CN214750462U - 一种弹片式探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种弹片式探针，包括沿探针依次纵向连接设置的第一接触部、弯曲弹性部和第二接触部，各部件一体成型；第一接触部为沿探针纵向延伸的板状结构，第一接触部的一端与弯曲弹性部的上端连接，第一接触部的另一端设置有第一触点；第二接触部为沿探针横向延伸的板状结构，第二接触部的一端与弯曲弹性部的下端连接，第二接触部背离第一接触部的一侧设有第二触点；弯曲弹性部沿探针纵向弯曲延伸，弯曲弹性部上设有至少一个向下的凸起。本实用新型弹片式探针，受力作用时通过弯曲弹性部的弹性收缩，可以避免各部件之间发生折损，确保产品不容易发生损坏，提高该探针弹片的使用寿命。

Description

一种弹片式探针

技术领域

本实用新型属于电子测试设备技术领域，具体地说，涉及一种弹片式探针。

背景技术

探针作为一种常用的电子测试工具，目前已经管饭应用于各个领域。其中，对于PCB线路板来说，当PCB线路板上安装完元器件后，需要使用探针对各个元器件的线路进行检测，确定其电子性能是否得到有效验证，进而确保产品的质量。

随着科技的发展，元器件也越来越精细化，而探针也随其进步体积也改进的越来越小。现有探针大多为弹簧探针，主要由弹簧针头和针管组装而成，使用时如果操作人员力气过大会导致针头、弹簧和针管之间发生严重变形，无法与被测元器件、PCB线路板之间形成良好的接触，进而难以确保测试结果的正确性，严重时将会使探针发生损坏，大大缩减了探针的使用寿命。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种弹片式探针，解决了现有弹簧探针存在容易变形，难以确保测试结果正确性的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型公开了一种弹片式探针，包括沿探针依次纵向连接设置的第一接触部、弯曲弹性部和第二接触部，各部件一体成型；

第一接触部为沿探针纵向延伸的板状结构，第一接触部的一端与弯曲弹性部的上端连接，第一接触部的另一端设置有第一触点；

第二接触部为沿探针横向延伸的板状结构，第二接触部的一端与弯曲弹性部的下端连接，第二接触部背离第一接触部的一侧设有第二触点；

弯曲弹性部沿探针纵向弯曲延伸，弯曲弹性部上设有至少一个向下的凸起。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

进一步地，该弹片式探针是由一片状的金属弹片加工而成的一体成型的弹片结构，弯曲弹性部的中间设为镂空结构。

进一步地，弯曲弹性部在探针纵向上呈连续延伸的类S形或类C形，包括N（N≥2）个直线部和多个弯曲部，直线部沿探针横向设置，且N个（N≥2）直线部在探针纵向上平行间隔设置。

进一步地，靠近第一接触部的直线部的一端通过弯曲角度为90°的弯曲部与第一接触部连接，靠近第二接触部的直线部的一端通过弯曲角度为90°的弯曲部与第二接触部的一端连接，相邻两个直线部之间通过弯曲角度为180°的弯曲部对应连接。

进一步地，靠近第一接触部的N-1（N≥2）个直线部的下侧均设有向下的凸起。

进一步地，第一触点的横截面为B型、P型、W型、M型、T型、 H型、F型、O型、D型或者R型。

进一步地，第一触点设有一个或多个。

进一步地，第二触点的横截面为O型或口字型。

进一步地，第二触点设有一个或两个。

与现有技术相比，本实用新型可以获得包括以下技术效果：

1）本实用新型的一种弹片式探针，其第一接触部和第二接触部通过弯曲弹性部连接在一起，使用时第二接触部与PCB线路板接触，第一接触部与被测元器件接触，并在弯曲弹性部的作用下第一接触部与被测元器件之间会发生一定的弹性变形，确保第一接触部与被测元器件之间、第二接触部与PCB线路板之间能够形成良好的接触，可避免因为接触不良造成的测试不准确问题；

2）与弹簧探针的组装方式相比，本实用新型的一种弹片式探针，其第一接触部、弯曲弹性部和第二接触部固定连接在一起，受力作用时通过弯曲弹性部的弹性收缩，可以避免各部件之间发生折损，确保产品不容易发生损坏，提高该探针弹片的使用寿命；

3）本实用新型的一种弹片式探针，通过在弯曲弹性部上设有至少一个向下的凸起，一方面起到限位作用，防止第一接触部受力往下压缩时，弯曲弹性部过压从而损坏弹片结构，导致弹片寿命降低；另一方面具有导通作用，当弯曲弹性部向下压缩时，凸起与下方接触到一起，可以起到导通电流、降低电阻的作用。

4）本实用新型的一种弹片式探针，其整体结构简单，易于制造，制作成本较低，具有较好的市场推广应用前景。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是本实用新型弹片式探针的第一种结构示意图；

图2是本实用新型弹片式探针的第二种结构示意图。

其中，1、第一接触部，2、第一触点，3、弯曲弹性部，31、直线部，32、弯曲部，33、镂空结构，34、凸起，4、第二接触部，5、第二触点。

具体实施方式

以下将配合实施例来详细说明本实用新型的实施方式，借此对本实用新型如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型公开了一种弹片式探针，结构如图1和2所示，包括沿探针依次纵向连接设置的第一接触部1、弯曲弹性部3和第二接触部4，各部件一体成型；

第一接触部1为沿探针纵向延伸的板状结构，第一接触部1的一端与弯曲弹性部3的上端连接，第一接触部1的另一端设置有第一触点2；

第二接触部4为沿探针横向延伸的板状结构，第二接触部4的一端与弯曲弹性部3的下端连接，第二接触部4背离第一接触部1的一侧设有第二触点5；

弯曲弹性部3沿探针纵向弯曲延伸，弯曲弹性部3上设有至少一个向下的凸起34，起到限位和导通作用。

本实用新型公开的一种弹片式探针包括一体成型的第一接触部1、弯曲弹性部3和第二接触部4，其中，第一接触部1和第二接触部4可沿着弹片式探针的长度方向相互靠近或者远离，即实现弹片式探针的弹性伸缩，其中，以弹片式探针长度方向为纵向，以弹片式探针的宽度方向为横向。

对PCB线路板上的元器件测试时，将第二接触部4上设置的第二接触点5与PCB线路板接触，第一接触部1端部设置的第一接触点2与被测元件接触后，方可实施检测。在检测的过程中：第一接触部1与被测元件接触受到压力作用后，会将压力传递给弯曲弹性部3，弯曲弹性部3发生形变，从而防止第一接触部1、弯曲弹性部3和第二接触部4之间发生折损，确保产品不容易发生损坏，确保测试结果准确性，同时延长探针的使用寿命。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

如图1和2所示，该弹片式探针是由一片状的金属弹片加工而成的一体成型的弹片结构，便于加工成型，降低了生产成本；弯曲弹性部3的中间设为镂空结构33，镂空结构33能够确保弯曲弹性部能够顺利发生较大范围的弹性形变。

如图1和2所示，弯曲弹性部3在探针纵向上呈连续延伸的类S形或类C形，包括N（N≥2）个直线部31和多个弯曲部32，直线部31沿探针横向设置，且N个（N≥2）直线部31在探针纵向上平行间隔设置。

靠近第一接触部1的直线部31的一端通过弯曲角度为90°的弯曲部32与第一接触部1连接，第一接触部1与靠近第一接触部1的直线部31相互垂直设置；靠近第二接触部4的直线部31的一端通过弯曲角度为90°的弯曲部32与第二接触部4的一端连接，第二接触部4与靠近第二接触部4的直线部31相互平行设置且两者之间形成一定的缓冲距离，便于弯曲弹性部3受力朝第二接触部4发生一定的弹性形变；相邻两个直线部41之间通过弯曲角度为180°的弯曲部32对应连接。

如图1和2所示，靠近第一接触部1的N-1（N≥2）个直线部31的中间位置下侧均设有向下的凸起34，凸起34的作用有两个：（1）限位作用，防止第一接触部1受力往下压缩时，弯曲弹性部3过压从而损坏弹片结构，导致弹片寿命降低；（2）导通作用，当弯曲弹性部3向下压缩时，凸起34与下方接触到一起，可以起到导通电流、降低电阻的作用。

本实用新型弹片式探针中，第一触点2的横截面为B型、P型、W型、M型、T型、 H型、F型、O型、D型或者R型，可根据待测部件设定第一触点为不同形状，确保该弹片式探针与印刷电路板接触保持稳定的接触阻抗，第一接触点2设有一个或多个，便于第一接触部1与被测元器件之间实现良好的接触，确保测试结果准确性。

如图1或2所示，本实用新型弹片式探针中，第二触点5的横截面为O型或口字型，确保与待测试点位的接触方式为点对点，提高导通率和稳定性。其中，第二触点5设有一个或两个。

与现有技术相比，本实用新型可以获得包括以下技术效果：

1）本实用新型的一种弹片式探针，其第一接触部1和第二接触部4通过弯曲弹性部3连接在一起，使用时第二接触部4与PCB线路板接触，第一接触部1与被测元器件接触，并在弯曲弹性部3的作用下第一接触部1与被测元器件之间会发生一定的弹性变形，确保第一接触部1与被测元器件之间、第二接触部4与PCB线路板之间能够形成良好的接触，可避免因为接触不良造成的测试不准确问题；

2）与弹簧探针的组装方式相比，本实用新型的一种弹片式探针，其第一接触部1、弯曲弹性部3和第二接触部4固定连接在一起，受力作用时通过弯曲弹性部3的弹性收缩，可以避免各部件之间发生折损，确保产品不容易发生损坏，提高该探针弹片的使用寿命；

3）本实用新型的一种弹片式探针，通过在弯曲弹性部3上设有至少一个向下的凸起34，一方面起到限位作用，防止第一接触部1受力往下压缩时，弯曲弹性部3过压从而损坏弹片结构，导致弹片寿命降低；另一方面具有导通作用，当弯曲弹性部3向下压缩时，凸起与下方接触到一起，可以起到导通电流、降低电阻的作用。

4）本实用新型的一种弹片式探针，其整体结构简单，易于制造，制作成本较低，具有较好的市场推广应用前景。

上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种弹片式探针，其特征在于，包括沿探针依次纵向连接设置的第一接触部（1）、弯曲弹性部（3）和第二接触部（4），各部件一体成型；

所述第一接触部（1）为沿探针纵向延伸的板状结构，所述第一接触部（1）的一端与所述弯曲弹性部（3）的上端连接，所述第一接触部（1）的另一端设置有第一触点（2）；

所述第二接触部（4）为沿探针横向延伸的板状结构，所述第二接触部（4）的一端与所述弯曲弹性部（3）的下端连接，所述第二接触部（4）背离所述第一接触部（1）的一侧设有第二触点（5）；

所述弯曲弹性部（3）沿探针纵向弯曲延伸，所述弯曲弹性部（3）上设有至少一个向下的凸起（34）。

2.根据权利要求1所述的弹片式探针，其特征在于，所述弹片式探针是由一片状的金属弹片加工而成的一体成型的弹片结构，所述弯曲弹性部（3）的中间设为镂空结构（33）。

3.根据权利要求1或2所述的弹片式探针，其特征在于，所述弯曲弹性部（3）在探针纵向上呈连续延伸的类S形或类C形，包括N个直线部（31）和多个弯曲部（32），所述直线部（31）沿探针横向设置，且N个所述直线部（31）在探针纵向上平行间隔设置；N≥2。

4.根据权利要求3所述的弹片式探针，其特征在于，靠近所述第一接触部（1）的所述直线部（31）的一端通过弯曲角度为90°的所述弯曲部（32）与所述第一接触部（1）连接，靠近所述第二接触部（4）的所述直线部（31）的一端通过弯曲角度为90°的所述弯曲部（32）与所述第二接触部（4）的一端连接，相邻两个所述直线部（31）之间通过弯曲角度为180°的所述弯曲部（32）对应连接。

5.根据权利要求4所述的弹片式探针，其特征在于，靠近所述第一接触部（1）的N-1个所述直线部（31）的下侧均设有向下的所述凸起（34）；N≥2。

6.根据权利要求1所述的弹片式探针，其特征在于，所述第一触点（2）的横截面为B型、P型、W型、M型、T型、 H型、F型、O型、D型或者R型。

7.根据权利要求1或6所述的弹片式探针，其特征在于，所述第一触点（2）设有一个或多个。

8.根据权利要求1所述的弹片式探针，其特征在于，所述第二触点（5）的横截面为O型或口字型。

9.根据权利要求1或8所述的弹片式探针，其特征在于，所述第二触点（5）设有一个或两个。

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