CN207336574U - 一种测试夹具及测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及主板测试技术，公开了一种测试夹具及测试系统。本实用新型中的测试夹具，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。本实用新型提供的测试夹具具备反接的功能，并且属于防呆设计，以保证测试夹具的电源连接端不会反接烧毁测试主板。

Description

一种测试夹具及测试系统

技术领域

本实用新型涉及主板测试技术，特别涉及一种测试夹具及测试系统。

背景技术

目前移动终端的生产过程中，终端主板贴片制作完成后需要对终端的主板进行一系列的测试，测试完成之后方可进行组装。该测试方式是使用测试夹具，通过将测试夹具的探针压合在测试点上进行主板供电、射频校准等相关功能的测试，其中，终端的主板上会预留有电源测试点、射频测试座等相关功能的测试点。另外，终端主板SMT(表面贴装技术，Surface Mount Technology)测试项目必须用到专业的测试夹具进行测试，且这些测试的供电方式一般是直流电源供电，该终端主板SMT测试包括：下载、写号、校准综测、信令测试、电流测试、相关功能测试等，每一项测试的站位都必须使用测试夹具。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：目前在进行终端的主板SMT测试时，生产线使用的测试夹具的直流电源接口均是鳄鱼夹接线口，直流输出电源端的连接是插接方式，由于主板的电源管理芯片比较脆弱，因此如果测试人员将输入电源线反接会导致手机主板烧毁，造成了不必要的生产成本浪费。现有的大多数的测试夹具不具备防反接的功能，都要靠人工检验，还有一部分的测试夹具会在电源电路中接入一个二极管防止电路反接时损伤电子元件。在不具备反接功能的测试夹具中，人工检验浪费人力，且在更换了测试生产线之后，重新搭建测试环境，误接的概率会上升；在有二极管的反接电路中，该反接电路不具有防呆设计，且该电路在反接之后不能进行测试工作，需重新连线进行测试，降低了测试的工作效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试夹具及测试系统，使得测试夹具具备反接的功能，并且属于防呆设计，以保证测试夹具的电源连接端不会反接烧毁测试主板。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种测试夹具，包含：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；

所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；

所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；

其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；

所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。

本实用新型的实施方式还提供了一种测试系统，用于主板表面贴装技术SMT测试，包括本实用新型实施例所提供的测试夹具、直流电源和待测试的主板，

所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接；

所述测试夹具的所述第一测试探针与所述待测试主板的正极连接，所述第二测试探针与所述待测试主板的负极连接。

本实用新型实施方式相对于现有技术而言，电源接入模块用于连接测试夹具和直流电源，其中，电源接入模块有四个连接端口，第三连接端口与第四连接端口和直流电源连接，且第三连接端口和第四链接端口没有正负极性之分只要分别连接到直流电源的正负极就能够为测试夹具提供直流电源，该电源接入模块是一种具有防呆设计的电路模块，即操作人员不需要任何操作经验，只需将直流电源的正负极分别连接即可进行测试工作，该设计使电源接入模块能快速接入电路并避免了误接正负极损坏待测试主板的情况。

另外，所述测试夹具中的电源接入模块包括：第一选通元件、第二选通元件、第三选通元件、第四选通元件；所述电源接入模块的第一连接端与，所述第一选通元件的负极和所述第二选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第二连接端与，所述第三选通元件的正极和所述第四选通元件的正极相连接；所述电源接入模块的第三连接端与，所述第一选通元件的正极和所述第四选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第四连接端与，所述第二选通元件的正极和所述第三选通元件的负极相连接；

其中，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件均为单向导通的元件。

该实施方式中，电源接入模块的第三连接端和第四连接端与选通元件的连接关系中，与第三连接端连接的是第一选通元件的正极，与第四连接端连接的是第二选通元件的正极，根据四个选通元件均为单相导通的元件，则在第三连接端或第四连接端接入直流电源的正极均能导通对应的选通元件，保证了电路中第三连接端和第四连接端与直流电源的正负极分别连接后即可接入直流电源。

另外，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件为型号相同的肖特基二极管。该实施方式中选取型号相同的肖特基二极管能够保证每个选通元件在相同的条件下截止和导通，且肖特基二极管正向压降低，电压的损耗小，保证电路中的负载得到足够的电压。

另外，所述第一测试探针用于与待测试的主板的正极连接，所述第二测试探针用于与所述待测试的主板的负极连接。

另外，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于导通状态，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于截止状态；

或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于导通状态，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于截止状态。

该实施方式中，选通元件根据两极的电压值处于导通或截止状态，对应选通元件导通时能保证电路形成回路，整个电路处于测试工作的状态。

另外，所述测试夹具还包括：至少一个射频信号测试探针；所述射频信号测试探针用于对待测试的主板的射频信号传导性能进行测试。该实施方式中，测试夹具上包含多个测试探针，对不同的功能进行测试，完整测试主板的功能。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是本实用新型中第一实施方式中测试夹具的结构示意图；

图2是本实用新型中第二实施方式中测试夹具的结构示意图；

图3是本实用新型中第三实施方式中测试系统的结构示意图；

图4是本实用新型中第四实施方式中测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。

本实用新型的第一实施方式涉及一种测试夹具10。如图1所示。该测试夹具包括：电源接入模块101、第一测试探针102、第二测试探针103；需要说明的是，测试夹具10与直流电源连接，其中直流电源为测试夹具10提供所需测试电压，所以图1中包含直流电源104，但直流电源104并非测试夹具10的一部分。

电源接入模块101的第一连接端与第一测试探针102连接；电源接入模块101的第二连接端与第二测试探针103连接；其中，电源接入模块101的第三连接端与直流电源104的正极连接，电源接入模块101的第四连接端与直流电源104的负极连接，或者，电源接入模块101的第三连接端与直流电源104的负极连接，电源接入模块101的第四连接端与直流电源104的正极连接。

无论是上述哪一种连接关系，其中，第一测试探针102为测试夹具的直流电源正极输出端，第二测试探针103为测试夹具的直流电源负极输出端。

具体的，在测试夹具上放置好待测试的主板后，将测试夹具上的探针压合在待测试的主板进行测试时，测试夹具中第一测试探针102用于与待测试的主板的正极连接，第二测试探针103用于与待测试的主板的负极连接。

具体的，电源接入模块101用于以插接的方式与直流电源104连接。需要说明的是，此处的连接关系仅为举例说明，具体以生产线中直流电源与电源接入模块的连接关系为主，不限于插接的连接方式。

具体的，测试夹具对主板进行测试时有多个测试探针，主板预留有相关功能的测试点，例如，需要对主板的射频信号、蓝牙功能、无线网络功能、电流测试等相关功能进行测试。在一个具体的实现中，该测试夹具中还包括：至少一个射频信号测试探针，该射频信号测试探针用于对待测试的主板的射频信号传导性能进行测试。此处仅为举例说明，测试夹具上包含主板的各项功能测试的多个测试探针。

相对于现有技术而言，本实施方式中，电源接入模块用于连接测试夹具和直流电源，其中，电源接入模块有四个连接端口，第三连接端口与第四连接端口和直流电源连接，且第三连接端口和第四链接端口没有正负极性之分只要分别连接到直流电源的正负极就能够为测试夹具提供直流电源，该电源接入模块是一种具有防呆设计的电路模块，即操作人员不需要任何操作经验，只需将直流电源的正负极分别连接即可进行测试工作，该设计使电源接入模块能快速接入电路并避免了误接正负极损坏待测试主板的情况。

本实用新型的第二实施方式涉及一种测试夹具。第二实施方式与第一实施方式大致相同，主要区别之处在于：在第一实施方式中，没有说明电源接入模块101的具体电路。而在本实用新型第二实施方式中，说明了电源接入模块101的具体电路，如图2所示。此外，本领域技术人员可以理解电源接入模块101的具体功能。

电源接入模块101包括：第一选通元件D1、第二选通元件D2、第三选通元件D3、第四选通元件D4，四个选通元件均为单向导通的元件，其中，电源接入模块101的第一连接端与，第一选通元件D1的负极和第二选通元件D2的负极相连接；电源接入模块101的第二连接端与，第三选通元件D3的正极和第四选通元件D4的正极相连接；电源接入模块101的第三连接端与，第一选通元件D1的正极和第四选通元件D4的负极相连接；电源接入模块101的第四连接端与，第二选通元件D2的正极和第三选通元件D3的负极相连接。图2中，数字1，2，3，4分别表示电源接入模块的第一连接端，第二连接端，第三连接端，第四连接端。

具体的，如图2中选通元件构成的桥式电路中，每个桥臂上有一个选通元件，则每个选通元件都相同时能够保证每个选通元件在相同的条件下处于导通的状态。在一个具体的实现中，D1、D2、D3、D4均选取相同型号的肖特基二极管，此处仅为举例说明，具体选取相同型号的电子器件并保证该电子器件为单向导通的元件即可。

具体的，在电源接入模块中，第三连接端和第四连接端与，直流电源的正负极分别连接，在不考虑正负极的连接顺序时，第一连接端为直流电源正极输出端，第二连接端为直流电源负极输出端，同时第一连接端与第一测试探针连接，第二连接端与第二测试探针连接。

在一个具体的实现中，电源接入模块的第三连接端连接直流电源正极，第四连接端连接直流电源负极，由于第三连接端连接直流电源正极，由此，D1处于导通状态，D4处于截止状态；第四连接端与直流电源负极连接，由此，D3处于导通状态，D2处于截止状态，第一连接端为直流电源正极输出端，第二连接端为直流电源负极输出端。

另一个具体的实现中，电源接入模块的第四连接端连接直流电源正极，第三连接端连接直流电源负极，由于第四连接端连接直流电源正极，由此，D2处于导通状态，D3处于截止状态，由于第三连接端连接直流电源的负极，由此，D4处于导通状态，D1处于截止状态，第一连接端为直流电源正极输出端，第二连接端为直流电源负极输出端。

需要说明的是，该电路接入模块只是实现本实用新型的一种方式，不应局限于本实施例中的实现方式，实际应用中也可对第二实施方式中的电路结构稍加改动，以实际需要的电路结构为准。

本实用新型第三实施方式涉及一种测试系统，如图3所示，包含：测试夹具301、直流电源104和待测试的主板302。

测试夹具301中的电源接入模块与直流电源104连接，测试夹具301中的第一测试探针与待测试的主板302的正极连接，第二测试探针与待测试的主板302的负极连接。

具体的，测试夹具301中的电源接入模块的第三连接端与直流电源104的正极连接，第四连接端与直流电源104的负极连接，或者，第三连接端与直流电源104的负极连接，第四连接端与直流电源104的正极连接。该实施方式中测试夹具301中的电源接入模块不用考虑直流电源的正负极并进行连接工作，该具有防呆设计的电路使得直流电源接入更为方便，且避免了误接正负极使待测试主板损坏的情况。

本实施方式为与第一实施方式相对应的系统实施例，本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。

本实用新型第四实施方式涉及一种测试系统。第四实施方式与第三实施方式大致相同，主要区别之处在于：在第四实施方式中，具体说明了一种电源接入模块的电路结构。如图4所示。

一个具体实现中，测试夹具中的电源接入模块的第三连接端与直流电源正极连接时，第一选通元件D1的正极连接高电平处于导通状态，第一连接端与第一测试探针连接，则第一测试探针为直流电源的正极输出端，第四连接端与直流电源负极连接，第三选通元件处于导通状态，第二连接端与第二测试探针连接，则第二测试探针为直流电源的负极输出端。

另一个具体实现中，测试夹具中的电源接入模块的第四连接端与直流电源正极连接时，第二选通元件D1的正极连接高电平处于导通状态，第一连接端与第一测试探针连接，则第一测试探针为直流电源的正极输出端，第三连接端与直流电源负极连接，第四选通元件处于导通状态，第二连接端与第二测试探针连接，则第二测试探针为直流电源的负极输出端。

本实施方式为与第二实施方式相对应的系统实施例，本实施方式可与第二实施方式互相配合实施。第二实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第二实施方式中。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。

Claims (9)

1.一种测试夹具，其特征在于，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；

所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；

所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；

其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；

所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。

2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述电源接入模块包括：第一选通元件、第二选通元件、第三选通元件、第四选通元件；

所述电源接入模块的第一连接端与，所述第一选通元件的负极和所述第二选通元件的负极相连接；

所述电源接入模块的第二连接端与，所述第三选通元件的正极和所述第四选通元件的正极相连接；

所述电源接入模块的第三连接端与，所述第一选通元件的正极和所述第四选通元件的负极相连接；

所述电源接入模块的第四连接端与，所述第二选通元件的正极和所述第三选通元件的负极相连接；

其中，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件均为单向导通的元件。

3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件为型号相同的肖特基二极管。

4.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述第一测试探针用于与待测试的主板的正极连接，所述第二测试探针用于与所述待测试的主板的负极连接。

5.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述电源接入模块用于以插接的方式与所述直流电源连接。

6.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，

所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四 连接端与所述直流电源的负极连接，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于导通状态，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于截止状态；

或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于导通状态，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于截止状态。

7.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括：至少一个射频信号测试探针；

所述射频信号测试探针用于对待测试的主板的射频信号传导性能进行测试。

8.一种测试系统，其特征在于，用于主板表面贴装技术SMT测试，包括权利要求1至7任一项所述的测试夹具、直流电源和待测试的主板；

所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接；

所述测试夹具的所述第一测试探针与所述待测试主板的正极连接，所述第二测试探针与所述待测试主板的负极连接。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，

所述测试夹具的射频信号探针与所述待测试的主板的射频信号连接座连接。