CN215180651U - 一种led数码管用测试适配器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开的LED数码管用测试适配器，涉及数码管测试装置领域，以解决现有测试方法效率低、准确率差的问题。其中：待测数码管插装在测试子板上，待测数码管的多个管脚与测试子板的子板排针连通；测试母板与测试系统连通，测试子板针插装在测试母板上，子板排针与测试母板的母板排针连通，待测数码管管脚通过子板排针与母板排针连通，多个控制开关外接电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，进行测试。上述测试适配器及测试方法，有效提高了测试效率和测试精度，适用范围更广，具有很高的实用性。

Description

一种LED数码管用测试适配器

技术领域

本实用新型涉及数码管测试装置领域，尤其涉及一种LED数码管用测试适配器。

背景技术

随着电子科技技术的大力发展，半导体器件发挥着越来越大的作用，LED数码管随之在航天科技领域被广泛应用，大规模的量产要求在投入使用前必须对其筛检。图1为一位的LED数码管外形结构示意图，从图中可以看出，该LED数码管共有十个管脚，2、3、4、5、7、8、9、10为八段数码管的八个阴极端，1、6为共阳端，数码管的基本组成是发光二极管，对其电性能参数的测试时，传统的测试方法是，在测试二极管时晶体管图示仪C极连接表笔的正极，晶体管图示仪E连接表笔的负极，表笔的另两端连接待测器件。在测试过程中是待测试的LED数码管的公共端与表笔的一端手动触碰，另外一支表笔依次与数码管的八个管脚依次连接加电连接测试，测试过程中每测一个管脚测试人员需要观察图示仪上曲线是否在合格范围之内，同时观察数码管的亮度是否正常。此方法效率低、精度差，无法记录并存储数据。

并且，由于分立器件中的LED数码管因其位数多、管脚多一直未实现自动化测试技术，依旧是在图示仪的基础上依次对其管脚分别加电后观察曲线是否在电参数的允许范围内，此方法显然已不能满足大规模测试任务的需要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种LED数码管用测试适配器，用于解决现有现有测试方法效率低、准确率差的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

本实用新型提供的LED数码管用测试适配器，包括：待测数码管、测试子板和测试母板；

待测数码管插装在测试子板上，待测数码管的多个管脚与测试子板的子板排针连通；

测试母板与测试系统连通，测试子板针插装在测试母板上，子板排针与测试母板的母板排针连通，待测数码管管脚通过子板排针与母板排针连通，多个控制开关外接电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，进行测试。

上述LED数码管用测试适配器，采用插装的方式，将待测数码管安装在测试子板上，待测数码管的管脚插装在对应的测试子板的子板排针孔内，子板排针插装在测试母板的母板排针孔内，测试母板与测试系统连通。使得待测数码管和测试子板的安装和拆卸更加的方便，也更加的稳固，不用担心不连通的情况。进行测试时，通过控制不同控制开关的开启和/或闭合，能够选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，根据测试系统的检测结果，能够判断当前连通的管脚是否正常，直至完成所有管脚的检测。上述测试适配器解决了现有测试方法效率低，测试精度差的问题，并且，测试子板和测试模板可以根据实际待测数码管进行改造，通过不同的连线，就可以实现对不同型号待测数码管的待检测，具有很高的实用性。

实用新型附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为LED数码管的外形结构示意图；

图2为本实用新型提供的LED数码管用测试适配器的测试子板的示意图；

图3为本实用新型提供的LED数码管用测试适配器的测试母板的示意图。

附图标记：

1-第一排针、2-第一接线板、3-接线柱、4-第二排针、5-第三排针、6-第二接线板、7-连接线、8-第四排针、9-继电器。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

详见图2和图3，本实用新型提供的LED数码管用测试适配器，包括：待测数码管、测试子板和测试母板；

待测数码管插装在测试子板上，待测数码管的多个管脚与测试子板的子板排针连通；

测试母板与测试系统连通，测试子板针插装在测试母板上，子板排针与测试母板的母板排针连通，待测数码管管脚通过子板排针与母板排针连通，多个控制开关外接电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，进行测试。

具体实施时：

首先要根据待测数码管管脚的数量，对测试子板和测试模板的接线方式，进行重新设计，以适应当前数量管脚的数码管的测试。具体的设计是根据待测数码管的管脚重新接线，不需要对测试子板和测试模板进行改变。

在测试过程中将测试子板的第一排阵和测试母板的第三排阵一一对应连接，将测试子板的第二排阵和测试母板的第四排阵一一对应连接，此测试适配器的连线方式采用了开尔文的测试方法，在测试精度上相对传统测试方法大大提升。通过控制测试母板上继电器9的一一切换来控制连接测试系统内部所对应的通道的关断对待测数码管进行分段测试，直至完成对待测数码管的全部电参数测试。

测试适配器的子板示意图如图2所示，基于上述目的设计的LED数码管测试适配器，用于测试尺寸较小、管脚紧凑的LED数码管。子板包括第一排针1、第二排针4和第一接线板，第一接线板2上与LED数码管管脚对应位置处设置有两组接线柱33，其中一组接线柱3通过导线分别与第一排针1上的接线端连接，另一组接线柱3通过导线分别与所述第二排针4上的接线端连接。

测试适配器的母板示意图如图3所示，母板包括第二排针5、第四排针8、八个继电器9和第二接线板6，第二接线板6上与测试设备上的E极对应的接线接线柱3与第二排针5、第四排针8上的接线端连接。测试母板上与测试设备C极对应的接线分别与8只继电器9的开关一端的连接。测试母板上8只继电器9的开关另一端分别与第三排针5、第四排针8上对应的接线端连接。八个继电器9有八组接线端和一组电源接线端与测试系统内部通道分别连接。

以上对测试适配器的整体情况进行了论述，本申请利用分立器件测试系统BC3193设计6×5贴片式双MOS管系列测试适配器，基于SiZ918DT器件测试程序的开发，能够一次性快速实现器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率，测试精度高、对被测器件无损伤等优点。该适配器结构简单，方便灵活，可以根据不同管脚分布及不同的内部结构需要进行改造，实用性强；该适配器根据器件的管脚分布进行改造时，只需在子板上根据器件的管脚不同来重新接线，而无需改变母板，节约了成本；该适配器设计组成合理，易于采购和组装，便于推广使用。

上述LED数码管用测试适配器，采用插装的方式，将待测数码管安装在测试子板上，待测数码管的管脚插装在对应的测试子板的子板排针孔内，子板排针插装在测试母板的母板排针孔内，测试母板与测试系统连通。使得待测数码管和测试子板的安装和拆卸更加的方便，也更加的稳固，不用担心不连通的情况。进行测试时，通过控制不同控制开关的开启和/或闭合，能够选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，根据测试系统的检测结果，能够判断当前连通的管脚是否正常，直至完成所有管脚的检测。上述测试适配器解决了现有测试方法效率低，测试精度差的问题，并且，测试子板和测试模板可以根据实际待测数码管进行改造，通过不同的连线，就可以实现对不同型号待测数码管的待检测，具有很高的实用性。

作为一种可实施方式，测试子板包括第一接线板2、第一排针1、第二排针3和两组接线柱3；

第一排针1、第二排针3以及两组接线柱3均设置在第一接线板2上，待测数码管的多个管脚与两组接线柱3连通，两组接线柱3通过导线分别与第一排针1和第二排针3的接线端连接，待测数码管的共阳极分别与第一排针1的测试起始接线端与第二排针3的测试末位接线端连通。

待测数码管的管脚与接线柱3连通，采用接线柱3连接的形式，使得待测数码管的安装和拆卸更加的简单。待测数码管的共阳极分别与第一排针1的测试起始接线端与第二排针3的测试末位接线端连通，使得第一排针1和第二排针3的布局更加的合理，接电也更加的方便，很好的对第一排针1和第二排针3的待测管脚进行了区别划分。

作为一种可实施方式，测试母板包括第二接线板6、第二排针5、第四排针8以及多个控制开关；

第二排针5、第四排针8以及多个控制开关均设置在第二接线板6上，第二排针5的测试起始接线端与第四排针8的测试末位接线端连通后，与测试系统的E极连通，多个控制开关的一端通过连接线7与与第二排针5和第四排针8对应的测试接线端连通，其另一端测试系统的C极连通，多个控制开关的电源端和测试端分别与电源输入端和测试通道连通；

测试子板插装在测试母板上时，第一排针1和第二排针3分别插装在第二排针5和第四排针8上，并连通。

第二排针5的测试起始接线端与第四排针8的测试末位接线端连通后，与测试系统的E极连通，实现了第二排针5和第四排针8与测试系统间的连通，配合多个控制开关的另一端测试系统的C极连通，实现了第二排针5、第四排针8与检测系统间的回路。控制开关的电源端与电源输入端连接，为控制开关提供了工作电源，测试端与测试通道连通，使得测试系统能够与待测数码管当前测试管脚连通，会获得当前管脚的测试数据，完成对当前管脚的检测。

作为一种可实施方式，控制开关为八脚继电器9。进一步的，继电器9线圈端子的两端分别与电源输入端和测试系统对应的测试通道连接；开关接线端的一端通过连接线7与第二排针5和第四排针8对应的测试接线端连通，开关接线端另一端与其余继电器9对应的开关接线端连接后，与测试系统的C极连通。

选用八脚继电器9作为控制开关，对待测数码管管脚的控制更加的准确，能够更好的对待测数码管的管脚进行选择，确保了对待测数码管管脚选择的准确性，和测试系统对待测数码管管脚测试的精确度。

作为一种可实施方式，继电器9的数量与待测数码管阴极端的数量相同。

使得作为控制开关的继电器9能够对所有的待测数码管的阴极端进行检测。

作为一种可实施方式，第一排针1和第二排针3上接线端的数量大于待测数码管上管脚的数量。

确保了测试子板能够对待测数码管的所有管脚进行安装和测试。

作为一种可实施方式，第二排针5和第四排针8上接线端的数量大于等于第一排针1和第二排针3上接线端的数量。

确保了测试子板能够安装在测试母板上，同时，也确保了能够对待测数码管的所有管脚进行测试。

作为一种可实施方式，第一排针1和第二排针3在第一接线板2上对称设置，第二排针5和第四排针8在第二接线板6上对称设置。

采用对称设置的形式，使得测试子板和测试模板的结构布局更加的完善紧凑，布局更加的合理，在对待测数码管的管脚进行选择时，更加的方便。

本实用新型提供的一种基于LED数码管用测试适配器的测试方法，包括以下步骤：

将待测数码管安装在LED数码管用测试适配器上，并通电；

通过控制LED数码管用测试适配器上不同控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管管脚，根据测试系统测试结果，确定待测数码管当前管脚是否正常；

对待测数码管其余待测管脚逐个进行选择测试，直至完成所有管脚的检测。

在上述实施方式的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种LED数码管用测试适配器，其特征在于，包括：待测数码管、测试子板和测试母板；

所述待测数码管插装在所述测试子板上，所述待测数码管的多个管脚与所述测试子板的子板排针连通；

所述测试母板与测试系统连通，所述测试子板针插装在所述测试母板上，所述子板排针与所述测试母板的母板排针连通，所述待测数码管管脚通过所述子板排针与所述母板排针连通，多个控制开关与测试系统电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个所述控制开关的开启和/或闭合，选择与所述测试系统连通的所述待测数码管的管脚，进行测试。

2.根据权利要求1所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述测试子板包括第一接线板、第一排针、第二排针和两组接线柱；

所述第一排针、所述第二排针以及两组所述接线柱均设置在所述第一接线板上，所述待测数码管的多个管脚与两组所述接线柱连通，两组所述接线柱通过导线分别与所述第一排针和所述第二排针的接线端连接，所述待测数码管的共阳极分别与所述第一排针的测试起始接线端与所述第二排针的测试末位接线端连通。

3.根据权利要求2所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述测试母板包括第二接线板、第三排针、第四排针以及多个控制开关；

所述第三排针、所述第四排针以及多个控制开关均设置在所述第二接线板上，所述第三排针的测试起始接线端与所述第四排针的测试末位接线端连通后，与测试系统的E极连通，多个所述控制开关的一端通过连接线与所述第三排针和所述第四排针对应的测试接线端连通，其另一端与测试系统的C极连通；多个控制开关的电源端和测试端分别与电源输入端和测试通道连通；

所述测试子板插装在所述测试母板上时，所述第一排针和所述第二排针分别插装在所述第三排针和所述第四排针上，并连通。

4.根据权利要求3所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述控制开关为八脚继电器。

5.根据权利要求4所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述继电器线圈端子的两端分别与电源输入端和测试系统对应的测试通道连接；开关接线端的一端通过连接线与所述第三排针和所述第四排针对应的测试接线端连通，开关接线端另一端与其余所述继电器对应的开关接线端连接后，与测试系统的C极连通。

6.根据权利要求5所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述继电器的数量与所述待测数码管阴极端的数量相同。

7.根据权利要求3所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述第一排针和所述第二排针上接线端的数量大于所述待测数码管上管脚的数量。

8.根据权利要求7所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述第三排针和所述第四排针上接线端的数量大于等于所述第一排针和所述第二排针上接线端的数量。

9.根据权利要求8所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，第一排针和所述第二排针在所述第一接线板上对称设置，所述第三排针和所述第四排针在所述第二接线板上对称设置。

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