CN214377683U - 一种固态硬盘的测试装置与测试系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 170
- 239000007787 solid Substances 0.000 title claims abstract description 123
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000011031 large-scale manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000013522 software testing Methods 0.000 abstract description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型适用于固态硬盘领域，提供了一种固态硬盘的测试装置与测试系统，其包括：PCI‑E测试接口拓展组件以及与PCI‑E测试接口拓展组件连接的多个固态硬盘接入器件，PCI‑E测试接口拓展组件包括至少两个一拓多PCI‑E拓展板，且一拓多PCI‑E拓展板拓展的PCI‑E测试接口至少为4个，每个固态硬盘接入器件分别与一拓多PCI‑E拓展板的每个PCI‑E测试接口对应连接。本实用新型中，通过设置PCI‑E测试接口拓展组件与多个固态硬盘接入器件，实现对PCI‑E测试接口的有效拓展和转化，得到至少8个以上的PCI‑E测试接口，以进一步地实现对至少8个以上的固态硬盘的有效测试，有效地提升了可进行测试的固态硬盘的数量，可有效地提升对固态硬盘的测试效率与生产效率，有利于固态硬盘的大规模生产。
Description
技术领域
本实用新型属于固态硬盘技术领域，尤其涉及一种固态硬盘的测试装置与测试系统。
背景技术
固态硬盘(Solid State Disk或baiSolid State Drive，SSD)，也称作电子硬盘或者固态电子盘，是由控制单元和固态存储单元(DRAM或FLASH芯片)组成的硬盘，其内部结构一般由PCB板，以及设置在PCB板上的控制芯片与闪存芯片构成。
一般地，在固态硬盘领域中，在固态硬盘出厂前需要对其进行机内测试(Built InTest，BIT)，以检测固态硬盘的性能。而一般的计算机可能会由于自身与固态硬盘适配的数据接口的数量限制，只能同时测试较少数量的固态硬盘，如仅可同时测试3个甚至更少的数量，导致测试效率较为低下，进而影响固态硬盘的生产效率，不利于固态硬盘的大规模生产。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种固态硬盘的测试装置与测试系统，旨在解决现有的固态硬盘的测试效率低下的技术问题。
本实用新型实施例是这样实现的，一种固态硬盘的测试装置，包括：
PCI-E测试接口拓展组件，所述PCI-E测试接口拓展组件包括至少两个一拓多PCI-E拓展板，且所述一拓多PCI-E拓展板拓展的PCI-E测试接口至少为4个；以及
与所述PCI-E测试接口拓展组件连接的多个固态硬盘接入器件，每个所述固态硬盘接入器件分别与所述一拓多PCI-E拓展板的每个PCI-E测试接口对应连接。
更进一步地，所述固态硬盘的测试装置还包括转接板，所述一拓多PCI-E拓展板插设于所述转接板上。
更进一步地，所述转接板与外部测试终端之间通过PCI-E延长线连接。
更进一步地，所述固态硬盘的测试装置还包括承载结构，所述承载结构包括底板和自所述底板的一边缘向上延伸形成的侧板，所述转接板设置于所述底板上，所述固态硬盘接入器件固定于所述侧板上。
更进一步地，所述一拓多PCI-E拓展板的PCI-E测试接口与所述固态硬盘接入器件之间通过PCI-E延长线连接。
更进一步地，所述一拓多PCI-E拓展板至少包括一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板中的一种。
本实用新型还提供了一种固态硬盘的测试系统，其包括：
测试终端；
电源装置；以及
如上述所述的固态硬盘的测试装置，所述测试终端与所述PCI-E测试接口拓展组件连接，所述电源装置与所述固态硬盘接入器件连接。
本实用新型实施例的有益效果是，通过设置PCI-E测试接口拓展组件和与PCI-E测试接口拓展组件连接的多个固态硬盘接入器件，实现对PCI-E测试接口的有效拓展和转化，能够得到至少8个以上的PCI-E测试接口，固态硬盘插设于固态硬盘接入器件上，通过PCI-E测试接口拓展组件进行后续的机内测试，可实现对至少8个以上的固态硬盘的有效测试，有效地提升了可进行测试的固态硬盘的数量，可有效地提升对固态硬盘的测试效率与生产效率，有利于固态硬盘的大规模生产。
附图说明
图1为本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置的立体示意图；
图2为本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置的另一立体示意图；
图3为本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置的又一立体示意图；
图4为本实用新型实施例的固态硬盘的测试系统的立体示意图；
图5为本实用新型实施例的固态硬盘的测试系统的另一立体示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
现有技术中，在对固态硬盘进行BIT测试时，由于计算机中与固态硬盘适配的数据接口的数量限制，因此只能同时测试较少数量的固态硬盘，导致测试效率较为低下，进而影响固态硬盘的生产效率，不利于固态硬盘的大规模生产。
本实用新型通过设置至少两个一拓多PCI-E拓展板拓展出至少8个PCI-E测试接口，增加了所测试的固态硬盘的数量，进一步地提升了对固态硬盘的测试效率。
实施例一
请参阅图1至图3，本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置10包括PCI-E测试接口拓展组件11以及与PCI-E测试接口拓展组件11连接的多个固态硬盘接入器件12。PCI-E测试接口拓展组件11包括至少两个一拓多PCI-E拓展板111，且一拓多PCI-E拓展板111拓展的PCI-E测试接口至少为4个。每个固态硬盘接入器件12与一拓多PCI-E拓展板111的每个PCI-E测试接口对应连接。
本实用新型的固态硬盘的测试装置10中，通过设置PCI-E测试接口拓展组件11和与PCI-E测试接口拓展组件11连接的多个固态硬盘接入器件12，实现对PCI-E测试接口的有效拓展和转化，固态硬盘插设于固态硬盘接入器件12上，通过PCI-E测试接口拓展组件11进行后续的机内测试，可实现对至少8个以上的固态硬盘的有效测试，在实际应用时，可根据实际需求设置与选择一拓多PCI-E拓展板111与PCI-E测试接口的数量，以对应地提升可进行测试的固态硬盘的数量，有效地提升对固态硬盘的测试效率与生产效率，有利于固态硬盘的大规模生产。
示例性地，在本实用新型实施例中，上述固态硬盘可以为M.2PCI-E固态硬盘，即上述测试装置10用于测试M.2PCI-E固态硬盘，下文中以M.2PCI-E固态硬盘为例进行说明。当然，在其他实施例中，测试装置10还可以用于测试其他型号的固态硬盘，在此不做具体限制。
具体地，一拓多PCI-E拓展板111为PCI-EXn拓展板，n＝8/16/32等，一拓多PCI-E拓展板111自身具备一个PCI-E测试接口，并且还可拓展出多个PCI-E测试接口，在本实用新型实施例中，上述多个PCI-E测试接口为4个以上，即PCI-E测试接口拓展组件11至少包括10个PCI-E测试接口，通过PCI-E测试接口拓展组件11的至少10个PCI-E测试接口与多个固态硬盘接入器件12连接，而固态硬盘接入器件12与M.2PCI-E固态硬盘连接，如此，测试装置10可同时测试至少10个M.2PCI-E固态硬盘，有效地提升了可测试的M.2PCI-E固态硬盘的数量。
并且，进一步地，在实际的操作中还可根据不同的测试需求，选择不同数量的一拓多PCI-E拓展板111组成PCI-E测试接口拓展组件11。
示例性地，当对M.2PCI-E固态硬盘的测试数量要求不高时，可选择两个一拓多PCI-E拓展板111组合在一起组成PCI-E测试接口拓展组件11，一拓多PCI-E拓展板111拓展出的PCI-E测试接口的数量可以为4个，如此，PCI-E测试接口拓展组件11可对10个M.2PCI-E固态硬盘进行测试；
又例如，当对M.2PCI-E固态硬盘的测试数量要求较高时，可选择两个或两个以上的一拓多PCI-E拓展板111组合在一起组成PCI-E测试接口拓展组件11，一拓多PCI-E拓展板111拓展出的PCI-E测试接口的数量可以为4个或8个，如此，PCI-E测试接口拓展组件11可对10个、14个或18个及以上数量的M.2PCI-E固态硬盘进行测试。
在一个实施例中，固态硬盘接入器件12可以为与M.2PCI-E固态硬盘适配的数据接头/插头，以实现M.2PCI-E固态硬盘与测试装置10之间的连接。
更进一步地，请继续参阅图1至图3，在本实用新型实施例中，测试装置10还包括转接板13，一拓多PCI-E拓展板111插设于转接板13上。
具体地，转接板13可以为设有相关电路的、具备数据转接作用的转接电路板，转接板13上开设有与一拓多PCI-E拓展板111数量相等的数据插口131，一拓多PCI-E拓展板111插设于转接板13上，使得自身的输出接口与转接板13的数据插口131连接，如此，转接板13在稳定地设置一拓多PCI-E拓展板111的同时，还可将一拓多PCI-E拓展板111转接后与其他元部件(如测试终端20)连接，结构简单有效，便于操作。
更进一步地，在本实用新型实施例中，一拓多PCI-E拓展板111至少包括一拓四PCI-E拓展板和一拓八PCI-E拓展板中的一种。
具体地，一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板所拓展出的测试接口的数量足够的多，当两者组合使用时，如PCI-E测试接口拓展组件11包含一个一拓四PCI-E拓展板与一个一拓八PCI-E拓展板时，上述两者可各拓展出4个测试接口与8个测试接口，再加上一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板本身即带有的各1个测试接口，总共提供14个测试接口。
相比于原本仅3个测试接口的现有技术，较大地提升了测试接口的数量，有效地提升了对M.2PCI-E固态硬盘的测试效率，并且一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板的价格也较为适中，在满足了足够数量的测试接口的同时，也较好地控制了测试装置10的硬件成本。
当然，一拓多PCI-E拓展板111也并不仅限于上述的一拓四PCI-E拓展板和一拓八PCI-E拓展板，还可包括可拓展出更多测试接口的PCI-E拓展板，如一拓十六PCI-E拓展板，甚至是一拓三十二PCI-E拓展板，在实际的实施例中进行选择即可。
在一个实施例中，一拓四PCI-E拓展板为PCI-EX8拓展板，一拓八PCI-E拓展板为PCI-EX16拓展板，可满足较快的数据传输速度与较稳定的数据传输进程。
更进一步地，在本实用新型实施例中，一拓多PCI-E拓展板111的PCI-E测试接口与固态硬盘接入器件12之间通过PCI-E延长线15连接。
可以理解，为保证数据的正常传输，需要选用与一拓多PCI-E拓展板111以及PCI-E通道适配的数据线进行通信，因此，本实用新型实施例中选用PCI-E延长线15连接固态硬盘接入器件12与PCI-E测试接口，以保证测试装置10的测试进程正常运行，PCI-E延长线15易于获取，价格适中，可降低测试装置10的成本。
更多地，测试终端20与转接板13之间也通过PCI-E延长线15连接，示例性地，若选择的是一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板，则通过PCI-E延长线15分别连接一拓四PCI-E拓展板与测试终端20的PCI-E X8数据接口，以及一拓八PCI-E拓展板与测试终端20的PCI-E X16数据接口，保证测试的正常进行。
更进一步地，请结合图1至图3，在本实用新型实施例中，固态硬盘的测试装置10还包括承载结构14，承载结构14包括底板141和自底板141的一边缘向上延伸形成的侧板142，转接板13设置于底板141上，固态硬盘接入器件12固定于侧板142上。
具体地，承载结构14用于承载上述的一拓多PCI-E拓展板111、固态硬盘接入器件12以及转接板13等元器件，一拓多PCI-E拓展板111插设于转接板13上，以确定并固定一拓多PCI-E拓展板111的位置，而转接板13设置于底板141上，以承载并固定转接板13与设置于其上的一拓多PCI-E拓展板111，稳定效果较好，可避免一拓多PCI-E拓展板111的移动而对测试进程造成影响，还可将一拓多PCI-E拓展板111转接至外部测试终端20对M.2PCI-E固态硬盘进行测试。
并且，侧板142上还开设有多个安装槽，安装槽与固态硬盘接入器件12对应设置，M.2PCI-E固态硬盘穿过安装槽以插设于固态硬盘接入器件12上，便于M.2PCI-E固态硬盘的测试，提高测试效率。
在一个实施例中，测试装置10中可省略上述的转接板13与承载结构14等元器件，直接通过PCI-E延长线15连接PCI-E测试接口拓展组件11与测试终端20，并且M.2PCI-E固态硬盘也直接与固态硬盘接入器件12连接，以简化测试装置10的结构，降低硬件成本。
实施例二
请参阅图4与图5，本实用新型还提供了一种固态硬盘的测试系统100，该测试系统100包括上述的固态硬盘的测试装置10、测试终端20以及电源装置30，测试终端20与PCI-E测试接口拓展组件11连接，电源装置30与固态硬盘接入器件12连接。
本实用新型的固态硬盘的测试系统100中，通过测试装置10中的PCI-E测试接口拓展组件11和与PCI-E测试接口拓展组件11连接的多个固态硬盘接入器件12，实现对PCI-E测试接口的有效拓展和转化，以进一步地实现对至少8个以上的M.2PCI-E固态硬盘的有效测试，在实际应用时，可根据实际需求设置与选择一拓多PCI-E拓展板111与PCI-E测试接口的数量，以对应地提升可进行测试的M.2PCI-E固态硬盘的数量，有效地提升对M.2PCI-E固态硬盘的测试效率与生产效率，有利于M.2PCI-E固态硬盘的大规模生产。
具体地，电源装置30与测试装置10之间通过DC电源线连接，当将M.2PCI-E固态硬盘插设于测试装置10上并使用测试系统100进行测试时，电源装置30为测试装置10以及插设于测试装置10上的每个M.2PCI-E固态硬盘的对应供电，以使测试装置10可进行正常工作，以及保证每个M.2PCI-E固态硬盘可在正常供电的情况下进行测试，而测试终端20自身有外接电源因此无需电源装置30供电，操作人员可在测试终端20上选择不同的M.2PCI-E固态硬盘测试不同的性能，如不同容量、不同搭配的M.2PCI-E固态硬盘，实现对M.2PCI-E固态硬盘的有效测试。
在一个实施例中，测试终端20包括计算机。
在其他实施例中，测试终端20也可以为具备计算检测功能的智能终端，如平板电脑甚至是智能手机等，并不限于计算机，在具体的实施例中具体选择即可。
在一个实施例中，电源装置30为5V/70A的独立电源。
具体地，通过5V/70A的独立电源为固态硬盘的测试装置10单独进行供电，避免市电或其他电源与测试装置10不适配，而导致测试装置10工作不正常甚至是对测试装置10造成损坏。
在本说明书的描述中，参考术语“实施例一”、“实施例二”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少两个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种固态硬盘的测试装置，其特征在于，包括：
PCI-E测试接口拓展组件，所述PCI-E测试接口拓展组件包括至少两个一拓多PCI-E拓展板，且所述一拓多PCI-E拓展板拓展的PCI-E测试接口至少为4个；以及
与所述PCI-E测试接口拓展组件连接的多个固态硬盘接入器件，每个所述固态硬盘接入器件分别与所述一拓多PCI-E拓展板的每个PCI-E测试接口对应连接。
2.如权利要求1所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，所述固态硬盘的测试装置还包括转接板，所述一拓多PCI-E拓展板插设于所述转接板上。
3.如权利要求2所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，所述转接板与外部测试终端之间通过PCI-E延长线连接。
4.如权利要求2所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，所述固态硬盘的测试装置还包括承载结构，所述承载结构包括底板和自所述底板的一边缘向上延伸形成的侧板，所述转接板设置于所述底板上，所述固态硬盘接入器件固定于所述侧板上。
5.如权利要求1所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，所述一拓多PCI-E拓展板的PCI-E测试接口与所述固态硬盘接入器件之间通过PCI-E延长线连接。
6.如权利要求1所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，所述一拓多PCI-E拓展板至少包括一拓四PCI-E拓展板与一拓八PCI-E拓展板中的一种。
7.一种固态硬盘的测试系统，其特征在于，包括：
测试终端；
电源装置；以及
如权利要求1-6所述的固态硬盘的测试装置，所述测试终端与所述PCI-E测试接口拓展组件连接，所述电源装置与所述固态硬盘接入器件连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120545537.1U CN214377683U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种固态硬盘的测试装置与测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120545537.1U CN214377683U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种固态硬盘的测试装置与测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214377683U true CN214377683U (zh) | 2021-10-08 |
Family
ID=77973068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202120545537.1U Active CN214377683U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种固态硬盘的测试装置与测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214377683U (zh) |
-
2021
- 2021-03-16 CN CN202120545537.1U patent/CN214377683U/zh active Active
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
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|
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