CN216748731U - 检测电路、接口链路工装板和检测系统 - Google Patents

检测电路、接口链路工装板和检测系统 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种检测电路、接口链路工装板和检测系统,其中,上述电路包括:第一连接器和单片机,其中,所述第一连接器,用于与待检测硬盘背板上对应设置的第二连接器建立连接;单片机,用于接收所述待检测硬盘背板通过连接和检测接口发送的待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态,其中,所述待检测端口和所述检测接口均设置于所述待检测硬盘背板。采用上述技术方案,解决了如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题。

Description

检测电路、接口链路工装板和检测系统
技术领域
本实用新型涉及智能检测领域,具体而言,涉及一种检测电路、接口链路工装板和检测系统。
背景技术
目前,在大盘位存储型服务器的生产测试过程中,硬盘背板上每个硬盘槽位都要遍历测试SAS(Serial Attached SCSI(Small Computer System Interface,小型计算机系统接口),串行连接SCSI接口)信号的连通性,保证出货时每个硬盘槽位均可稳定识别硬盘。传统的测试方法是在整机出货前,在每个硬盘槽位插满硬盘,然后系统检测硬盘是否上线来判断此槽位的好坏。由于服务器是一个庞大的互联系统,在单板测试阶段无法完成硬盘槽位功能测试,只能等到服务器组装成整机后,才能测试硬盘槽位的功能,但当测出某个硬盘槽位存在问题时,必须将整机进行拆解,才能取出有问题的某个硬盘背板。现有技术中,对硬盘槽位进行检测的主要手段是在所有硬盘槽位对应的待检测端口上满插硬盘,并通过判断硬盘是否上线来判断硬盘槽位的好坏,如图1所示,图1中的每一个待检测端口中都需要使用硬盘来实现满插硬盘功能的测试过程。但是这种方案对硬盘的需求量巨大,所需要的成本是绝大多数企业难以负担的,并且在拆解有问题的硬盘背板的过程中容易出现因拆解动作形成新的故障,加之,硬盘本身也会因使用次数过多造成本体损坏,并导致硬盘槽位检测效率降低的问题。例如,当前业界高密度存储型服务器单台设备可达到106盘位,如果2台设备同时测试,就需要212块硬盘来完成测试过程。
因此,针对相关技术,如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
因此,有必要对相关技术予以改良以克服相关技术中的所述缺陷。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种检测电路、接口链路工装板和检测系统,以至少解决如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题。
根据本实用新型实施例的一方面,提供了一种检测电路,包括:第一连接器和单片机,其中,所述第一连接器,用于与待检测硬盘背板上对应设置的第二连接器建立连接;单片机,用于接收所述待检测硬盘背板通过连接和检测接口发送的待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态,其中,所述待检测端口和所述检测接口均设置于所述待检测硬盘背板。
进一步地,所述检测电路还包括:第一显示模块,与所述单片机连接,所述第一显示模块用于接收所述单片机发送的第一显示指令,并根据所述第一显示指令在第一显示模块上显示所述待检测端口的状态。
进一步地,所述第一显示模块,还用于在所述待检测端口的状态为正常的情况下,驱动所述第一显示模块点亮。
进一步地,所述检测电路包括:一组或多组连接器,其中,所述一组或多组连接器中的任一组连接器均包括两个第一连接器,且所述两个第一连接器存在连接通路;所述两个第一连接器均对应连接有两个第二连接器,且在所述硬盘背板上,所述两个第二连接器对应连接有两个待检测端口。
进一步地,所述检测电路包括:第二显示模块,与所述第一连接器连接,且所述第二显示模块用于通过所述第一连接器和所述第二连接器建立的连接通路接收所述第一连接器对应的待检测端口发送的电源信号,并根据所述电源信号显示所述第一连接器对应的待检测端口的电源状态。
进一步地,所述检测电路包括:第三显示模块,与所述单片机连接,其中;所述单片机,用于从所述检测接口接收所述待检测端口的电源信号,并根据所述电源信号向所述第三显示模块发送第三显示指令;所述第三显示模块,用于根据所述第三显示指令显示所述待检测端口的电源状态。
进一步地,所述单片机,还用于识别所述待检测硬盘背板中的信号扩展控制器的控制器类型,并选择与信号扩展控制器的控制器类型一致的通信协议与所述信号扩展控制器进行通信交互。
根据本实用新型实施例的另一方面,还提供了一种接口链路工装板,包括上述检测电路。
根据本实用新型实施例的另一方面,还提供了一种检测系统,包括上述接口链路工装板和待检测硬盘背板。
进一步地,所述检测系统还包括:上位机,用于发送测试指令;串口服务器,与所述上位机连接,用于将所述上位机发送的测试指令发送至多个服务器;所述多个服务器的每一个服务器均包括所述接口链路工装板和待检测硬盘背板。
根据本实用新型实施例的又一方面,还提供了一种计算机可读的存储介质,该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序,其中,该计算机程序被设置实现上述检测电路的检测功能。
根据本实用新型实施例的又一方面,还提供了一种电子装置,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其中,上述处理器通过计算机程序实现上述检测电路的检测功能。
通过本实用新型,通过第一连接器与第二连接器之间建立的连接来接收待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态。采用上述技术方案,解决了相关技术中如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题,提高了待检测硬盘背板的检测效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本申请的一部分,本实用新型的示例性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是现有技术中满插硬盘功能测试的示意图;
图2是根据本实用新型实施例的检测电路的示意图;
图3是根据本实用新型实施例的待检测硬盘背板的示意图;
图4是根据本实用新型实施例的检测系统的结构示意图(一);
图5是根据本实用新型实施例的检测系统的结构示意图(二)。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本实用新型保护的范围。
需要说明的是,本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语和“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
在本实施例中提供了一种检测电路,图2是根据本实用新型实施例的检测电路的示意图,如图2所示,检测电路中包括第一连接器202和单片机204。
其中,第一连接器202与待检测硬盘背板上对应设置的第二连接器建立相连接,形成连接通路。
单片机接收待检测硬盘背板通过检测接口发送的待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态,其中,所述待检测端口和所述检测接口均设置于所述待检测硬盘背板。
通过本实用新型,通过第一连接器与第二连接器之间建立的连接来接收待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态。采用上述技术方案,解决了相关技术中如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题,提高了待检测硬盘背板的检测效率。
需要说明的是,上述单片机根据检测信号确定所述待检测端口的状态的过程包括:确定检测信号中的信号链接速率,在确定信号链接速率大于第一阈值的情况下,确定待检测端口的状态为正常;在确定信号链接速率小于第一阈值的情况下,确定待检测端口的状态为异常。其中,所述第一阈值的取值范围为[0,1],单位为k/s。例如,在一个实施例中,在第一阈值为0,且所述信号链接速率为1k/s的情况下,确定待检测端口的状态为正常。
上述单片机根据检测信号确定所述待检测端口的状态的过程还包括:确定检测信号中是否包括错误标志位,在确定检测信号中不包括错误标志位的情况下,确定待检测端口的状态为正常;在确定检测信号中包括错误标志位的情况下,确定待检测端口的状态为异常。其中,本实用新型对错误标志位的设置不做限定,错误标志位表示待检测端口的状态异常,可以设置为1,也可以设置为0。例如,在一个实施例中,在所述错误标志位设置为1的情况下,如果确定检测信号中不包括错误标志位1的情况下,确定待检测端口的状态为正常。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述检测电路还包括:第一显示模块,与所述单片机连接,所述第一显示模块用于接收所述单片机发送的第一显示指令,并根据所述第一显示指令在第一显示模块上显示所述待检测端口的状态。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述第一显示模块,还用于在所述待检测端口的状态为正常的情况下,驱动所述第一显示模块点亮。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述检测电路包括:一组或多组连接器,其中,所述一组或多组连接器中的任一组连接器均包括两个第一连接器,且所述两个第一连接器存在连接通路;所述两个第一连接器均对应连接有两个第二连接器,且在所述硬盘背板上,所述两个第二连接器对应连接有两个待检测端口。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述检测电路包括:第二显示模块,与所述第一连接器连接,且所述第二显示模块用于通过所述第一连接器和所述第二连接器建立的连接通路接收所述第一连接器对应的待检测端口发送的电源信号,并根据所述电源信号显示所述第一连接器对应的待检测端口的电源状态。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述检测电路包括:第三显示模块,与所述单片机连接,其中;所述单片机,用于从所述检测接口接收所述待检测端口的电源信号,并根据所述电源信号向所述第三显示模块发送第三显示指令;所述第三显示模块,用于根据所述第三显示指令显示所述待检测端口的电源状态。
本实用新型并不限定单片机获取电源信号的方式。例如,在一个实施例中,单片机还可以通过自身的模数转换(ADC)管脚接收电源信号,并判断电源信号是否正常,在电源信号正常的情况下,驱动第三显示模块点亮。
进一步地,在一个实施例中,上述第一显示模块/第二显示模块/第三显示模块可以包括显示灯,但不限于此。
进一步地,在一个示例性实施例中,所述单片机,还用于识别所述待检测硬盘背板中的信号扩展控制器的控制器类型,并选择与信号扩展控制器的控制器类型一致的通信协议与所述信号扩展控制器进行通信交互。
需要说明的是,上述通信协议可以包括UART(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter,通用异步收发传输器)、I2C(Inter-Intergrated Circuit,两线式串行总线)、SGPIO(Serial General Purpose Input/Output,总线接口)等类型,但不限于此。其中,
接下来结合图3对图2中的检测电路对应的待检测硬盘背板进行说明。图3是根据本实用新型实施例的待检测硬盘背板的示意图。如图3所示,待检测硬盘背板中包括第二连接器302、待检测端口304以及与待检测端口304相连的检测接口306。
其中,第二连接器302与图2中的第一连接器202相连通,形成连接通路。
待检测硬盘背板通过检测接口306将待检测端口304的检测信号发送给图2中的单片机204,以使单片机根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态。
显然,上述所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例,而不是全部的实施例。为了更好的理解上述检测电路,以下结合实施例对上述过程进行说明,但不用于限定本实用新型实施例的技术方案,具体地:
在一个可选的实施例中,图4是根据本实用新型实施例的检测系统的结构示意图(一),如图4所示,检测系统包括:硬盘背板402和SAS链路工装板404(相当于上述信号链路工装板)。
其中,硬盘背板402(相当于上述待检测硬盘背板)上设置有SAS Expander控制器4022(相当于上述信号拓展控制器)、第二硬盘连接器(相当于上述第二连接器)和调试接口连接器4026(相当于上述检测接口)。其中,第二硬盘连接器为i个,i为不小于0的自然数。
进一步地,在SAS Expander控制器4022中包括待检测端口PHYx(相当于上述待检测端口)和与上述调试接口连接器4026连接的调试接口。其中,待检测端口PHYx与上述第二硬盘连接器一一对应,x为不小于0的自然数。SAS Expander控制器4022将获取到的待检测端口PHYx的检测信号通过调试接口发送给调试接口连接器4026,进而通过调试接口连接器4026将待检测端口PHYx的检测信号发送给SAS链路工装板404。
需要说明的是,上述硬盘背板402可以理解为服务器上的硬盘背板,承载有SAS端口扩展芯片,由SAS Expander(扩展器)对接到每一个待检测端口,其中,SAS Expander由SAS Expander控制器控制。
SAS链路工装板404上设置第一硬盘连接器(相当于上述第一连接器)、MCU4044(相当于上述单片机)、状态指示灯4046(相当于上述第一显示模块)、电源指示灯4048(相当于上述第二显示模块)。其中,第一硬盘连接器为j个,j为不小于0的自然数。
如图4所示,状态指示灯4046与第一硬盘连接器一一对应,可以根据MCU4044发送的第一显示指令显示待检测端口PHYx的状态。例如,在一个实施例中,在MCU4044根据检测信号确定待检测端口PHY0的状态为正常的情况下,MCU4044可以向与待检测端口PHY0对应的状态指示灯发送第一显示指令,以驱动待检测端口PHY0对应的状态指示灯点亮。或者,在MCU4044根据检测信号确定待检测端口PHY0的状态为异常的情况下,MCU4044不向与待检测端口PHY0对应的状态指示灯发送第一显示指令,以通过待检测端口PHY0对应的状态指示灯的熄灭的状态提示目标对象待检测端口PHY0的状态为异常。
在接口链路工装板上,每一个第一硬盘连接器都与一个电源指示灯4048相连接。电源指示灯4048可以根据第一硬盘连接器和第二硬盘连接器建立的连接通路接收第一硬盘连接器对应的待检测端口发送的电源信号,进而根据电源信号显示所述第一连接器对应的待检测端口的电源状态。例如,在一个实施例中,上述电源指示灯4048可以在预设电压值下点亮,那么在电源指示灯4048接收到的电源信号对应的电压值等于预设电压值的情况下,电源指示灯4048为点亮状态。其中,预设电压值可以包括4V和12V,但不限于此,本实用新型对此不做限制。
通过上述硬盘背板上的SAS Expander控制器可以通过调试接口连接器将各个待检测端口的检测信号发送给SAS链路工装板,以便SAS链路工装板上的MCU对各个待检测端口的检测信号进行检测。
通过上述SAS链路工装板能够将硬盘背板上相互独立的待检测端口之间互联,形成连通环路,从而将相互独立的待检测端口的SAS信号互联,则,通过对连通环路进行检测可以实现对待检测端口的检测。
可选的,在一个实施例中,可以结合图5对上述检测系统进行进一步说明,图5是根据本实用新型实施例的检测系统的结构示意图(二),如图5所示,检测系统包括:上位机502、串口服务器504以及与串口服务器相连的服务器。
其中,上位机502用于根据目标对象的操作发送测试指令。
串口服务器504,与上位机502连接,用于将上位机502发送的测试指令发送至多个服务器,其中,服务器的数量为n,n为不小于0的自然数;所述多个服务器的每一个服务器均包括所述接口链路工装板和待检测硬盘背板。其中,每一个服务器上均包括硬盘背板5062(相当于上述待检测硬盘背板)和SAS链路工装板5064(相当于上述信号链路工装板),且硬盘背板5062可以实现待检测硬盘背板或者硬盘背板402的功能,SAS链路工装板5064可以实现信号链路工装板或者SAS链路工装板404的功能。
其中,上述多个服务器的通信协议可以为UART协议,但不限于此。
在一个实施例中,在每一个硬盘背板包括多个待检测硬盘背板的情况下,多个待检测硬盘背板相互独立。
可选的,在一个实施例中,上述SAS链路工装板5064上的MCU还可以用于根据上位机502下发的测试指令对任一待检测端口进行单独检测或者同时对多个待检测端口进行并发检测。
在一个实施例中,上述服务器还包括服务器硬盘背板(相当于上述待检测硬盘背板5062),上述服务器硬盘背板中包括多个待检测端口,检测服务器上的服务器硬盘背板可以通过检测服务器硬盘背板上的待检测端口来实现,其中,服务器硬盘背板中的多个待检测端口之间相互独立。
通过本实用新型,通过第一连接器与第二连接器之间建立的连接来接收待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态。采用上述技术方案,解决了相关技术中如何提高待检测硬盘背板的检测效率的问题,提高了待检测硬盘背板的检测效率。
通过上述检测系统,在提高待检测硬盘背板的检测效率的同时,降低了检测技术的实现难度,即通过简单的硬件线路技术实现待检测端口的外部自环回链路,进而实现SAS链路的检测,提高了待检测硬盘背板的生产速度,另外基于上述检测系统实现的检测方法降低了对服务器整机的依赖性,可以对组装服务器之前,直接对服务器中的硬盘背板进行单独测试,有效减少了对服务器进行拆装来检测硬盘背板时的故障概率,降低了测试成本,提高了链路故障的检测效率,提高了检测结果的准确率,进而提高了生产组装服务器的效率。
在一个示例性实施例中,还提出了一种针对待检测硬盘背板的检测系统,包括:硬盘背板模块、SAS链路工装板信号环回模块、SAS链路工装板电源测试模块、MCU模块。其中,硬盘背板模块(相当于上述待检测硬盘背板)可以实现上述图4中的硬盘背板402或者上述图5中的硬盘背板5062的功能,MCU模块可以实现上述图4中的MCU4044的功能。
其中,硬盘背板模块上面承载SAS端口扩展芯片(SAS Expander),可以通过SAS端口扩展芯片引出各个硬盘槽位的SAS信号到调试接口。
SAS链路工装板信号环回模块能够将硬盘背板模块上独立的2个硬盘槽位的SAS信号互联,这样就使得这2个硬盘槽位对应的待检测端口形成一个SAS环回链路,并且,这2个硬盘槽位对应的待检测端口之间可以实现互相连接的目的。
SAS链路工装板电源测试模块可检测硬盘背板模块上的每个硬盘槽位电源的5V和12V输出是否正常,此功能的实现方式包括:使用每个硬盘槽位的电源信号直接驱动电源状态灯点亮;或者,使用MCU模块的模数转换(ADC)管脚检测硬盘槽位的电源信号,然后通过MCU模块依据ADC检测值控制灯的亮灭。
MCU模块的功能包括:
功能1,依据SAS Expander控制器类型自适应选择相对应的调试接口通信协议,并与SAS Expander控制器通信。其中,在通信过程中,可获取SAS Expander芯片各个端口物理PHY的状态,包括PHY链接速率(相当于上述链接速率)和PHY的error flag(相当于上述错误标志位)等。
功能2,依据SAS Expander通过调试端口返回的SAS芯片PHY的状态信息,判断整个SAS环回链路是否正常,正常的话把相应的绿灯点亮。
功能3,可以把SAS链路信息通过串口服务器上传到上位机,也可支持多台服务器集群并发上传。
另外,MCU模块还可以支持上位机通过串口服务器下发的检测命令实现对硬盘背板模块上的任一待检测端口的单独检测过程或者对硬盘背板模块上的多个待检测端口的并发测试过程。
本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及示例性实施方式中所描述的示例,本实施例在此不再赘述。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种检测电路,其特征在于,包括:
第一连接器和单片机,其中,
所述第一连接器,用于与待检测硬盘背板上对应设置的第二连接器建立连接;
单片机,用于接收所述待检测硬盘背板通过检测接口发送的待检测端口的检测信号,并根据所述检测信号确定所述待检测端口的状态,其中,所述待检测端口和所述检测接口均设置于所述待检测硬盘背板。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括:第一显示模块,与所述单片机连接,所述第一显示模块用于接收所述单片机发送的第一显示指令,并根据所述第一显示指令在第一显示模块上显示所述待检测端口的状态。
3.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述第一显示模块,还用于在所述待检测端口的状态为正常的情况下,驱动所述第一显示模块点亮。
4.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:一组或多组连接器,其中,所述一组或多组连接器中的任一组连接器均包括两个第一连接器,且所述两个第一连接器存在连接通路;所述两个第一连接器均对应连接有两个第二连接器,且在所述硬盘背板上,所述两个第二连接器对应连接有两个待检测端口。
5.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:第二显示模块,与所述第一连接器连接,且所述第二显示模块用于通过所述第一连接器和所述第二连接器建立的连接通路接收所述第一连接器对应的待检测端口发送的电源信号,并根据所述电源信号显示所述第一连接器对应的待检测端口的电源状态。
6.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:第三显示模块,与所述单片机连接,其中;
所述单片机,用于从所述检测接口接收所述待检测端口的电源信号,并根据所述电源信号向所述第三显示模块发送第三显示指令;
所述第三显示模块,用于根据所述第三显示指令显示所述待检测端口的电源状态。
7.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述单片机,还用于识别所述待检测硬盘背板中的信号扩展控制器的控制器类型,并选择与信号扩展控制器的控制器类型一致的通信协议与所述信号扩展控制器进行通信交互。
8.一种接口链路工装板,其特征在于,包括权利要求1至7任一项中所述的检测电路。
9.一种检测系统,其特征在于,包括权利要求8所述的接口链路工装板和待检测硬盘背板。
10.根据权利要求9所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括:上位机,用于发送测试指令;
串口服务器,与所述上位机连接,用于将所述上位机发送的测试指令发送至多个服务器;
所述多个服务器的每一个服务器均包括所述接口链路工装板和待检测硬盘背板。
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