CN215678092U - 反光膜逆反射测量仪 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种反光膜逆反射测量仪,包括:光学壳体、光源组件、第一光纤准直镜、传感器、半透半反镜和凸透镜组件;光源组件和第一光纤准直镜均设置在光学壳体外并位于光学壳体的顶部;光源组件包括光源和第二光纤准直镜;第二光纤准直镜的通光口朝向光源,第二光纤准直镜的光纤接口通过光纤与第一光纤准直镜的光纤接口相连接,且第一光纤准直镜的通光口朝向光学壳体的内腔;半透半反镜和凸透镜组件均安装在光学壳体内;其中,半透半反镜位于第一光纤准直镜的下方,凸透镜组件位于光源组件侧;传感器设置在光学壳体外,与半透半反镜相邻;且光学壳体中处于传感器与半透半反镜之间的侧壁开设有通光孔。其有效提高了反光膜的逆反射测量的准确度。
Description
技术领域
本申请涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种反光膜逆反射测量仪。
背景技术
逆反射材料的基本作用是通过机动车前照灯的照射,运用其逆反射特性将交通设施承载的信息有效地传递到驾乘人员视觉器官中,从而提高设施的夜间视认性。反光膜组委应用于道路交通标志、汽车车身表面等,在夜间给驾乘人员提供道路指引、危险提示、警告信息等作用的一种逆反射材料。其中,逆反射性能是考察反光膜等逆反射材料的质量是否可靠的最关键技术指标,在材料的研究、生产、销售、使用及养护等各个环节均是衡量其光学性能的首要因素。因此,对逆反射性能进行测量是对逆反射材料(设施)性能进行评价的最直接和有效的手段。如果逆反射值达不到国家标准,也就意味着标线的夜间反光功能丧失,给夜间行车安全带来了很多的隐患。由此,反光膜的逆反射系数的测试就成为了检测逆反射材料的质量是否合格的测试指标之一。在相关技术中,对反光膜进行逆反射检测时所采用的测量仪通常所测量到的逆反射系数误差较大,从而影响逆反射测量结果的准确度。
发明内容
有鉴于此,本申请提出了一种反光膜逆反射测量仪,可以有效提高逆反射测量结果的准确度。
根据本申请的一方面,提供了一种反光膜逆反射测量仪,包括:光学壳体、光源组件、第一光纤准直镜、传感器、半透半反镜和凸透镜组件;
所述光源组件和所述第一光纤准直镜均设置在所述光学壳体外并位于所述光学壳体的顶部;
其中,所述光源组件包括光源和第二光纤准直镜;
所述第二光纤准直镜的通光口朝向所述光源,所述第二光纤准直镜的光纤接口通过光纤与所述第一光纤准直镜的光纤接口相连接,且所述第一光纤准直镜的通光口朝向所述光学壳体的内腔;
所述半透半反镜和所述凸透镜组件均安装在所述光学壳体内;
其中,所述半透半反镜位于所述第一光纤准直镜的下方,所述凸透镜组件位于所述光源组件侧;
所述传感器设置在所述光学壳体外,与所述半透半反镜相邻;且
所述光学壳体中处于所述传感器与所述半透半反镜之间的侧壁开设有通光孔。
在一种可能的实现方式中,所述光源组件还包括灯座支架、光源固定座和光纤固定座;
所述灯座支架的主体呈柱形,所述光源固定座和所述光纤固定座分别位于所述灯座支架的两侧;
其中,所述光源固定座的主体呈L型;
所述光源固定座与所述灯座支架相连接的侧面开设有安装槽,所述光源固定安装在所述安装槽内,且所述光源的出光面朝向所述灯座支架内;
所述第二光纤准直镜设置在所述光纤固定座上,且所述第二光纤准直镜的通光口朝向所述灯座支架内;
其中,所述第二光纤准直镜与所述光纤固定座和所述灯座支架同轴设置。
在一种可能的实现方式中,所述光源组件还包括光阑;
所述光阑设置在所述灯座支架的底部。
在一种可能的实现方式中,所述光源为LED光源。
在一种可能的实现方式中,所述半透半反镜和所述凸透镜组件均以倾斜于所述光学壳体底部的方式固定安装在所述光学壳体内。
在一种可能的实现方式中,所述凸透镜组件在所述光学壳体内的倾斜角度为8°;
所述凸透镜组件包括平凸透镜,所述凸透镜组件在所述光学壳体内的倾斜角度为:所述凸透镜组件中的平凸透镜的平面与所述光学壳体的中轴线之间的夹角。
在一种可能的实现方式中,所述凸透镜组件还包括镜片支架;
所述镜片支架以倾斜的方式固定安装在所述光学壳体内;
所述平凸透镜安装在所述镜片支架上,且所述平凸透镜的平面与所述镜片支架贴合,所述平凸透镜的凸面朝向所述光学壳体的外部。
在一种可能的实现方式中,所述通光孔的孔径大小为:1mm。
在一种可能的实现方式中,所述通光孔的位置位于所述第一光纤准直镜的通光口相对于所述半透半反镜的对称位置处偏上1.2mm。
在一种可能的实现方式中,所述光学壳体中,固定安装所述半透半反镜的底部部分相对于水平面倾斜;
其中,所述光学壳体的底部的倾斜角度为4°。
通过在进行反光膜的逆反射测量过程中,利用半透半反镜的反射和透射作用,将入射至反光膜的入射光和经反射膜反射回来的反射光有效区分开来从而实现反光膜的逆反射光的有效采集。同时,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪中,通过设置第一光纤准直镜和第二光纤准直镜,能够更大效率的吸收光源的光强,这就使得传感器采集到的反光膜的逆反射光的光强更加准确,最终有效提高了反光膜的逆反射测量的准确度。
根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明,本申请的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本申请的示例性实施例、特征和方面,并且用于解释本申请的原理。
图1示出本申请实施例的反光膜逆反射测量仪的光路系统结构示意图;
图2示出本申请实施例的反光膜逆反射测量仪中的光源组件的结构示意图;
图3示出本申请实施例的反光膜逆反射测量仪中半透半反镜在光学壳体内安装部分的结构示意图;
图4示出本申请实施例的反光膜逆反射测量仪中发射窗口部分的结构示意图。
具体实施方式
以下将参考附图详细说明本申请的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面,但是除非特别指出,不必按比例绘制附图。
其中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型或简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
另外,为了更好的说明本申请,在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解,没有某些具体细节,本申请同样可以实施。在一些实例中,对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述,以便于凸显本申请的主旨。
图1示出根据本申请一实施例的反光膜逆反射测量仪100的光路系统的结构示意图。如图1所示,该反光膜逆反射测量仪100包括:光学壳体110、光源组件120、第一光纤准直镜130、传感器140、半透半反镜150和凸透镜组件160。
其中,光源组件120和第一光纤准直镜130均设置在光学壳体110外并位于光学壳体110的顶部。同时,光源组件120包括光源121和第二光纤准直镜122。第二光纤准直镜122的通光口朝向光源121,第二光纤准直镜122的光纤接口通过光纤与第一光纤准直镜130的光纤接口相连接。第一光纤准直镜130的通光口朝向光学壳体110的内腔。
即,如图1所示,第一光纤准直镜130垂直安装在光学壳体110的顶部,并且第一光纤准直镜130穿过光学壳体110的外壳,使得第一光纤准直镜130的通光口位于光学壳体110内。
其中,半透半反镜150和凸透镜组件160则均安装在光学壳体110内。具体的,参阅图1,半透半反镜150位于第一光纤准直镜130的下方,凸透镜组件160则位于光源组件120侧。传感器140设置在光学壳体110外,并与半透半反镜150相邻。同时,在光学壳体110中处于传感器140与半透半反镜150之间的侧壁上还开设有通光孔170。
其中,在通过本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100进行反光膜的逆反射性能的测量时,其光路的走向具体为:
将待检测的反光膜置于该测量仪100的右侧(即,凸透镜组件160侧),然后打开光源组件120中的光源121,光源121发出的光经第二光纤准直镜122通过光纤传输至第一光纤准直镜130,并在第一光纤准直镜130的作用下入射到光学壳体110内的半透半反镜150上。入射到半透半反镜150上的光线在半透半反镜150的反射作用下,被反射至凸透镜组件160上,然后再依次穿过凸透镜组件160和光学壳体110入射到待检测的反光膜上。
入射到反光膜上的光线经反光膜的反射,再依次穿过光学壳体110和凸透镜组件160后入射至半透半反镜150,然后再在半透半反镜150的透射作用下经光学壳体110上的通光孔170穿过入射至传感器140,从而使得传感器140采集到经反光膜反射回来的逆反射光,实现对反光膜的逆反射测量。
由此,本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100,通过在进行反光膜的逆反射测量过程中,利用半透半反镜150的反射和透射作用,将入射至反光膜的入射光和经反射膜反射回来的反射光有效区分开来从而实现反光膜的逆反射光的有效采集。同时,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,通过设置第一光纤准直镜130和第二光纤准直镜122,能够更大效率的吸收光源121的光强,这就使得传感器140采集到的反光膜的逆反射光的光强更加准确,最终有效提高了反光膜的逆反射测量的准确度。
其中,需要指出的是,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,位于凸透镜组件160侧的光学壳体110的侧壁应当开设有透光窗口,以使经凸透镜组件160投射过去的入射光能够顺利入射至待检测的反光膜上,同时还能够使得经反光膜反射的反射光能够顺利入射到凸透镜组件160,并经凸透镜组件160透射后入射至半透半反镜150上。此处,需要指出的是,透光窗口可以通过在光学壳体110的侧壁上开设相应的通孔来实现,也可以通过在光学壳体110的侧壁上设置透光器件来实现,此处不进行具体限定。
进一步的,参阅图2,光源组件120可以通过设置灯座支架123、光源固定座124和光纤固定座125的方式来实现在光学壳体110上的安装,以及对光源121和第二光纤准直镜122的安装。
具体的,如图2所示,光源组件120包括灯座支架123、光源固定座124和光纤固定座125。其中,灯座支架123的主体呈柱形,光源固定座124和光纤固定座125分别位于灯座支架123的两侧。此处,需要指出的是,灯座支架123可以通过在底部设置安装耳的方式,固定安装到光学壳体110上。
同时,在一种可能的实现方式中,光源固定座124的主体呈L型。光源固定座124与灯座支架123相连接的侧面开设有安装槽,光源121固定安装在安装槽内,且光源121的出光面朝向灯座支架123内。此处,需要指出的是,光源121可以直接采用LED光源121来实现。如:可以直接采用多个LED灯管并排安装在该安装槽内,也可以采用板状结构的LED灯的方式,此处不对光源121的具体结构进行限定,只要保证光源121的发光面朝向灯座支架123的内部,正对第二光纤准直镜122的通光口即可。
此外,在上述结构的光源组件120中,第二光纤准直镜122设置在光纤固定座125上,且第二光纤准直镜122的通光口朝向灯座支架123内,从而使得第二光纤准直镜122的通光口与光源121的发光面正对,均朝向灯座支架123的内部。此处,本领域技术人员可以理解的是,灯座支架123的内部可以为中空结构,以保证光源121发出的光线能够直接入射到第二光纤准直镜122的通光口处。
其中,还需要指出的是,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,第二光纤准直镜122可以设置为与光纤固定座125和灯座支架123同轴设置。即,第二光纤准直镜122、光纤固定座125和灯座支架123同轴。
更进一步的,还可以在灯座支架123的底部设置光阑126,使得光源121发出的光线能够全部入射到第二光纤准直镜122的通光口处,避免光源121发出的光散射至其他位置。
此外,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,半透半反镜150和凸透镜组件160均以倾斜于光学壳体110底部的方式固定安装在光学壳体110内。也就是说,半透半反镜150和凸透镜组件160均按照斜置的方式安装在光学壳体110内。
即,参阅图3和图4,半透半反镜150斜置在光学壳体110内,使得半透半反镜150的镜面所在的平面与光学壳体110的中轴线具有一定的夹角。凸透镜组件160同样也以斜置的方式安装在光学壳体110内,使得凸透镜的镜面所在的平面与光学壳体110的中轴线呈一定的夹角。通过将凸透镜组件160和半透半反镜150以斜置的方式安装在光学壳体110内,可以有效减小透镜本身对测量的影响,进一步提高逆反射测量结果的准确度。
更加具体的,在一种可能的实现方式中,凸透镜组件160在光学壳体110内的倾斜角度β可以为8°。其中,凸透镜组件160包括平凸透镜161。对应的,凸透镜组件160在光学壳体110内的倾斜角度指的就是平凸透镜161的平面与光学壳体110的中轴线之间的夹角β。
此处,还需要说明的是,凸透镜组件160还包括镜片支架162。镜片支架162可以设置为与平凸透镜161的形状相匹配的框架结构,然后将平凸透镜161安装在镜片支架162上,使得平凸透镜161的平面与镜片支架162所在的平面平行。其中,在该实施例中,本领域技术人员可以理解的是,在将平凸透镜161安装到镜片支架162上后,平凸透镜161的凸面朝向光学壳体110的外部。
另外,还应当指出的是,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,光学壳体110中处于半透半反镜150与传感器140之间的侧壁上所开设的通光孔170的孔径大小可以设置为1mm。
同时,该通光孔170在光学壳体110的侧壁上的开设位置位于第一光纤准直镜130的通光口相对于半透半反镜150的对称位置处偏上1.2mm。即,以半透半反镜150为对称轴,在光学壳体110的侧壁上确定出第一光纤准直镜130相对于半透半反镜150的对称点,然后在该对称点偏上1.2mm处开设通光孔170即可。
通过将通光孔170设置在光学壳体110的侧壁,以第一光纤准直镜130的通光口相对于所述半透半反镜150的对称位置处偏上1.2mm的位置处,能够有效保证传感器140所采集到的反射光束为入射光经反光膜反射后的逆反射光,保证在对反光膜进行逆反射测量时,能够满足反光膜逆反射测量的标准要求(即,入射光线与被测反光膜法线的夹角为-4°,反射光线与入射光线的夹角为0.2°),从而更加有效的保证了本申请实施例的反光膜逆反射测量结果的准确度,避免了其他反射光束对测量结果的影响。
更进一步的,在本申请实施例的反光膜逆反射测量仪100中,光学壳体110的底部并不是水平设置的,而是具有一定的倾斜角度。具体的,参阅图1和图4,光学壳体110的底部的倾斜指的是,光学壳体110中固定安装所述半透半反镜150的底部部分相对于水平面倾斜。其中,在一种可能的实现方式中,光学壳体110的底部的倾斜角度α为4°。
通过将光学壳体110的底部设置为倾斜,并将倾斜角度α设为4°,能够有效防止入射光穿透半透半反镜150,再由光学壳体110的底部反射到半透半反镜150上后反射入传感器140的情况,这也就更进一步地避免了对传感器140采集到的逆反射光的干扰,更加保证了逆反射测量结果的准确性。
需要说明的是,尽管以图1至图4作为示例介绍了如上所述的反光膜逆反射测量仪100,但本领域技术人员能够理解,本申请应不限于此。事实上,用户完全可根据个人喜好和/或实际应用场景灵活设定各部件的安装方式,只要能够有效保证逆反射测量结果的准确性即可。
以上已经描述了本申请的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。
Claims (10)
1.一种反光膜逆反射测量仪,其特征在于,包括:光学壳体、光源组件、第一光纤准直镜、传感器、半透半反镜和凸透镜组件;
所述光源组件和所述第一光纤准直镜均设置在所述光学壳体外并位于所述光学壳体的顶部;
其中,所述光源组件包括光源和第二光纤准直镜;
所述第二光纤准直镜的通光口朝向所述光源,所述第二光纤准直镜的光纤接口通过光纤与所述第一光纤准直镜的光纤接口相连接,且所述第一光纤准直镜的通光口朝向所述光学壳体的内腔;
所述半透半反镜和所述凸透镜组件均安装在所述光学壳体内;
其中,所述半透半反镜位于所述第一光纤准直镜的下方,所述凸透镜组件位于所述光源组件侧;
所述传感器设置在所述光学壳体外,与所述半透半反镜相邻;且
所述光学壳体中处于所述传感器与所述半透半反镜之间的侧壁开设有通光孔。
2.根据权利要求1所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述光源组件还包括灯座支架、光源固定座和光纤固定座;
所述灯座支架的主体呈柱形,所述光源固定座和所述光纤固定座分别位于所述灯座支架的两侧;
其中,所述光源固定座的主体呈L型;
所述光源固定座与所述灯座支架相连接的侧面开设有安装槽,所述光源固定安装在所述安装槽内,且所述光源的出光面朝向所述灯座支架内;
所述第二光纤准直镜设置在所述光纤固定座上,且所述第二光纤准直镜的通光口朝向所述灯座支架内;
其中,所述第二光纤准直镜与所述光纤固定座和所述灯座支架同轴设置。
3.根据权利要求2所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述光源组件还包括光阑;
所述光阑设置在所述灯座支架的底部。
4.根据权利要求2所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述光源为LED光源。
5.根据权利要求1所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述半透半反镜和所述凸透镜组件均以倾斜于所述光学壳体底部的方式固定安装在所述光学壳体内。
6.根据权利要求4所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述凸透镜组件在所述光学壳体内的倾斜角度为8°;
所述凸透镜组件包括平凸透镜,所述凸透镜组件在所述光学壳体内的倾斜角度为:所述凸透镜组件中的平凸透镜的平面与所述光学壳体的中轴线之间的夹角。
7.根据权利要求6所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述凸透镜组件还包括镜片支架;
所述镜片支架以倾斜的方式固定安装在所述光学壳体内;
所述平凸透镜安装在所述镜片支架上,且所述平凸透镜的平面与所述镜片支架贴合,所述平凸透镜的凸面朝向所述光学壳体的外部。
8.根据权利要求1至7任一项所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述通光孔的孔径大小为:1mm。
9.根据权利要求1至7任一项所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述通光孔的位置位于所述第一光纤准直镜的通光口相对于所述半透半反镜的对称位置处偏上1.2mm。
10.根据权利要求1至7任一项所述的反光膜逆反射测量仪,其特征在于,所述光学壳体中,固定安装所述半透半反镜的底部部分相对于水平面倾斜;
其中,所述光学壳体的底部的倾斜角度为4°。
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CN202121113002.3U CN215678092U (zh) | 2021-05-21 | 2021-05-21 | 反光膜逆反射测量仪 |
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CN215678092U true CN215678092U (zh) | 2022-01-28 |
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CN202121113002.3U Active CN215678092U (zh) | 2021-05-21 | 2021-05-21 | 反光膜逆反射测量仪 |
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- 2021-05-21 CN CN202121113002.3U patent/CN215678092U/zh active Active
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