CN216162802U - 一种信号时序测试转接板 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种信号时序测试转接板，连接在主板与液晶屏驱动板之间，用于对主板输出至液晶屏驱动板的信号的时序进行测试，其包括：基板；第一接口，设置在基板上，用于与主板连接；第二接口，设置在基板上，用于与液晶屏驱动板连接；其中，第一接口设置有若干第一输入信号端子，第二接口上设置有与第一输入信号端子对应的第一输出信号端子；第一输入信号端子与第一输出信号端子通过第一连接线连接；主板用于输出与第一输入信号端子对应的信号至第一接口，并通过第一连接线输出至第二接口。本实用新型通过信号时序测试转接板对液晶屏驱动板上的信号的时序进行测试，减少了测试工序，降低了资源浪费。

Description

一种信号时序测试转接板

技术领域

本实用新型涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及的是一种信号时序测试转接板。

背景技术

在电视机出厂前，需要对测试屏玻璃T-CON板上的12V、CLOCK、User ControlSignal信号进行测试。在测试时，一般采用在屏玻璃T-CON板上的12V、CLOCK以及UserControl Signal信号线上焊接延长线的方式进行测试，具体为在拆除12V线路上的保险管后再接上延长线测试电流，其后使用示波器探头接在对应的延长线上测试电压、电流以及信号时序，待测完后再拆除屏玻璃T-CON板上的延长线，并恢复至保险管原有的连接状态。然而，因不同的屏T-CON板复杂多样化，若反复焊接拆除延长线，不仅耗时耗力，并且会造成资源的浪费。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种信号时序测试转接板，以解决现有技术中对测试屏玻璃T-CON板上的电压、电流以及信号时序进行测试导致的耗时耗力且造成资源浪费的问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种信号时序测试转接板，连接在主板与液晶屏驱动板之间，用于对所述主板输出至所述液晶屏驱动板的信号的时序进行测试，所述信号时序测试转接板包括：

基板；

第一接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第二接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第一接口设置有若干第一输入信号端子，所述第二接口上设置有与所述第一输入信号端子对应的第一输出信号端子；所述第一输入信号端子与所述第一输出信号端子通过第一连接线连接；

所述主板用于输出与所述第一输入信号端子对应的信号至所述第一接口，并通过所述第一连接线输出至所述第二接口。

本实用新型的进一步设置，所述信号时序测试转接板还包括：

第三接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第四接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第三接口设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；所述第二输入信号端子与所述第二输出信号端子通过第二连接线连接。

本实用新型的进一步设置，所述信号时序测试转接板还包括：

第三接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第四接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第三接口设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；

所述第三接口与所述第一接口相同的第一输入信号端子通过第二连接线与所述第一连接线并联至所述第二接口；所述第四接口与所述第三接口对应的信号输出端子通过第三连接线连接。

本实用新型的进一步设置，所述第一接口与所述第二接口为标清接口，所述第三接口与所述第四接口为高清接口；或者，所述第一接口与所述第二接口为高清接口，所述第三接口与所述第四接口为标清接口。

本实用新型的进一步设置，所述输入信号端子至少包括电源电压信号端子、时钟信号端子、低压差分信号端子以及控制信号端子。

本实用新型的进一步设置，所述信号时序测试转接板还包括：

若干静电释放单元，所述静电释放单元与所述第一连接线连接，且所述若干静电释放单元并联，用于防止静电放电对电子器件的影响。

本实用新型的进一步设置，所述静电释放单元包括：第一二极管与静电释放器；所述第一二极管的负极与所述静电释放器的一端的共接端连接所述第一连接线，所述第一二极管的正极与所述静电释放器的另一端的共接端接地。

本实用新型的进一步设置，所述信号时序测试转接板还包括：

保护单元，所述保护单元与电源电压连接，用于在测试过程中提供过压保护以及短路保护。

本实用新型的进一步设置，所述保护单元包括：可控硅、第一三极管、第二二极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；

其中，所述可控硅的正极分别与所述第一三极管的发射极、所述第一电阻的一端以及电源电压连接，所述可控硅的负极分别与所述第二电阻的一端、所述第二二极管的正极以及地连接，所述可控硅的参考端分别与所述第二电阻的另一端以及所述第三极管的集电极连接；所述第一三极管的基极与所述第三电阻的一端连接；所述第三电阻的另一端分别与所述第一电阻的另一端以及所述第二二极管的负极连接。

本实用新型的进一步设置，所述基板为印刷电路板。

本实用新型所提供的一种信号时序测试转接板，连接在主板与液晶屏驱动板之间，用于对所述主板输出至所述液晶屏驱动板的信号的时序进行测试，所述信号时序测试转接板包括：基板；第一接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；第二接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；其中，所述第一接口设置有若干第一输入信号端子，所述第二接口上设置有与所述第一输入信号端子对应的第一输出信号端子；所述第一输入信号端子与所述第一输出信号端子通过第一连接线连接；所述主板用于输出与所述第一输入信号端子对应的信号至所述第一接口，并通过所述第一连接线输出至所述第二接口。本实用新型通过信号时序测试转接板对液晶屏驱动板上的信号的时序进行测试，以避免测试时焊接和拆除延长线的问题，减少了测试工序，无需再使用焊锡丝，降低了资源浪费。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1是液晶屏驱动板板的信号时序图。

图2是本实用新型中一种信号时序测试转接板的功能模块架构图。

图3是本实用新型中一种信号时序测试转接板的电路原理图。

附图中各标记：100、信号时序测试转接板；101、基板；102、第一接口；103、第二接口；104、第三接口；105、第四接口；106、第一连接线；107、第二连接线；108、第三连接线；109、静电释放单元；110、保护单元；200、主板、300、液晶屏驱动板。

具体实施方式

本实用新型提供一种信号时序测试转接板，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在实施方式和申请专利范围中，除非文中对于冠词有特别限定，否则“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

应该进一步理解的是，本实用新型的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本实用新型所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。

另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

经发明人研究发现，在电视机出厂前，需要对测试屏玻璃T-CON板上的12V、CLOCK、User Control Signal信号进行测试，如图1所示。在测试时，一般采用在屏玻璃T-CON板上的12V、CLOCK以及User Control Signal信号线上焊接延长线的方式进行测试，具体为在拆除12V线路上的保险管后再接上延长线测试电流，其后使用示波器探头接在对应的延长线上测试电压、电流以及信号时序，待测完后再拆除屏玻璃T-CON板上的延长线，并恢复至保险管原有的连接状态。然而，因不同的屏T-CON板复杂多样化，若反复焊接拆除延长线，不仅耗时耗力，并且会造成资源的浪费。

解决上述技术问题，本实用新型通过信号时序测试转接板对液晶屏驱动板上的信号的时序进行测试，以避免测试时焊接和拆除延长线的问题，减少了测试工序，无需再使用焊锡丝，降低了资源浪费。

请同时参阅图2与图3，本实用新型提供了一种信号时序测试转接板的较佳实施例。

如图2所示，本实用新型提供的一种信号时序测试转接板100，该信号时序测试连接板连接在主板200与液晶屏驱动板300(T-con板)之间，用于对所述主板200输出至所述液晶屏驱动板300的信号的时序进行测试。

在一些实施例中，所述信号时序测试转接板100包括：基板101、第一接口102以及第二接口103。所述第一接口102设置在所述基板101上，用于与所述主板200连接；所述第二接口103设置在所述基板101上，用于与所述液晶屏驱动板300连接。其中，所述第一接口102上设置有若干第一输入信号端子，所述第二接口103上设置有与所述第一输入信号端子对应的第一输出信号端子，所述第一输入信号端子与所述第一输出信号端子通过第一连接线106连接，所述主板200用于输出与所述第一输入信号端子对应的信号至所述第一接口102，并通过所述第一连接线106输出至所述第二接口103。

具体地，所述基板101为印刷电路板，所述第一连接线106为印刷电路板上的导线。所述第一接口102上的输入信号端子与所述第二接口103上的输出信号端子对应，所述第二接口103上的输出信号端子与所述液晶屏驱动板300上的信号端子对应。所述第一输入信号端子至少包括电源电压信号端子、时钟信号端子、低压差分信号端子以及控制信号端子。例如，所述输入信号端子包括电源电压信号端子(VDD12V)、时钟信号端子(clock)、低压差分信号端子(LVDS Signal)以及控制信号端子(User Control Signal，包括select信号等)，那么所述输出信号端子对应的信号端子则为电源电压信号端子、时钟信号端子、低压差分信号端子以及控制信号端子，进而所述液晶屏驱动板300上也同样设置有与所述输出信号端子对应的信号端子。

具体实施过程中，通过所述第一连接线106将所述第一接口102与所述第二接口103上对应的信号端子连接起来，例如，所述第一接口102上的电源电压信号端子与所述第二接口103上的电源电压信号端子连接起来，所述第一接口102上的时钟信号端子与所述第二接口103上的时钟信号端子采用连接起来，并在第一连接线106上设置相应的测试柱子以便于示波器进行测量。

在测试时，首先将所述主板200与所述液晶屏驱动板300通过对应pin脚的连接线与信号测试转接板连接，例如，当所述第一接口102与所述第二接口103为30pin脚的插座接口时，则使用与30pin脚的插座接口的连接线将所述主板200、所述液晶屏驱动板300与所述信号测试转接板连接，其后只需将示波器的探头与第一连接线106上的测试柱子向接触即可得到相应的信号的时序，例如，在测量电源电压信号时，只需要将示波器的探头接测试柱子J1即可，其中，J2为低压差分信号时序的测试端子，J3为时钟信号时序的测试端子，J4为控制信号的测试端子，测试不同的信号时序时只需要将示波器的探头接在相应的测试端子上即可。需要说明的是，在测试电流时，因测试电流探头本身结构的限制，需要在电源电压线上增加一段弧形的延长线，以便于电流时序的测试，如图2所示，J0为延长线。

可见，本实用新型通过信号时序测试转接板100对液晶屏驱动板300上的信号的时序进行测试，以避免测试时焊接和拆除延长线的问题，减少了测试工序，只需要将示波器与相应的测试柱子接触即可，操作简单快捷，从而提高了工作效率。另外，采用信号测试转接板无需再使用焊锡丝以及电洛铁，不仅节约了物料，降低了资源浪费，还降低了反复焊接给工作环境带来的污染，例如，避免了电洛铁产生的烟味，方便了各不同岗位的使用。

在一个实施例的进一步地实施方式中，所述信号时序测试转接板100包括：第三接口104与第四接口105，所诉第三接口104设置在所述基板101上，用于与所述主板200连接，所述第四接口105设置在所述基板101上，用于与所述液晶屏驱动板300连接。其中，所述第三接口104设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口105上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；所述第三接口104与所述第一接口102相同的输入信号端子通过第二连接线107与所述第一连接线106并联至所述第二接口103；所述第四接口105与所述第三接口104对应的信号输出端子通过第三连接线108连接。

具体地，对于一些2K液晶屏来说，其具有高清接口与标清接口，若需要将高清接口与标清接口整合在一块转接板上，则需要增加与高清接口或标清接口向对应的接口。在一种实现方式中，若所述第一接口102与所述第二接口103为标清接口，则所述第三接口104与所述第四接口105为高清接口，若所述第一接口102与所述第二接口103为高清接口，所述第三接口104与所述第四接口105为标清接口。

本实施例以所述第一接口102与所述第二接口103为标清接口，所述第三接口104与所述第四接口105为高清接口进行说明，其中，高清接口与标清接口的区别在于高清接口比标清接口多了一路LVDS4pairs信号以及一路clock信号。所述第三接口104与所述第一接口102相同的输入信号端子通过第二连接线107与所述第一连接线106并联至所述第二接口103，所述第四接口105与所述第三接口104对应的信号输出端子通过第三连接线108连接，测试时，首先将所述主板200与所述液晶屏驱动板300通过对应pin脚的连接线与信号测试转接板连接，例如，当所述第三接口104与所述第四接口105为51pin脚的插座接口时，则使用与51pin脚的插座接口的连接线将所述主板200、所述液晶屏驱动板300与所述信号测试转接板连接，因所述第二连接线107与所述第一连接线106并联，其后只需将示波器的探头与第一连接线106上的测试柱子向接触即可得到相应的信号的时序。

在一些实施例中，本实用新型还提供了高清接口与标清接口整合在一块转接板上的另一实施例。所述信号时序测试转接板100还包括：第三接口104与第四接口105；所述第三接口104设置在所述基板101上，用于与所述主板200连接，所述第四接口105设置在所述基板101上，用于与所述液晶屏驱动板300连接。其中，所述第三接口104设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口105上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；所述第二输入信号端子与所述第二输出信号端子通过第二连接线107连接。

具体地，本实施例以所述第一接口102与所述第二接口103为标清接口，所述第三接口104与所述第四接口105为高清接口进行说明，其中，高清接口与标清接口的区别在于高清接口比标清接口多了一路LVDS4pairs信号以及一路clock信号。所述第三接口104与所述第四接口105通过第二连接线107连接。测试时，首先将所述主板200与所述液晶屏驱动板300通过对应pin脚的连接线与信号测试转接板连接，例如，当所述第三接口104与所述第四接口105为51pin脚的插座接口时，则使用与51pin脚的插座接口的连接线将所述主板200、所述液晶屏驱动板300与所述信号测试转接板连接，其后只需将示波器的探头与第二连接线107上的测试柱子向接触即可得到相应的信号的时序。

请参阅图2与图3，在一个实施例的进一步地实施方式中，所述信号时序测试转接板100还包括：若干静电释放单元109，所述静电释放单元109与所述第一连接线106连接，且所述若干静电释放单元109并联，用于防止静电放电对电子器件的影响。

具体地，所述静电释放单元109包括：第一二极管D1与静电释放器ESD。所述第一二极管D2的负极与所述静电释放器ESD的一端的共接端连接所述第一连接线106，所述第一二极管D1的正极与所述静电释放器ESD的另一端的共接端接地，以避免施工人员操作过程中人体与仪器接触产生的静电损坏电子元器件。

请继续参阅图2与图3，在一个实施例的进一步地实施方式中，所述信号时序测试转接板100还包括：保护单元110，所述保护单元110与电源电压连接，用于在测试过程中提供过压保护以及短路保护。

具体地，所述保护单元110包括：可控硅U1、第一三极管Q1、第二二极管D2、第一电阻R1、第二电阻R2以及第三电阻R3；其中，所述可控硅U1的正极分别与所述第一三极管Q3的发射极、所述第一电阻R1的一端以及电源电压VDD连接，所述可控硅U1的负极分别与所述第二电阻R2的一端、所述第二二极管D2的正极以及地连接，所述可控硅U1的参考端分别与所述第二电阻R2的另一端以及所述第一三极管Q1的集电极连接；所述第一三极管Q1的基极与所述第三电阻R3的一端连接；所述第三电阻R3的另一端分别与所述第一电阻R1的另一端以及所述第二二极管D2的负极连接。

其中，所述第一电阻R1与所述第三电阻R3为分压电阻，所述第二电阻R2为限流电阻，所述第二二极管D2为稳压电阻，在一些实施例中，所述可控硅U1的型号为TL431。在测试过程中，若电源电压VDD12V有故障或者因外在原因短路的情况下，所述保护单元110可以提供过压保护以及短路保护，即当电压超过所述第二二极管D2+0.7V时，所述第一三极管Q1和所述可控硅U1导通，以将电源输出短路，从而能够防止电压继续上升。

综上所述，本实用新型所提供的一种信号时序测试转接板，连接在主板与液晶屏驱动板之间，用于对所述主板输出至所述液晶屏驱动板的信号的时序进行检测，所述信号时序测试转接板包括：基板；第一接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；第二接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；其中，所述第一接口设置有若干第一输入信号端子，所述第二接口上设置有与所述第一输入信号端子对应的第一输出信号端子；所述第一输入信号端子与所述第一输出信号端子通过第一连接线连接；所述主板用于输出与所述第一输入信号端子对应的信号至所述第一接口，并通过所述第一连接线输出至所述第二接口。本实用新型通过信号时序测试转接板对液晶屏驱动板上的信号的时序进行测试，以避免测试时焊接和拆除延长线的问题，减少了测试工序，无需再使用焊锡丝，降低了资源浪费。

应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种信号时序测试转接板，连接在主板与液晶屏驱动板之间，用于对所述主板输出至所述液晶屏驱动板的信号的时序进行测试，其特征在于，所述信号时序测试转接板包括：

基板；

第一接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第二接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第一接口设置有若干第一输入信号端子，所述第二接口上设置有与所述第一输入信号端子对应的第一输出信号端子；所述第一输入信号端子与所述第一输出信号端子通过第一连接线连接；

所述主板用于输出与所述第一输入信号端子对应的信号至所述第一接口，并通过所述第一连接线输出至所述第二接口。

2.根据权利要求1所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述信号时序测试转接板还包括：

第三接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第四接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第三接口设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；所述第二输入信号端子与所述第二输出信号端子通过第二连接线连接。

3.根据权利要求1所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述信号时序测试转接板还包括：

第三接口，设置在所述基板上，用于与所述主板连接；

第四接口，设置在所述基板上，用于与所述液晶屏驱动板连接；

其中，所述第三接口设置有若干第二输入信号端子，所述第四接口上设置有与所述第二输入信号端子对应的第二输出信号端子；

所述第三接口与所述第一接口相同的输入信号端子通过第二连接线与所述第一连接线并联至所述第二接口；所述第四接口与所述第三接口对应的信号输出端子通过第三连接线连接。

4.根据权利要求3所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述第一接口与所述第二接口为标清接口，所述第三接口与所述第四接口为高清接口；或者，所述第一接口与所述第二接口为高清接口，所述第三接口与所述第四接口为标清接口。

5.根据权利要求1所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述第一输入信号端子至少包括电源电压信号端子、时钟信号端子、低压差分信号端子以及控制信号端子。

6.根据权利要求3所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述信号时序测试转接板还包括：

若干静电释放单元，所述静电释放单元与所述第一连接线连接，且所述若干静电释放单元并联，用于防止静电放电对电子器件的影响。

7.根据权利要求6所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述静电释放单元包括：第一二极管与静电释放器；所述第一二极管的负极与所述静电释放器的一端的共接端连接所述第一连接线，所述第一二极管的正极与所述静电释放器的另一端的共接端接地。

8.根据权利要求3所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述信号时序测试转接板还包括：

保护单元，所述保护单元与电源电压连接，用于在测试过程中提供过压保护以及短路保护。

9.根据权利要求8所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述保护单元包括：可控硅、第一三极管、第二二极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；

其中，所述可控硅的正极分别与所述第一三极管的发射极、所述第一电阻的一端以及电源电压连接，所述可控硅的负极分别与所述第二电阻的一端、所述第二二极管的正极以及地连接，所述可控硅的参考端分别与所述第二电阻的另一端以及所述第一三极管的集电极连接；所述第一三极管的基极与所述第三电阻的一端连接；所述第三电阻的另一端分别与所述第一电阻的另一端以及所述第二二极管的负极连接。

10.根据权利要求1所述的信号时序测试转接板，其特征在于，所述基板为印刷电路板。

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