CN214703879U - 一种毫米波芯片通用测试平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架、下机架、运动模组，上机架所在的上设置触控模组；运动模组具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组上固定有快换模块和微针测试模组，快换模块固定并沿底部的X轴方向上运动，微针测试模组通过底部的线性轴承组合提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组的底部设置弹性组件；下机架上设置有开关矩阵盒、矢量网络分析仪、工控机、plc控制盒，所述plc控制盒控制开关矩阵盒、矢量网络分析仪以及工控机的工作。整个装置通过快换模块在X、Y轴向上的运动，配合微针测试模组在Z轴上的运动，即能实现单板测试又能实现连板测试，大大解决了劳动强度大、以及生产效率低的问题。

Description

一种毫米波芯片通用测试平台

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及一种毫米波芯片通用测试平台。

背景技术

在毫米波天线和半导体行业，电路小型化已成为必然趋势，微小而精密的芯片越来越小，越来越多，测试难度越来越大。微型芯片测试的方式一般采用微针对金面测试点进行连接，为了保证测试可靠性，微针需要和测试点可靠连接，同时力度不能过大导致金面损伤，力度也不能太过小，太小会导致接触不良而造成产品误测，造成重复测试的工时浪费。

然而传统的芯片测试环节，多采用手动夹具的方式进行测试。但是这种手工操作的方式，对芯片的测试稳定性带来一定影响，并且手动夹取的方式极大的增加了劳动强度，导致芯片测试环节测试效率低下。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种毫米波芯片通用测试平台，解决了现有技术中存在的上述技术问题。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架、下机架、运动模组，所述上机架所在的上表面设置显示器以及触控模组；所述运动模组具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组上固定有快换模块和微针测试模组，所述快换模块固定并沿底部的X轴方向上运动，所述微针测试模组通过底部的线性轴承组合提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组的底部设置弹性组件；

所述下机架上设置有开关矩阵盒、矢量网络分析仪、工控机、plc控制盒，所述plc控制盒控制开关矩阵盒、矢量网络分析仪以及工控机的工作。

进一步的，所述上机架所在的顶部设置三色灯。

进一步的，所述上机架所在的框架侧边设置安全光栅。

进一步的，所述微针测试模组沿着Z轴方向运送。

本实用新型的有益效果：

1、本装置解决传统的手动测试一致性稳定性差的问题。解决手动测试劳动强度大，效率低的问题。

2、本装置决同类型产品，因为产品换型而产生的重复设计，重复搭建测试系统而产生的设计工时及材料成本的浪费。

3、解决原有完成测试所需要硬件搭建而成的测试系统占地空间大，杂乱无章的问题。

4、解决微针模组测试稳定性差，微针易损坏的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2是本实用新型实施例的运动模组结构示意图；

图3是本实用新型实施例的微针测试模组结构示意图；

图4是本实用新型实施例的下机架结构示意图；

图5是本实用新型实施例的上机架结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1、图2所示，本实用新型实施例提供一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架1、下机架2、运动模组3，上机架1所在的上表面设置显示器11以及触控模组13；通过触控模组13控制整个装置的运行状态，并且可在显示器11上显示运行状态。通过控制运动模组3具有X、Y、Z三轴运动方向，并在运动模组3上固定有快换模块4和微针测试模组5，快换模块4固定并沿底部的X轴方向上运动，使用高精度直线运动模组，定位精度高，长行程后位置不偏离，测试稳定性好。同时快换模块4位于微针测试模组5的下方，可以进行不同的单板测试，也可以进行连板测试，当测试连板时，可以根据连板的间距沿着X、Y轴向上移动快换模块4即可实现。

如图3所示，微针测试模组5通过底部的线性轴承组合15提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组5的底部设置弹性组件14。弹簧组件14提供弹力、线性轴承组合15提供Z轴所需要的导向精度。不仅可以减少Z轴下压过程中因为俯冲惯性而形成的对芯片产品的冲击，而且能够吸收少量的因为产品定位载板加工和组装产生的平面度偏差。微针测试模组5可以根据实际情况对Z轴的行程进行微调，使得Z轴测试微针即能够达到能达到不损坏产品，还能达到微针所需要的弹力压缩量的行程的要求，使得测试更加稳定可靠。15线性轴承组合提供Z轴所需要的导向精度。

如图4所示，下机架2上设置有开关矩阵盒6、矢量网络分析仪7、工控机8、plc控制盒9，plc控制盒9控制开关矩阵盒6、矢量网络分析仪7以及工控机8的工作。配合自动化模组集成在一起，减少设备硬件占地面积，布局简约。

如图5所示，上机架1所在的顶部设置三色灯10，通过plc控制盒控制，红灯表示设备设备停止运行绿灯表示运行中，黄色表示故障。

上机架1所在的框架侧边设置安全光栅12，同样起到安全警示的作用。

整个装置通过快换模块在X、Y轴向上的运动，配合微针测试模组在Z轴上的运动，即能实现单板测试又能实现连板测试，能够实现测试的一致性，大大解决了劳动强度大、以及生产效率低的问题。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (4)

1.一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架(1)、下机架(2)、运动模组(3)，其特征在于，所述上机架(1)所在的上表面设置显示器(11)以及触控模组(13)；所述运动模组(3)具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组(3)上固定有快换模块(4)和微针测试模组(5)，所述快换模块(4)固定并沿底部的X轴方向上运动，所述微针测试模组(5)通过底部的线性轴承组合(15)提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组(5)的底部设置弹性组件(14)；

所述下机架(2)上设置有开关矩阵盒(6)、矢量网络分析仪(7)、工控机(8)、plc控制盒(9)，所述plc控制盒(9)控制开关矩阵盒(6)、矢量网络分析仪(7)以及工控机(8)的工作。

2.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述上机架(1)所在的顶部设置三色灯(10)。

3.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述上机架(1)所在的框架侧边设置安全光栅(12)。

4.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述微针测试模组(5)沿着Z轴方向运送。

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