CN214200576U - 一种发光器件的测试盒 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别转动连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的底发射型发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述底发射行发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。本实用新型通过所述凸透镜对底发射型发光器件发出的光进行汇聚然后再到达到所述光电二极管上，这样就增大了光电二极管对底发射型发光器件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件的性能测试数据。

Description

一种发光器件的测试盒

技术领域

本实用新型涉及发光器件的性能测试技术领域，尤其涉及一种发光器件的测试盒。

背景技术

近年来，量子点发光二极管(QLED)和有机发光二极管(OLED)因具有高亮度、低功耗、广色域、易加工等诸多优点而在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。相对比有机发光二极管(OLED)，在同等画质下，QLED的节能性有望达到OLED的两倍，发光率将提升30％至40％。同时，QLED具有启亮电压低、光致发光光谱半高宽窄、发光波长与颜色可通过量子点颗粒尺寸进行调节和低成本溶液法制备等优点，在固态照明和显示领域有巨大的应用潜力。通常发光材料及器件的性能可以从发光性能和电学性能两个方面来评价。发光性能主要包括发射光谱、发光亮度、发光效率、发光色度和寿命；而电学性能则包括电流与电压的关系等，这些都是衡量材料和器件性能的主要参数。

通过LabView控制海洋光学公司的QE PRO光纤光谱仪和Keithly 2400以及硅光二极管，可以搭建一套发光器件的效率测试系统。QE PRO光纤光谱仪直接读出的光谱数据横坐标分别为波长λ(单位为nm)和与光谱能量成正比的CCD计数S(λ)(单位为Count)，其中每次读取的λ都是固定值。用标准光源校准光谱仪，得到校正系数Cp(λ)，QE PRO光纤光谱仪在暗态下的CCD计数为D(λ)；光谱仪积分时间为T(单位为S)，QE PRO光纤光谱仪读取的光谱间隔为δλ(单位为nm)；波长λ处的光子能量为Eλ；Keithly2400直接测得器件电流Io；硅光二极管直接测得光电流Is然后可以通过乘以转换因子将其转换为实际亮度。光电二极管是一种典型的光电效应探测器，具有量子噪声低、响应快、使用方便等优点，广泛应用于多种光电器件，光电二极管的基本特性包括灵敏度、光谱响应度、响应时间、噪声等。光谱响应度又称光谱响应率，电流光谱响应度定义为在波长为λ的单位入射辐射功率P(λ)的照射下，光电二极管输出的信号电流Is。器件发射的光子数与硅光二极管收到的光子数的比例直接影响到了器件光电性能参数。底发射型发光器件的发光是一个朗伯体，而现有的硅光二极管探测器是一个平面，这就导致了硅光二极管无法完全收集底发射型发光器件发出的光强。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种发光器件的测试盒，旨在解决现有技术无法完全收集底发射型发光器件发出的光子数，导致发光器件的性能测试不准确的问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其中，包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别转动连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜为双凸透镜。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜为平凸透镜，所述平凸透镜的凸面面向所述光电二极管。

所述发光器件的测试盒，其中，所述第一凹槽的四个侧面均设置有全反镜。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜设置在所述发光器件上方的0.8-1.5cm位置处。

所述的发光器件的测试盒，其中，所述第一凹槽的四个侧面均设置有全反镜，且所述全反镜设置在位于所述凸透镜与所述发光器件之间的位置。

所述发光器件的测试盒，其中，所述凸透镜通过紫外胶层粘贴在所述第一凹槽内。

所述发光器件的测试盒，其中，所述全反镜通过紫外胶层黏贴在所述第一凹槽内。

所述的发光器件的测试盒，其中，所述光电二极管为硅光二极管。

所述的发光器件的测试盒，其中，所述测试盒主体上设置有开口槽。

有益效果：本实用新型通过在测试盒主体的第一凹槽内设置一个凸透镜，所述凸透镜位于待测的底发射型发光器件发光区与光电二极管之间，所述凸透镜可对底发射型发光器件发出的光起到汇聚作用然后再到达到所述光电二极管上，这样就增大了光电二极管对底发射型发光器件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件的性能测试数据。

附图说明

图1为本实用新型一种发光器件的测试盒的第一爆炸示意图。

图2为本实用新型一种发光器件的测试盒的第二爆炸示意图。

图3为本实用新型一种发光器件的测试盒的第三爆炸示意图。

图4为本实用新型一种发光器件的测试盒的结构示意图。

图5为本实用新型一种发光器件的测试盒在使用过程中的光路图。

图6为底发射型发光器件发出的平滑发光光谱的示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种发光器件的测试盒，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

朗伯体是指当入射能量在所有方向均匀反射，即入射能量以入射点为中心，在整个半球空间内向四周各向同性的反射能量的现象，称为漫反射，也称各向同性反射，一个完全的漫射体称为朗伯体。现有底发射型发光器件的发光是一个朗伯体，而光电二极管探测器是一个平面，这就使得光电二极管无法完全收集底发射型发光器件发出的光强，从而导致测得的底发射型发光器件的性能数据不准确。

基于此，本实用新型提供了一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，如图1-图4所示，其包括测试盒主体10以及与所述测试盒主体10上下两端分别转动连接的测试盒上盖20和测试盒底盖30；所述测试盒底盖30用于放置待测的发光器件31，所述测试盒主体10上设置有第一凹槽11，所述第一凹槽11内设置有用于对所述发光器件31发出的光进行汇聚的凸透镜12；所述测试盒上盖20上设置有第二凹槽21，所述第二凹槽21内设置有光电二极管22。

在本实施例中，如图5所示，通过在测试盒主体10的第一凹槽11内设置一个凸透镜12，所述凸透镜12位于待测的底发射型发光器件31发光区与所述光电二极管22之间，所述凸透镜12可对底发射型发光器件31发出的光起到汇聚作用然后再传达到所述光电二极管22上，这样就增大了光电二极管22对底发射型发光器31件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件31的性能测试数据。

具体来讲，在需要对底发射型发光二极管进行性能测试时，将待测的底发射型发光器件31放置在测试盒底盖30上，使所述底发射型发光器件31的发光面朝向光电二极管22，对所述底发射型发光器件31施加预设电压，使所述底发射型发光器件31发光，然后通过设置在所述第一凹槽11内的凸透镜12将底发射型发光器件31发出的光进行汇聚然后再传达到所述光电二极管22上，从而增大光电二极管22对底发射型发光器31件发出的光的收集，获得准确的底发射型发光器件31的性能测试数据。

在本实施例中，所述底发射型发光二极管在适当电压以及积分时间下可获得如图6所示的平滑发光光谱，如果光谱不平滑可微调电压或积分时间直到获得一个平滑的光谱，通过获得的光谱可判断器件是否正常发光，还可以根据获得的光谱判断探测器是否可以正常探测。

在一些实施方式中，如图2所示，所述凸透镜12为双凸透镜，光线射入所述双凸透镜后，光在双凸透镜的两面经过两次折射后，可集中在轴上的一点射出，本实施例中所述双凸透镜设置在所述第一凹槽11内部，所述底发射型发光器件31发出的光经过所述第一凹槽11，然后通过所述双凸透镜对光进行汇聚，可有效增大对光的收集，使测得的性能数据更准确。较佳地，所述双凸透镜的底部表面积与所述第一凹槽11的底部表面积相等，且所述双凸透镜可完全密封所述第一凹槽11，以防止所述底发射型发光器件发出的光不能被双凸透镜汇聚，导致测得的性能数据不准确。

在一些实施方式中，所述凸透镜还可为平凸透镜，且所述平凸透镜的凸面面向所述光电二极管，光线射入所述平凸透镜后，光在所述平凸透镜的平面不发生折射，在经过所述平凸透镜的凸面发生折射后，同样可实现光的聚集作用，以增加对光的收集。在本实施例中，所述平凸透镜的一面为平面，另一面为凸面，所述平凸透镜同样可对经过所述第一凹槽11的光进行汇聚，从而增大光电二极管22对底发射型发光器31件发出的光的收集。

在一些实施方式中，如图2所示，为了进一步增大凸透镜的汇聚作用，本实施例还在所述第一凹槽11的四个侧面均设置有全反镜13。如图5所示，所述全反镜13可将射入到第一凹槽11的四个侧面的光反射到所述凸透镜12上，所述光再经过凸透镜的汇聚后到达所述光电二极管上，从而进一步增大光电二极管22对底发射型发光器31件发出的光的收集，获得准确的底发射型发光器件31的性能测试数据。

在一些实施方式中，所述凸透镜12设置在所述底发射型发光器件31上方的0.8-1.5cm位置处。作为举例，所述所述凸透镜12设置在所述底发射型发光器件31上方的1.0cm位置处，便于最大限度的对底发射型发光器件发出的光进行汇聚。

在一些具体的实施方式中，所述第一凹槽11的四个侧面均设置有全反镜13，且所述全反镜13设置在位于所述凸透镜12与所述底发射型发光器件31之间的位置。如图5所示，在本实施例中，所述全反镜13的主要作用是将底发射型发光器件射入到第一凹槽的四个侧面的光反射到所述凸透镜12上，因此将全反镜13设置在位于所述凸透镜12与所述底发射型发光器件31之间的位置既能够实现最大限度的对底发射型发光器件发出的光进行汇聚的作用，又能够在一定程度上节省成本。

在一些具体的实施方式中，所述凸透镜通过紫外胶层粘贴在所述第一凹槽内，但不限于此。所述紫外胶层的材料为紫外胶，所述紫外胶即紫外线固化UV胶，又称无影胶、光敏胶、紫外光固化胶，它是指必须通过紫外线光照射才能固化的一类胶粘剂，它可以作为粘接剂使用。UV胶固化原理是UV固化材料中的光引发剂(或光敏剂)在紫外线的照射下吸收紫外光后产生活性自由基或阳离子，引发单体聚合、交联和接支化学反应，使粘合剂在数秒钟内由液态转化为固态。

在一些具体的实施方式中，所述全反镜通过紫外胶层黏贴在所述第一凹槽内，但不限于此。

在一些实施方式中，所述光电二极管为硅光二极管，但不限于此。

在一些实施方式中，如图1-图2所示，所述测试盒主体10上设置有开口槽14，通过所述开口槽14便于操作者将所述测试盒上盖20从所述测试盒主体10上打开，从而便于对设置在所述第一凹槽11内部的凸透镜12进行清理。

综上所述，本实用新型通过在测试盒主体的第一凹槽内设置一个凸透镜，所述凸透镜位于待测的底发射型发光器件发光区与光电二极管之间，所述凸透镜可对底发射型发光器件发出的光起到汇聚作用然后再到达到所述光电二极管上，这样就增大了光电二极管对底发射型发光器件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件的性能测试数据。

应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其特征在于，包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。

2.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述凸透镜为双凸透镜。

3.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述凸透镜为平凸透镜，所述平凸透镜的凸面面向所述光电二极管。

4.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述第一凹槽的四个侧面均设置有全反镜。

5.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述凸透镜设置在所述发光器件上方的0.8-1.5cm位置处。

6.根据权利要求5所述的发光器件的测试盒，其特征在于，所述第一凹槽的四个侧面均设置有全反镜，且所述全反镜设置在位于所述凸透镜与所述发光器件之间的位置。

7.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述凸透镜通过紫外胶层粘贴在所述第一凹槽内。

8.根据权利要求1所述发光器件的测试盒，其特征在于，所述凸透镜密封所述第一凹槽。

9.根据权利要求1所述的发光器件的测试盒，其特征在于，所述光电二极管为硅光二极管。

10.根据权利要求1所述的发光器件的测试盒，其特征在于，所述测试盒主体上设置有开口槽。

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