CN214281726U - 测试用途的pcb板和电子设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试用途的PCB板和电子设备。所述测试用途的PCB板包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，所述测试点包括至少一个第一测试点和至少一个第二测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状不同；所述第一测试点与所述PCB板本体表面的正极端、发射端、火线端或第一电压测试端相连；所述第二测试点与所述PCB板本体表面的负极端、接收端、零线端或第二电压测试端相连。该PCB板中的测试点包括形状不同的第一测试点和第二测试点，PCB板制造前预设规则，在实际测试时，由于不同形状的测试点较为醒目，因而无需通过对比PCB原理图即可判断出测试点的功能，快速准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCB领域，具体而言，涉及一种测试用途的PCB板和电子设备。
背景技术
PCB(Printed Circuit Board)，中文名称为印制电路板，又称印刷线路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体。通常，在PCB板生产检测或故障检测中，需要判断测试点的功能和极性，由此提高测试的准确性。
目前，随着PCB板的集成度越来越高，PCB板面积缩小、器件密集的情况非常常见。现用金线代替丝印的方法已经非常普及，然而省却丝印之后，需要用露铜金字方式标明测试点的功能，这种方法存在空间不足且不够醒目的缺点，而且还需要通过对比PCB原理图来判断测试点功能，过程繁琐。
有鉴于此，特提出本实用新型。
实用新型内容
第一方面，本实用新型的目的在于提供一种测试用途的PCB板，该PCB板设置了形状不同的测试点，不同测试点对应不同功能，具有板面简洁清晰、易于观察和可快速准确地判断出测试点功能的优点。
第二方面，本实用新型的目的在于提供一种电子设备。
为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
第一方面，本实用新型提供了一种测试用途的PCB板，包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，所述测试点包括至少一个第一测试点和至少一个第二测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状不同；
所述第一测试点与所述PCB板本体表面的正极端、发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的负极端、接收端、零线端或第二电压测试端相连。
作为进一步优选的技术方案，所述测试点还包括至少一个第三测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状均与所述第三测试点的形状不同。
作为进一步优选的技术方案，所述第一测试点与所述PCB板本体表面的发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的接收端、零线端或第二电压测试端相连；
所述PCB板本体还包括接地端，所述接地端与所述第三测试点相连。
作为进一步优选的技术方案，所述PCB板本体表面还设置有第三电压测试端和至少一个第四测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状和所述第四测试点的形状各不相同；所述第三电压测试端与所述第四测试点相连。
作为进一步优选的技术方案，所述PCB板本体表面还设置有第四电压测试端和至少一个第五测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状、所述第四测试点的形状和所述第五测试点的形状各不相同；所述第四电压测试端与所述第五测试点相连。
作为进一步优选的技术方案，所述第一测试点、所述第二测试点和所述第三测试点各自独立地为圆形、菱形、方形、三角形或星形。
作为进一步优选的技术方案，所述第一测试点为方形，所述第二测试点为菱形，所述第三测试点为圆形。
第二方面，本实用新型提供了一种电子设备，包括上述的测试用途的PCB板。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型提供的测试用途的PCB板包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，该测试点包括形状不同的第一测试点和第二测试点，PCB板制造前预设规则(即特定功能的测试点采用特定形状)，在实际测试时，由于不同形状的测试点较为醒目，因而无需通过对比PCB原理图即可判断出测试点的功能，快速准确，并且无需露铜金字标明测试点的功能，大大节省了空间，板面更加简洁清晰。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例2提供的测试用途的PCB板的结构示意图；
图2是现有技术当中一种形式的PCB板的结构示意图；
图3是本实用新型实施例3提供的测试用途的PCB板的结构示意图；
图4是现有技术当中另一种形式的PCB板的结构示意图。
图标：1-PCB板本体；2-测试点；201-第一测试点；202-第二测试点；203-第三测试点；204-第四测试点；205-第五测试点。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都属于本实用新型所保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
需要说明的是，本实用新型中所提到的“至少一个”是指一个以上，例如1个、2个、3个、4个、5个等。
根据本实用新型的一个方面，提供了一种测试用途的PCB板，包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，所述测试点包括第一测试点和第二测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状不同；
所述第一测试点与所述PCB板本体表面的正极端、发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的负极端、接收端、零线端或第二电压测试端相连。
上述测试用途的PCB板包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，该测试点包括形状不同的第一测试点和第二测试点，PCB板制造前预设规则(即特定功能的测试点采用特定形状)，在实际测试时，由于不同形状的测试点较为醒目，因而无需通过对比PCB原理图即可判断出测试点的功能，快速准确，并且无需露铜金字标明测试点的功能，大大节省了空间，板面更加简洁清晰。
在一种优选的实施方式中，所述电路组件包括正极端、负极端和电路模块，所述正极端和所述负极端均与所述电路模块相连，所述正极端还与所述第一测试点相连，所述负极端还与所述第二测试点相连。上述电路组件为直流电路，其中包括正极端、负极端和电路模块，第一测试点用于测试正极端，第二测试点用于测试负极端。
在一种优选的实施方式中，所述测试点还包括至少一个第三测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状均与所述第三测试点的形状不同。实际上，在电路组件中还有可能会存在接地端，本优选实施方式中的测试点还包括第三测试点，第三测试点的形状与其他两类测试点的形状均不相同，该第三测试点主要是用于对接地端进行测试。
在一种优选的实施方式中，所述第一测试点与所述PCB板本体表面的发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的接收端、零线端或第二电压测试端相连；
所述PCB板本体还包括接地端，所述接地端与所述第三测试点相连。
发射端在传统采用金线标注时为“TX”，接收端在传统采用金线标注时为“RX”，接地端在传统采用金线标注时为“GND”。由于采用了不同形状的测试点，因此不用金线标注，从测试点的形状方面即可区分出各个测试点的功能。
可选地，上述PCB板本体上包括MCU DEBUG组件、DMA UART组件、MPU UART组件或DMADEG UART组件中的至少一种。所述电路组件包括MCU DEBUG组件，DMA UART组件，MPUUART组件，DMADEG UART组件，MCU DEBUG组件和DMA UART组件的组合，MCU DEBUG组件和MPUUART组件的组合，MCU DEBUG组件和DMADEG UART组件的组合，DMA UART组件和MPU UART组件的组合，DMA UART组件和DMADEG UART组件的组合，MPU UART组件和DMADEG UART组件的组合，MCU DEBUG组件、DMA UART组件和MPU UART组件的组合，MCU DEBUG组件、DMA UART组件和DMADEG UART组件的组合，MCU DEBUG组件、MPU UART组件和DMADEG UART组件的组合，DMA UART组件、MPU UART组件和DMADEG UART组件的组合，或MCU DEBUG组件、DMA UART组件、MPU UART组件和DMADEG UART组件的组合等。需要说明的是，当以上组件为两个以上时，本实用新型不对上述各个组件之间的连接关系进行限定，只要其能够实现各自的功能和PCB板整体功能即可。
在一种优选的实施方式中，所述PCB板本体表面还设置有第三电压测试端和至少一个第四测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状和所述第四测试点的形状各不相同；所述第三电压测试端与所述第四测试点相连。本优选实施方式的PCB板本体表面还设置有第三电压测试端和第四测试点，不同的电压测试端与不同的测试点相连，从而实现快速对PCB板进行上电验证其基本功能是否正常。常规的电压有12V、5V、3.3V和1.8V等，第一电压测试端、第二电压测试端和第三电压测试端可选以上电压当中的任意三种。
在一种优选的实施方式中，所述PCB板本体表面还设置有第四电压测试端和至少一个第五测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状、所述第四测试点的形状和所述第五测试点的形状各不相同；所述第四电压测试端与所述第五测试点相连。本优选实施方式中包括四种电压测试端，实际应用时可选12V、5V、3.3V和1.8V电压。
需要说明的是：上述“各不相同”是指每两种测试点的形状不同，即第一测试点的形状和第二测试点的形状不同，第一测试点的形状和第二测试点的形状均与第三测试点的形状不同，第一测试点的形状、第二测试点的形状和第三测试点的形状均与可选的第四测试点的形状不同。
在一种优选的实施方式中，所述第一测试点、所述第二测试点和所述第三测试点各自独立地为圆形、菱形、方形、三角形或星形。方形包括正方形和长方形。上述“各自独立地”是指各个测试点的形状均可为圆形、菱形、方形、三角形或星形中的任意一种，只要保证三种测试点的形状两两不同即可。
在一种优选的实施方式中，所述第一测试点为方形，所述第二测试点为菱形，所述第三测试点为圆形。
根据本实用新型的另一方面，提供了一种电子设备，包括上述测试用途的PCB板。该电子设备包括上述测试用途的PCB板，因此至少具有与上述PCB板相同的优势。
实施例1
一种测试用途的PCB板，包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，所述测试点包括第一测试点和第二测试点，所述第一测试点为圆形，所述第二测试点为菱形。
所述PCB板本体包括主板和设置于所述主板表面的至少一个电路组件，至少一个所述电路组件与所述测试点相连。
所述电路组件包括正极端、负极端和电路模块，所述正极端和所述负极端均与所述电路模块相连，所述正极端还与所述第一测试点相连，所述负极端还与所述第二测试点相连。
实施例2
一种PCB板，如图1所示，包括PCB板本体1和设置于PCB板本体1表面的测试点2，测试点2包括第一测试点201、第二测试点202和第三测试点203，第一测试点201为方形，第二测试点202为菱形，第三测试点203为圆形。
所述PCB板本体包括主板(未图示)和设置于所述主板表面的电路组件(未图示)，所述电路组件与所述测试点相连。
所述电路组件包括发射端、接收端、接地端和电路模块，所述发射端、所述接收端和所述接地端均与所述电路模块相连，所述发射端还与所述第一测试点相连，所述接收端还与所述第二测试点相连，所述接地端还与所述第三测试点相连。
所述电路组件包括MCU DEBUG组件、DMA UART组件、MPU UART组件和DMADEG UART组件。
如图2所示为现有技术当中一种形式的PCB板，其与实施例2中的PCB板相对应，从中可以看出，所有测试点的形状均为圆形，图中还包括露铜金字(如GND、RX、TX)，对每个测试点的功能进行标注。
实施例3
一种PCB板，如图3所示，包括PCB板本体1和设置于PCB板本体1表面的测试点，所述测试点包括第一测试点201、第二测试点202、第三测试点203、第四测试点204和第五测试点205，第一测试点201为方形，第二测试点202为菱形，第三测试点203为圆形，第四测试点204为三角形，第五测试点205为星形。
所述PCB板本体包括主板(未图示)和设置于所述主板表面的电路组件(未图示)，所述电路组件与所述测试点相连。
所述电路组件包括电压测试端、接地端和电路模块，所述电压测试端和所述接地端均与所述电路模块相连；
所述电压测试端包括第一电压测试端、第二电压测试端、第三电压测试端和第四电压测试端，所述测试点还包括至少一个第四测试点和至少一个第五测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状、所述第四测试点的形状和所述第五测试点的形状各不相同；所述第一电压测试端与所述第一测试点相连，所述第二电压测试端与所述第二测试点相连，所述第三电压测试端与所述第三测试点相连，所述第四电压测试端与所述第四测试点相连，所述接地端与所述第五测试点相连。
如图4所示为现有技术当中另一种形式的PCB板，其与实施例3中的PCB板相对应，从中可以看出，所有测试点的形状均为圆形，图中还包括露铜金字(如1.8V、3.3V、5V、12V、GND)，对每个测试点的功能进行标注。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案。
Claims (8)
1.一种测试用途的PCB板，其特征在于，包括PCB板本体和设置于所述PCB板本体表面的测试点，所述测试点包括至少一个第一测试点和至少一个第二测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状不同；
所述第一测试点与所述PCB板本体表面的正极端、发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的负极端、接收端、零线端或第二电压测试端相连。
2.根据权利要求1所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述测试点还包括至少一个第三测试点，所述第一测试点的形状和所述第二测试点的形状均与所述第三测试点的形状不同。
3.根据权利要求2所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述第一测试点与所述PCB板本体表面的发射端、火线端或第一电压测试端相连；
所述第二测试点与所述PCB板本体表面的接收端、零线端或第二电压测试端相连；
所述PCB板本体还包括接地端，所述接地端与所述第三测试点相连。
4.根据权利要求3所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述PCB板本体表面还设置有第三电压测试端和至少一个第四测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状和所述第四测试点的形状各不相同；所述第三电压测试端与所述第四测试点相连。
5.根据权利要求4所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述PCB板本体表面还设置有第四电压测试端和至少一个第五测试点，所述第一测试点的形状、所述第二测试点的形状、所述第三测试点的形状、所述第四测试点的形状和所述第五测试点的形状各不相同；所述第四电压测试端与所述第五测试点相连。
6.根据权利要求2所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述第一测试点、所述第二测试点和所述第三测试点各自独立地为圆形、菱形、方形、三角形或星形。
7.根据权利要求6所述的测试用途的PCB板，其特征在于，所述第一测试点为方形，所述第二测试点为菱形，所述第三测试点为圆形。
8.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的测试用途的PCB板。
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