CN220509004U - 一种测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种测试探针，包括连接部、弹性部和测试触点，弹性部与连接部的一端连接，测试触点设于弹性部远离连接部的一端；连接部、弹性部和测试触点为一体结构。本实用新型的技术方案通过使弹性部与连接部的一端连接，将测试触点设于弹性部远离连接部的一端，利用弹性部代替弹簧结构，为测试探针提供压紧待测件的弹性；既简化了测试探针的整体结构，还省去繁琐的组装步骤，减少了测试探针的加工程序；且连接部、弹性部和测试触点为一体成型的构造，具有便于加工成型层优点，同时不需要使用多种零部件进行组合，实现降低了生产成本的目的。

Description

一种测试探针

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试技术领域，特别涉及一种测试探针。

背景技术

电子产品的组装到成型出产需要用探针测试模组对其涉及的各个电路部件进行质检与测试，而探针测试模组的优劣性能直接影响其测试效率和测试结果。目前市面上流通的探针测试模组一般需要使用测试探针，测试探针由弹簧、针管和针轴三个主要部件构成的精密电子连接器，但这种测试探针存在加工程序复杂以及加成成本高的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种测试探针，旨在解决现有测试探针存在加工程序复杂以及加成成本高的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的测试探针，包括：

连接部；

弹性部，与所述连接部的一端连接；

测试触点，设于所述弹性部远离所述连接部的一端；

所述连接部、所述弹性部和所述测试触点为一体结构。

可选地，所述弹性部呈U形结构，所述弹性部的开口的一侧端部与所述连接部连接，所述弹性部的开口的另一侧端部设有所述测试触点。

可选地，所述弹性部包括水平段、第一弧形段和倾斜段，所述水平段的一端与所述连接部的一端连接，所述水平段的一端与所述第一弧形段的开口的一侧端部连接，所述第一弧形段的另一端与所述倾斜段的一端连接，所述倾斜段的另一端设有所述测试触点。

可选地，所述水平段与所述倾斜段之间设有夹角，所述夹角的角度范围为15°-30°。

可选地，所述弹性部还包括第二弧形段，所述第二弧形段的一端与所述水平段远离所述连接部的一端连接，所述第二弧形段的另一端与所述第一弧形段的一端连接。

可选地，所述连接部和所述水平段的宽度大于所述第二弧形段、第一弧形段和倾斜段的宽度。

可选地，所述测试触点包括半圆形凸起，所述半圆形凸起位于所述倾斜段远离所述水平段的一侧。

可选地，所述连接部远离所述弹性部的一端设有弧形连接点。

可选地，所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用导电金属加工而成。

可选地，所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用铜合金材料浇筑加工而成；和/或，

所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用铜合金片切割加工而成。

本实用新型的技术方案中测试探针包括连接部、弹性部和测试触点，通过使弹性部与所述连接部的一端连接，将测试触点设于所述弹性部远离所述连接部的一端，利用弹性部代替弹簧结构，为测试探针提供压紧待测件的弹性；既简化了测试探针的整体结构，还省去繁琐的组装步骤，减少了测试探针的加工程序；且连接部、弹性部和测试触点为一体成型的构造，具有便于加工成型层优点，同时不需要使用多种零部件进行组合，实现降低了生产成本的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型主测试探针一实施例的结构示意图。

图2为本实用新型主测试探针一实施例的侧视结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				1	连接部	2	弹性部
21	水平段	22	第一弧形段
				23	倾斜段	24	第二弧形段
3	测试触点

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，若全文中出现的“和/或”或者“及/或”，其含义包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种测试探针。

参照图1至图2，在本实用新型一实施例中，该测试探针，包括连接部1、弹性部2和测试触点3，弹性部2与连接部1的一端连接，测试触点3设于弹性部2远离连接部1的一端；连接部1、弹性部2和测试触点3为一体结构。

其中，测试探针包括连接部1、弹性部2和测试触点3，通过使弹性部2与连接部1的一端连接，将测试触点3设于弹性部2远离连接部1的一端，利用弹性部2代替弹簧结构，为测试探针提供压紧待测件的弹性；既简化了测试探针的整体结构，还省去繁琐的组装步骤，减少了测试探针的加工程序；且连接部1、弹性部2和测试触点3为一体成型的构造，具有便于加工成型层优点，同时不需要使用多种零部件进行组合，实现降低了生产成本的目的。

可选地，弹性部2呈U形结构，弹性部2的开口的一侧端部与连接部1连接，弹性部2的开口的另一侧端部设有测试触点3。当测试触点3与待测件相抵，使弹性部2产生形变，产生与弹簧相同的弹力，使测试触点3与待测件压紧。利用弹性部2代替弹簧，省去组装步骤，且结构简单，便于生产。

可选地，弹性部2包括水平段21、第一弧形段22和倾斜段23，水平段21的一端与连接部1的一端连接，水平段21的一端与第一弧形段22的开口的一侧端部连接，第一弧形段22的另一端与倾斜段23的一端连接，倾斜段23的另一端设有测试触点3。

水平段21、第一弧形段22和倾斜段23相互连接后形成弹性部2，使测试触点3与待测件相抵，弹性部2以势能形式存储机械功并能够再次释放该能量。当测试触点3与待测件的相抵，并使第一弧形段22产生形变，同时倾斜段23设有测试触点3的一端向水平段21靠近，倾斜端和第一弧形段22为测试探针提供压向待测件的力。另外，通过设置第一弧形段22使弹性部2有足够的形变空间，提升该测试探针的使用寿命。

可选地，水平段21与倾斜段23之间设有夹角，夹角的角度范围为15°-30°。通过使水平段21和倾斜段23之间形成夹角，使得倾斜段23具有更多位置空间实现变；同时由于测试触点3位于倾斜段23的端部，倾斜段23与水平段21之间形成夹角后，测试触点3更加突出，方便测试触点3与待测件的精准接触，提高了测试的准确性。

可选地，弹性部2还包括第二弧形段24，第二弧形段24的一端与水平段21远离连接部1的一端连接，第二弧形段24的另一端与第一弧形段22的一端连接。当测试触点3所受力度较大，第一弧形段22产生较大形变量，增加第二弧形段24可分散第一弧形段22的受力，避免弹性部2产生断裂，可提高测试探针的使用寿命。

可选地，连接部1和水平段21的宽度大于第二弧形段24、第一弧形段22和倾斜段23的宽度。连接段用于连接测试设备，连接段与水平段21产生形变后容易影响测试连接的准确度，因此需要保证连接段与水平段21的硬度，而第二弧形段24、第一弧形段22和倾斜段23需要具有一定弹性形变量，因此在连接部1、水平段21、第二弧形段24、第一弧形段22、倾斜段23具有相同厚度的情况下，连接部1和水平段21的宽度需要大于第二弧形段24、第一弧形段22和倾斜段23的宽度。

可选地，测试触点3包括半圆形凸起，半圆形凸起位于倾斜段23远离水平段21的一侧。测试触点3包括半圆形凸起，可确保该测试探针与待测件相抵时保持稳定的接触阻抗，相比于针状触点，半圆形凸起不容易出现折断的情况。

可选地，连接部1远离弹性部2的一端设有弧形连接点。同样地，弧形连接点可确保该测试探针与测试设备相抵时保持稳定的接触阻抗，相比于针状连接点，弧形连接点不容易出现折断的情况。

可选地，连接部1、弹性部2和测试触点3采用导电金属加工而成。采用导电金属作为原材料，既确保了连接部1、弹性部2和测试触点3的通电性能，同时方便加工形成连接部1、弹性部2和测试触点3，并连接部1、弹性部2和测试触点3形成一体结构。

可选地，连接部1、弹性部2和测试触点3采用铜合金材料浇筑加工而成。便于使连接部1、弹性部2和测试触点3形成一体结构，提高了连接部1、弹性部2和测试触点3整体刚性。

可选地，连接部1、弹性部2和测试触点3采用铜合金片切割加工而成，同样便于使连接部1、弹性部2和测试触点3形成一体结构，提高了连接部1、弹性部2和测试触点3整体刚性。

本实用新型的技术方案中测试探针包括连接部1、弹性部2和测试触点3，通过使弹性部2与连接部1的一端连接，将测试触点3设于弹性部2远离连接部1的一端，利用弹性部2代替弹簧结构，为测试探针提供压紧待测件的弹性；既简化了测试探针的整体结构，还省去繁琐的组装步骤，减少了测试探针的加工程序；且连接部1、弹性部2和测试触点3为一体成型的构造，具有便于加工成型层优点，同时不需要使用多种零部件进行组合，实现降低了生产成本的目的。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的技术构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种测试探针，其特征在于，包括：

连接部；

弹性部，与所述连接部的一端连接；

测试触点，设于所述弹性部远离所述连接部的一端；

所述连接部、所述弹性部和所述测试触点为一体结构；所述弹性部呈U形结构，所述弹性部的开口的一侧端部与所述连接部连接，所述弹性部的开口的另一侧端部设有所述测试触点。

2.如权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述弹性部包括水平段、第一弧形段和倾斜段，所述水平段的一端与所述连接部的一端连接，所述水平段的一端与所述第一弧形段的开口的一侧端部连接，所述第一弧形段的另一端与所述倾斜段的一端连接，所述倾斜段的另一端设有所述测试触点。

3.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述水平段与所述倾斜段之间设有夹角，所述夹角的角度范围为15°-30°。

4.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述弹性部还包括第二弧形段，所述第二弧形段的一端与所述水平段远离所述连接部的一端连接，所述第二弧形段的另一端与所述第一弧形段的一端连接。

5.如权利要求4所述的测试探针，其特征在于，所述连接部和所述水平段的宽度大于所述第二弧形段、所述第一弧形段和所述倾斜段的宽度。

6.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述测试触点包括半圆形凸起，所述半圆形凸起位于所述倾斜段远离所述水平段的一侧。

7.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述连接部远离所述弹性部的一端设有弧形连接点。

8.如权利要求1至7中任意一项所述的测试探针，其特征在于，所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用导电金属加工而成。

9.如权利要求1至7中任意一项所述的测试探针，其特征在于，所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用铜合金材料浇筑加工而成；和/或，

所述连接部、所述弹性部和所述测试触点采用铜合金片切割加工而成。