CN214269274U - 一种半导体器件测试机台送料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于半导体器件相关技术领域，具体涉及一种半导体器件测试机台送料装置，包括固定框，所述固定框底部的两侧均栓接有支撑架，所述固定框的正面栓接有箱体，所述固定框的内腔设置有平移机构，所述固定框顶部的左侧栓接有固定箱。本实用新型通过第一电机、第一皮带轮、第二皮带轮、第一旋转轴、第二旋转轴、支撑杆、第三旋转轴和移动板的配合，便于使用者对器件本体进行匀速平移，方便检测设备对器件本体进行检测，通过第二电机和隔板的配合，便于使用者对器件本体进行间断式下料，方便推块匀速对器件本体进行移动，解决了传统半导体器件测试机台送料装置无法对半导体器件进行匀速送料的问题。

Description

一种半导体器件测试机台送料装置

技术领域

本实用新型属于半导体器件相关技术领域，具体涉及一种半导体器件测试机台送料装置。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体器件通常利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极，晶体二极管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波。

半导体器件在许多领域得到了应用，为了保障半导体器件的完整度，在半导体器件加工完成后，需要对半导体器件进行测试，需要将半导体器件进行传送，传统半导体器件测试机台送料装置无法对半导体器件进行匀速送料，容易造成检测装置无法精准的对半导体器件进行快速测试，降低了半导体器件测试的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体器件测试机台送料装置，以解决上述背景技术中提出的传统半导体器件测试机台送料装置无法对半导体器件进行匀速送料的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种半导体器件测试机台送料装置，包括固定框，所述固定框底部的两侧均栓接有支撑架，所述固定框的正面栓接有箱体，所述固定框的内腔设置有平移机构，所述固定框顶部的左侧栓接有固定箱，所述固定箱的内腔设置有推出机构，所述固定箱顶部的右侧连通有下料箱，所述下料箱的内腔从上至下均依次填充有器件本体，所述固定框正面的左侧栓接有控制器。

优选的，所述平移机构包括第一电机、第一皮带轮、第二皮带轮、第一旋转轴、第二旋转轴、支撑杆、第三旋转轴和移动板，所述箱体内腔的背面栓接有第一电机，所述第一电机的输出轴从前至后均依次栓接有第一皮带轮，所述第一皮带轮的表面通过皮带传动连接有第二皮带轮，所述第二皮带轮的中心处栓接有第一旋转轴，所述第一旋转轴的表面通过第一轴承与固定框内腔的正面转动连接，所述固定框内腔背面的两侧均通过第二轴承转动连接有第二旋转轴，所述第一旋转轴和第二旋转轴相向的一侧栓接有支撑杆，所述支撑杆相向一侧的右侧通过第三轴承转动连接有第三旋转轴，所述第三旋转轴顶部的正面和背面均栓接有连接块，且连接块的顶部栓接有移动板。

优选的，所述推出机构包括气缸、活动杆和推块，所述固定箱顶部左侧的中心处栓接有气缸，所述气缸的活塞杆贯穿固定箱并通过活动轴活动连接有活动杆，所述活动杆远离气缸的一侧通过活动轴活动连接有推块，所述推块的底部与固定框的顶部滑动连接，所述固定箱右侧的底部开设有配合推块使用的第一通槽。

优选的，所述固定箱的顶部栓接有第二电机，所述第二电机的输出轴从上至下均依次栓接有隔板，所述下料箱的左侧从上至下均依次开设有第二通槽，所述隔板的右侧贯穿第二通槽并延伸至下料箱的内腔。

优选的，所述固定框顶部左侧的正面和背面均开设有滑槽，所述滑槽的内腔滑动连接有滑块，所述滑块的顶部贯穿滑槽并与推块的底部栓接。

优选的，所述固定框顶部的正面和背面从左至右均依次开设有配合器件本体使用的第一限位槽，所述移动板的顶部从左至右均依次开设有配合第一限位槽使用的第二限位槽。

优选的，所述隔板的形状为半圆板形，所述隔板呈交错状分布。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过第一电机、第一皮带轮、第二皮带轮、第一旋转轴、第二旋转轴、支撑杆、第三旋转轴和移动板的配合，便于使用者对器件本体进行匀速平移，方便检测设备对器件本体进行检测，通过第二电机和隔板的配合，便于使用者对器件本体进行间断式下料，方便推块匀速对器件本体进行移动，解决了传统半导体器件测试机台送料装置无法对半导体器件进行匀速送料的问题。

2、本实用新型通过气缸、活动杆和推块的配合，便于使用者对器件本体进行推动，方便将器件本体推出固定箱，使移动板带动器件本体向右匀速移动，通过滑槽和滑块的配合，便于使用者对推块进行限位固定，防止推块发生晃动无法贯穿第一通槽，同时辅助推块进行左右移动，通过第一限位槽和第二限位槽的配合，便于使用者对器件本体进行限位，防止器件本体发生位移，造成测试设备与器件本体错位，通过隔板呈交错状分布，方便器件本体间断下料，避免器件本体持续下落，造成推块无法有序的对器件本体进行平移。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中：

图1为本实用新型提出的一种半导体器件测试机台送料装置示意图；

图2为本实用新型提出固定箱和下料箱的结构剖视图；

图3为本实用新型提出固定框的结构剖视图；

图4为本实用新型提出固定框的结构俯视剖面图；

图5为本实用新型提出第二电机和隔板的结构立体图。

图例说明：1、固定框；2、箱体；3、平移机构；31、第一电机；32、第一皮带轮；33、第二皮带轮；34、第一旋转轴；35、第二旋转轴；36、支撑杆；37、第三旋转轴；38、移动板；4、固定箱；5、推出机构；51、气缸；52、活动杆；53、推块；6、下料箱；7、器件本体；8、第二电机；9、隔板；10、滑槽；11、滑块；12、第一限位槽；13、第二限位槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-图5，一种半导体器件测试机台送料装置，包括固定框1，固定框1底部的两侧均栓接有支撑架，固定框1的正面栓接有箱体2，固定框1的内腔设置有平移机构3，固定框1顶部的左侧栓接有固定箱4，固定箱4的内腔设置有推出机构5，固定箱4顶部的右侧连通有下料箱6，下料箱6的内腔从上至下均依次填充有器件本体7，固定框1正面的左侧栓接有控制器，通过第一电机31、第一皮带轮32、第二皮带轮33、第一旋转轴34、第二旋转轴35、支撑杆36、第三旋转轴37和移动板38的配合，便于使用者对器件本体7进行匀速平移，方便检测设备对器件本体7进行检测，通过第二电机8和隔板9的配合，便于使用者对器件本体7进行间断式下料，方便推块53匀速对器件本体7进行移动，解决了传统半导体器件测试机台送料装置无法对半导体器件进行匀速送料的问题。

平移机构3包括第一电机31、第一皮带轮32、第二皮带轮33、第一旋转轴34、第二旋转轴35、支撑杆36、第三旋转轴37和移动板38，箱体2内腔的背面栓接有第一电机31，第一电机31的输出轴从前至后均依次栓接有第一皮带轮32，第一皮带轮32的表面通过皮带传动连接有第二皮带轮33，第二皮带轮33的中心处栓接有第一旋转轴34，第一旋转轴34的表面通过第一轴承与固定框1内腔的正面转动连接，固定框1内腔背面的两侧均通过第二轴承转动连接有第二旋转轴35，第一旋转轴34和第二旋转轴35相向的一侧栓接有支撑杆36，支撑杆36相向一侧的右侧通过第三轴承转动连接有第三旋转轴37，第三旋转轴37顶部的正面和背面均栓接有连接块，且连接块的顶部栓接有移动板38，通过第一电机31、第一皮带轮32、第二皮带轮33、第一旋转轴34、第二旋转轴35、支撑杆36、第三旋转轴37和移动板38的配合，便于使用者对器件本体7进行匀速平移，方便检测设备对器件本体7进行检测。

推出机构5包括气缸51、活动杆52和推块53，固定箱4顶部左侧的中心处栓接有气缸51，气缸51的活塞杆贯穿固定箱4并通过活动轴活动连接有活动杆52，活动杆52远离气缸51的一侧通过活动轴活动连接有推块53，推块53的底部与固定框1的顶部滑动连接，固定箱4右侧的底部开设有配合推块53使用的第一通槽，通过气缸51、活动杆52和推块53的配合，便于使用者对器件本体7进行推动，方便将器件本体7推出固定箱4，使移动板38带动器件本体7向右匀速移动。

固定箱4的顶部栓接有第二电机8，第二电机8的输出轴从上至下均依次栓接有隔板9，下料箱6的左侧从上至下均依次开设有第二通槽，隔板9的右侧贯穿第二通槽并延伸至下料箱6的内腔，通过第二电机8和隔板9的配合，便于使用者对器件本体7进行间断式下料，方便推块53匀速对器件本体7进行移动。

固定框1顶部左侧的正面和背面均开设有滑槽10，滑槽10的内腔滑动连接有滑块11，滑块11的顶部贯穿滑槽10并与推块53的底部栓接，通过滑槽10和滑块11的配合，便于使用者对推块53进行限位固定，防止推块53发生晃动无法贯穿第一通槽，同时辅助推块53进行左右移动。

固定框1顶部的正面和背面从左至右均依次开设有配合器件本体7使用的第一限位槽12，移动板38的顶部从左至右均依次开设有配合第一限位槽12使用的第二限位槽13，通过第一限位槽12和第二限位槽13的配合，便于使用者对器件本体7进行限位，防止器件本体7发生位移，造成测试设备与器件本体7错位。

隔板9的形状为半圆板形，隔板9呈交错状分布，通过隔板9呈交错状分布，方便器件本体7间断下料，避免器件本体7持续下落，造成推块53无法有序的对器件本体7进行平移。

工作原理：使用者将器件本体7放入下料箱6内，随后使用者通过控制器打开第二电机8，随后第二电机8带动隔板9转动，同时器件本体7下落至下方隔板9的顶部，随后隔板9继续转动，同时上方的隔板9对上方的器件本体7进行隔断，随后隔板9继续转动，当下方隔板9移除下料箱6后，最底部的器件本体7下落至固定箱4内腔，随后使用者通过控制器打开气缸51，同时气缸51的活塞杆带动活动杆52向下移动，随后活动杆52带动推块53向右移动，同时推块53推动器件本体7向右移出固定箱4，随后使用者通过控制器打开第一电机31，同时第一电机31的输出轴带动第一皮带轮32转动，随后第一皮带轮32通过皮带带动第二皮带轮33转动，同时第二皮带轮33带动第一旋转轴34转动，随后第一旋转轴34带动支撑杆36转动，同时支撑杆36带动移动板38进行转动，随后移动板38带动器件本体7向右转动，同时移动板38带动器件本体7向右平移并与第一限位槽12卡接，随后测试设备对器件本体7进行逐一测试。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种半导体器件测试机台送料装置，包括固定框(1)，其特征在于：所述固定框(1)底部的两侧均栓接有支撑架，所述固定框(1)的正面栓接有箱体(2)，所述固定框(1)的内腔设置有平移机构(3)，所述固定框(1)顶部的左侧栓接有固定箱(4)，所述固定箱(4)的内腔设置有推出机构(5)，所述固定箱(4)顶部的右侧连通有下料箱(6)，所述下料箱(6)的内腔从上至下均依次填充有器件本体(7)，所述固定框(1)正面的左侧栓接有控制器。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述平移机构(3)包括第一电机(31)、第一皮带轮(32)、第二皮带轮(33)、第一旋转轴(34)、第二旋转轴(35)、支撑杆(36)、第三旋转轴(37)和移动板(38)，所述箱体(2)内腔的背面栓接有第一电机(31)，所述第一电机(31)的输出轴从前至后均依次栓接有第一皮带轮(32)，所述第一皮带轮(32)的表面通过皮带传动连接有第二皮带轮(33)，所述第二皮带轮(33)的中心处栓接有第一旋转轴(34)，所述第一旋转轴(34)的表面通过第一轴承与固定框(1)内腔的正面转动连接，所述固定框(1)内腔背面的两侧均通过第二轴承转动连接有第二旋转轴(35)，所述第一旋转轴(34)和第二旋转轴(35)相向的一侧栓接有支撑杆(36)，所述支撑杆(36)相向一侧的右侧通过第三轴承转动连接有第三旋转轴(37)，所述第三旋转轴(37)顶部的正面和背面均栓接有连接块，且连接块的顶部栓接有移动板(38)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述推出机构(5)包括气缸(51)、活动杆(52)和推块(53)，所述固定箱(4)顶部左侧的中心处栓接有气缸(51)，所述气缸(51)的活塞杆贯穿固定箱(4)并通过活动轴活动连接有活动杆(52)，所述活动杆(52)远离气缸(51)的一侧通过活动轴活动连接有推块(53)，所述推块(53)的底部与固定框(1)的顶部滑动连接，所述固定箱(4)右侧的底部开设有配合推块(53)使用的第一通槽。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述固定箱(4)的顶部栓接有第二电机(8)，所述第二电机(8)的输出轴从上至下均依次栓接有隔板(9)，所述下料箱(6)的左侧从上至下均依次开设有第二通槽，所述隔板(9)的右侧贯穿第二通槽并延伸至下料箱(6)的内腔。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述固定框(1)顶部左侧的正面和背面均开设有滑槽(10)，所述滑槽(10)的内腔滑动连接有滑块(11)，所述滑块(11)的顶部贯穿滑槽(10)并与推块(53)的底部栓接。

6.根据权利要求2所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述固定框(1)顶部的正面和背面从左至右均依次开设有配合器件本体(7)使用的第一限位槽(12)，所述移动板(38)的顶部从左至右均依次开设有配合第一限位槽(12)使用的第二限位槽(13)。

7.根据权利要求4所述的一种半导体器件测试机台送料装置，其特征在于：所述隔板(9)的形状为半圆板形，所述隔板(9)呈交错状分布。

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