CN215263597U - 一种rf与弹高测试合并的治具 - Google Patents

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席久文
李泽文
丁哲兰
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Abstract

本实用新型公开了一种RF与弹高测试合并的治具,包括相配合的治具上模和治具下模,治具上模与治具下模之间形成一用于对天线产品进行限位的腔体,天线产品包括支架以及设于支架上的弹片,治具下模上有测试组件,测试组件包括相互电连接的电路板和RF弹高测试柱,RF弹高测试柱位于腔体内并与弹片抵触,本实用新型提供的RF与弹高测试合并治具具有设备成本低和生产效率高的特点,在治具下模上设置能够同时对天线产品的弹片进行弹脚高度测试与RF电性能测试,合并了检测工序,利于生产成本的降低以及生产效率的提升。

Description

一种RF与弹高测试合并的治具
技术领域
本实用新型涉及天线生产技术领域,尤其涉及一种RF与弹高测试合并的治具。
背景技术
目前,在一些由支架与弹片组合的天线产品的生产过程中,需要利用不同的检测设备分别对天线产品的RF性能(即射频性能)和O型弹脚高度进行检测,如此,不仅增加了设备成本,同时还加大了人工成本的投入,并且生产效率低下。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种RF与弹高测试合并的治具,以解决上述技术问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:一种RF与弹高测试合并的治具,包括相配合的治具上模和治具下模,所述治具上模与所述治具下模之间形成一用于对天线产品进行限位的腔体,所述天线产品包括支架以及设于所述支架上的弹片,所述治具下模上有测试组件,所述测试组件包括相互电连接的电路板和RF弹高测试柱,所述RF弹高测试柱位于所述腔体内并与所述弹片抵触。
进一步的,所述治具下模还设有对所述天线产品定位的定位柱。
进一步的,所述定位柱上设有防护件。
进一步的,所述治具下模包括相连的底模和产品针定模,所述电路板设于所述底模与所述针定模之间,所述RF弹高测试柱贯穿所述产品针定模。
进一步的,还包括压力机构和测试架,所述治具下模安装于所述测试架上,所述压力机构与所述治具上模连接以将所述治具上模压合至所述治具下模上。
进一步的,所述压力机构包括支撑架以及设于所述支撑架上的上模固定板和驱动件,所述治具上模安装于所述上模固定板上;所述驱动件与所述上模固定板连接,用以驱动所述上模固定板沿Z轴方向移动。
进一步的,所述支撑架上设有沿Z轴方向延伸的滑轨,所述上模固定板设有与所述滑轨相适配的滑块。
进一步的,所述驱动件为气缸或电动推杆。
进一步的,所述支撑架上设有对所述上模固定板限位的限位块。
进一步的,所述上模固定板上设有与所述限位块抵触的缓冲件。
本实用新型的有益效果在于:本实用新型提供的RF与弹高测试合并治具具有设备成本低和生产效率高的特点,在治具下模上设置能够同时对天线产品的RF电性能与弹片的弹脚高度进行测试,合并了检测工序,利于生产成本的降低以及生产效率的提升。
附图说明
图1为本实用新型实施例一的RF与弹高测试合并治具的装配图;
图2为本实用新型实施例一的RF与弹高测试合并治具的另一视角的装配图;
图3为本实用新型实施例一的RF与弹高测试合并治具的另一视角的结构示意图;
图4为本实用新型实施例一的RF与弹高测试合并治具的局部结构示意图;
图5为本实用新型实施例一的RF与弹高测试合并治具的局部结构示意图。
标号说明:
1、治具下模;11、底模;12、产品针定模;13、RF弹高测试柱;14、定位柱;15、防护件;2、治具上模;3、天线产品;31、支架;32、弹片;4、电路板;5、支撑架;51、滑轨;52、上模固定板;521、连接部;522、避位槽;53、滑块;54、缓冲件;55、限位块;6、测试架;61、电源;7、气压表;8、电磁阀;9、驱动件。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
请参照图1至图5,一种RF与弹高测试合并的治具,包括相配合的治具上模2和治具下模1,所述治具上模2与所述治具下模1之间形成一用于对天线产品3进行限位的腔体,所述天线产品3包括支架31以及设于所述支架31上的弹片32,所述治具下模1上有测试组件,所述测试组件包括相互电连接的电路板4和RF弹高测试柱13,所述RF弹高测试柱13位于所述腔体内并与所述弹片32抵触。
本实用新型的工作原理简述如下:将所述天线产品3定位放置于所述治具下模1上,驱动所述治具上模2向所述治具下模1的方向压合,以将所述天线产品3与所述治具下模1压紧,此时,若所述天线产品3上的所述弹片32与所述RF弹高测试柱13的顶端接触,则所述天线产品3上的所述弹片32的弹脚高度尺寸合格,并且弹片32能够通过RF弹高测试柱13与电路板4建立有效的电连接,电路板4再将接收到的电信号传递至外接测试设备,完成电性能的检测判定;
若所述天线产品3上的所述弹片32未能与所述RF弹高测试柱13抵触,则说明所述弹片32的弹脚高度尺寸不合格,此时,所述RF弹高测试柱13将未抵触到所述弹片32的开路信号通过所述电路板4传递给外接测试设备,以实现对天线产品3的异常判断。
从上述描述可知,本实用新型的有益效果在于:在治具下模1上设置能够同时对天线产品3的RF电性能以及弹片32的弹脚高度进行测试,合并了检测工序,利于生产成本的降低以及生产效率的提升。
进一步的,所述治具下模1还设有对所述天线产品3定位的定位柱14。
由上述描述可知,所述定位柱14能够对所述天线产品3进行定位,确保所述天线产品3的弹片32能够准确地与RF弹高测试柱13抵触。
进一步的,所述定位柱14上设有防护件15。
由上述描述可知,所述防护件15能够降低所述定位柱14与所述天线产品3碰撞损坏的风险,利于使用寿命的延长。
进一步的,所述治具下模1包括相连的底模11和产品针定模12,所述电路板4设于所述底模11与所述针定模之间,所述RF弹高测试柱13贯穿所述产品针定模12。
由上述描述可知,所述产品针定模12能够对将所述电路板4稳定地压合在所述底模11上,确保了所述电路板4与所述RF弹高测试柱13结构的稳定性。
进一步的,还包括压力机构和测试架6,所述治具下模1安装于所述测试架6上,所述压力机构与所述治具上模2连接以将所述治具上模2压合至所述治具下模1上。
由上述描述可知,所述压力机构能够将所述治具上模2压合至所述治具下模1上,所述测试架6便于安装所述治具下模1。
进一步的,所述压力机构包括支撑架5以及设于所述支撑架5上的上模固定板52和驱动件9,所述治具上模2安装于所述上模固定板52上;所述驱动件9与所述上模固定板52连接,用以驱动所述上模固定板52沿Z轴方向移动。
由上述描述可知,所述压力机构结构简单,便于装配,利于生产成本的降低。
进一步的,所述支撑架5上设有沿Z轴方向延伸的滑轨51,所述上模固定板52设有与所述滑轨51相适配的滑块53。
由上述描述可知,所述滑轨51与所述滑块53配合,能够实现所述上模固定板52沿Z轴方向的滑动,进而使所述治具上模2向靠近所述治具下模1的方向进行压合。
进一步的,所述驱动件9为气缸或电动推杆。
由上述描述可知,可根据实际的应用需求对所述驱动件9进行选型,利于设计维度的拓展。
进一步的,所述支撑架5上设有对所述上模固定板52限位的限位块55。
由上述描述可知,所述限位块55能够限制所述上模固定板52的下压行程,避免了所述上模固定板52行程过量而导致所述天线产品3损坏的风险,利于生产良率的提升。
进一步的,所述上模固定板52上设有与所述限位块55抵触的缓冲件54。
由上述描述可知,所述缓冲件54能够对所述上模固定板52与所述限位块55的抵触力进行缓冲,利于使用寿命的延长。
实施例一
请参照图1至图5,本实用新型的实施例一为:一种RF与弹高测试合并的治具,包括相配合的治具上模2和治具下模1,所述治具上模2与所述治具下模1之间形成一用于对天线产品3进行限位的腔体,所述天线产品3包括支架31以及设于所述支架31上的弹片32(如图4所示),所述治具下模1上有测试组件,所述测试组件包括相互电连接的电路板4和RF弹高测试柱13,所述RF弹高测试柱13位于所述腔体内并与所述弹片32抵触。
具体的,请结合图1和图3,本RF与弹高测试合并的治具还包括压力机构和测试架6,所述治具下模1安装于所述测试架6上,所述压力机构与所述治具上模2连接以将所述治具上模2压合至所述治具下模1上,容易理解的,所述压力机构能够将所述治具上模2压合至所述治具下模1上,所述测试架6用于安装所述治具下模1;更具体的,所述压力机构包括支撑架5以及设于所述支撑架5上的上模固定板52和驱动件9,所述治具上模2安装于所述上模固定板52上;所述驱动件9与所述上模固定板52连接,用以驱动所述上模固定板52沿Z轴方向移动;详细的,所述支撑架5为呈箱体状,所述驱动件9安装于所述支撑架5内部,所述上模固定板52安装于所述支架31外侧壁,所述上模固定板52上设有与所述驱动件9连接的连接部521,所述支撑架5上开设有对所述连接部521避位的避位槽522,以确保所述连接部521能够贯穿所述支撑架5与所述驱动件9建立连接。
优选的,所述支撑架5上设有沿Z轴方向延伸的滑轨51,所述上模固定板52设有与所述滑轨51相适配的滑块53,如此,以实现所述上模固定板52沿Z轴方向的滑动,进而使所述治具上模2向靠近所述治具下模1的方向进行压合。
可选的,所述驱动件9可以是气缸(如本实施例)或电动推杆,可根据实际的应用需求对所述驱动件9进行选型,利于设计维度的拓展。
如图2和图3所示,在本实施例中,所述支撑架5上还设有气压表7和电磁阀8,所述气压表7与所述电磁阀8分别与所述驱动件9连接,具体的,所述气压表7用于检定所述驱动件9作用于所述上模固定板52上的压力值,所述电磁阀8用于控制所述驱动件9,更具体的,本RF与弹高测试合并的治具还包括与所述测试架6连接的电源61,所述测试架6还设有用于安装电器件的内部腔体,所述内部腔体内的所述电器件与所述电磁阀8分别与所述电源61电连接。
优选的,请结合图1,所述支撑架5上设有对所述上模固定板52限位的限位块55,容易理解的,所述限位块55能够限制所述上模固定板52的下压行程,避免了所述上模固定板52行程过量而导致所述天线产品3损坏的风险,利于生产良率的提升,具体的,所述上模固定板52上设有与所述限位块55抵触的缓冲件54,详细的,所述缓冲件54可以是但不限于弹性阻尼缓冲器或液压缓冲器,所述缓冲件54能够对所述上模固定板52与所述限位块55的作用力进行缓冲,降低了所述上模固定板52与所述限位块55发生硬性碰撞而导致损坏的风险,利于使用寿命的延长。
请结合图4和图5,所述治具下模1还设有对所述天线产品3定位的定位柱14,具体的,所述支架31上开设有与所述定位柱14相配合的定位孔,容易理解的,所述定位柱14能够对所述天线产品3进行定位,确保所述天线产品3的弹片32能够准确地与RF弹高测试柱13抵触;进一步的,为降低所述定位柱14与所述天线产品3碰撞损坏的风险,所述定位柱14上设有防护件15,详细的,所述防护件15为套接于所述定位柱14上的防护套,所述防护套的材质可以是橡胶材质或硅胶材质。
在本实施例中,所述治具下模1包括相连的底模11和产品针定模12,所述电路板4设于所述底模11与所述产品针定模12之间,所述RF弹高测试柱13贯穿所述产品针定模12并与所述弹片32抵触,所述产品针定模12能够对将所述电路板4稳定地压合在所述底模11上,确保了所述电路板4与所述RF弹高测试柱13结构的稳定性。
综上所述,本实用新型提供的RF与弹高测试合并治具具有设备成本低、生产效率高、结构稳定性强以及使用寿命长的特点。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种RF与弹高测试合并的治具,包括相配合的治具上模和治具下模,所述治具上模与所述治具下模之间形成一用于对天线产品进行限位的腔体,所述天线产品包括支架以及设于所述支架上的弹片,其特征在于,所述治具下模上有测试组件,所述测试组件包括相互电连接的电路板和RF弹高测试柱,所述RF弹高测试柱位于所述腔体内并与所述弹片抵触。
2.根据权利要求1所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述治具下模还设有对所述天线产品定位的定位柱。
3.根据权利要求2所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述定位柱上设有防护件。
4.根据权利要求1所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述治具下模包括相连的底模和产品针定模,所述电路板设于所述底模与所述针定模之间,所述RF弹高测试柱贯穿所述产品针定模。
5.根据权利要求1所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,还包括压力机构和测试架,所述治具下模安装于所述测试架上,所述压力机构与所述治具上模连接以将所述治具上模压合至所述治具下模上。
6.根据权利要求5所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述压力机构包括支撑架以及设于所述支撑架上的上模固定板和驱动件,所述治具上模安装于所述上模固定板上;所述驱动件与所述上模固定板连接,用以驱动所述上模固定板沿Z轴方向移动。
7.根据权利要求6所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述支撑架上设有沿Z轴方向延伸的滑轨,所述上模固定板设有与所述滑轨相适配的滑块。
8.根据权利要求6所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述驱动件为气缸或电动推杆。
9.根据权利要求6所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述支撑架上设有对所述上模固定板限位的限位块。
10.根据权利要求9所述的RF与弹高测试合并的治具,其特征在于,所述上模固定板上设有与所述限位块抵触的缓冲件。
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