CN216285007U - 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统 - Google Patents

一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统 Download PDF

Info

Publication number
CN216285007U
CN216285007U CN202122695513.7U CN202122695513U CN216285007U CN 216285007 U CN216285007 U CN 216285007U CN 202122695513 U CN202122695513 U CN 202122695513U CN 216285007 U CN216285007 U CN 216285007U
Authority
CN
China
Prior art keywords
crystal
light splitting
transmission shaft
control module
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202122695513.7U
Other languages
English (en)
Inventor
张伟
吴佰逊
刘永睿
李存磊
吴耀昕
孙晓艳
聂崧航
张琦
张辉斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dongfang Measurement & Control Technology Co ltd
Original Assignee
Dongfang Measurement & Control Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dongfang Measurement & Control Technology Co ltd filed Critical Dongfang Measurement & Control Technology Co ltd
Application granted granted Critical
Publication of CN216285007U publication Critical patent/CN216285007U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/2209Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using wavelength dispersive spectroscopy [WDS]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本实用新型提供一种可自动调节的在线X荧光色散分析仪光路系统,包括在分光壳体的内部安装晶体台、晶体座,晶体座上有分光晶体,晶体座能够转动,通过伺服电机控制齿轮盘的转动来调节晶体座的旋转角度,通过电机控制模块间接记录晶体座的旋转角度,通过对计数率‑旋转角度的谱形进行处理,确定晶体座的最佳旋转角度。通过对伺服电机的控制,实现对光路的自动调节,使整个光路的效果达到最佳,避免了因环境的温度变化、震动等不利因素影响造成的仪表分析精度降低,减少了维护的工作量,不用打开仪器装置进行手动调节。

Description

一种可自动调节的在线X荧光色散分析仪光路系统
技术领域
本实用新型涉及一种工业物料成分在线分析领域,具体说涉及一种可自动调节的在线X荧光色散分析仪光路系统。
背景技术
X射线荧光光谱分析是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,分为色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型荧光光谱仪是用分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光谱仪是借助高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。能量色散型荧光和波长色散型荧光折两种仪器,各有所有点和不足,它们只能互补,而不能替代。
波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源、分光系统、探测器系统、真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的聚焦几何条件不同,分为非聚焦反射平晶式、半聚焦反射弯晶式、全聚焦反射弯晶式、半聚焦透射弯晶式等。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体需安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。
而如果只为了分析某一种元素的含量的时候,则无需测角仪,只要把分光晶体以合适的角度固定在分光系统中。由于波长色散分析仪的分光系统结构精密,目前属于适合在实验室分析的用途,而用在工业在线检测分析的话,由于有些工业生产现场的恶略条件,如环境温度变化波动大、存在持续的震动或震幅较大等,都严重影响了波长色散分析仪在工业现场应用的效果。
特别是波长色散分析仪在工业现场运行一段时间后,随着温度变化和震动等影响,导致分光晶体对X荧光的反射聚焦状态发生改变,使探测器接收到的有效X荧光强度降低,影响分析精度。目前对此类现象的维修手段就是工作人员拆开分析仪,使用手工调节,而又受到现场的潮气大、粉尘多、空间狭小等不利条件,导致调试工作非常困难。
发明内容
针对目前系统所存在的不足,本实用新型提出一种可自动调节的在线X荧光色散分析仪光路系统。
本实用新型的具体内容为:
在分光壳体(101)的内部,安装四块遮挡块(102),安装晶体台(203),晶体台(203)开有圆孔(302);分光壳体(101)开有圆形的孔,传动轴(501)穿过分光壳体(101)的圆形孔,在分光壳体(101)内部的一段与晶体座(202)连接,并通过键(502)的作用,使晶体座(202)与传动轴(501)保持相对固定;传动轴(501)在分光壳体(101)的内部的一端插入圆孔(302)中,传动轴(501)与圆孔(302)同心,传动轴(501)可以在圆孔(302)中自由旋转;晶体座(202)上固定有分光晶体(206);
伺服电机(401)通过联轴器A(405)与蜗杆(402)连接,蜗杆(402)与齿轮盘(301)一起构成常规的蜗轮蜗杆结构;齿轮盘(301)与传动轴(501)在分光壳体(101)外部的一端连接并保持固定;通过伺服电机(401)的顺时针方向或逆时针方向旋转,可以带动齿轮盘(301)的转动,齿轮盘(301)通过传动轴(501)带动晶体座(202)按照相同的角速度旋转;在齿轮盘(301)不与传动轴(501)连接的另一侧,通过联轴器B(406)与多圈绝对值编码器(403)连接;
伺服电机(401)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为伺服电机(401)提供工作电源及接收信号、发送控制信号;多圈绝对值编码器(403)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为多圈绝对值编码器(403)提供工作电源及接收信号;
分光壳体(101)开有狭缝A(103)和狭缝B(104),X荧光从狭缝A(103)入射,经过分光晶体(206)的反射之后,从狭缝B(104)出射;分光壳体(101)连接有探测器(105),探测器(105)接收从狭缝B(104)出射的X荧光;探测器(105)通过电缆与信号处理器(106)连接,信号处理器(106)为探测器(105)提供工作电源及接收信号;
信号处理器(106)通过电缆与工控机(107)连接,信号处理器(106)将接收到探测器(105)的脉冲信号后,转换为计数率的数字信号传输给工控机(107);
电机控制模块(404)通过电缆与工控机(107)连接。
当需要将分光晶体(206)调整到最佳位置时,工控机(107)通过电机控制模块(404)控制伺服电机(401)的旋转,使晶体座(202)从极限位置1的状态逐渐变化到极限位置2的状态,在该过程中,多圈绝对值编码器(403)的信号传输给电机控制模块(404),经过电机控制模块(404)转换为代表晶体座(202)旋转至不同位置的数字化信号后传输给工控机(107);同时信号处理器(106)将接收到探测器(105)的脉冲信号后,转换为计数率的数字信号传输给工控机(107);工控机(107)将数据处理成为谱形;
工控机(107)对谱形进行平滑处理,然后对平滑之后的谱形寻找最大值,最大值的横坐标位置n1所对应的晶体座(202)位置为最佳位置;工控机(107)通过电机控制模块(404)控制伺服电机(401)的旋转,使多圈绝对值编码器(403)的信号对应到n1即可。
有益效果:
通过采用本实用新型的内容进行实施,可以实现对光路的自动调节,自动将波长色散的光路调整到最佳状态,避免了因环境的温度变化、震动等不利因素影响造成的仪表分析精度降低,减少了维护的工作量,不用打开仪器装置进行手动调节。
附图说明
图1:分光器系统工作原理图
图2:晶体座局部放大图
图3:蜗杆、齿轮盘、晶体座局部放大图
图4:伺服电机、蜗杆和齿轮盘、多圈绝对值编码器位置图
图5:晶体座极限位置1示意图
图6:晶体座极限位置2示意图
图中:101 分光壳体,102 遮挡块,103 狭缝A,104 狭缝B,105 探测器,106 信号处理器,107 工控机,202 晶体座,203 晶体台,206 分光晶体,301 齿轮盘,302 圆孔,401伺服电机,402 蜗杆,403 多圈绝对值编码器,404 电机控制模块,405 联轴器A,406 联轴器B,501 传动轴,502 键。
具体实施方式
如图1所示,在分光壳体(101)的内部,安装四块遮挡块(102),安装晶体台(203);
如图1、图2、图3、图4所示,晶体台(203)开有圆孔(302);分光壳体(101)开有圆形的孔,传动轴(501)穿过分光壳体(101)的圆形孔,在分光壳体(101)内部的一段与晶体座(202)连接,并通过键(502)的作用,使晶体座(202)与传动轴(501)保持相对固定;传动轴(501)在分光壳体(101)的内部的一端插入圆孔(302)中,传动轴(501)与圆孔(302)同心,传动轴(501)可以在圆孔(302)中自由旋转;晶体座(202)上固定有分光晶体(206);
伺服电机(401)通过联轴器A(405)与蜗杆(402)连接,蜗杆(402)与齿轮盘(301)一起构成常规的蜗轮蜗杆结构;齿轮盘(301)与传动轴(501)在分光壳体(101)外部的一端连接并保持固定;通过伺服电机(401)的顺时针方向或逆时针方向旋转,可以带动齿轮盘(301)的转动,齿轮盘(301)通过传动轴(501)带动晶体座(202)按照相同的角速度旋转;在齿轮盘(301)不与传动轴(501)连接的另一侧,通过联轴器B(406)与多圈绝对值编码器(403)连接;
如图1、图5、图6所示,伺服电机(401)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为伺服电机(401)提供工作电源及接收信号、发送控制信号;多圈绝对值编码器(403)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为多圈绝对值编码器(403)提供工作电源及接收信号;
通过伺服电机(401)的顺时针方向或逆时针方向旋转,可以带动齿轮盘(301)的转动,齿轮盘(301)通过传动轴(501)带动晶体座(202)的旋转,进而控制晶体座(202)可以处于极限位置1的状态到极限位置2的状态之间的各种状态;
分光壳体(101)开有狭缝A(103)和狭缝B(104),X荧光从狭缝A(103)入射,经过分光晶体(206)的反射之后,从狭缝B(104)出射;分光壳体(101)连接有探测器(105),探测器(105)接收从狭缝B(104)出射的X荧光;探测器(105)通过电缆与信号处理器(106)连接,信号处理器(106)为探测器(105)提供工作电源及接收信号;
信号处理器(106)通过电缆与工控机(107)连接,信号处理器(106)将接收到探测器(105)的脉冲信号后,转换为计数率的数字信号传输给工控机(107);
电机控制模块(404)通过电缆与工控机(107)连接。
当需要将分光晶体(206)调整到最佳位置时,工控机(107)通过电机控制模块(404)控制伺服电机(401)的旋转,使晶体座(202)从极限位置1的状态逐渐变化到极限位置2的状态,在该过程中,多圈绝对值编码器(403)的信号传输给电机控制模块(404),经过电机控制模块(404)转换为代表晶体座(202)不同位置的数字化信号后传输给工控机(107);同时信号处理器(106)将接收到探测器(105)的脉冲信号后,转换为计数率的数字信号传输给工控机(107);工控机(107)将数据处理成为谱形,谱形的横轴代表晶体座(202)不同位置,取值范围为1~N的正整数,其中极限位置1状态时对应为1,极限位置2状态时对应为N,n为晶体座(202)从极限位置1的状态逐渐变化到极限位置2的状态的过程中,多圈绝对值编码器(403)所发出代表晶体座(202)不同位置的数字化信号对应的数值;纵轴为晶体座(202)处于该位置状态下的计数率。
为避免涨落效应,工控机(107)对谱形进行平滑处理,具体的平滑公示为:
当1≤n≤3或N-3≤n≤N时,
Figure DEST_PATH_IMAGE001
当3<n<N-3时,
Figure DEST_PATH_IMAGE002
其中
Figure DEST_PATH_IMAGE003
为平滑之前谱形中道址为n的计数率,
Figure DEST_PATH_IMAGE004
为平滑之后谱形中道址为n的计数率;
然后对平滑之后的谱形寻找最大值,找到max(
Figure 329006DEST_PATH_IMAGE004
),对应max(
Figure 183830DEST_PATH_IMAGE004
)的道址数为n1,即有
Figure DEST_PATH_IMAGE005
,则道址n1所对应的晶体座(202)位置为最佳位置,工控机(107)通过电机控制模块(404)控制伺服电机(401)的旋转,使多圈绝对值编码器(403)的信号对应到n1即可。
其中:
探测器(105)为流气正比计数器;
伺服电机(401)选用 M-link 品牌的 JM-CP6224-M-E 伺服电机;
多圈绝对值编码器(403)选用WDGA 58B绝对值编码器(德国)。

Claims (1)

1.一种可自动调节的在线X荧光色散分析仪光路系统,其特征在于:
在分光壳体(101)的内部,安装晶体台(203);晶体台(203)开有圆孔(302);传动轴(501)与晶体座(202)连接,并通过键(502)的作用,使晶体座(202)与传动轴(501)保持相对固定;传动轴(501)在分光壳体(101)的内部的一端插入圆孔(302)中,传动轴(501)与圆孔(302)同心,传动轴(501)可以在圆孔(302)中自由旋转;晶体座(202)上固定有分光晶体(206);
伺服电机(401)通过联轴器A(405)与蜗杆(402)连接,蜗杆(402)与齿轮盘(301)一起构成常规的蜗轮蜗杆结构;齿轮盘(301)与传动轴(501)连接并保持固定;齿轮盘(301)通过联轴器B(406)与多圈绝对值编码器(403)连接;
伺服电机(401)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为伺服电机(401)提供工作电源及接收信号、发送控制信号;多圈绝对值编码器(403)通过电缆与电机控制模块(404)连接,电机控制模块(404)为多圈绝对值编码器(403)提供工作电源及接收信号;
分光壳体(101)开有狭缝A(103)和狭缝B(104),X荧光从狭缝A(103)入射,经过分光晶体(206)的反射之后,从狭缝B(104)出射;分光壳体(101)连接有探测器(105),探测器(105)接收从狭缝B(104)出射的X荧光;探测器(105)通过电缆与信号处理器(106)连接,信号处理器(106)为探测器(105)提供工作电源及接收信号;
信号处理器(106)通过电缆与工控机(107)连接,信号处理器(106)将接收到探测器(105)的脉冲信号后,转换为计数率的数字信号传输给工控机(107);
电机控制模块(404)通过电缆与工控机(107)连接。
CN202122695513.7U 2020-11-11 2021-11-05 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统 Active CN216285007U (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2020225951967 2020-11-11
CN202022595196 2020-11-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN216285007U true CN216285007U (zh) 2022-04-12

Family

ID=75229758

Family Applications (11)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202022827777.9U Active CN213933660U (zh) 2020-11-11 2020-12-01 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置
CN202011381042.6A Active CN112611776B (zh) 2020-11-11 2020-12-01 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置的使用方法
CN202111204469.3A Withdrawn CN113916922A (zh) 2020-11-11 2021-10-15 一种可自动调节的波长色散分析仪光路装置及使用方法
CN202111204355.9A Withdrawn CN113916921A (zh) 2020-11-11 2021-10-15 可自动调节的在线x荧光分析仪光路系统
CN202122488090.1U Active CN216082561U (zh) 2020-11-11 2021-10-15 一种可自动调节的波长色散分析仪光路装置
CN202122488087.XU Active CN216082560U (zh) 2020-11-11 2021-10-15 可自动调节的在线x荧光分析仪光路系统
CN202111236540.6A Withdrawn CN113834836A (zh) 2020-11-11 2021-10-23 一种可自动调节的在线x荧光分析仪光路装置及使用方法
CN202122669616.6U Active CN216696125U (zh) 2020-11-11 2021-11-03 一种可自动调节的x荧光色散分析仪光路系统
CN202111292984.1A Withdrawn CN113834837A (zh) 2020-11-11 2021-11-03 一种可自动调节的x荧光色散分析仪光路系统
CN202122695513.7U Active CN216285007U (zh) 2020-11-11 2021-11-05 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统
CN202111305057.9A Withdrawn CN113834838A (zh) 2020-11-11 2021-11-05 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统

Family Applications Before (9)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202022827777.9U Active CN213933660U (zh) 2020-11-11 2020-12-01 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置
CN202011381042.6A Active CN112611776B (zh) 2020-11-11 2020-12-01 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置的使用方法
CN202111204469.3A Withdrawn CN113916922A (zh) 2020-11-11 2021-10-15 一种可自动调节的波长色散分析仪光路装置及使用方法
CN202111204355.9A Withdrawn CN113916921A (zh) 2020-11-11 2021-10-15 可自动调节的在线x荧光分析仪光路系统
CN202122488090.1U Active CN216082561U (zh) 2020-11-11 2021-10-15 一种可自动调节的波长色散分析仪光路装置
CN202122488087.XU Active CN216082560U (zh) 2020-11-11 2021-10-15 可自动调节的在线x荧光分析仪光路系统
CN202111236540.6A Withdrawn CN113834836A (zh) 2020-11-11 2021-10-23 一种可自动调节的在线x荧光分析仪光路装置及使用方法
CN202122669616.6U Active CN216696125U (zh) 2020-11-11 2021-11-03 一种可自动调节的x荧光色散分析仪光路系统
CN202111292984.1A Withdrawn CN113834837A (zh) 2020-11-11 2021-11-03 一种可自动调节的x荧光色散分析仪光路系统

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111305057.9A Withdrawn CN113834838A (zh) 2020-11-11 2021-11-05 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统

Country Status (1)

Country Link
CN (11) CN213933660U (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN213933660U (zh) * 2020-11-11 2021-08-10 丹东东方测控技术股份有限公司 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8201343A (nl) * 1982-03-31 1983-10-17 Philips Nv Roentgen analyse apparaat met instelbare strooistralenspleet.
US6404849B1 (en) * 1999-08-11 2002-06-11 Abbott Laboratories Automated sample handling for X-ray crystallography
CN1180243C (zh) * 2001-11-27 2004-12-15 丹东东方测控技术有限公司 矿石品位和煤炭灰分的测量方法及便携式测量仪器
JP3677766B2 (ja) * 2002-12-10 2005-08-03 理学電機工業株式会社 蛍光x線分析装置
CN201522463U (zh) * 2009-10-23 2010-07-07 北京邦鑫伟业技术开发有限公司 具有能散检测技术的波长色散x荧光分析仪
CN103267767B (zh) * 2013-04-01 2016-01-27 合肥晶桥光电材料有限公司 多功能x射线定向仪
CN106200686B (zh) * 2015-05-04 2019-07-23 宝山钢铁股份有限公司 用于波长色散型固定道x荧光光谱仪分光晶体调整装置和方法
CN108152313B (zh) * 2017-12-27 2023-11-21 钢研纳克检测技术股份有限公司 X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法
CN213933660U (zh) * 2020-11-11 2021-08-10 丹东东方测控技术股份有限公司 可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN112611776A (zh) 2021-04-06
CN216696125U (zh) 2022-06-07
CN216082561U (zh) 2022-03-18
CN216082560U (zh) 2022-03-18
CN113916921A (zh) 2022-01-11
CN113834836A (zh) 2021-12-24
CN113834838A (zh) 2021-12-24
CN112611776B (zh) 2024-07-26
CN113916922A (zh) 2022-01-11
CN213933660U (zh) 2021-08-10
CN113834837A (zh) 2021-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2499252C2 (ru) Устройство и способ для рентгеновского флуоресцентного анализа образца минерала
CN108152313B (zh) X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法
CN216285007U (zh) 一种可自动调节的在线x荧光色散分析仪光路系统
WO2006047267A2 (en) Apparatus and method for suppressing insignificant variations in measured sample composition data, including data measured from dynamically changing samples using x-ray analysis techniques
CN104677827A (zh) 一种基于便携式光纤光谱仪的可见近红外漫反射基线信号的扣除装置及其方法
CN101581680A (zh) 一种双曲晶体x荧光光谱分析仪及其工作方法
US2844066A (en) Method of photometric analysis
Zhang et al. Stability enhanced online powdery cement raw materials quality monitoring using laser-induced breakdown spectroscopy
Boumans et al. A computerised programmable monochromator for flexible multi-element analysis with special reference to the inductively coupled plasma
CN109001116B (zh) 一种入射狭缝调节机构及应用其的原子发射光谱仪
CN116500017A (zh) 一种激光诱导击穿光谱免标样定量方法及系统
RU2555191C1 (ru) Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа материалов с формированием потока возбуждения плоским рентгеновским волноводом-резонатором
CN1243233C (zh) 激光感生击穿光谱煤质分析仪
CN205157055U (zh) 一种多功能光栅光谱仪实验装置
Lorberau et al. Methods used by the United States National Institute for Occupational Safety and Health to monitor crystalline silica
JP2951687B2 (ja) エキザフス装置
CN113484347B (zh) 一种x射线粉末衍射仪用不规则形状固体进样器
SU868503A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
RU2196979C2 (ru) Способ автоматической коррекции градуировки датчиков и датчик рентгенофлуоресцентного контроля химсостава сырья в транспортном потоке
Littlewood Measurement of the optical density of smoke in a chimney
CN2627499Y (zh) 激光感生击穿光谱煤质分析仪
CN118758895A (zh) 一种近红外光谱分析仪
Newman Product Review: X-Ray Fluorescence Makes It Elementary
WO2015163782A1 (ru) Способ измерения состава пробы
KR20220109665A (ko) 굴뚝 먼지 측정기

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant