CN216206540U - 拉伸薄膜光学检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：包括依次排列设置的光源、拉伸薄膜固定装置和成像装置，其中，所述拉伸薄膜固定装置上固定有具备旋光性的拉伸薄膜，还包括设置在所述光源与所述拉伸薄膜固定装置之间的起偏器及设置在所述拉伸薄膜固定装置与所述成像装置之间的检偏器，所述起偏器与所述检偏器的平行或正交配置，且所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器的起偏方向成一夹角a，其中，0°≤a<180°。本装置实现了对拉伸薄膜有效的高对比度的成像。

Description

拉伸薄膜光学检测装置

技术领域

本实用新型涉及薄膜检测技术领域，具体涉及一种拉伸薄膜光学检测装置。

背景技术

在拉伸薄膜工业生产和实际使用过程中，需要判断薄膜的有无，确定薄膜边界，并在此基础上对其特性进行测量。特别是在应用图像装置或方法进行自动测量时，确定薄膜存在及边界尤为重要。但是由于这种薄膜透光率非常高，且产品的厚度多在微米的数量级，因此用普通的光学成像装置很难对薄膜进行有效的成像。

实用新型内容

基于现有技术的不足，本实用新型基于拉伸薄膜的旋光性，提供了一种拉伸薄膜光学检测装置，旨在对拉伸薄膜进行有效的高对比度的成像，为其它后续工作，特别是图像识别、处理与自动测量提供基础。

本实用新型的技术方案为：

一种拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：包括依次排列设置的光源、拉伸薄膜固定装置和成像装置，其中，所述拉伸薄膜固定装置上固定有具备旋光性的拉伸薄膜，还包括设置在所述光源与所述拉伸薄膜固定装置之间的起偏器及设置在所述拉伸薄膜固定装置与所述成像装置之间的检偏器，所述起偏器与所述检偏器的平行或正交配置，且所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器的起偏方向成一夹角a，其中，0°≤a<180°。

进一步地，所述起偏器可采用，但是不限于线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片。

进一步地，所述检偏器采用线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片。

进一步地，所述光源采用单色或多色光源的LED平板光源或LCD 平面显示器或所述光源包括单色或多色的点光源及设置在所述点光源后端且可将所述点光源展开的投影镜头，其中，视场范围大于所检测的薄膜样品。

进一步地，所述光源和所述起偏器之间和设置有用于所述光源和所述起偏器之间设置有用于将光源出射的光形成强度均匀的偏振光束照射至所述拉伸薄膜。其中，光场范围大于所检测的薄膜样品。

进一步地，所述成像装置包括摄像机及设置在摄像机前端的成像镜头。

进一步地，所述拉伸薄膜固定装置包括旋转台及设置在所述旋转台上的非旋光性透明薄膜或薄片。

拉伸薄膜可以在平面内旋转，用于取得最高的观测对比度。

本实用新型的有益效果为：本实用新型在拉伸薄膜的两端插入一对平行配置的起偏器与检偏器，拉伸薄膜产生的微弱的偏光作用对经过起偏器后线偏振光或圆偏振光或椭圆偏振光产生进一步的偏转与吸收，相对于只通过起偏器和检偏器后的成像的背景，经过拉伸薄膜后的达到成像装置的光强明显减弱，这样，在成像后使得拉伸薄膜在亮视场中呈现为暗物体，实现了对拉伸薄膜的物体进行有效的高对比度的成像；

同理，在拉伸薄膜的两端插入一对正交配置的起偏与检偏装置，在拉伸薄膜以外为暗视场的情况下，拉伸薄膜产生的微弱的偏光作用对经过起偏器后线偏振光或圆偏振光或椭圆偏振光产生一定的偏转，相对于没有设置起偏器及检偏器后的成像，经过拉伸薄膜后有光透过见检偏器，使处于暗视场中的且经过成像装置后的拉伸薄膜图像变亮了，这样，在成像后使得拉伸薄膜在暗视场中呈现为亮物体，实现了对拉伸薄膜的物体进行有效的高对比度的成像。

附图说明

图1为本实用新型的实施例1的结构示意图；

图2为本实用新型的第一种光源结构的结构示意图；

图3为本实用新型的第二种光源结构的结构示意图；

图4为本实用新型的实施例2的结构示意图；

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1：图1和图2所示，一种拉伸薄膜光学检测装置，包括依次排列设置的光源4、拉伸薄膜固定装置8和成像装置，其中，所述拉伸薄膜固定装置8上固定有具备旋光性的且处于亮视场中的拉伸薄膜7，本装置还包括设置在所述光源4与所述拉伸薄膜固定装置 8之间的起偏器3及设置在所述拉伸薄膜固定装置8与所述成像装置之间的检偏器2，所述起偏器3与所述检偏器2平行配置，再如图1 所示，所述起偏器3采用但不限于线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片或偏振薄膜，所述检偏器2可采用不同类型的偏光器件,不限于线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片或偏振薄膜。且所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器3的起偏方向成一夹角a，其中，0°≤ a<180°，而且可调整，正理想状况下，平行配置时，a＝0°。

本实施例中，所述光源4采用单色或多色光源的LED平板光源或 LCD平面显示器，在光源4的后端还设置有用于将光源出射的光形成强度均匀的偏振光束照射至所述拉伸薄膜的聚光器6，其中，聚光器 6在图1中未示出，所述光源4还可以包括单色或多色的点光源41 及设置在所述点光源41后端且可将所述点光源41展开的投影镜头 42，此结构如图3所示，图3中聚光器6的结构也未示出，但是不影响对本实施例技术方案的理解。

所述成像装置包括摄像机1及设置在摄像机前端的成像镜头5，其中，摄像机1可以是彩色摄像机或者黑白摄像机。

还需要说明的是，本申请的所述拉伸薄膜固定装置8包括旋转台及设置在所述旋转台上的非旋光性透明薄膜或薄片，如普通玻璃或有机玻璃，所述旋转台可以是常规的机械性质的旋转平台，或旋转支架，可手动驱动其旋转或电机驱动其旋转一定角度后停止。拉伸薄膜可以在平面内旋转，主要用于取得最高的观测对比度。

本实施例在拉伸薄膜7的两端插入一对平行配置的起偏器与检偏器，拉伸薄膜产生的微弱的偏光作用对经过起偏器后线偏振光或圆偏振光或椭圆偏振光产生一定的偏转吸收，相对于没有设置起偏器及检偏器后的成像，经过拉伸薄膜后的图像变暗了，这样，在成像后使得拉伸薄膜在亮视场中呈现为暗物体，实现了对拉伸薄膜的物体进行有效的高对比度的成像。

实施例2，图4所示，本实施例与实施例1的不同之处在于，所述起偏器与所述检偏器的正交配置，处于暗视场中的所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器的起偏方向也成一夹角a，与实施例1相同，其中，0°≤a<180°，理想状态下，正交配置时a＝90°。

也就是说，第一个不同点在于：起偏器和检偏器正交配置，拉伸薄膜设置在暗视场中，经过检偏器后的光能够照射到起偏器上，且通过起偏器后的偏振光能够恰好照射到拉伸薄膜上，本实施例光源的配置可参看实施例1。

在拉伸薄膜的两端插入一对正交配置的起偏与检偏装置，在拉伸薄膜以外为暗视场的情况下，拉伸薄膜产生的微弱的偏光作用对经过起偏器后线偏振光或圆偏振光或椭圆偏振光产生一定的偏转，相对于没有设置起偏器及检偏器后的成像，经过拉伸薄膜后有光透过见检偏器，经过成像装置后的拉伸薄膜图像变亮了，这样，在成像后使得拉伸薄膜在暗视场中呈现为亮物体，实现了对拉伸薄膜的物体进行有效的高对比度的成像。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：包括依次排列设置的光源、拉伸薄膜固定装置和成像装置，其中，所述拉伸薄膜固定装置上固定有具备旋光性的拉伸薄膜，还包括设置在所述光源与所述拉伸薄膜固定装置之间的起偏器及设置在所述拉伸薄膜固定装置与所述成像装置之间的检偏器，所述起偏器与所述检偏器平行设置或正交设置，且所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器的起偏方向成一夹角a，其中，0°≤a<180°。

2.如权利要求1所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述起偏器采用线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片。

3.如权利要求2所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述检偏器可采用线偏振片、圆偏振片或椭圆偏振片。

4.如权利要求1-3任一项所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述光源采用单色或多色光源的LED平板光源或LCD平面显示器。

5.如权利要求3所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述光源包括单色或多色的点光源及设置在所述点光源后端且可将所述点光源展开的投影镜头。

6.如权利要求5所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述光源和所述起偏器之间设置有用于将光源出射的光形成强度均匀的偏振光束照射至所述拉伸薄膜。

7.如权利要求1所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述成像装置包括摄像机及设置在摄像机前端的成像镜头。

8.如权利要求7所述的拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：所述拉伸薄膜固定装置包括旋转台及设置在所述旋转台上的非旋光性透明薄膜或薄片。

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