CN214537888U - 一种平面度检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及移动终端技术领域,公开了一种平面度检测装置,该平面度检测装置包括支架;设置于支架上的卡托定位治具,卡托定位治具设有多个定位部,每个定位部用于为一个待检测卡托定位;升降组件以及与各定位部一一对应的可伸缩探针组,各可伸缩探针组能够在升降组件的带动下升降,以对相应的定位部中的卡托的平面度进行检测。该平面度检测装置改善了现有技术中,人工检测卡托平面度,检测效率低,且容易出现漏检的问题。

Description

一种平面度检测装置
技术领域
本实用新型涉及移动终端技术领域,特别涉及一种平面度检测装置。
背景技术
卡托是手机中用于放置手机卡的部件,其加工成型后要经过平面度检测等工序,以剔除不良品。
现有技术中,主要是人工检测卡托平面度,存在的问题在于:检测效率低,且检测岗位工作人员工作量大,容易出现漏检现象,以致不良品流入生产线,造成手机中卡托插拔困难的问题,影响手机的品质。
实用新型内容
本实用新型提供了一种平面度检测装置,用于改善现有技术中,人工检测卡托平面度,检测效率低,且容易出现漏检的问题。
为达到上述目的,本实用新型提供以下技术方案:
一种平面度检测装置,包括:
支架;
设置于所述支架上的卡托定位治具,所述卡托定位治具设有多个定位部,每个所述定位部用于为一个待检测卡托定位;
升降组件以及与各所述定位部一一对应的可伸缩探针组,各所述可伸缩探针组能够在所述升降组件的带动下升降,以对相应的所述定位部中的卡托的平面度进行检测。
本实用新型提供的平面度检测装置,在支架上设有卡托定位治具,卡托定位治具设有多个定位部,每个定位部能够用于为一个待检测卡托定位。可伸缩探针组与各定位部一一对应,且各可伸缩探针组能够在升降组件的带动下升降,以对相应的定位部中的卡托的平面度进行检测。使得本实用新型提供的平面度检测装置能够同时检测多个卡托的平面度,不但检测效率显著提高,而且能够降低漏检的风险,甚至避免漏检的情况出现。
可选地,所述定位部包括定位槽。
可选地,多个所述定位槽在所述卡托定位治具上阵列排布。
可选地,所述定位槽包括预定位槽和位于所述预定位槽中的卡托帽定位槽,其中,所述预定位槽用于对卡托的外形进行预定位。
可选地,所述预定位槽中设有至少两个限位凸起,两个所述限位凸起分布于所述卡托相对的两侧,用于为所述卡托限位。
可选地,所述可伸缩探针组包括并行设置的两行可伸缩探针,两行所述可伸缩探针用于卡托上与卡托帽相邻的两条边的平面度的检测。
可选地,所述可伸缩探针组包括至少一行用于检测卡托上延伸方向与卡托帽的延伸方向平行的部位的可伸缩探针。
可选地,平面度检测装置包括托盘定位治具,所述托盘定位治具用于为盛装有多个待检测卡托的托盘定位;
所述卡托定位治具能够与所述托盘定位治具压合,并在外力的作用下使所述托盘中的各卡托落入对应的定位槽中。
可选地,平面度检测装置包括翻转机构,所述翻转机构与所述卡托定位治具和/或所述托盘定位治具连接,用于将压合后的所述卡托定位治具和托盘定位治具翻转180°,以使所述托盘中的各卡托落入对应的定位部中。
可选地,平面度检测装置包括控制单元和显示屏,所述显示屏和各所述可伸缩探针组均与所述控制单元连接,以使所述显示屏能够显示检测结果。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的平面度检测装置的结构示意图(部分结构未示出);
图2为本实用新型实施例提供的平面度检测装置的局部结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的平面度检测装置的局部结构示意图;
图4为本实用新型实施例提供的一种平面度检测装置检测卡托平面度的方法流程图。
图标:1-卡托定位治具;2-定位部;21-定位槽;211-预定位槽;212-卡托帽定位槽;213-限位凸起;3-可伸缩探针组;4-托盘。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1和图2所示,本实施例提供的平面度检测装置包括:
支架;
设置于支架上的卡托定位治具1,卡托定位治具1设有多个定位部2,每个定位部2用于为一个待检测卡托定位;
升降组件以及与各定位部2一一对应的可伸缩探针组3,各可伸缩探针组3能够在升降组件的带动下升降,以对相应的定位部2中的卡托的平面度进行检测。
本实施例提供的平面度检测装置,在支架上设有卡托定位治具1,卡托定位治具1设有多个定位部2,每个定位部2能够用于为一个待检测卡托定位。可伸缩探针组3与各定位部2一一对应,且各可伸缩探针组3能够在升降组件的带动下升降,以对相应的定位部2中的卡托的平面度进行检测。使得本实施例提供的平面度检测装置能够同时检测多个卡托的平面度,不但检测效率显著提高,而且能够降低漏检的风险,甚至避免漏检的情况出现。
一种可选的实现方式中,定位部2可以包括定位槽21。卡托通常包括本体和设置于本体一侧的卡托帽,具体设置上述定位槽21时,如图3所示,定位槽21可以包括预定位槽211和位于预定位槽211中的卡托帽定位槽212,其中,预定位槽211用于对卡托的外形进行预定位。
定位槽21包括预定位槽211和位于预定位槽211中的卡托帽定位槽212,预定位槽211和卡托帽定位槽212的组合使用,有利于提高卡托在治具中的定位精度。
为了进一步提高卡托在治具中的位置精度,从而提高卡托平面度检测的准确性,一种可选的实现方式中,预定位槽211中设有至少两个限位凸起213,两个限位凸起213分布于卡托相对的两侧,用于为卡托限位。
一种可选的实现方式中,多个定位槽21在卡托定位治具1上阵列排布,以便于卡托数量的核对,此外,对卡托所在区域进行划分,使得感应器能够将平面度超差的卡托的位置以数字的形式显示在下文提及的显示屏上,有利于提高平面度检测装置的自动化程度。
卡托的本体通常为框形,检测卡托平面度时主要是检测卡托上与卡托帽相邻的两条边的平面度,因而,具体设置上述可伸缩探针组3时,可伸缩探针组3可以包括并行设置的两行可伸缩探针,两行可伸缩探针用于卡托上与卡托帽相邻的两条边的平面度的检测。
另一种实现方式中,可伸缩探针组3包括至少一行用于检测卡托上延伸方向与卡托帽的延伸方向平行的部位的可伸缩探针,以实现对卡托平面度更全面的检测。
一种可选的实现方式中,平面度检测装置包括托盘定位治具,托盘定位治具用于为盛装有多个待检测卡托的托盘4定位。卡托定位治具1能够与托盘定位治具压合,并在外力的作用下使托盘4中的各卡托落入对应的定位槽21中,以进行平面度检测。显然,检测完成后,托盘定位治具能够与卡托定位治具1压合,并在外力的作用下使定位槽21中的各卡托落入托盘4中的对应位置。
现有技术中,手工检测卡托平面度时,会先将卡托打乱顺序,逐个的通过平面度检测治具进行检测,检验完成后再重新将打乱的卡托放入托盘4中。本申请提供的平面度检测装置中,检测前,卡托定位治具1与托盘定位治具压合,并在外力的作用下使托盘4中的各卡托落入对应的定位槽21中;检测后,卡托定位治具1与托盘定位治具压合,并在外力的作用下使各定位槽21中的卡托落入托盘4的对应位置,在实现托盘4中卡托同时检测的同时,检测后也无需再逐个重新装盘,简化了卡托平面度检测的步骤,有利于提高卡托平面度的检测效率。
具体地,托盘4的两边有通孔,卡托定位治具1上设有用于与托盘4上的通孔配合的定位柱,卡托定位治具1上的定位柱与托盘4上的通孔一一对应,以实现托盘4在卡托定位治具1上的定位,从而使得托盘4中的整盘卡托均能够准确落入对应的治具槽内。
进一步地,可以是平面度检测装置包括翻转机构,翻转机构与卡托定位治具1和/或托盘定位治具连接,以将压合后的卡托定位治具1和托盘定位治具翻转180°,以在检测前,使托盘4中的各卡托落入对应的定位部2中,在检测后,使各定位槽21中的卡托落入托盘4的对应位置。
此时,定位槽21作为卡托定位治具1上用于为一个待检测卡托定位的定位部2,不但能够为相应的待检测卡托定位,还能够为卡托由托盘4落入卡托定位治具1的过程进行导向,有利于保证卡托在卡托定位治具1中位置的准确性。
平面度检测装置还包括继电器、气阀和控制面板等,以实现翻转机构以及升降组件的运动。
一种可选的实现方式中,平面度检测装置包括控制单元和显示屏,显示屏和各可伸缩探针组3均与控制单元连接,以使显示屏能够显示检测结果。
各可伸缩探针内部均装有弹簧,当卡托平面度不超差时,该卡托对应的可伸缩探针组中的各可伸缩探针受弹簧弹力作用不动,与各自的弹片不接触,对应的电路不导通;当卡托平面度超差时,该卡托对应的可伸缩探针组中会有可伸缩探针的底端与卡托接触,进而通过弹簧带动上部接触弹片,使对应的电路导通,显示屏会以数字的形式显示该超差的卡托的位置,以便于后续不良品取出。
如图4所示,本实施例提供的一种平面度检测装置检测卡托平面度的方法可以如下:
步骤S1、将装有多个卡托的托盘4放在支架的承载台上;
步骤S2、使卡托定位治具1压合于承载台上的托盘4上;
步骤S3、将压合后的承载台及卡托定位治具1旋转180°,使卡托分别落入卡托定位治具1上对应的定位槽21中;
步骤S4、使承载台向背离卡托定位治具1的方向移动,然后取走托盘4;
步骤S5、按下装置的启动按钮,使各可伸缩探针组3下降设定距离,以进行卡托的平面度检测;
如果没有卡托的平面度超差,各可伸缩探针组中的可伸缩式探针均不会与相应的卡托接触,可伸缩式探针不会碰触到自身内部的接触式弹片,电路不会接通,显示屏会显示OK。
如果存在平面度超差的卡托,则与平面度超差的卡托对应的可伸缩探针组3中会有可伸缩探针与卡托有接触,与卡托接触的可伸缩探针会与其自身内部的弹片接触,对应的电路会导通,平面度超差的卡托的位置会以数字的形式显示在显示屏上,同时,显示屏上会显示平面度超差的卡托的数量,例如:当多个定位槽21在所述卡托定位治具1上阵列排布(即多个卡托在托盘4上阵列排布时),显示屏上显示平面度超差的卡托在托盘4上所处的行数和列数。
步骤S6、检测完成后,可伸缩探针组3复位;
步骤S7、将托盘4放入卡托定位治具1上,并使承载台压合于卡托定位治具1上的托盘4上;
步骤S8、通过翻转机构将压合的承载台及卡托定位治具1翻转180°,使整盘卡托装回托盘4。如果不存在平面度超差的卡托,则执行步骤S9;如果存在平面度超差的卡托,则执行步骤S10。
步骤S9、取走整盘卡托;
步骤S10、取走整盘卡托,并根据显示屏上显示的位置区域,将平面度超差的卡托从托盘上取出。
检测结果的电路逻辑:当可伸缩探针组中的可伸缩探针均未与各自的弹片接触时,电路不接通,显示屏显示OK;当某可伸缩探针与其自身的弹片接触时,该可伸缩探针所在的电路导通,信号会传送到显示屏,显示屏上会显示对应该卡托位置的数字代号。
一种可选的实现方式中,步骤S5具体包括:
步骤S51、按下装置的启动按钮,可伸缩探针组3下降至基准面,显示屏上的读数清零;
步骤S52、可伸缩探针组3继续下降预设距离,以进行卡托的平面度检测。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种平面度检测装置,其特征在于,包括:
支架;
设置于所述支架上的卡托定位治具,所述卡托定位治具设有多个定位部,每个所述定位部用于为一个待检测卡托定位;
升降组件以及与各所述定位部一一对应的可伸缩探针组,各所述可伸缩探针组能够在所述升降组件的带动下升降,以对相应的所述定位部中的卡托的平面度进行检测。
2.根据权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,所述定位部包括定位槽。
3.根据权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于,多个所述定位槽在所述卡托定位治具上阵列排布。
4.根据权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于,所述定位槽包括预定位槽和位于所述预定位槽中的卡托帽定位槽,其中,所述预定位槽用于对卡托的外形进行预定位。
5.根据权利要求4所述的平面度检测装置,其特征在于,所述预定位槽中设有至少两个限位凸起,两个所述限位凸起分布于所述卡托相对的两侧,用于为所述卡托限位。
6.根据权利要求1-5任一项所述的平面度检测装置,其特征在于,所述可伸缩探针组包括并行设置的两行可伸缩探针,两行所述可伸缩探针用于卡托上与卡托帽相邻的两条边的平面度的检测。
7.根据权利要求6所述的平面度检测装置,其特征在于,所述可伸缩探针组包括至少一行用于检测卡托上延伸方向与卡托帽的延伸方向平行的部位的可伸缩探针。
8.根据权利要求1-5任一项所述的平面度检测装置,其特征在于,包括托盘定位治具,所述托盘定位治具用于为盛装有多个待检测卡托的托盘定位;
所述卡托定位治具能够与所述托盘定位治具压合,并在外力的作用下使所述托盘中的各卡托落入对应的定位槽中。
9.根据权利要求8所述的平面度检测装置,其特征在于,包括翻转机构,所述翻转机构与所述卡托定位治具和/或所述托盘定位治具连接,用于将压合后的所述卡托定位治具和托盘定位治具翻转180°,以使所述托盘中的各卡托落入对应的定位部中。
10.根据权利要求9所述的平面度检测装置,其特征在于,包括控制单元和显示屏,所述显示屏和各所述可伸缩探针组均与所述控制单元连接,以使所述显示屏能够显示检测结果。
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