CN215525580U - 一种芯片外观缺陷抽检检测平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于芯片外观缺陷检测技术领域，涉及一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其中，包括壳体，所述壳体的内部设置有输送装置，所述壳体的顶部固定连接有顶壳，所述顶壳的内壁顶部固定连接有固定壳，所述固定壳的内部设置有电机，所述电机的输出轴上固定连接有螺纹柱，所述螺纹柱的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳的内壁上。其有益效果是，该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置卡杆、弹簧和第二卡槽，通过拉动卡杆，在弹簧的弹力作用下，使卡杆的一端脱离第二卡槽，使安装座脱离第一卡槽，便于对摄像头进行拆卸，便于对摄像头进行检修或更换，且便于对摄像头进行安装。

Description

一种芯片外观缺陷抽检检测平台

技术领域

本实用新型属于芯片外观缺陷检测技术领域，具体涉及一种芯片外观缺陷抽检检测平台。

背景技术

外观检测是半导体芯片生产的最后一个重要环节，通过外观检测，可以发现并去除芯片外观的缺陷，保证芯片外观完整的同时，也可以避免由芯片外观缺陷导致的芯片功能缺陷。利用机器视觉实现芯片外观缺陷的自动化检测可以避免由于人工主观性带来的误差，降低生产的人工成本，提高生产效率，现有的芯片外观缺陷抽检检测平台大多通过摄像头进行检测，但摄像头在发生故障时，不便进行对摄像头进行拆卸和安装，且在对芯片进行检测时较为不便。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其解决了不便对摄像头进行拆卸和安装的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片外观缺陷抽检检测平台，包括壳体，所述壳体的内部设置有输送装置，所述壳体的顶部固定连接有顶壳，所述顶壳的内壁顶部固定连接有固定壳，所述固定壳的内部设置有电机，所述电机的输出轴上固定连接有螺纹柱，所述螺纹柱的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳的内壁上，所述螺纹柱的表面设置有螺纹筒，所述螺纹筒的表面固定连接有活动块，所述固定壳的底部开设有矩形通孔，所述活动块活动连接在矩形通孔的内部，所述活动块的底部固定连接有固定座，所述固定座的底部开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内部活动连接有安装座，所述安装座的底部固定连接有第一固定板，所述安装座的两个侧面均开设有第二卡槽，所述固定座的两个侧面均开设有活动孔，所述活动孔的内部活动连接有卡杆，所述卡杆的表面活动套接有弹簧，所述卡杆的一端卡接在第二卡槽的内部，所述第一固定板的底部设置有摄像头，所述壳体的侧面设置有控制箱，所述控制箱的内部设置有控制器，所述控制箱的表面设置有警示灯，所述顶壳的相对内壁上分别设置有红外线发射器和红外线接收器。

作为本实用新型的进一步方案：所述壳体的底部固定连接有支撑腿，所述支撑腿的底端固定连接有万向轮，所述支撑腿的侧面固定连接有第二固定板，所述第二固定板的顶部开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺栓，所述螺栓的底端固定连接有底板。

作为本实用新型的进一步方案：所述底板的底部设置有橡胶垫。

作为本实用新型的进一步方案：所述控制箱的表面设置有控制开关。

作为本实用新型的进一步方案：所述弹簧的一端固定连接在固定座上，所述弹簧的另一端固定连接在卡杆上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置卡杆、弹簧和第二卡槽，通过拉动卡杆，在弹簧的弹力作用下，使卡杆的一端脱离第二卡槽，使安装座脱离第一卡槽，便于对摄像头进行拆卸，便于对摄像头进行检修或更换，且便于对摄像头进行安装。

2、该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置电机、螺纹柱、控制器、红外线发射器和红外线接收器，通过电机带动螺纹柱转动，使螺纹筒在螺纹柱的表面活动，使螺纹筒带动第一固定板活动，便于对摄像头的位置进行调节，通过红外线发射器和红外线接收器检测到芯片到达检测位置时，通过控制器关闭输送装置，使输送装置停置传输工作，使摄像头便于对芯片的外观进行检测，且当检测到芯片外观有缺陷时，使控制器启动警示灯，使工作人员能及时对有问题的芯片进行处理。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型正视剖面的结构示意图；

图2为本实用新型中固定壳侧视剖面的结构示意图；

图3为本实用新型图1中A部放大的结构示意图；

图4为本实用新型正视的结构示意图；

图中：1、壳体；2、输送装置；3、顶壳；4、固定壳；5、电机；6、螺纹柱；7、螺纹筒；8、活动块；9、矩形通孔；10、固定座；11、控制箱；12、安装座；13、第一卡槽；14、第二卡槽；15、活动孔；16、卡杆；17、弹簧；18、第一固定板；19、摄像头；20、支撑腿；21、万向轮；22、第二固定板；23、螺纹孔；24、螺栓；25、底板；26、橡胶垫；27、控制开关；28、警示灯。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

请参阅图1-4，本实用新型提供以下技术方案：一种芯片外观缺陷抽检检测平台，包括壳体1，壳体1的内部设置有输送装置2，壳体1的顶部固定连接有顶壳3，顶壳3的内壁顶部固定连接有固定壳4，固定壳4的内部设置有电机5，电机5的输出轴上固定连接有螺纹柱6，螺纹柱6的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳4的内壁上，螺纹柱6的表面设置有螺纹筒7，螺纹筒7的表面固定连接有活动块8，固定壳4的底部开设有矩形通孔9，活动块8活动连接在矩形通孔9的内部，活动块8的底部固定连接有固定座10，固定座10的底部开设有第一卡槽13，第一卡槽13的内部活动连接有安装座12，安装座12的底部固定连接有第一固定板18，安装座12的两个侧面均开设有第二卡槽14，固定座10的两个侧面均开设有活动孔15，活动孔15的内部活动连接有卡杆16，卡杆16的表面活动套接有弹簧17，卡杆16的一端卡接在第二卡槽14的内部，第一固定板18的底部设置有摄像头19，通过设置卡杆16、弹簧17和第二卡槽14，通过拉动卡杆16，在弹簧17的弹力作用下，使卡杆16的一端脱离第二卡槽14，使安装座12脱离第一卡槽13，便于对摄像头19进行拆卸，便于对摄像头19进行检修或更换，且便于对摄像头19进行安装，壳体1的侧面设置有控制箱11，控制箱11的内部设置有控制器，控制箱11的表面设置有警示灯28，顶壳3的相对内壁上分别设置有红外线发射器和红外线接收器，通过设置电机5、螺纹柱6、控制器、红外线发射器和红外线接收器，通过电机5带动螺纹柱6转动，使螺纹筒7在螺纹柱6的表面活动，使螺纹筒7带动第一固定板18活动，便于对摄像头19的位置进行调节，通过红外线发射器和红外线接收器检测到芯片到达检测位置时，通过控制器关闭输送装置2，使输送装置2停置传输工作，使摄像头19便于对芯片的外观进行检测，且当检测到芯片外观有缺陷时，使控制器启动警示灯28，使工作人员能及时对有问题的芯片进行处理。

具体的，壳体1的底部固定连接有支撑腿20，支撑腿20的底端固定连接有万向轮21，支撑腿20的侧面固定连接有第二固定板22，第二固定板22的顶部开设有螺纹孔23，螺纹孔23的内部螺纹连接有螺栓24，螺栓24的底端固定连接有底板25，底板25的底部设置有橡胶垫26，通过万向轮21便于对装置进行移动，且通过转动螺栓24，使螺栓24在螺纹孔23的内部活动，使螺栓24带动底板25活动，使底板25与地面接触，便于对装置进行固定，使装置在停置时，更加地稳定。

具体的，控制箱11的表面设置有控制开关27，弹簧17的一端固定连接在固定座10上，弹簧17的另一端固定连接在卡杆16上，对卡杆16起到限位的作用。

本实用新型的工作原理为：

S1、在使用时，通过万向轮21将装置移动到合适的位置，通过转动螺栓24，使螺栓24在螺纹孔23的内部活动，使螺栓24带动底板25活动，使底板25与地面接触，使装置停置稳定，接通外接电源，通过控制开关27启动输送装置2和摄像头19，将芯片放置在输送装置2上，当红外线发射器和红外线接收器检测到芯片到达检测位置时，通过控制器关闭输送装置2，使输送装置2停置传输工作，使摄像头19对芯片的外观进行检测，且当检测到芯片外观有缺陷时，使控制器启动警示灯28，使工作人员能及时对有问题的芯片进行处理，且通过启动电机5，使电机5带动螺纹柱6转动，使螺纹筒7在螺纹柱6的表面活动，使螺纹筒7带动第一固定板18活动，可对摄像头19的位置进行调节，使摄像头19可对不同位置的芯片进行监测；

S2、当摄像头19发生故障时，通过拉动卡杆16，在弹簧17的弹力作用下，使卡杆16的一端脱离第二卡槽14，使安装座12脱离第一卡槽13，可对摄像头19进行拆卸，对摄像头19进行检修或更换。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行改动、修改、替换和变型。

Claims (5)

1.一种芯片外观缺陷抽检检测平台，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部设置有输送装置(2)，所述壳体(1)的顶部固定连接有顶壳(3)，所述顶壳(3)的内壁顶部固定连接有固定壳(4)，所述固定壳(4)的内部设置有电机(5)，所述电机(5)的输出轴上固定连接有螺纹柱(6)，所述螺纹柱(6)的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳(4)的内壁上，所述螺纹柱(6)的表面设置有螺纹筒(7)，所述螺纹筒(7)的表面固定连接有活动块(8)，所述固定壳(4)的底部开设有矩形通孔(9)，所述活动块(8)活动连接在矩形通孔(9)的内部，所述活动块(8)的底部固定连接有固定座(10)，所述固定座(10)的底部开设有第一卡槽(13)，所述第一卡槽(13)的内部活动连接有安装座(12)，所述安装座(12)的底部固定连接有第一固定板(18)，所述安装座(12)的两个侧面均开设有第二卡槽(14)，所述固定座(10)的两个侧面均开设有活动孔(15)，所述活动孔(15)的内部活动连接有卡杆(16)，所述卡杆(16)的表面活动套接有弹簧(17)，所述卡杆(16)的一端卡接在第二卡槽(14)的内部，所述第一固定板(18)的底部设置有摄像头(19)，所述壳体(1)的侧面设置有控制箱(11)，所述控制箱(11)的内部设置有控制器，所述控制箱(11)的表面设置有警示灯(28)，所述顶壳(3)的相对内壁上分别设置有红外线发射器和红外线接收器。

2.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述壳体(1)的底部固定连接有支撑腿(20)，所述支撑腿(20)的底端固定连接有万向轮(21)，所述支撑腿(20)的侧面固定连接有第二固定板(22)，所述第二固定板(22)的顶部开设有螺纹孔(23)，所述螺纹孔(23)的内部螺纹连接有螺栓(24)，所述螺栓(24)的底端固定连接有底板(25)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述底板(25)的底部设置有橡胶垫(26)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述控制箱(11)的表面设置有控制开关(27)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述弹簧(17)的一端固定连接在固定座(10)上，所述弹簧(17)的另一端固定连接在卡杆(16)上。

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