CN214503810U - 一种集成电子器件的半导体测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种集成电子器件的半导体测量装置，包括支撑台，支撑腿，报警器，测量器，传送辊，检测电脑，传送辊一，检测台，除尘箱，不良箱和鼠标台，其中：支撑腿设置在支撑台的底面；所述报警器设置在支撑台的表面，且支撑台通过数据线与检测电脑进行连接。本实用新型支撑台，传送辊和检测台的设置，在使用时，能够便于对半导体进行有效的测量，同时能够对半导体的表面进行清理，以及能够对单独的半导体元器件进行检测，具有较高灵活性，便于市场推广和应用。

Description

一种集成电子器件的半导体测量装置

技术领域

本实用新型为半导体检测领域，尤其涉及一种集成电子器件的半导体测量装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路发明者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。但是现有的集成电子器件的半导体测量装置依然存在着不便于对半导体进行测量，不便于对半导体的表面进行清理，灵活性较差的问题。

因此，发明一种集成电子器件的半导体测量装置显得非常必要。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种集成电子器件的半导体测量装置，以解决现有的集成电子器件的半导体测量装置依然存在着不便于对半导体进行测量，不便于对半导体的表面进行清理，灵活性较差的问题。一种集成电子器件的半导体测量装置，包括支撑台，支撑腿，报警器，测量器，传送辊，检测电脑，传送辊一，检测台，除尘箱，不良箱和鼠标台，其中：支撑腿设置在支撑台的底面；所述报警器设置在支撑台的表面，且支撑台通过数据线与检测电脑进行连接；所述测量器设置在支撑台表面一侧的中间，且测量器在报警器与检测电脑之间；所述传送辊呈对称的位置设置有多个，且传送辊通过皮带与电机进行连接；

所述检测电脑设置在支撑台的表面；所述传送辊一呈对称的位置设置有多个，且传送辊一通过皮带与电机进行连接；所述检测台设置在支撑台表面的中间，且检测台在测量器的正下方；所述除尘箱设置在支撑台底面的中间，且除尘箱的内部设置有吸尘器；所述不良箱和鼠标台设置在支撑台表面的一侧。

所述传送辊包括转轴，防静电棍和清扫柱，且防静电棍嵌套在转轴的表面；所述清扫柱呈阵列式设置在防静电棍的表面，且清扫柱的顶端为锥台状；所述传送辊与传送辊一组成结构相同，有利于在使用时，能够对半导体板的表面进行清理，锥台状的设置，能够使其清扫的更加细致；同时能够防止静电对半导体表面携带的电子器件造成损坏，同时能够配合支撑台的设置，把清理下来的灰尘，杂质吸附到除尘箱的内部进行储存。

所述检测台包括内螺纹孔，定位板和测量柱，且内螺纹孔呈阵列式设置在检测台的表面；所述定位板设置在检测台表面一侧的中间；所述测量柱通过螺纹嵌套在内螺纹孔的内部，有利于对半导体板进行支撑，同时能够对半导体表面携带的电子器件进行检测。

所述测量柱包括柱体，通孔，数据线接头和感触槽，且通孔设置在感触槽内部的中间；所述数据线接头设置在柱体底端的中间，且数据线接头的内部通过数据线与感触槽的内部进行连接，该数据线接头的底端通过数据线与检测电脑进行连接；所述感触槽设置在柱体的顶端；所述测量柱共设置有两个，有利于在使用时，能够调整两个测量柱之间的距离，以便对多种不同的半导体器件以及电子元件进行检测。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1.本实用新型传送辊的设置，有利于在使用时，能够对半导体板的表面进行清理，锥台状的设置，能够使其清扫的更加细致；同时能够防止静电对半导体表面携带的电子器件造成损坏，同时能够配合支撑台的设置，把清理下来的灰尘，杂质吸附到除尘箱的内部进行储存。

2.本实用新型检测台的设置，有利于对半导体板进行支撑，同时能够对半导体表面携带的电子器件进行检测。

3.本实用新型测量柱的设置，有利于在使用时，能够调整两个测量柱之间的距离，以便对多种不同的半导体器件以及电子元件进行检测。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的传送辊结构示意图。

图3是本实用新型的检测台结构示意图。

图4是本实用新型的测量柱结构示意图。

图中：

1-支撑台，2-支撑腿，3-报警器，4-测量器，5-传送辊，51-转轴，52-防静电棍，53-清扫柱，6-检测电脑，7-传送辊一，8-检测台，81-内螺纹孔，82-定位板，83-测量柱，831-柱体，832-通孔，833-数据线接头，834-感触槽，9-除尘箱，10-不良箱，11-鼠标台。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

在实施例的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以下结合附图对本实用新型做进一步描述：

实施例：

如附图1至附图4所示

本实用新型提供一种集成电子器件的半导体测量装置，包括支撑台1，支撑腿2，报警器3，测量器4，传送辊5，检测电脑6，传送辊一7，检测台8，除尘箱9，不良箱10和鼠标台11，其中：支撑腿2设置在支撑台1的底面；报警器3设置在支撑台1的表面，且支撑台1通过数据线与检测电脑6进行连接；测量器4设置在支撑台1表面一侧的中间，且测量器4在报警器3与检测电脑6之间；传送辊5呈对称的位置设置有多个，且传送辊5通过皮带与电机进行连接；

检测电脑6设置在支撑台1的表面；传送辊一7呈对称的位置设置有多个，且传送辊一7通过皮带与电机进行连接；检测台8设置在支撑台1表面的中间，且检测台8在测量器4的正下方；除尘箱9设置在支撑台1底面的中间，且除尘箱9的内部设置有吸尘器；不良箱10和鼠标台11设置在支撑台1表面的一侧。

需要说明的是，传送辊5包括转轴51，防静电棍52和清扫柱53，且防静电棍52嵌套在转轴51的表面；清扫柱53呈阵列式设置在防静电棍52的表面，且清扫柱53的顶端为锥台状；传送辊5与传送辊一7组成结构相同；检测台8包括内螺纹孔81，定位板82和测量柱83，且内螺纹孔81呈阵列式设置在检测台8的表面；定位板82设置在检测台8表面一侧的中间；测量柱83通过螺纹嵌套在内螺纹孔81的内部；测量柱83包括柱体831，通孔832，数据线接头833和感触槽834，且通孔832设置在感触槽834内部的中间；数据线接头833设置在柱体831底端的中间，且数据线接头833的内部通过数据线与感触槽834的内部进行连接，该数据线接头833的底端通过数据线与检测电脑6进行连接；感触槽834设置在柱体831的顶端。

本实用新型中，在使用时，把上流需要测量的集成电子器件的半导体放到传送辊5的表面，这时传送辊5在电机带动下，通过清扫柱53会对集成电子器件的半导体的焊点或者集成电子器件的半导体板面进行清理，清理下来的灰尘以及锡渣会掉落到支撑台1的表面，最终通过支撑台1表面的漏孔，被吸附到除尘箱9的内部；清扫玩的测量的集成电子器件的半导体，即可放置到检测台8的表面进行检测，如果是良品报警器3不会报警，如果不是良品报警器3便会报警，然后把良品放到传送辊一7进行下流即可，不良品放置到不良箱10的内部进行暂存，进行集中处理即可；如果需要对半导体元器件进行测量，即可根据半导体元器件的引脚距离调整两根测量柱83之间的距离即可，调整时，只需要操作者从检测台8的空腔中，拆卸两根测量柱83，把其放置到所需的位置即可，然后把半导体元器件两根引脚的焊点插入到感触槽834的内部即可进行检测。

利用本实用新型所述技术方案，或本领域的技术人员在本实用新型技术方案的启发下，设计出类似的技术方案，而达到上述技术效果的，均是落入本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种集成电子器件的半导体测量装置，其特征在于：包括支撑台(1)，支撑腿(2)，报警器(3)，测量器(4)，传送辊(5)，检测电脑(6)，传送辊一(7)，检测台(8)，除尘箱(9)，不良箱(10)和鼠标台(11)，其中：支撑腿(2)设置在支撑台(1)的底面；所述报警器(3)设置在支撑台(1)的表面，且支撑台(1)通过数据线与检测电脑(6)进行连接；所述测量器(4)设置在支撑台(1)表面一侧的中间，且测量器(4)在报警器(3)与检测电脑(6)之间；所述传送辊(5)呈对称的位置设置有多个，且传送辊(5)通过皮带与电机进行连接；

所述检测电脑(6)设置在支撑台(1)的表面；所述传送辊一(7)呈对称的位置设置有多个，且传送辊一(7)通过皮带与电机进行连接；所述检测台(8)设置在支撑台(1)表面的中间，且检测台(8)在测量器(4)的正下方；所述除尘箱(9)设置在支撑台(1)底面的中间，且除尘箱(9)的内部设置有吸尘器；所述不良箱(10)和鼠标台(11)设置在支撑台(1)表面的一侧。

2.如权利要求1所述的一种集成电子器件的半导体测量装置，其特征在于：所述支撑台(1)的表面设置有多个漏孔，且漏孔呈对称的位置设置在支撑台(1)的表面，并且漏孔在传送辊(5)和传送辊一(7)的正下方；该漏孔通过软管与除尘箱(9)内部的吸尘器进行连接。

3.如权利要求1所述的一种集成电子器件的半导体测量装置，其特征在于：所述传送辊(5)包括转轴(51)，防静电棍(52)和清扫柱(53)，且防静电棍(52)嵌套在转轴(51)的表面；所述清扫柱(53)呈阵列式设置在防静电棍(52)的表面，且清扫柱(53)的顶端为锥台状；所述传送辊(5)与传送辊一(7)组成结构相同。

4.如权利要求1所述的一种集成电子器件的半导体测量装置，其特征在于：所述检测台(8)包括内螺纹孔(81)，定位板(82)和测量柱(83)，且内螺纹孔(81)呈阵列式设置在检测台(8)的表面；所述定位板(82)设置在检测台(8)表面一侧的中间；所述测量柱(83)通过螺纹嵌套在内螺纹孔(81)的内部；所述检测台(8)内部的中间为空腔状。

5.如权利要求4所述的一种集成电子器件的半导体测量装置，其特征在于：所述测量柱(83)包括柱体(831)，通孔(832)，数据线接头(833)和感触槽(834)，且通孔(832)设置在感触槽(834)内部的中间；所述数据线接头(833)设置在柱体(831)底端的中间，且数据线接头(833)的内部通过数据线与感触槽(834)的内部进行连接，该数据线接头(833)的底端通过数据线与检测电脑(6)进行连接；所述感触槽(834)设置在柱体(831)的顶端；所述测量柱(83)共设置有两个。

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