CN216286606U - 一种ito架桥结构及电容触摸屏 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种ITO架桥结构及电容触摸屏,所述ITO架桥结构包括依次堆叠在基板上的第一ITO过桥层、第一OC层、第二ITO图案层、金属走线层和第二OC层,其中,第一ITO过桥层的ITO过桥用于电连接第二ITO图案层的ITO图案,所述金属层包括金属地线和金属功能线,金属功能线位于两金属地线之间,两金属地线分别与ITO图案电连接,第一OC层用于隔离ITO过桥和金属功能线,所述ITO图案覆盖在第一OC层两端且向第一OC层中间的金属功能线靠拢,所述ITO图案和金属功能线之间留有较小的间隙。本实用新型通过增大ITO图案从而减小第一OC层和强酸的接触面积,提高产品良率,提高产品稳定性和可靠性。
Description
技术领域
本实用新型属于触摸屏技术领域,具体涉及一种ITO架桥结构及电容触摸屏。
背景技术
在触摸屏功能层走线制作过程中,产品的设计和产品可靠性息息相关,设计做的好,可以大大提高产品良率和可靠性。
图2所示是一种ITO架桥结构的常规设计,该架桥结构用于按键区,触控Sensor上需要布置金属走线,其堆叠结构自下至上依次是基板、第一ITO过桥层、第一OC层、第二ITO图案层、金属走线层、第二OC层,针对该设计sensor工艺流程是先在玻璃基板上制作第一ITO过桥层,然后再依次制作第一OC层,第二ITO图案层、金属走线层、第二OC层。第一OC层是绝缘保护层,作用是隔离ITO过桥和第一OC层上的金属走线层(金属功能线)。但是由于第一OC层的OC的材质是一种聚异戍二烯,不耐强酸,而酸刻第二ITO图案层和金属走线层的酸是盐酸和硝酸,这两种强酸会使致密性不高的第一OC层粘附力变差,使其容易在后续工艺流程中脱落,造成产品不良率提高,产品稳定性和可靠性降低,第一OC层与强酸的接触面积越大影响越大。
实用新型内容
本实用新型需要解决的技术问题是提供一种ITO架桥结构及电容触摸屏,使其在蚀刻第二ITO图案层和金属走线层时,第一OC层和强酸的接触面积大大减小,保持第一OC层稳定度,防止其在后续工艺流程脱落。
为解决上述问题,本实用新型所采取的技术方案是:
一种ITO架桥结构,所述ITO架桥结构包括依次堆叠在基板上的第一ITO过桥层、第一OC层、第二ITO图案层、金属走线层和第二OC层,其中,第一ITO过桥层的ITO过桥用于电连接第二ITO图案层的ITO图案,所述金属层包括金属地线和金属功能线,金属功能线位于两金属地线之间,两金属地线分别与ITO图案电连接,第一OC层用于隔离ITO过桥和金属功能线,所述ITO图案覆盖在第一OC层两端且向第一OC层中间的金属功能线靠拢,所述ITO图案和金属功能线之间留有较小的间隙。
进一步的,所述第一OC层两端的ITO图案以第一OC层中线对称设置。
优选的,所述ITO图案和金属功能线之间的间隙为0.03-0.05mm。
优选的,所述金属功能线的宽度为0.05-1.0mm。
优选的,所述第一OC层厚度为1.2-50μm。
优选的,所述第一OC层制作工艺为涂布工艺。
进一步的,所述金属走线层材料是钼铝钼、铜或银浆中的任意一种。
进一步的,所述金属走线层制作工艺为黄光、丝印或光刻中的任意一种。
进一步的,所述基板为玻璃基板或PMMA基板。
一种电容触摸屏,采用上述任一技术方案所述的一种ITO架桥结构。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:
本实用新型利用ITO图案将第一OC层的大部分区域进行覆盖保护,从而在蚀刻第二ITO图案层和金属走线层时,大大减小第一OC层和强酸的接触面积,保持第一OC层的粘附稳定程度,防止其在后续工艺流程脱落,提高产品良率,提高产品稳定性和可靠性。
附图说明
图1是触摸屏堆叠结构示意图;
图2是现有ITO架桥结构示意图;
图3是本实用新型ITO架桥结构示意图;
其中:1、基板,2、第一ITO过桥层,3、第一OC层,4、第二ITO图案层,5、金属走线层,6、第二OC层,51、金属地线,52、金属功能线。
具体实施方式
下面结合附图对实用新型做进一步详细描述:
本实用新型是一种ITO架桥结构,该架桥结构主要用于按键区的按键Sensor的架桥连接。为了防止第一OC层在后续工艺制程中被强酸腐蚀导致其粘附性变差,采用增大ITO图案的方式,将ITO图案的增大部分用于覆盖第一OC层,减少第一OC层和强酸的接触面积。
实施例1
如图1和图3所示,本实施例所述ITO架桥结构包括依次堆叠在基板1上的第一ITO过桥层2、第一OC层3、第二ITO图案层4、金属走线层5和第二OC层6,其中,第一ITO过桥层设置ITO过桥,所述ITO过桥用于电连接第二ITO图案层的ITO图案,所述金属层包括金属地线51和金属功能线52,金属功能线位于两金属地线之间,两金属地线分别与ITO图案电连接,金属功能线位于第一OC层上方中间位置,第一OC层为绝缘保护层,用于隔离ITO过桥和金属功能线,为了减少第一OC层与强酸的接触面积,本实施例所述的第二ITO图案层的ITO图案面积增大,ITO图案覆盖在第一OC层两端并且向第一OC层中间的金属功能线靠拢,直至所述ITO图案和金属功能线之间非常接近,此时,ITO图案和金属功能线之间还留有较小的间隙,防止其电连接。
对于本实施例,所述第一OC层两端的ITO图案以第一OC层中线对称设置,金属功能线位于第一OC层正中间。两端的ITO图案和金属功能线之间的间隙相等,为0.03-0.05mm的一个范围。
为了防止第一OC层在强酸下腐蚀,影响产品良率,本实施例所述的第一OC层厚度为1.2-50μm,所述第一OC层制作工艺采用涂布工艺。
对于本实施例,所述金属走线层材料采用钼铝钼、铜或银浆中的任意一种,其制作工艺采用黄光、丝印或光刻(激光)中的任意一种。
对于本实施例,所述的基板材料一般为玻璃基板或者PMMA(polymethylmethacrylate,聚甲基丙烯酸甲酯,是一种高分子聚合物,又称作亚克力或有机玻璃,具有高透明度,是平常经常使用的玻璃替代材料)基板。
本实施例还提供一种电容触摸屏,采用上述技术方案所述的一种ITO架桥结构。
实施例2
本实施例与实施例1的不同之处在于,根据实际需要,对参数和材料进行了优化和选择。本实施例中,第一OC层两端的ITO图案和金属功能线之间的间隙相等,为0.04mm,该参数是一个优选的参数。所述金属功能线的宽度为0.05-1.0mm,一般情况下为0.1mm,本实施例金属功能线的宽度优选0.1mm。这样可以大大减少第一OC层与强酸的接触面积。
Claims (10)
1.一种ITO架桥结构,其特征在于:所述ITO架桥结构包括依次堆叠在基板上的第一ITO过桥层、第一OC层、第二ITO图案层、金属走线层和第二OC层,其中,第一ITO过桥层的ITO过桥用于电连接第二ITO图案层的ITO图案,所述金属走线层包括金属地线和金属功能线,金属功能线位于两金属地线之间,两金属地线分别与ITO图案电连接,第一OC层用于隔离ITO过桥和金属功能线,所述ITO图案覆盖在第一OC层两端且向第一OC层中间的金属功能线靠拢,所述ITO图案和金属功能线之间留有较小的间隙。
2.根据权利要求1所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述第一OC层两端的ITO图案以第一OC层中线对称设置。
3.根据权利要求2所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述ITO图案和金属功能线之间的间隙为0.03-0.05mm。
4.根据权利要求3所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述金属功能线的宽度为0.05-1.0mm。
5.根据权利要求1-4任一项所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述第一OC层厚度为1.2-50μm。
6.根据权利要求5所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述第一OC层制作工艺为涂布工艺。
7.根据权利要求6所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述金属走线层材料是钼铝钼、铜或银浆中的任意一种。
8.根据权利要求7所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述金属走线层制作工艺为黄光、丝印或光刻中的任意一种。
9.根据权利要求8所述的一种ITO架桥结构,其特征在于:所述基板为玻璃基板或PMMA基板。
10.一种电容触摸屏,其特征在于:包括权利要求1-9所述的一种ITO架桥结构。
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CN202121746726.1U Active CN216286606U (zh) | 2021-07-29 | 2021-07-29 | 一种ito架桥结构及电容触摸屏 |
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- 2021-07-29 CN CN202121746726.1U patent/CN216286606U/zh active Active
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