CN216361849U - 一种单体模组集成测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种单体模组集成测试治具，涉及测试治具技术领域，包括：测试治具主板、焊接接口区、跳线区和接线区；所述焊接接口区、所述跳线区和所述接线区分别设置在所述测试治具主板上；所述焊接接口区通过所述跳线区与所述接线区连接；所述跳线区位于多个所述焊接接口区和所述接线区之间，所述跳线区用于接通所述焊接接口区与所述接线区；所述接线区用于导通电源。本实用新型解决了因线路拉扯纠缠损坏，导致将飞线焊接的多转接板失效的情况发生，提高测试验证的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试治具技术领域，具体而言，涉及一种单体模组集成测试治具。
背景技术
在物联网蓬勃发展、“万物互联”深入我们日常生活方方面面的今天，人机交互越发显得重要。生物识别作为人机交互中的重要一环，其安全性、经济性和便利性是衡量一种生物识别技术的重要依据。作为生物识别领域中，使用最为广泛的指纹识别，以不超过百分之三的拒真率、低于五万分之一的认假率，在安全性方面足以满足身份认证、小额转账支付等日常需求。同时，其低廉的成本、高集成度小体积、良好的终端用户体验等特点，在经济型和便利性方便也远超其他识别方案。在目前的指纹识别方案中，对各类可靠性需求已经有了明确的规范，以适应实际使用过程中多种情况下使用，确保其稳定性，所以在项目开发阶段，需要对单体状态下的模组进行可靠性验证。
现有的测试方式是对单体模组逐一进行测试验证可靠性，需要采用多个转接板进行焊接连接器之后，将多个转接板进行飞线焊接等操作进行连接，其线路繁多布局混乱，在使用过程中很容易出现线路拉扯纠缠损坏，各个转接板连接失效等情况，严重影响测试验证实验的效率。
实用新型内容
本实用新型解决的问题是如何解决因线路拉扯纠缠损坏，导致将飞线焊接的多转接板失效的情况发生，提高测试验证的效率。
为解决上述问题，本实用新型提供一种单体模组集成测试治具，包括：测试治具主板、焊接接口区、跳线区和接线区；
所述焊接接口区、所述跳线区和所述接线区分别设置在所述测试治具主板上；
所述焊接接口区通过所述跳线区与所述接线区连接；
所述跳线区位于所述焊接接口区和所述接线区之间，所述跳线区用于接通所述焊接接口区与所述接线区；
所述接线区用于导通电源。
采用上述结构后，测试治具主板上集成焊接接口区、跳线区和接线区，焊接接口区用于供各种间距的连接器进行焊接使用，只需一个测试治具主板就可以对多个单体模组进行测试，同时也可以将多个测试治具主板并联，以便同时测试更多的单体模组。
进一步地，所述焊接接口区包括第一阵列接口和第二阵列接口；
所述第一阵列接口与所述第二阵列接口平行设置在所述跳线区相对的两侧边上。
采用上述结构后，根据各个具体项目的连接器规格进行接口的选择，目前常用连接器间距为0.4mm和0.35mm，般为一拖5或者一拖10，如需要一拖16或者一拖32，可以采用多个测试治具主板并联连接即可。
进一步地，所述第一阵列接口用于焊接10PIN的0.4mm连接器。
采用上述结构后，对应满足间距为0.4mm的连接器使用。
进一步地，所述第二阵列接口用于焊接10PIN的0.35mm连接器。
采用上述结构后，对应满足间距为0.35mm的连接器使用。
进一步地，所述焊接接口区的所述第一阵列接口与所述第二阵列接口同步连接至所述跳线区。
采用上述结构后，避免了因多个转接板进行飞线焊接，线路繁多布局混乱而导致的连接失效的问题发生。
进一步地，所述接线区包括电源端接口和接地端接口；
所述电源端接口用于为所述测试治具主板提供电能，所述接地端接口用于将所述测试治具主板接地，通过所述接线区将多个所述测试治具主板并联连接。
采用上述结构后，在跳线区上通过焊锡跳线与电源端接口和接地端接口进行连接，电源端接口和接地端接口还可以与其他测试治具主板进行并联连接。
本实用新型采用上述技术方案包括以下有益效果：
本实用新型通过在测试治具主板上集成焊接接口区、跳线区和接线区，焊接接口区用于供各种间距的连接器进行焊接使用，只需一个测试治具主板就可以对多个单体模组进行测试，同时也可以将多个测试治具主板并联，以便同时测试更多的单体模组，克服了因线路拉扯纠缠损坏，而导致飞线焊接的多转接板失效的情况发生，从而提高测试验证的效率。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的单体模组集成测试治具的结构示意图；
附图标记说明：
1-测试治具主板、2-焊接接口区、201-第一阵列接口、202-第二阵列接口、3-跳线区、4-接线区、401-电源端接口、402-接地端接口。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施例做详细的说明。
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。
本实施例
本实施例提供了一种单体模组集成测试治具，如图1所示，包括：测试治具主板1、焊接接口区2、跳线区3和接线区4；
焊接接口区2、跳线区3和接线区4分别设置在测试治具主板1上；
焊接接口区2通过跳线区3与接线区4连接；
跳线区3位于焊接接口区2和接线区4之间，跳线区3用于接通焊接接口区2与接线区4；接线区4用于导通电源。
具体的，测试治具主板1上集成焊接接口区2、跳线区3和接线区4，焊接接口区2用于供各种间距的连接器进行焊接使用，只需一个测试治具主板1就可以对多个单体模组进行测试，同时也可以将多个测试治具主板1并联，以便同时测试更多的单体模组。
其中，焊接接口区2包括第一阵列接口201和第二阵列接口202；
第一阵列接口201与第二阵列接口202平行设置在跳线区3相对的两侧边上。
具体的，根据各个具体项目的连接器规格进行接口的选择，目前常用连接器间距为0.4mm和0.35mm，般为一拖5或者一拖10，如需要一拖16或者一拖32，可以采用多个测试治具主板1并联连接即可。焊接的接口呈阵列排列，可以节省占用测试治具主板1的空间。
其中，第一阵列接口201用于焊接10PIN的0.4mm连接器。
具体的，对应满足间距为0.4mm的连接器使用。
其中，第二阵列接口202用于焊接10PIN的0.35mm连接器。
具体的，对应满足间距为0.35mm的连接器使用。
其中，焊接接口区2的第一阵列接口201与第二阵列接口202同步连接至跳线区3。
具体的，避免了因多个转接板进行飞线焊接，线路繁多布局混乱而导致的连接失效的问题发生。
其中，接线区4包括电源端接口401和接地端接口402；电源端接口401用于为测试治具主板1提供电能，接地端接口402用于将测试治具主板1接地，通过接线区4将多个测试治具主板1并联连接。
具体的，在跳线区3上通过焊锡跳线与电源端接口401和接地端接口402进行连接，电源端接口401和接地端接口402还可以与其他测试治具主板1进行并联连接。
在目前各个客户端和模组厂进行上电一拖多可靠性试验时，需要采用多个转接板进行飞线焊接等操作进行连接，其线路繁多布局混乱，在使用过程接板进行焊接连接器之后，很容易出现线路拉扯纠缠损坏，各个转接板连接失效等情况，严重影响实验进度，实验操作人员在取放过程也容易拉扯到线路导致实验过程中断，另外在应对各个项目时，由于是多个转接板组装状态，没有对应的字符标示，需要对客户或者工厂实验室人员进行指导，明确VDD和GND接头，不然容易反向安装造成短路引起模组发烫损伤。将电源端接口(VDD)和接地端接口(GND)根据项目具体供电需求，选用2.8V、3.3V等规格，并连接至电源供电器等实验装置上。
本实用新型通过在测试治具主板上集成焊接接口区、跳线区和接线区，焊接接口区用于供各种间距的连接器进行焊接使用，只需一个测试治具主板就可以对多个单体模组进行测试，同时也可以将多个测试治具主板并联，以便同时测试更多的单体模组，克服了因线路拉扯纠缠损坏，而导致飞线焊接的多转接板失效的情况发生，从而提高测试验证的效率。
虽然本公开披露如上，但本公开的保护范围并非仅限于此。本领域技术人员，在不脱离本公开的精神和范围的前提下，可进行各种变更与修改，这些变更与修改均将落入本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种单体模组集成测试治具，其特征在于，包括：测试治具主板(1)、焊接接口区(2)、跳线区(3)和接线区(4)；
所述焊接接口区(2)、所述跳线区(3)和所述接线区(4)分别设置在所述测试治具主板(1)上；
所述焊接接口区(2)通过所述跳线区(3)与所述接线区(4)连接；
所述跳线区(3)位于所述焊接接口区(2)和所述接线区(4)之间，所述跳线区(3)用于接通所述焊接接口区(2)与所述接线区(4)；
所述接线区(4)用于导通电源。
2.根据权利要求1所述的单体模组集成测试治具，其特征在于，所述焊接接口区(2)包括第一阵列接口(201)和第二阵列接口(202)；
所述第一阵列接口(201)与所述第二阵列接口(202)平行设置在所述跳线区(3)相对的两侧边上。
3.根据权利要求2所述的单体模组集成测试治具，其特征在于，所述第一阵列接口(201)用于焊接10PIN的0.4mm连接器。
4.根据权利要求2所述的单体模组集成测试治具，其特征在于，所述第二阵列接口(202)用于焊接10PIN的0.35mm连接器。
5.根据权利要求2所述的单体模组集成测试治具，其特征在于，所述焊接接口区(2)的所述第一阵列接口(201)与所述第二阵列接口(202)同步连接至所述跳线区(3)。
6.根据权利要求1所述的单体模组集成测试治具，其特征在于，所述接线区(4)包括电源端接口(401)和接地端接口(402)；
所述电源端接口(401)用于为所述测试治具主板(1)提供电能，所述接地端接口(402)用于将所述测试治具主板(1)接地，通过所述接线区(4)将多个所述测试治具主板(1)并联连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202122608664.4U CN216361849U (zh) | 2021-10-28 | 2021-10-28 | 一种单体模组集成测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202122608664.4U CN216361849U (zh) | 2021-10-28 | 2021-10-28 | 一种单体模组集成测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN216361849U true CN216361849U (zh) | 2022-04-22 |
Family
ID=81189622
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202122608664.4U Active CN216361849U (zh) | 2021-10-28 | 2021-10-28 | 一种单体模组集成测试治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN216361849U (zh) |
-
2021
- 2021-10-28 CN CN202122608664.4U patent/CN216361849U/zh active Active
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