵌有磁板，所述磁板中部固定安装有拉把。

优选的，所述转槽和定位圆为间隙配合，所述转槽和定位圆接触面均为光滑面。

优选的，所述承载板、滑板、检验槽和量块的宽度均相等，所述承载板和滑板长度相等且均小于检验槽的长度。

优选的，所述定位胶圈和磁板接触面为粗糙曲面，所述定位胶圈内径等于磁板直径。

优选的，所述验证板背面设置有收集组件，所述收集组件包括连接卡槽、连接卡块、收集板、收集框、对接槽、标签槽和缓冲胶垫；

两个所述连接卡槽分别开设于验证板背面两端，所述连接卡槽内部镶嵌有连接卡块，两个所述连接卡块分别固定安装于收集板一侧两端，所述收集板顶面对应检验槽处安装有收集框，所述收集板底面对应收集框处开设有对接槽，所述收集板顶面开设有标签槽，所述标签槽边缘处粘接有缓冲胶垫。

优选的，所述验证板底面和收集板底面平齐，所述检验槽契合收集框。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：本实用新型结构科学合理，使用安全方便；

1、设置有检验组件，通过将半导体的引脚卡接于卡孔内，量块挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽内的定位圆即可进行多角度的测量，操作简单，且多个检验槽内同时进行检测，方便进行对比的同时检验效率也更高。

2、半导体的引脚被磁化的定位圆吸附，可推动推动槽内的推板，将检验槽内的承载板顶起，半导体抬升，再拆下磁板，使得承载板失去磁性，即可轻松取下半导体，操作更加简单便利。

3、设置有收集组件，翻转验证板，检验槽对准收集框，再配合检验组件的磁板，将半导体送入至收集框内，标签槽内放入标签标记，此时即可将收集板堆叠后拿取用，检验和记录分开操作，分工的同时进一步提高验证的效率。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

在附图中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型检验组件的结构示意图；

图3是本实用新型滑板的安装结构示意图；

图4是本实用新型收集组件的结构示意图；

图5是本实用新型图4的A区域结构示意图；

图中标号：1、验证板；

2、检验组件；201、推动槽；202、推板；203、承载板；204、滑板；205、转槽；206、定位圆；207、卡孔；208、检验槽；209、滑轨；210、量块；211、导向槽；212、连接弹簧；213、导管；214、拉板；215、定位胶圈；216、磁板；217、拉把；218、弹性复位胶条；

3、收集组件；301、连接卡槽；302、连接卡块；303、收集板；304、收集框；305、对接槽；306、标签槽；307、缓冲胶垫。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例：如图1-3所示，本实用新型提供一种半导体器件的测试验证平台技术方案，包括验证板1，验证板1外侧设置有检验组件2，检验组件2包括推板202、承载板203、转槽205、定位圆206、卡孔207、检验槽208、量块210和磁板216；

所述卡孔207内连接半导体的引脚，量块210挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽205内的定位圆206即可进行多角度的测量，操作简单，多个检验槽208内同时进行检测，推动推板202，将检验槽208内的承载板203顶起，半导体抬升，再拆下磁板216，承载板203失去磁性，取下检验后的半导体。

检验组件2包括推动槽201、推板202、承载板203、滑板204、转槽205、定位圆206、卡孔207、检验槽208、滑轨209、量块210、导向槽211、连接弹簧212、导管213、拉板214、定位胶圈215、磁板216、拉把217和弹性复位胶条218；

推动槽201开设于验证板1底面中部，推动槽201内部滑动安装有推板202，推板202两侧对称焊接有承载板203，承载板203顶面滑动安装有滑板204，推板202顶面两侧靠近滑板204处安装有弹性复位胶条218，滑板204顶面总部开设有转槽205，转槽205内部转动安装有定位圆206，转槽205和定位圆206为间隙配合，转槽205和定位圆206接触面均为光滑面，便于定位圆206在转槽205内转动，定位圆206顶面均匀开设有卡孔207，验证板1对应承载板203处开设有检验槽208，检验槽208内部两侧均安装有滑轨209，位于同一个检验槽208的两个滑轨209分别滑动安装于量块210两侧，承载板203、滑板204、检验槽208和量块210的宽度均相等，承载板203和滑板204长度相等且均小于检验槽208的长度，便于承载板203在检验槽208内部滑动，量块210中部开设有导向槽211，导向槽211内部通过连接弹簧212连接有导管213，位于验证板1同一侧的导管213均连接于拉板214侧面；

推板202底面中部粘接有定位胶圈215，定位胶圈215和磁板216接触面为粗糙曲面，定位胶圈215内径等于磁板216直径，便于将磁板216卡接于定位胶圈215内部，定位胶圈215内部镶嵌有磁板216，磁板216中部固定安装有拉把217。

在定位胶圈215内部镶嵌磁板216，磁板216磁化推板202、承载板203、滑板204以及定位圆206，因半导体的引脚大多为铁磁性材质，引脚卡接于卡孔207后被吸附，推动拉板214，导管213内的连接弹簧212推动量块210，直至导体卡接于检验槽208和量块210之间，滑板204被推动，弹性复位胶条218形变，通过量块210顶面的刻度得知半导体尺寸，再松动拉板214，再弹性复位胶条218的作用下，滑板204回到原位，量块210不再挤压半导体，转动转槽205内的定位圆206即可进行多角度的测量，操作简单，且多个检验槽208内同时进行检测，方便进行对比的同时检验效率也更高；

可推动推动槽201内的推板202，将检验槽208内的承载板203顶起，半导体抬升，再拆下定位胶圈215内的磁板216，使得承载板203失去磁性，即可轻松取下半导体，操作更加简单便利；

如图4-5所示，验证板1背面设置有收集组件3，收集组件3包括连接卡槽301、连接卡块302、收集板303、收集框304、对接槽305、标签槽306和缓冲胶垫307；

两个连接卡槽301分别开设于验证板1背面两端，连接卡槽301内部镶嵌有连接卡块302，两个连接卡块302分别固定安装于收集板303一侧两端，验证板1底面和收集板303底面平齐，检验槽208契合收集框304，便于将检验槽208内部的半导体放入至收集框304内部，收集板303顶面对应检验槽208处安装有收集框304，收集板303底面对应收集框304处开设有对接槽305，收集板303顶面开设有标签槽306，标签槽306边缘处粘接有缓冲胶垫307。

翻转验证板1，检验槽208对准收集框304，再配合取下检验组件2的磁板216，承载板203不再被磁化，将半导体送入至收集框304内，标签槽306内放入标签标记，连接卡槽301内取出连接卡块302，此时即可将收集板303堆叠后拿取用，检验和记录分开操作，分工的同时进一步提高验证的效率。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种半导体器件的测试验证平台，包括验证板(1)，其特征在于：所述验证板(1)外侧设置有检验组件(2)，所述检验组件(2)包括推板(202)、承载板(203)、转槽(205)、定位圆(206)、卡孔(207)、检验槽(208)、量块(210)和磁板(216)；

所述卡孔(207)内连接半导体的引脚，量块(210)挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽(205)内的定位圆(206)即可进行多角度的测量，操作简单，多个检验槽(208)内同时进行检测，推动推板(202)，将检验槽内的承载板顶起，半导体抬升，再拆下磁板(216)，承载板(203)失去磁性，取下检验后的半导体。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述检验组件(2)包括推动槽(201)、推板(202)、承载板(203)、滑板(204)、转槽(205)、定位圆(206)、卡孔(207)、检验槽(208)、滑轨(209)、量块(210)、导向槽(211)、连接弹簧(212)、导管(213)、拉板(214)、定位胶圈(215)、磁板(216)、拉把(217)和弹性复位胶条(218)

所述推动槽(201)开设于验证板(1)底面中部，所述推动槽(201)内部滑动安装有推板(202)，所述推板(202)两侧对称焊接有承载板(203)，所述承载板(203)顶面滑动安装有滑板(204)，所述推板(202)顶面两侧靠近滑板(204)处安装有弹性复位胶条(218)，所述滑板(204)顶面总部开设有转槽(205)，所述转槽(205)内部转动安装有定位圆(206)，所述定位圆(206)顶面均匀开设有卡孔(207)，所述验证板(1)对应承载板(203)处开设有检验槽(208)，所述检验槽(208)内部两侧均安装有滑轨(209)，位于同一个所述检验槽(208)的两个滑轨(209)分别滑动安装于量块(210)两侧，所述量块(210)中部开设有导向槽(211)，所述导向槽(211)内部通过连接弹簧(212)连接有导管(213)，位于所述验证板(1)同一侧的导管(213)均连接于拉板(214)侧面；

所述推板(202)底面中部粘接有定位胶圈(215)，所述定位胶圈(215)内部镶嵌有磁板(216)，所述磁板(216)中部固定安装有拉把(217)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述转槽(205)和定位圆(206)为间隙配合，所述转槽(205)和定位圆(206)接触面均为光滑面。

4.根据权利要求2所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述承载板(203)、滑板(204)、检验槽(208)和量块(210)的宽度均相等，所述承载板(203)和滑板(204)长度相等且均小于检验槽(208)的长度。

5.根据权利要求2所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述定位胶圈(215)和磁板(216)接触面为粗糙曲面，所述定位胶圈(215)内径等于磁板(216)直径。

6.根据权利要求1所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述验证板(1)背面设置有收集组件(3)，所述收集组件(3)包括连接卡槽(301)、连接卡块(302)、收集板(303)、收集框(304)、对接槽(305)、标签槽(306)和缓冲胶垫(307)；

两个所述连接卡槽(301)分别开设于验证板(1)背面两端，所述连接卡槽(301)内部镶嵌有连接卡块(302)，两个所述连接卡块(302)分别固定安装于收集板(303)一侧两端，所述收集板(303)顶面对应检验槽(208)处安装有收集框(304)，所述收集板(303)底面对应收集框(304)处开设有对接槽(305)，所述收集板(303)顶面开设有标签槽(306)，所述标签槽(306)边缘处粘接有缓冲胶垫(307)。

7.根据权利要求6所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述验证板(1)底面和收集板(303)底面平齐，所述检验槽(208)契合收集框(304)。

Images