CN214174178U - 一种金属材料检测用的晶粒度测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，涉及晶粒度技术领域，本实用新型包括显微镜和调节装置，显微镜的表面固定连接有光板，显微镜的表面固定连接有两个镜头，显微镜的表面设有调节装置，调节装置包括有固定架，固定架与显微镜的表面滑动连接，固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆。本实用新型解决了工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。

Description

一种金属材料检测用的晶粒度测试装置

技术领域

本实用新型涉及晶粒度技术领域，尤其涉及一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。

背景技术

晶粒大小的度量称为晶粒度，即晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小。

金属材料科学领域的晶粒度的测量方法主要是通过金相显微镜观察，工作人员通常需要趴在显微镜上进行观测，工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出的照片不清晰。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜和调节装置，所述显微镜的表面固定连接有光板，所述显微镜的表面固定连接有两个镜头，所述显微镜的表面设有调节装置，所述调节装置包括有固定架，所述固定架与显微镜的表面滑动连接，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，所述连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆，所述固定杆呈“L”形结构，两个所述固定杆彼此靠近的一侧固定连接有转环，两个所述固定杆远离转环的一端固定连接有限位架，所述限位架远离固定杆的表面螺纹插设有螺栓。

优选的，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接杆，所述连接杆远离固定架的一侧固定连接有螺杆。

优选的，所述螺杆的表面螺纹连接有螺环，所述螺环的侧壁与转环转动连接，所述螺环远离转环的一侧均匀固定连接有四个固定块。

优选的，所述固定架的表面设有安装结构，所述安装结构包括有四个限位棒，四个所述限位棒均与固定架的内部滑动连接，四个所述限位棒靠近显微镜的一端固定连接有矩形板，四个所述限位棒远离矩形板的一端均固定连接有圆块。

优选的，所述矩形板靠近固定架内壁的一侧固定连接有限位环，所述限位环的内壁转动连接有圆板，所述圆板远离矩形板的表面固定连接有驱动杆，所述驱动杆与固定架的内部螺纹连接。

优选的，所述矩形板远离驱动杆的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑垫。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，

1、本实用新型中，通过设置调节装置，将手机卡放在限位架上，将手机上的摄像头移动至与显微镜上镜头同一水平线的位置后，转动限位架上的螺栓，螺栓会将手机固定在限位架上，转动螺杆上的螺环，螺环会带动转环在螺杆上进行移动，由于转环与固定杆之间是固定连接的，转环会带动固定杆在连接板上进行滑动，从而可达到调节限位架上手机位置的效果，进而可达到对手机上摄像头进行定位的效果，其中固定杆在连接板上进行移动可达到限制限位架移动方向的效果，其中螺环上的固定块具有防止工作人员转动螺环时手滑的效果，调节装置的设置解决了由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。

2、本实用新型中，通过设置安装结构，将固定架卡放在显微镜上之后，转动固定架上的驱动杆，驱动杆会带动矩形板向靠近显微镜方向移动，从而可达到将固定架固定在显微镜上的效果，其中限位棒在固定架内部滑动具有限制矩形板移动方向的效果，其中矩形板上矩形槽内壁卡接的防滑垫具有防止矩形板与显微镜之间发生滑动的问题，同时可防止矩形板会与显微镜之间发生剐蹭的问题，反方向转动驱动杆，驱动杆上的圆板会在限位环内进行转动，进而可达到带动矩形板向靠近固定架内壁方向进行移动的效果，从而可达到将固定架从显微镜上的取出效果，安装结构的设置解决了直接将调节装置固定安装在显微镜上不便于显微镜正常使用的问题。

附图说明

图1为本实用新型提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置的立体结构示意图；

图2为本实用新型提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中图1的侧视结构示意图；

图3为本实用新型提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中安装结构的结构示意图；

图4为本实用新型提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中调节装置的结构示意图；

图5为本实用新型提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中驱动杆的结构示意图。

图例说明：1、显微镜；2、光板；3、镜头；4、调节装置；401、固定架；402、连接杆；403、限位架；404、连接板；405、螺杆；406、螺栓；407、固定杆；408、转环；409、固定块；410、螺环；5、安装结构；51、驱动杆；52、防滑垫；53、矩形板；54、限位环；55、限位棒；56、圆块；57、圆板。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。

实施例1，如图1-5所示，本实用新型提供了一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜1和调节装置4，显微镜1的表面固定连接有光板2，显微镜1的表面固定连接有两个镜头3，显微镜1的表面设有调节装置4，固定架401的表面设有安装结构5。

下面具体说一下其调节装置4和安装结构5的具体设置和作用。

如图1和图4所示，调节装置4包括有固定架401，固定架401与显微镜1的表面滑动连接，固定架401远离显微镜1的表面固定连接有连接板404，连接板404远离固定架401的表面滑动插设有两个固定杆407，其中固定杆407在连接板404上进行移动可达到限制限位架403移动方向的效果，固定杆407呈“L”形结构，两个固定杆407彼此靠近的一侧固定连接有转环408，两个固定杆407远离转环408的一端固定连接有限位架403，限位架403远离固定杆407的表面螺纹插设有螺栓406，通过设置调节装置4，将手机卡放在限位架403上，将手机上的摄像头移动至与显微镜1上镜头3同一水平线的位置后，转动限位架403上的螺栓406，螺栓406会将手机固定在限位架403上，固定架401远离显微镜1的表面固定连接有连接杆402，连接杆402远离固定架401的一侧固定连接有螺杆405，螺杆405的表面螺纹连接有螺环410，转动螺杆405上的螺环410，螺环410会带动转环408在螺杆405上进行移动，由于转环408与固定杆407之间是固定连接的，转环408会带动固定杆407在连接板404上进行滑动，从而可达到调节限位架403上手机位置的效果，进而可达到对手机上摄像头进行定位的效果，螺环410的侧壁与转环408转动连接，螺环410远离转环408的一侧均匀固定连接有四个固定块409，其中螺环410上的固定块409具有防止工作人员转动螺环410时手滑的效果。

其整个调节装置4达到的效果为，通过设置调节装置4，将手机卡放在限位架403上，将手机上的摄像头移动至与显微镜1上镜头3同一水平线的位置后，转动限位架403上的螺栓406，螺栓406会将手机固定在限位架403上，转动螺杆405上的螺环410，螺环410会带动转环408在螺杆405上进行移动，由于转环408与固定杆407之间是固定连接的，转环408会带动固定杆407在连接板404上进行滑动，从而可达到调节限位架403上手机位置的效果，进而可达到对手机上摄像头进行定位的效果，其中固定杆407在连接板404上进行移动可达到限制限位架403移动方向的效果，其中螺环410上的固定块409具有防止工作人员转动螺环410时手滑的效果，调节装置4的设置解决了由于显微镜1上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。

如图1和图3所示，安装结构5包括有四个限位棒55，其中限位棒55在固定架401内部滑动具有限制矩形板53移动方向的效果，四个限位棒55均与固定架401的内部滑动连接，四个限位棒55靠近显微镜1的一端固定连接有矩形板53，四个限位棒55远离矩形板53的一端均固定连接有圆块56，矩形板53靠近固定架401内壁的一侧固定连接有限位环54，限位环54的内壁转动连接有圆板57，反方向转动驱动杆51，驱动杆51上的圆板57会在限位环54内进行转动，进而可达到带动矩形板53向靠近固定架401内壁方向进行移动的效果，从而可达到将固定架401从显微镜1上的取出效果，圆板57远离矩形板53的表面固定连接有驱动杆51，通过设置安装结构5，将固定架401卡放在显微镜1上之后，转动固定架401上的驱动杆51，驱动杆51会带动矩形板53向靠近显微镜1方向移动，从而可达到将固定架401固定在显微镜1上的效果，驱动杆51与固定架401的内部螺纹连接，矩形板53远离驱动杆51的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑垫52，其中矩形板53上矩形槽内壁卡接的防滑垫52具有防止矩形板53与显微镜1之间发生滑动的问题，同时可防止矩形板53会与显微镜1之间发生剐蹭的问题。

其整个的安装结构5达到的效果为，通过设置安装结构5，将固定架401卡放在显微镜1上之后，转动固定架401上的驱动杆51，驱动杆51会带动矩形板53向靠近显微镜1方向移动，从而可达到将固定架401固定在显微镜1上的效果，其中限位棒55在固定架401内部滑动具有限制矩形板53移动方向的效果，其中矩形板53上矩形槽内壁卡接的防滑垫52具有防止矩形板53与显微镜1之间发生滑动的问题，同时可防止矩形板53会与显微镜1之间发生剐蹭的问题，反方向转动驱动杆51，驱动杆51上的圆板57会在限位环54内进行转动，进而可达到带动矩形板53向靠近固定架401内壁方向进行移动的效果，从而可达到将固定架401从显微镜1上的取出效果，安装结构5的设置解决了直接将调节装置4固定安装在显微镜1上不便于显微镜1正常使用的问题。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (6)

1.一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜(1)和调节装置(4)，其特征在于：所述显微镜(1)的表面固定连接有光板(2)，所述显微镜(1)的表面固定连接有两个镜头(3)，所述显微镜(1)的表面设有调节装置(4)，所述调节装置(4)包括有固定架(401)，所述固定架(401)与显微镜(1)的表面滑动连接，所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接板(404)，所述连接板(404)远离固定架(401)的表面滑动插设有两个固定杆(407)，所述固定杆(407)呈“L”形结构，两个所述固定杆(407)彼此靠近的一侧固定连接有转环(408)，两个所述固定杆(407)远离转环(408)的一端固定连接有限位架(403)，所述限位架(403)远离固定杆(407)的表面螺纹插设有螺栓(406)。

2.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接杆(402)，所述连接杆(402)远离固定架(401)的一侧固定连接有螺杆(405)。

3.根据权利要求2所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述螺杆(405)的表面螺纹连接有螺环(410)，所述螺环(410)的侧壁与转环(408)转动连接，所述螺环(410)远离转环(408)的一侧均匀固定连接有四个固定块(409)。

4.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述固定架(401)的表面设有安装结构(5)，所述安装结构(5)包括有四个限位棒(55)，四个所述限位棒(55)均与固定架(401)的内部滑动连接，四个所述限位棒(55)靠近显微镜(1)的一端固定连接有矩形板(53)，四个所述限位棒(55)远离矩形板(53)的一端均固定连接有圆块(56)。

5.根据权利要求4所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述矩形板(53)靠近固定架(401)内壁的一侧固定连接有限位环(54)，所述限位环(54)的内壁转动连接有圆板(57)，所述圆板(57)远离矩形板(53)的表面固定连接有驱动杆(51)，所述驱动杆(51)与固定架(401)的内部螺纹连接。

6.根据权利要求5所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述矩形板(53)远离驱动杆(51)的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑垫(52)。

Images