CN219777784U - 一种扁平探针及探针模组 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种扁平探针及探针模组，包括：弹性部；位于弹性部的一端并沿第一方向延伸的第一接触部，第一接触部背离弹性部的端部形成用于与待测产品电性接触的第一接触端；位于弹性部的另一端沿第一方向延伸的第二接触部，第二接触部包括第一接触臂和第二接触臂；第一接触臂和第二接触臂的端部分别形成用于与测试设备电性接触的第二接触端，第一接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离小于第二接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离，以使压接导通时，两个第二接触端均与测试设备导通。通过对扁平探针的底部连接端的结构进行改进，保证两个第二接触端均与测试设备保持接触，提高测试的稳定性。

Description

一种扁平探针及探针模组

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域。更具体地，涉及一种扁平探针及探针模组。

背景技术

现有技术中，电子产品在出厂前需要对其各个性能参数进行测试，一般是通过探针将被测产品与测试设备导通，通过测试设备输出待测信号并接收待测产品反馈的信息，以确认待测产品是否存在不良之处。

现阶段的探针大都采用扁平结构样式，包括两侧的连接端与中间段的弹性部。此类探针一般只能检测规则对称式样的连接器，且所对应检测的连接器的插口间距一般较大，对于更小间距的接口及不对称设计的B2B连接器检测有局限性，需要增加多种扁平探针的类型及减小扁平探针的厚度。在与连接器压接导通时，应力会集中于某一接触部的某一接触端，如果直接在原有设计上之间减小扁平探针的厚度，会导致单点接触或断针的情况，影响测试精度。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的一个目的在于提供一种能够使探针与测试设备、待测产品形成更稳定接触的扁平探针。

本实用新型的另一个目的在于提供一种包括上述扁平探针的探针模组。

为达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

根据本实用新型的一个方面，提供一种扁平探针，包括：

能够沿第一方向弹性变形的弹性部；

其中，以所述扁平探针的使用方向为第一方向；

位于所述弹性部的一端并沿第一方向向上延伸的第一接触部，所述第一接触部背离弹性部的端部形成用于与待测产品电性接触的第一接触端；

位于所述弹性部的另一端沿第一方向向下延伸的第二接触部，所述第二接触部包括沿第二方向排列的第一接触臂和第二接触臂，所述第一接触臂位于所述第二接触部靠近所述弹性部端部的一侧，所述第二接触臂位于所述第二接触部远离所述弹性部端部的一侧；

所述第一接触臂和第二接触臂的端部分别形成用于与测试设备电性接触的第二接触端；第一方向上，所述第一接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离小于所述第二接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离。

此外，优选的方案是，所述第二接触臂包括本体部，所述本体部的底部形成所述第二接触端，所述本体部的宽度大于第一接触臂的宽度。

此外，优选的方案是，所述第二接触臂包括本体部以及由本体部的底部向下收拢的收拢部，所述收拢部的底部收拢形成所述第二接触端；

所述本体部的宽度大于所述第一接触臂的宽度。

此外，优选的方案是，所述弹性部的宽度方向上包括贯穿孔，该贯穿孔在弹性部的厚度方向上贯通，并沿弹性部的蜿蜒形状延伸，将所述弹性部分隔为第一弹性部和第二弹性部；

所述第一接触臂和第二接触臂分别由第一弹性部和第二弹性部远离第一接触部的端部向下弯折形成。

此外，优选的方案是，所述第一弹性部和第二弹性部之间包括增强结构，所述增强结构位于所述弹性部靠近所述第二接触部的位置；

所述增强结构沿第一方向延伸，且两端分别与所述第一弹性部和第二弹性部结合固定。

此外，优选的方案是，所述第一接触部包括沿所述弹性部的宽度方向延伸的延伸臂，所述延伸臂被配置为在扁平探针被收纳于探针固定座中时与探针固定座的内壁抵接以对扁平探针进行限位。

此外，优选的方案是，所述延伸臂远离第一接触部的端部包括沿第一方向向上延伸形成的定位部。

此外，优选的方案是，所述第二接触部背离第二接触端的端部表面包括凹陷结构，所述凹陷结构为弧形，与弹性部弯折处的弧度对应配合。

根据本实用新型的另一个方面，提供一种探针模组，包括：

上述的扁平探针以及收纳所述扁平探针的探针固定座，该探针以其第一接触端和第二接触端突出于探针固定座两侧表面的状态收纳于探针固定座中。

此外，优选的方案是，所述探针固定座包括座体和限位板；

所述第一接触部包括沿所述弹性部的宽度方向延伸的延伸臂，所述延伸臂远离第一接触部的端部包括沿第一方向向上延伸形成的定位部；

所述座体包括与所述定位部对应配合设置的定位插孔。

本实用新型的有益效果如下：

针对现有技术中存在的技术问题，本申请实施例提供一种扁平探针及探针模组，通过对扁平探针的底部连接端的结构进行改进，设计第二接触臂的宽度大于第一接触臂的宽度，且第二接触臂的第二接触端低于第一接触臂的第二接触端，在压接导通时减少扁平探针第二接触部上第二接触端的应力集中，可保证扁平探针在受力变形时扁平探针底部的两个第二接触端均与测试设备基板保持接触，且避免了断针及单点接触现象的发生，以保障与测试设备基板间的有效接触，提高测试的稳定性及准确性。其次，通过延伸臂实现了扁平探针在探针固定座内的安装定位，提高了扁平探针的安装精度，定位部则进一步实现了扁平探针在交错固定时的定位，且能够限制扁平探针，避免其在探针固定座内左右晃动，影响测试效果。延伸臂和定位部的设计增加了扁平探针安装定位的精度，能够满足非对称测点连接器的连接测试。再者，第二接触部背离第二接触端端部的凹陷结构能够在弹性部受力变形时承接弹性部，使得电流接触点呈直线传输至第二接触端，减小电阻值，保证连接的稳定性。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本实用新型实施例所提供的探针模组的整体结构示意图。

图2示出本实用新型实施例所提供的探针模组的剖视图。

图3示出本实用新型实施例所提供的扁平探针的结构示意图。

图4示出本实用新型另一实施例所提供的扁平探针的结构示意图。

图5示出现有扁平探针与测试设备基板电连接导通时的受力变形示意图。

图6示出本实用新型实施例所提供的扁平探针在与测试设备基板电连接导通时的受力变形示意图。

图7示出本实用新型实施例所提供的第二接触部的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。

在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

现有的探针模组中所使用的扁平探针一般只能连接规则对称式样的连接器，且所对应连接的连接器的间距尺寸一般较大，对于更小接口或者不对称设计的B2B连接器检测有局限性，需要增加多种扁平探针的类型及减小扁平探针的厚度。但如果在原有的设计上直接减小扁平探针的厚度会使探针的寿命减少，发生断针等问题。

针对现有技术的缺陷，本实用新型实施例提供一种探针模组，图1为探针模组的结构示意图，图2为探针模组的剖视图。所述探针模组包括扁平探针1以及用于安装扁平探针1的探针固定座2，多个扁平探针1平行间隔插装在探针固定座2中。

如图3所示，各扁平探针均包括弹性部11、第一接触部12和第二接触部13，第一接触部12和第二接触部13分别位于相对应的弹性部11的两端，且各第一接触部12和第二接触部13分别凸出探针固定座2布置。

对于本实用新型实施例所提供的探针模组，由于多个扁平探针1平行间隔插装于探针固定座2中，使得各扁平探针1相互独立，且各第一接触部12和第二接触部13分别位于相对应的弹性部11的两端，且各第一接触部12和第二接触部13分别凸出探针固定座2布置，使得扁平探针1两端分别连接连接器的测试点和测试设备的基板。

在一种实施例中，对应任意相邻的两个所述扁平探针1平行交错布置，这样可以避免相邻扁平探针1的第一接触部12或相邻扁平探针1的第二接触部13布置在一条直线上，从而增大第一接触部12及第二接触部13的布置间距，进而也使得产品和连接器等测试点的间距，降低产品和连接器的加工难度。

在本实施例中，如图2所示，探针固定座2大体呈长方体的形状，包括座体21和限位板22，座体21和限位板22围合形成可容纳扁平探针1的空腔。扁平探针1的第一接触部12上设置有用于与连接器连通的第一接触端120，通过连接器连接产品，以对待测产品进行测试；第二接触部13上设置有用于与测试设备基板电性接触的第二接触端130。当该扁平探针1被收纳于座体21和限位板22围合形成的空腔内部时，该第一接触端120凸出于座体21的表面，第二接触端130凸出于限位板22的表面。相应的，座体21的表面开设有能够允许第一接触端120通过的第一插孔，限位板22的表面开设有能够允许第二接触端130通过的第二插孔，以使扁平探针1能够连通待测产品和测试设备。

在一个具体地实施例中，所述第一接触部12包括沿弹性部11的宽度方向延伸的延伸臂14，所述延伸臂远离第一接触部12的端部包括沿第一方向向上延伸形成的定位部15。如图2所示，在将扁平探针1安装于探针固定座2内时，第一接触部12伸出所述第一插孔，延伸臂14的上表面与探针固定座2腔内顶壁抵接，以对扁平探针1进行限位，固定扁平探针1。所述座体21的表面开设有多个与所述定位部15对应配合的定位插孔210，在将扁平探针1安装于探针固定座2内时，所述定位部15与定位插孔210对应连接。由于多个扁平探针1为平行交错插装，定位部15相当于一种防呆结构，与定位插孔210配合使用，能够实现扁平探针1在探针固定座2内的安装定位，提高扁平探针1的安装精度，同时还能限制扁平探针1在探针固定座2内左右晃动，提高扁平探针1安装的稳定性。

在本实施例中，如图1所示，多个扁平探针1为不对称布置，能够满足对非对称测点连接器的连接测试。在其他的实施例中，多个扁平探针1也可以采用传统的对称布置形式，以满足与对称测点连接器的连接导通。

本实用新型的另一个实施例提供一种扁平探针1，结合图3-7所示，所述扁平探针1包括沿第一方向依次设置的第一接触部12、弹性部11和第二接触部13，利用第一接触部12和第二接触部13的端部分别抵接待测产品测点位置和测试设备，实现对待测产品的测试导通。可以理解的是，在本实施例中，所述第一方向即扁平探针1的长度方向，同时也是扁平探针1的使用方向。所述扁平探针1包括但不限于为呈扁平状的一体成型结构，可简化结构组成及装配工艺，提高电连接件的结构强度，保证连接的有效性，同时提高扁平探针的使用寿命。

在一个实施例中，如图3所示，所述弹性部11呈在第一方向连续的蜿蜒形状，即所述弹性部11能够沿着第一方向伸缩。具体地，所述弹性部11为S型件，在外力作用下，所述S型件下压收缩，在第一方向上，弹性部11的宽度相等。S型件相比C型件或者U型件的变形距离更长，使受力更加均匀，能够增加扁平探针1的使用寿命。在其他实施例中，弹性部11的宽度还可以为规律性变化，如逐渐增加和/或逐渐减小，或间断性增加或减小等，具体不做限制，且弹性部的具体尺寸不做限制。

此外，在弹性部11的宽度方向上包括有贯通孔，该贯通孔在弹性部11的厚度方向上贯通，并且沿着弹性部11的蜿蜒形状而延伸，由此，可提高弹性部11的弹簧特性。可选地，所述贯通孔也可为一条或多条，沿贯通孔延伸方向间断或连续设置。

在一个实施例中，所述第一接触部12形成于弹性部11的一端，并沿第一方向向上延伸。第一接触部12背离弹性部11的端部形成有用于与待测产品电性接触的第一接触端120。第一接触端120通常与待测产品的连接器连接导通，通过连接器实现与待测产品的电连接。

在本实施例中，所述第一接触端120设置为通用型触点结构，能够兼容多种连接器。在其他的实施例中，所述第一接触端120的设置形式可以根据实际情况进行优选，例如设置为波浪形、锯齿形、三角形等多种形式，对此本实施例不做限制。

在一个实施例中，所述第二接触部13位于弹性部11的另一端，且沿第一方向向下延伸，第一接触臂131位于第二接触部13靠近弹性部11端部的一侧，第二接触臂132位于第二接触部13远离弹性部11端部的一侧，结合图3所示，即第二接触臂132位于第一接触臂131的右侧，第二接触臂132位于整个扁平探针1的右侧边缘。

第二接触部13包括沿第二方向排列的第一接触臂131和第二接触臂132，第一接触臂131和第二接触臂132的端部分别形成有用于与测试设备电性接触的第二接触端130。第一接触臂131的第二接触端130与第一接触端120在第一方向上的相对距离小于第二接触臂132的第二接触端130与第一接触端120在第一方向上的相对距离，即在进行压接导通时，第二接触臂132先于第一接触臂131与测试设备基板接触，当扁平探针1的第二接触部13以插接方式插入测试设备基板形成电连接导通时，能够保证第二接触部13的两个第二接触端130均与测试设备保持导通。

本实施例中，在第一方向上，第一接触部12和第二接触部13处于弹性部11的相同侧，相对于图3来说，即第一接触部12和第二接触部13均处于弹性部11的右侧，当然，在其他的实施例中，第一接触部12和第二接触部13在第一方向上也可以为交错设计，对此本实施例不做限制。图5示出现有扁平探针与测试设备基板电连接导通时的受力变形示意图，图6示出本实用新型实施例所提供的扁平探针1在与测试设备基板电连接导通时的受力变形示意图。现有技术中，探针的两个第二接触端底部持平，当探针与测试设备基板4插接时，受到如图5中箭头方向的力发生形变，具体表现为如图5中第二接触部13向左侧倾斜的倾向，导致位于右侧的第二接触端130与测试设备的基板4之间接触不良或无法导通，使得两个第二接触端130中仅有一个能够与测试设备基板4导通，无法保证与测试设备的稳定接触，影响测试效果，尤其当所述第一接触部12与不对称设计连接器连接时，扁平探针1在于测试设备基板压接导通时应力会集中于第二接触部13的一侧，扁平探针1的形变会更加明显，不仅会导致位于右侧的第二接触端130与测试设备的基板4之间接触不良或无法导通，甚至会有接触臂断裂的风险。

对于本实用新型实施例所提供的扁平探针1，第二接触臂132的第二接触端相对低于第一接触臂131的第二接触端，当探针与测试设备的基板4插接时，扁平探针1受到如图6中箭头方向的力而发生变形，具体表现为图6中第二接触部13向左侧倾斜的倾向，由于右侧的第二接触端相对低于左侧的第二接触端，使得两个第二接触端130能够处于同一平面内，即使第一接触部12与不对称设计连接器连接，也能够避免应力集中导致的单点接触或者断针问题，保证第二接触部13的两个第二接触端130能够同时与测试设备的基板4电性接触。

在扁平探针1受力变形时，两个第二接触端130均能够与测试设备的基板导通，第二接触臂132的第二接触端130在与测试设备的基板导通时会发生形变，为保证与测试设备的基板之间电连的稳定性，避免第二接触臂132断裂，本实施例对第二接触臂132的宽度进行增宽设计，使得第二接触臂132的宽度大于第一接触臂131的宽度，均衡受力，增强第二接触部13的稳定性。

具体地，所述第二接触臂132包括本体部1321，本体部1321的底部形成所述第二接触端130。本体部1321的宽度大于第一接触臂131的宽度，从而增强第二接触臂132的刚性，保证与测试设备的基板之间电连的稳定性。

进一步地，如图7所示，第二接触臂132包括本体部1321以及由本体部1321向下收拢的收拢部1322，收拢部1322的底部收拢形成与测试设备基板4点线接触的第二接触端130。本实施例中，本体部1321的宽度大于第一接触臂131的宽度，收拢部1322的宽度不小于第一接触臂131的宽度，从而增强第二接触臂132的刚性，保证与测试设备基板之间电连的稳定性。本领域技术人员可以理解的是，收拢部1322的宽度大于第一接触臂131的宽度，但此处收拢部1322并非包括第二接触端130。

优选地，结合图7所示，所述第二接触臂132靠近第一接触臂131的一侧为直面，背离第一接触臂131的一侧为对应本体部1321的直面以及对应收拢部1322的弧形过渡面，所述弧形过渡面与对应本体部1321的直面平滑过渡，且向下逐渐收拢形成第二接触端130。当扁平探针1的第二接触部13以插接方式插入测试设备的基板4形成电连接导通时，弧形过渡面使得第二接触部13能够更加容易的与测试设备的基板4进行插接，在测试设备的基板4与扁平探针1之间定位存在偏差的情况下，能够对测试设备的基板实现有效导正，以保障连接的稳定性及准确性，提高测试精度。

在弹性部11的宽度方向上包括有贯通孔，该贯通孔在弹性部11的厚度方向上贯通，并且沿着弹性部11的蜿蜒形状而延伸，将弹性部11分隔为第一弹性部111和第二弹性部112，当弹性部11发生弹性变形时，第一弹性部111和第二弹性部112可以改善弹性部11的弹性，有效分散因弹性部11弹性变形所产生的作用力，避免应力集中，避免弹性部11疲劳断裂，提高弹性部11的使用寿命。

本实施例中，第一接触部12由弹性部11的端部向上弯折形成，第二接触部13由弹性部11远离第一接触部12的端部向下弯折形成。具体为第一弹性部111远离第一接触部12的端部向下弯折形成第一接触臂131，第二弹性部112远离第一接触部12的端部向下弯折形成第二接触臂132，且第一接触臂131和第二接触臂132之间存在分隔间隙。

进一步地，第一弹性部111和第二弹性部112之间包括增强结构16，该增强结构16位于弹性部11靠近第二接触部13的位置。增强结构16设置于第一弹性部和第二弹性部之间，沿第一方向延伸，且增强结构16的两端分别与第一弹性部和第二弹性部结合固定。增强结构16能够增强第一接触臂131和第二接触臂132的结构强度，为第一弹性部111和第二弹性部112提供支撑，在扁平探针1受压变形时为第一接触臂131和第二接触臂132提供相反的作用力，避免第一接触臂131和第二接触臂132断裂。

在一个实施例中，如图3所示，所述第二接触部13背离第二接触端130的端部表面包括凹陷结构17，该凹陷结构17为弧形，与弹性部11弯折处的弧度对应配合。该凹陷结构17被配置为在弹性部11受力变形时承接弹性部11。在弹性部11受力变形时，S型的弹性部11上下挤压变形后上下弧段衔接，使得电流接触点呈直线(如图3中箭头方向)传输至第二接触端130，减小电阻值，保证连接的稳定性。

在一个实施例中，如图4所示，所述第一接触部12包括沿弹性部11的宽度方向延伸的延伸臂14。如图2所示，在将扁平探针1安装于探针固定座2内时，第一接触部12伸出所述第一插孔，延伸臂14的上表面与探针固定座2腔内顶壁抵接，以对扁平探针1进行限位，固定扁平探针1。在本实施例中，所述延伸臂14位于所述第一接触部12的左侧。

在更优的实施例中，所述延伸臂14进一步包括定位部15。所述定位部15由延伸臂14远离第一接触部12的端部沿第一方向向上延伸形成，所述探针固定座2的表面开设有与所述定位部15对应配合的定位插孔210，在将扁平探针1安装于探针固定座2内时，所述定位部15插入定位插孔210内，避免扁平探针1在探针固定座2内左右晃动。由于多个扁平探针1为平行交错插装，定位部15相当于一种防呆结构，与定位插孔210配合使用，能够实现扁平探针1在探针固定座2内的安装定位，提高扁平探针1的安装精度，同时还能限制扁平探针1在探针固定座2内左右晃动，提高扁平探针1安装的稳定性。

在本实施例中，所述扁平探针1的厚度明显减小，可以满足小间距的连接器检测使用。

本实用新型实施例所提供的扁平探针及探针模组，通过对扁平探针的底部连接端的结构进行改进，设计第二接触臂的宽度大于第一接触臂的宽度，且第二接触臂的第二接触端低于第一接触臂的第二接触端，可保证扁平探针在受力变形时扁平探针底部的两个第二接触端均与测试设备的基板保持接触，且避免了断针现象的发生，以保障与测试设备的有效接触，提高测试的稳定性及准确性。其次，通过延伸臂实现了扁平探针在探针固定座内的安装定位，提高了扁平探针的安装精度，定位部则进一步实现了扁平探针在交错固定时的定位，且能够限制扁平探针，避免其在探针固定座内左右晃动，影响测试效果。延伸臂和定位部的设计增加了扁平探针安装定位的精度，能够满足非对称测点连接器的连接测试。再者，第二接触部背离第二接触端端部的凹陷结构能够在弹性部受力变形时承接弹性部，使得电流接触点呈直线传输至第二接触端，减小电阻值，保证连接的稳定性。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。

Claims (10)

1.一种扁平探针，其特征在于，所述扁平探针包括：

能够沿第一方向弹性变形的弹性部；

其中，以所述扁平探针的使用方向为第一方向；

位于所述弹性部的一端并沿第一方向向上延伸的第一接触部，所述第一接触部背离弹性部的端部形成用于与待测产品电性接触的第一接触端；

位于所述弹性部的另一端沿第一方向向下延伸的第二接触部，所述第二接触部包括沿第二方向排列的第一接触臂和第二接触臂，所述第一接触臂位于所述第二接触部靠近所述弹性部端部的一侧，所述第二接触臂位于所述第二接触部远离所述弹性部端部的一侧；

所述第一接触臂和第二接触臂的端部分别形成用于与测试设备电性接触的第二接触端；第一方向上，所述第一接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离小于所述第二接触臂的第二接触端与第一接触端在第一方向上的相对距离。

2.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述第二接触臂包括本体部，所述本体部的底部形成所述第二接触端，所述本体部的宽度大于第一接触臂的宽度。

3.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述第二接触臂包括本体部以及由本体部的底部向下收拢的收拢部，所述收拢部的底部收拢形成所述第二接触端；

所述本体部的宽度大于所述第一接触臂的宽度。

4.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述弹性部的宽度方向上包括贯穿孔，该贯穿孔在弹性部的厚度方向上贯通，并沿弹性部的蜿蜒形状延伸，将所述弹性部分隔为第一弹性部和第二弹性部；

所述第一接触臂和第二接触臂分别由第一弹性部和第二弹性部远离第一接触部的端部向下弯折形成。

5.根据权利要求4所述的扁平探针，其特征在于，所述第一弹性部和第二弹性部之间包括增强结构，所述增强结构位于所述弹性部靠近所述第二接触部的位置；

所述增强结构沿第一方向延伸，且两端分别与所述第一弹性部和第二弹性部结合固定。

6.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述第一接触部包括沿所述弹性部的宽度方向延伸的延伸臂，所述延伸臂被配置为在扁平探针被收纳于探针固定座中时与探针固定座的内壁抵接以对扁平探针进行限位。

7.根据权利要求6所述的扁平探针，其特征在于，所述延伸臂远离第一接触部的端部包括沿第一方向向上延伸形成的定位部。

8.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述第二接触部背离第二接触端的端部表面包括凹陷结构，所述凹陷结构为弧形，与弹性部弯折处的弧度对应配合。

9.一种探针模组，其特征在于，所述探针模组包括如权利要求1-8任一项所述的扁平探针以及收纳所述扁平探针的探针固定座，该探针以其第一接触端和第二接触端突出于探针固定座两侧表面的状态收纳于探针固定座中。

10.根据权利要求9所述的探针模组，其特征在于，所述探针固定座包括座体和限位板；

所述第一接触部包括沿所述弹性部的宽度方向延伸的延伸臂，所述延伸臂远离第一接触部的端部包括沿第一方向向上延伸形成的定位部；

所述座体包括与所述定位部对应配合设置的定位插孔。