CN213779952U - 一种磁材表面电阻率测试笔 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种磁材表面电阻率测试笔,包括本体,本体的材料为绝缘材料,本体具有容纳腔,容纳腔设置有腔口;检测组件,位于容纳腔内,检测组件具有平行设置的第一探针和第二探针,第一探针具有第一探测部,第二探针具有第二探测部,第一探测部和第二探测部延伸至腔口外,第一探测部和第二探测部用于接触磁材表面;隔离件,位于容纳腔内,隔离件的材料为绝缘材料,隔离件分隔第一探针和第二探针。本实用新型的一种磁材表面电阻率测试笔能够使每次测试时两根探针之间的距离保持一致。
Description
技术领域
本实用新型涉及电阻率测试工具领域,特别涉及一种磁材表面电阻率测试笔。
背景技术
目前市场上的电阻率测试工具的表笔通常是分为两支,然后两支表笔分别连接表头,两支表笔分别由两只手分开操作接触磁材。
然而,两支表笔接触磁材的时候,由于两支表笔分开操作,两支表笔每次接触磁材的距离不同,影响测试准确性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种磁材表面电阻率测试笔,能够使每次测试时两根探针之间的距离保持一致。
本实用新型是通过以下的技术方案实现的:
本实用新型的第一方面,是提供一种磁材表面电阻率测试笔,包括:本体,所述本体的材料为绝缘材料,所述本体具有容纳腔,所述容纳腔设置有腔口;检测组件,位于所述容纳腔内,所述检测组件具有平行设置的第一探针和第二探针,所述第一探针具有第一探测部,所述第二探针具有第二探测部,所述第一探测部和所述第二探测部延伸至所述腔口外,所述第一探测部和所述第二探测部用于接触磁材表面;隔离件,位于所述容纳腔内,所述隔离件的材料为绝缘材料,所述隔离件分隔所述第一探针和所述第二探针。
有益效果:与现有技术相比,本实用新型的一种磁材表面电阻率测试笔通过将第一探针和第二探针平行设置在一个容纳腔内,使第一探针和第二探针组成一个整体,不需要分开,能够使测试笔每次接触磁材时第一探针和第二探针的接触距离一致,使电阻率测试加过更准确,另外通过设置隔离件,并使用绝缘材料作为隔离件的材料,能够将第一探针和第二探针分隔开,避免第一探针和第二探针之间接触导电,同时使用绝缘材料作为本体的材料,能够避免第一探针和第二探针接触到本体时导电,影响测试结果。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述第一探测部具有渐缩部,所述渐缩部的横截面积沿远离所述本体的方向减小。
有益的是,通过在第一探测部设置渐缩部,并使渐缩部的横截面积沿远离本体的方向减小,使第一探针与磁材之间的接触为点接触,保证两个探针与磁材接触点之间的距离不变。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述隔离件还包括两个导向孔,两个所述导向孔的轴线与所述腔口垂直,所述第一探针和所述第二探针分别与两个所述导向孔配合滑动。
有益的是,通过设置导向孔,并使第一探针和第二探针分别与两个导向孔配合滑动,导向孔在第一探针和第二探针伸缩时提供导向作用,避免第一探针和第二探针在伸缩时倾斜导致接触点距离改变。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,还包括弹簧,所述弹簧位于所述容纳腔内,所述弹簧的一端抵接所述第一探针背向所述第一探测部的一端,所述弹簧的另一端抵接所述容纳腔的内表面。
有益的是,通过设置弹簧,使第一探针接触磁材时受力后能伸缩,避免第一探针与磁材碰撞导致损坏。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述容纳腔的内表面具有沉孔,所述沉孔容置所述弹簧。
有益的是,通过在容纳腔的内表面设置沉孔,沉孔容置弹簧,使沉孔能够在弹簧伸缩的时候提供定位,避免弹簧受力偏位。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述第一探针还设置有凸环部,所述凸环部位于所述弹簧和所述隔离件之间。
有益的是,通过在第一探针设置凸环部,使第一探针能够在弹簧回弹时卡在导向孔外,避免第一探针滑出导向孔而掉落。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述本体的外形呈圆筒形。
有益的是,通过将本体的外形设置成圆筒形,使手持触感更好。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,还包括第一圆筒部和第二圆筒部,所述第一圆筒部和所述第二圆筒部配合连接形成所述本体。
有益的是,通过设置第一圆筒部和第二圆筒部,由第一圆筒部和第二圆筒部连接形成本体,能够使本体的拆装更加方便快捷。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,还包括笔帽,所述笔帽具有帽口,所述帽口内侧与所述腔口外侧配合连接,所述笔帽容置所述第一探测部和所述第二探测部。
有益的是,通过设置笔帽,测试笔在非使用状态的时候将笔帽与本体连接,笔帽容置第一探测部和第二探测部,能够保护第一探测部和第二探测部不受外物碰撞损伤。
根据本实用新型所述的一种磁材表面电阻率测试笔,所述帽口的内侧设置有卡扣,所述腔口的外侧设置有卡扣槽,所述卡扣槽容置所述卡扣。
有益的是,通过在帽口内侧设置卡扣,在腔口外侧设置卡扣槽,卡扣槽容置卡扣,使笔帽和本体之间通过卡扣和卡扣槽配合来连接,使笔帽和本体之间的连接更牢固,不易脱落。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步地说明;
图1为本实用新型实施例的结构示意图。
附图标记:100-本体、110-容纳腔、120-腔口、130-沉孔、140-第一圆筒部、150-第二圆筒部、160-笔帽、200-检测组件、210-第一探针、220-第二探针、230-第一探测部、240-第二探测部、250-弹簧、300-隔离件。
具体实施方式
本部分将详细描述本实用新型的具体实施例,本实用新型之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本实用新型的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
参照图1,提供一种磁材表面电阻率测试笔的实施例。
本实施例包括本体100、检测组件200和隔离件300。
对于本体100,本体100的材料为绝缘材料,本体100具有容纳腔110,容纳腔110设置有腔口120。
通过使用绝缘材料作为本体100的材料,能够避免检测组件200接触到本体100时导电,影响测试结果,另外,在本体100内设置容纳腔110,使本体100能够容置检测组件200和隔离件300,同时容纳腔110设置腔口120,使检测组件200能够通过腔口120伸出容纳腔110外接触磁材。
在某些实施例中,本体100的外形呈圆筒形。
通过将本体100的外形设置成圆筒形,使手持触感更好。
相应的,还包括第一圆筒部140和第二圆筒部150,第一圆筒部140和第二圆筒部150配合连接形成本体100。
通过设置第一圆筒部140和第二圆筒部150,由第一圆筒部140和第二圆筒部150连接形成本体100,能够使本体100的拆装更加方便快捷。
对于检测组件200,检测组件200位于容纳腔110内,检测组件200具有平行设置的第一探针210和第二探针220,第一探针210具有第一探测部230,第二探针220具有第二探测部240,第一探测部230和第二探测部240延伸至腔口120外,第一探测部230和第二探测部240用于接触磁材表面。
通过将第一探针210和第二探针220平行设置在一个容纳腔110内,使第一探针210和第二探针220组成一个整体,不需要分开,能够使测试笔每次接触磁材时第一探针210和第二探针220的接触距离一致,使电阻率测试加过更准确。
在某些实施例中,第一探测部230具有渐缩部,渐缩部的横截面积沿远离本体100的方向减小。
通过在第一探测部230设置渐缩部,并使渐缩部的横截面积沿远离本体100的方向减小,使第一探针210与磁材之间的接触为点接触,保证两个探针与磁材接触点之间的距离不变。
在某些实施例中,还包括弹簧250,弹簧250位于容纳腔110内,弹簧250的一端抵接第一探针210背向第一探测部230的一端,弹簧250的另一端抵接容纳腔110的内表面。
通过设置弹簧250,使第一探针210接触磁材时受力后能伸缩,避免第一探针210与磁材碰撞导致损坏。
相应的,容纳腔110的内表面具有沉孔130,沉孔130容置弹簧250。
通过在容纳腔110的内表面设置沉孔130,沉孔130容置弹簧250,使沉孔130能够在弹簧250伸缩的时候提供定位,避免弹簧250受力偏位。
对于隔离件300,隔离件300位于容纳腔110内,隔离件300的材料为绝缘材料,隔离件300分隔第一探针210和第二探针220。
通过设置隔离件300,并使用绝缘材料作为隔离件300的材料,能够将第一探针210和第二探针220分隔开,避免第一探针210和第二探针220之间接触导电。
在某些实施例中,隔离件300还包括两个导向孔,两个导向孔的轴线与腔口120垂直,第一探针210和第二探针220分别与两个导向孔配合滑动。
通过设置导向孔,并使第一探针210和第二探针220分别与两个导向孔配合滑动,导向孔在第一探针210和第二探针220伸缩时提供导向作用,避免第一探针210和第二探针220在伸缩时倾斜导致接触点距离改变。
在某些实施例中,第一探针210还设置有凸环部,凸环部位于弹簧250和隔离件300之间。
通过在第一探针210设置凸环部,使第一探针210能够在弹簧250回弹时卡在导向孔外,避免第一探针210滑出导向孔而掉落。
在某些实施例中,还包括笔帽160,笔帽160具有帽口,帽口内侧与腔口120外侧配合连接,笔帽160容置第一探测部230和第二探测部240。
通过设置笔帽160,测试笔在非使用状态的时候将笔帽160与本体100连接,笔帽160容置第一探测部230和第二探测部240,能够保护第一探测部230和第二探测部240不受外物碰撞损伤。
进一步的,帽口的内侧设置有卡扣,腔口120的外侧设置有卡扣槽,卡扣槽容置卡扣。
通过在帽口内侧设置卡扣,在腔口120外侧设置卡扣槽,卡扣槽容置卡扣,使笔帽160和本体100之间通过卡扣和卡扣槽配合来连接,使笔帽160和本体100之间的连接更牢固,不易脱落。
在某些实施例中,还包括测试表和两根导线,测试表通过两根导线连接第一探针210和第二探针220,测试表测出被测磁材的电阻率并输出电阻率数值。
当然,本体100还具有两个通孔,两个通孔分别容置两根导线通过。
上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明,但是本实用新型不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (10)
1.一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,包括:
本体(100),所述本体(100)的材料为绝缘材料,所述本体(100)具有容纳腔(110),所述容纳腔(110)设置有腔口(120);
检测组件(200),位于所述容纳腔(110)内,所述检测组件(200)具有平行设置的第一探针(210)和第二探针(220),所述第一探针(210)具有第一探测部(230),所述第二探针(220)具有第二探测部(240),所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)延伸至所述腔口(120)外,所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)用于接触磁材表面;
隔离件(300),位于所述容纳腔(110)内,所述隔离件(300)的材料为绝缘材料,所述隔离件(300)分隔所述第一探针(210)和所述第二探针(220)。
2.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述第一探测部(230)具有渐缩部,所述渐缩部的横截面积沿远离所述本体(100)的方向减小。
3.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述隔离件(300)还包括两个导向孔,两个所述导向孔的轴线与所述腔口(120)垂直,所述第一探针(210)和所述第二探针(220)分别与两个所述导向孔配合滑动。
4.根据权利要求3所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,还包括弹簧(250),所述弹簧(250)位于所述容纳腔(110)内,所述弹簧(250)的一端抵接所述第一探针(210)背向所述第一探测部(230)的一端,所述弹簧(250)的另一端抵接所述容纳腔(110)的内表面。
5.根据权利要求4所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述容纳腔(110)的内表面具有沉孔(130),所述沉孔(130)容置所述弹簧(250)。
6.根据权利要求5所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述第一探针(210)还设置有凸环部,所述凸环部位于所述弹簧(250)和所述隔离件(300)之间。
7.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述本体(100)的外形呈圆筒形。
8.根据权利要求7所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,还包括第一圆筒部(140)和第二圆筒部(150),所述第一圆筒部(140)和所述第二圆筒部(150)配合连接形成所述本体(100)。
9.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,还包括笔帽(160),所述笔帽(160)具有帽口,所述帽口内侧与所述腔口(120)外侧配合连接,所述笔帽(160)容置所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)。
10.根据权利要求9所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述帽口的内侧设置有卡扣,所述腔口(120)的外侧设置有卡扣槽,所述卡扣槽容置所述卡扣。
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CN202022752052.8U CN213779952U (zh) | 2020-11-24 | 2020-11-24 | 一种磁材表面电阻率测试笔 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114252003A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-03-29 | 广州昆德半导体测试技术有限公司 | 铜箔厚度测量探针及其探测头 |
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- 2020-11-24 CN CN202022752052.8U patent/CN213779952U/zh not_active Expired - Fee Related
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