CN215525907U - Pcb通孔测试针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种PCB通孔测试针，其包括：杆体以及测试端；所述杆体的端部连接有所述测试端；所述测试端具有稳定部以及接触部；所述稳定部的一端连接有所述接触部，所述稳定部的另一端连接所述杆体。本PCB通孔测试针可以提高PCB板测试过程的测试效率，并增加PCB板测试的准确性。

Description

PCB通孔测试针

技术领域

本实用新型涉及PCB板测试PIN针的技术领域，特别是涉及一种PCB通孔测试针。

背景技术

PCB又称印制电路板，其是电子电气行业中重要的电子零部件。PCB常作为电子元器件的支撑体，同时也作为电子元器件电气连接的载体。随着服务器等大型电路器件的性能逐渐提高，作为其内部零件的PCB的加工工艺也日益复杂，导致所述PCB的制作工艺以及质量要求等也面临着严峻挑战。因此，针对PCB的设计、生产、加工以及组装的过程中均需要对其工艺以及原材料进行严格的监控，并且，还需要对所述PCB进行前期的可靠性测试，避免其出现漏电、开路、焊接不良以及爆板分层之类的失效事故。基于此，中国专利CN104111386A公开了一种PCB板测试装置，其包括：操作面板、下测试定位组件以及上测试组件。所述下测试定位组件包括：下顶针固定板，安装在操作面板上；下测试顶针，固定在下顶针固定板上；多个方向定位针，比所述下测试顶针长，安装在下顶针固定板与操作面板背向对应的表面上，PCB板的顶角设有第一定位孔，方向定位针穿设第一定位孔，并且顶起PCB板；下压紧定位柱，比方向定位针短，固定在下顶针固定板上，用于与PCB板的下表面抵接；上测试定位组件包括：上顶针固定板，与下顶针固定板间隔相对设置；上测试顶针，固定在上顶针固定板上；上压紧定位柱，固定在上顶针固定板上，用于与PCB板的上表面抵接。上述PCB板测试装置具有测试效率较高以及测试成本较低的优点。

然而，上述的PCB板测试装置所设有的上测试顶针以及下测试顶针还存在可优化之处。具体的，上述的测试顶针在实际的测试工艺过程中需要直接抵接外部PCB板的测试触点，所述的测试触点一般为圆形的导电区或圆形的通孔。所述的PCB板表面一般涂有绝缘的防护漆层，所述的测试触点一般为所述PCB板表面裸露的圆形铜箔点或贯穿多层PCB的圆形通孔，并且，所述圆形通孔的内壁以及所述圆形通孔的两端部均具有裸露的铜箔层。所述的测试顶针的形状一般设置为两端面为平面的圆柱体，或者，也有将所述测试顶针的形状设置为一端为尖锐端而另外一端为平面的做法。上述的PCB板测试装置采用了将所述测试顶针两端面设置为平面的方案。由于所述的测试触点一般较小，因此，在实际的PCB板测试过程中，所述测试顶针常常偏离所述测试触点的可接触范围或者所述测试顶针与所述测试触点的接触面过小从而导致所述PCB板的测试结果不良，进而导致PCB板的良品被误判为不良品的情况。并且，当所述的测试触点为圆形通孔时，所述测试顶针如偏离所述通孔的位置，还会导致所述测试顶针被顶歪而失效。

实用新型内容

基于此，有必要针对如何改善PCB板测试效率的技术问题，提供一种PCB通孔测试针。

一种PCB通孔测试针，其包括：杆体以及测试端；所述杆体的端部连接有所述测试端；所述测试端具有稳定部以及接触部；所述稳定部的一端连接有所述接触部，所述稳定部的另一端连接所述杆体。

进一步的，所述接触部的一端为半球形或锥形的曲面。

进一步的，所述测试端还具有安装孔，所述安装孔设置于所述测试端的顶部，并且，所述安装孔与所述杆体活动连接。

进一步的，所述测试端还具有导引部，所述导引部设置于所述测试端的底部。

具体的，所述杆体以及所述测试端的材料为铜、铜合金或镀铜的金属。

综上所述，本实用新型PCB通孔测试针设有杆体以及测试端，所述杆体可与外部的顶针板相连并带动所述测试端下行或上行，所述测试端具有稳定部以及接触部，所述稳定部可以增加所述杆体下压运动过程的平稳性，以便于所述接触部与外部的PCB板设有的测试点稳定抵接。进一步的，所述接触部的一端设有半球形或锥形的曲线，以使所述接触部与所述测试点充分接触，进而保证外部PCB板测试过程信号传输的稳定性，避免良品的PCB板被误判为不良品。进一步的，所述测试端的顶部还设有安装孔，所述安装孔可以使各种独立加工获取的所述杆体以及所述测试端组装连接，进而节约本PCB通孔测试针的加工时间以及制作原料。进一步的，所述测试端的底部还设有导引部，所述导引部可以穿过外部PCB板所设有的通孔，并导引所述接触部与所述测试端进行抵接。因此，本实用新型PCB通孔测试针可以提高PCB板测试过程的测试效率，并增加PCB板测试的准确性。

附图说明

图1为本实用新型PCB通孔测试针的结构示意图；

图2为本实用新型PCB通孔测试针的爆炸图；

图3为本实用新型PCB通孔测试针另一实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

请参阅图1，图1为本实用新型PCB通孔测试针的结构示意图。如图1所示，一种PCB通孔测试针，其包括：杆体1以及测试端2；所述杆体1的端部连接有所述测试端2。所述测试端2具有稳定部201以及接触部202；所述稳定部201的一端连接有所述接触部202，所述稳定部201的另一端连接所述杆体1。具体的，本实用新型PCB通孔测试针处于工作流程时，所述杆体1的一端与外部的顶针固定板相连，所述杆体1的另一端连接有所述测试端2，所述测试端2由所述杆体1带动向下运动至待测试的PCB板的测试点上方，设置于所述稳定部201下方的接触部202与所述测试点抵接。待所述接触部202与所述测试点接触至预设的时间后，所述杆体1带动所述测试端2回复至初始位置，至此，完成本PCB通孔测试针的工作流程。具体的，所述稳定部201为一圆柱形的导电部件，并且，所述稳定部201的直径大于所述杆体1的直径。因此，所述稳定部201可使所述杆体1下行或上行的运动过程平稳，进而使所述测试端2可以与所述测试点平稳抵接，避免所述测试端2因晃动而无法与所述测试点对准。

进一步的，请复参阅图1，所述接触部202的一端为曲面，其优选为半球形或者锥形的曲面。具体的，所述接触部202的一端与所述稳定部201的底部相连，相对的，所述接触部202的另一端可与外部的测试点抵接，因此，所述接触部202的该端可设为半球形或锥形的曲面。所述半球形或锥形的曲面有利于所述接触部202与外部的测试点充分接触，即便所述测试端2因受晃动而产生轻微的移位也能使外部的PCB板与本PCB通孔测试针保持接触连通。

进一步的，请参阅图2，图2为本实用新型PCB通孔测试针的爆炸图。如图2所示，所述测试端2还具有安装孔203，所述安装孔203设置于所述测试端2的顶部，并且，所述安装孔203与所述杆体1活动连接。具体的，为了节约本PCB通孔测试针的制作材料以及加工时间，可以将所述杆体1与所述测试端2分别单独加工获取，并且，在所述测试端2的顶部设有所述安装孔203，因此，各自单独加工获取的所述杆体1以及所述测试端2可以通过所述安装孔203组装连接。

进一步的，请参阅图3，图3为本实用新型PCB通孔测试针另一实施例的结构示意图。如图3所示，所述测试端2还具有导引部204，所述导引部204设置于所述测试端2的底部，所述导引部204的形状可以为细长的杆状。具体的，当待测试的PCB板的测试点为通孔时，本实施例一种PCB通孔测试针所设有的导引部204可以穿过所述通孔并导引所述接触部与所述测试点想抵接，进而保证所述测试端2与所述测试点的接触平稳有效，提升测试的效率。

具体的，为了保证本实用新型PCB通孔测试针传输测试信号的稳定性，所述杆体1以及所述测试端2的制作材料均为可导电的金属，并且，优选为铜、铜合金或者镀铜的金属材料。

综上所述，本实用新型PCB通孔测试针设有杆体1以及测试端2，所述杆体1可与外部的顶针板相连并带动所述测试端2下行或上行，所述测试端2具有稳定部201以及接触部202，所述稳定部201可以增加所述杆体1下压运动过程的平稳性，以便于所述接触部202与外部的PCB板设有的测试点稳定抵接。进一步的，所述接触部202的一端设有半球形或锥形的曲线，以使所述接触部202与所述测试点充分接触，进而保证外部PCB板测试过程信号传输的稳定性，避免良品的PCB板被误判为不良品。进一步的，所述测试端2的顶部还设有安装孔203，所述安装孔203可以使各种独立加工获取的所述杆体1以及所述测试端2组装连接，进而节约本PCB通孔测试针的加工时间以及制作原料。进一步的，所述测试端2的底部还设有导引部204，所述导引部204可以穿过外部PCB板所设有的通孔，并导引所述接触部202与所述测试端进行抵接。因此，本实用新型PCB通孔测试针可以提高PCB板测试过程的测试效率，并增加PCB板测试的准确性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种PCB通孔测试针，其特征在于，本PCB通孔测试针包括：杆体(1)以及测试端(2)；所述杆体(1)的端部连接有所述测试端(2)；所述测试端(2)具有稳定部(201)以及接触部(202)；所述稳定部(201)的一端连接所述接触部(202)，所述稳定部(201)的另一端连接所述杆体(1)。

2.根据权利要求1所述的PCB通孔测试针，其特征在于：所述接触部(202)的一端为半球形或锥形的曲面。

3.根据权利要求2所述的PCB通孔测试针，其特征在于：所述测试端(2)还具有安装孔(203)，所述安装孔(203)设置于所述测试端(2)的顶部，并且，所述安装孔(203)与所述杆体(1)活动连接。

4.根据权利要求3所述的PCB通孔测试针，其特征在于：所述测试端(2)还具有导引部(204)，所述导引部(204)设置于所述测试端(2)的底部。

5.根据权利要求1-4任一项所述的PCB通孔测试针，其特征在于：所述杆体(1)以及所述测试端(2)的材料为铜、铜合金或镀铜的金属。

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