CN214311714U - 一种用于测试nand flash的PCB板 - Google Patents
一种用于测试nand flash的PCB板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN214311714U CN214311714U CN202120538766.0U CN202120538766U CN214311714U CN 214311714 U CN214311714 U CN 214311714U CN 202120538766 U CN202120538766 U CN 202120538766U CN 214311714 U CN214311714 U CN 214311714U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- nand flash
- card slot
- power supply
- testing
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 2
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本实用新型公开一种用于测试nand flash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚。本实用新型可以能够测试不同厂家、不同型号的nand flash。
Description
技术领域
本实用新型涉及nand flash测试领域，具体是一种用于测试nand flash的PCB板。
背景技术
目前flash技术日新月异，工艺、封装形式等迭代太快，为方便调试不同厂家的各种最新型号nand flash，急需一种能够测试不同厂家、不同型号的nand flash的PCB板。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种用于测试nand flash的PCB板，可以能够测试不同厂家、不同型号的nand flash。
为了解决所述技术问题，本实用新型采样的技术方案是：一种用于测试nandflash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚；第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。
进一步的，第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。
进一步的，所述电源切换装置为芯片24AA024，芯片24AA024内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器连接测试主板，测试主板读取存储芯片24AA024内的工作电压软件，从而决定由第一电源或第二电源为nand flash卡槽供电。
进一步的，nand flash卡槽预留ICE接口，ICE接口连接ICE板。
进一步的，连接器U1包括U1A、U1B和U1C，U1A连接于nand flash卡槽与测试主板之间，U1B连接3.3V和1.8V电源，U1C接地。
进一步的，测试主板为FPGA板或者HAPS板。
进一步的，第一电源和第二电源都拆分成多路。
本实用新型的有益效果：本实用新型通过一个连接器，更换不同的nand flash 子板，就能方便的调试所有厂家，所有型号的nand flash（支持最新工艺，也可调试之前产品），可以很大的丰富主控芯片对nand flash的支持列表，还能大大节省研发成本。
附图说明
图1为连接器U1A、U1B及电源切换装置的电路原理图；
图2为U1C的电路原理图；
图3为第一nand flash卡槽的电路原理图；
图4为第二nand flash卡槽的电路原理图；
图5为ICE芯片的电路原理图；
图6为1.8V、3.3V电源拆分成多路的电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。
实施例1
本实施例公开一种用于测试nand flash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连。连接器U1使用DDR3标准接口，nandflash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点。
如图3所示，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，其余引脚直接与连接器相连，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，图3中的黑点即为预留的测点。如图4所示，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚。
本实施例中，第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。如图6所示，第一电源和第二电源都拆分成多路，方便为PCB板上的多个芯片供电。
第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。即通过电源切换装置决定是第一电源还是第二电源为nand flash测试卡槽供电。
本实施例中，所述电源切换装置为芯片24AA024，芯片24AA024内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器连接测试主板，测试主板读取存储芯片24AA024内的工作电压软件，从而决定由第一电源或第二电源为nand flash卡槽供电。
如图3、5、6所示，nand flash卡槽预留ICE接口，ICE接口连接ICE板。
如图1、2所示，连接器U1包括U1A、U1B和U1C，U1A连接于nand flash卡槽与测试主板之间，用于传递信号，U1B连接3.3V和1.8V电源，用于提供电源，U1C接地。为了满足nandflash的信号要求（204pin DDR子板），也可以增加连接器的数量，以提供足够数量的信号线通道及电源、地线。
本实施例中，测试主板为FPGA板或者HAPS板。
本实施例所述PCB板通过连接器跟测试主板相连，测试主板输入3.3V以及1.8V电源，经过24AA024选择输入电压（根据测试的nand flash颗粒，可选3.3V或者1.8V），可同时支持最新工艺的nand 颗粒（目前最新工艺的nand使用1.8V电压）及前期老工艺的nand颗粒（使用3.3V电压）。
第一卡槽U13及第二卡槽U14都可以支持新款flash颗粒及老款flash颗粒。我们在子板上预留的是一个连接器U1，使用的是DDR3标准接口，板子上预留两个nand flash 的卡槽，可以很方便的更换flash，并且两个flash可以同时调试也可以每个flash单独调试，可以通过更换flash来方便的调试不同厂家，不同型号的nand flash，可以大大提高调试及测试的效率。
在第二卡槽U14的每个信号都预留了上拉电阻，一方面，可以通过更换不同的上拉电阻（板子上预留的是1K的上拉电阻），来测试不同的驱动对信号的影响，另外可以在电阻处直接接入逻辑分析仪，可以更直观的看到每个同奥里面的所有信号（DQS,DATA,RE,WE,ALE,CLE,WP,CE等），也可以对两个flash进行对比（第一卡槽仅预留测点，只有DQS信号及RE信号预留上拉电阻），对比加上拉电阻及直连时两个flash 的信号情况，对于我们的调试可以有更大的帮助。
另外还预留了一个ICE接口（连接器J8，提供16个测试接口），可以充分利用连接器的多余管脚，用于测试ICE跟主板的连接。
本实用新型通过一个连接器，更换不同的nand flash 子板，就能方便的调试所有厂家，所有型号的nand flash（支持最新工艺，也可调试之前产品），可以很大的丰富主控芯片对nand flash的支持列表，还能大大节省研发成本。
以上描述的仅是本实用新型的基本原理和优选实施例，本领域技术人员根据本实用新型做出的改进和替换，属于本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nandflash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚；第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。
2.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。
3.根据权利要求1或2所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：所述电源切换装置为芯片24AA024，芯片24AA024内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器连接测试主板，测试主板读取存储芯片24AA024内的工作电压软件，从而决定由第一电源或第二电源为nand flash卡槽供电。
4.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：nand flash卡槽预留ICE接口，ICE接口连接ICE板。
5.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：连接器U1包括U1A、U1B和U1C，U1A连接于nand flash卡槽与测试主板之间，U1B连接3.3V和1.8V电源，U1C接地。
6.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：测试主板为FPGA板或者HAPS板。
7.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：第一电源和第二电源都拆分成多路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120538766.0U CN214311714U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种用于测试nand flash的PCB板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120538766.0U CN214311714U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种用于测试nand flash的PCB板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214311714U true CN214311714U (zh) | 2021-09-28 |
Family
ID=77836631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202120538766.0U Expired - Fee Related CN214311714U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种用于测试nand flash的PCB板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214311714U (zh) |
-
2021
- 2021-03-16 CN CN202120538766.0U patent/CN214311714U/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6571370B2 (en) | Method and system for design verification of electronic circuits | |
| CN106571166B (zh) | 一种可定制流程的mt29f系列nand flash测试老炼系统 | |
| CN109596974B (zh) | 一种多层堆叠的3d-sip芯片测试方法 | |
| US20120198292A1 (en) | Test apparatus and test method | |
| CN104407279A (zh) | 一种用于自动测试芯片mdio总线协议的码型数据、装置及测试方法 | |
| CN207337386U (zh) | 一种服务器主板测试装置 | |
| CN101071647A (zh) | 用于对nand闪存及nor/nand组合闪存编程的闪存编程器 | |
| CN209842010U (zh) | 一种ct电路的故障检测系统 | |
| CN210835151U (zh) | 芯片测试系统 | |
| CN115454903A (zh) | 一种接口拔插自动化操控装置及方法 | |
| CN207764782U (zh) | 快捷外设互联标准插槽的检测系统 | |
| CN214311714U (zh) | 一种用于测试nand flash的PCB板 | |
| CN102999096A (zh) | 计算机及其主板、测试卡 | |
| CN201984469U (zh) | 主板bios故障调试卡 | |
| CN101354673B (zh) | 内存之spd芯片错误信息仿真装置 | |
| CN113204456A (zh) | 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备 | |
| RU194203U1 (ru) | Устройство тестирования микросхем NAND-памяти на основе ПЛИС | |
| CN113806146A (zh) | 测试转接卡设计系统及其方法 | |
| CN205210259U (zh) | 一种eMMC测试电路 | |
| CN217982843U (zh) | 一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统 | |
| CN219842519U (zh) | 一种老炼通用信号驱动装置 | |
| CN220040663U (zh) | 测试装置及测试机箱 | |
| CN213660008U (zh) | 一种立体封装存储器测试装置 | |
| KR101215945B1 (ko) | Ｓｐｄｓ 및 이를 포함하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치 | |
| CN216748731U (zh) | 检测电路、接口链路工装板和检测系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20210928 |