CN213558494U - 碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备，其中，碎料检测剔除装置包括：检测机构以及碎料剔除机构；检测机构包括：视觉检测相机、光源以及进料输送带，视觉检测相机位于光源的上方，二者之间形成检测工位，进料输送带经过检测工位；碎料剔除机构包括：剔料组件、收料盒以及出料输送带，剔料组件包括：剔料输送带以及与之传动连接的摆动结构，出料输送带位于剔料输送带的下游，摆动结构能够带动剔料输送带于出料输送带和收料盒之间进行往复运动。本实用新型通过视觉检测相机对硅片的外观及边缘进行视觉检测，分拣出存在裂痕或者边缘存在破损的硅片，并通过碎料剔除机构将不合格硅片分选至收料盒中，实现碎料硅片的预先剔除。

Description

碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备

技术领域

本实用新型涉及硅片检测分选技术领域，尤其涉及一种碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备。

背景技术

硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。在硅片的检测分选之前，需要首先剔除碎料硅片，使其不流入后续的各质量检测机构中。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备，以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种碎料检测剔除装置，其包括：检测机构以及碎料剔除机构；

所述检测机构包括：视觉检测相机、光源以及进料输送带，所述视觉检测相机位于所述光源的上方，二者之间形成检测工位，所述进料输送带经过所述检测工位；

所述碎料剔除机构包括：剔料组件、收料盒以及出料输送带，所述剔料组件包括：剔料输送带以及摆动结构，所述摆动结构与所述剔料输送带传动连接，所述出料输送带位于所述剔料输送带的下游，所述摆动结构能够带动所述剔料输送带于所述出料输送带和收料盒之间进行往复运动。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述视觉检测相机、光源集成于一框架中，所述视觉检测相机安装于所述框架的顶部，所述光源安装于所述框架的底部。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述检测机构还包括：多个位于所述检测工位且分布于所述光源一侧或两侧的吹气嘴。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，各吹气嘴在所述视觉检测相机进行检测之前进行吹气，或者在检测之前和之后进行吹气。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述光源为面光源。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述剔料输送带靠近所述进料输送带的一端枢转设置，所述摆动结构能够带动所述剔料输送带在所述出料输送带和收料盒之间进行枢转运动。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述剔料输送带左右设置，任一侧的剔料输送带套装于安装于一支架两端的带轮上，两侧的支架靠近所述进料输送带的一端通过一转轴枢转连接。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述摆动结构包括：电机、连杆以及连接块，所述电机的输出端通过偏心轮与所述连杆的一端相连接，所述连杆的另一端经所述连接块与两个支架的底部相连接。

作为本实用新型的碎料检测剔除装置的改进，所述收料盒设置于所述出料输送带的下方，所述收料盒一侧开口，且其开口面向所述剔料组件倾斜向上设置。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种硅片检测分选设备，其包括如上所述的碎料检测剔除装置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型碎料检测剔除装置中，通过视觉检测相机对硅片的外观及边缘进行视觉检测，分拣出存在裂痕或者边缘存在破损的硅片，并通过碎料剔除机构将不合格硅片分选至收料盒中，实现碎料硅片的预先剔除。此外，本实用新型碎料检测剔除装置中，还在检测工位中设置吹气嘴，该吹气嘴可吹掉硅片上的杂质、灰尘等，以避免影响检测的结果和精度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型碎料检测剔除装置一实施例的立体示意图；

图2为图1中碎料检测剔除装置的主视图；

图3为图1中剔料组件、收料盒的立体放大示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1、2所示，本实用新型一实施例提供一种碎料检测剔除装置，其包括：检测机构10以及碎料剔除机构20。

检测机构10基于光学检测技术，对硅片的外观及边缘进行视觉检测，根据识别的图像判断硅片是否存在裂痕或者边缘存在破损，以将该类问题硅片预先剔除，避免流入后续的各质量检测机构中。

具体地，检测机构10包括：视觉检测相机11、光源12以及进料输送带13。

其中，视觉检测相机11位于光源12的上方，二者之间形成检测工位，进料输送带13经过检测工位。如此，进料输送带13将硅片传送至检测工位处，光源12提供检测所需的照明，视觉检测相机11采集硅片的图像并完成视觉检测。

安装方式上，视觉检测相机11、光源12集成于一框架30中，此时视觉检测相机11可借助固定板安装于框架30的顶部，光源12安装于框架30的底部。一个实施方式中，光源12为面光源。

进一步地，如硅片表面存在灰尘、杂质等，则该硅片有可能被误认为是不合格硅片。因此，检测机构10还包括：多个位于检测工位处且分布于光源12一侧或两侧的吹气嘴。如此，通过设置吹气嘴，可吹掉硅片上的杂质、灰尘等，以避免影响检测的结果和精度。

各吹气嘴在视觉检测相机11进行检测之前进行吹气，或者在检测之前和之后进行吹气。如此，在进行检测之前进行吹气，可预先吹掉可能存在的杂质、灰尘等，以避免影响检测的结果和精度；或者，虽然在进行检测之前进行吹气，但通过视觉检测相机11进行检测后，反馈结果表明为不合格硅片，此时可再次吹气，如此排除之前吹气不彻底，导致杂质、灰尘等未清除干净影响检测的结果和精度的问题。

碎料剔除机构20用于对通过检测判断为不合格硅片进行剔除。

如图3所示，碎料剔除机构20包括：剔料组件21、收料盒22以及出料输送带23。

其中，剔料组件21用于将合格硅片输送至出料输送带23进行出料，以及将不合格硅片送到收料盒22中。该剔料组件21包括：剔料输送带211以及摆动结构212，摆动结构212与剔料输送带211传动连接，出料输送带23位于剔料输送带211的下游，摆动结构212能够带动剔料输送带211于出料输送带23和收料盒22之间进行往复运动。如此，当摆动结构212带动剔料输送带211与出料输送带23对齐时，可将合格硅片输送至出料输送带23；当摆动结构212带动剔料输送带211与收料盒22对齐时，可将不合格硅片输送至收料盒22中。

一个实施方式中，剔料输送带211靠近进料输送带13的一端枢转设置，摆动结构212能够带动剔料输送带211在出料输送带23和收料盒22之间进行枢转运动。具体结构上，剔料输送带211左右设置，任一侧的剔料输送带211套装于安装于一支架213两端的带轮214上，两侧的支架213靠近进料输送带13的一端通过一转轴枢转连接。

进一步地，摆动结构212包括：电机2121、连杆2122以及连接块2123，电机2121的输出端通过偏心轮与连杆2122的一端相连接，连杆2122的另一端经连接块2123与两个支架的底部相连接。从而，电机2121工作时，可通过偏心轮和连杆2122带动与之连接的剔料输送带211进行枢转摆动，实现硅片在收料盒22以及出料输送带23之间的分选。

如上所述，收料盒22用于接收不合格硅片。设置方式上，收料盒22位于出料输送带23的下方。同时，为了方便接收硅片，收料盒22一侧开口，且其开口面向剔料组件21倾斜向上设置。为了使得该收料盒22的开口能够倾斜向上设置，该收料盒22的底部设置有垫片221。

本实用新型另一实施例还提供一种硅片检测分选设备，该硅片检测分选设备包括如上实施例所述的碎料检测剔除装置。

综上所述，本实用新型碎料检测剔除装置中，通过视觉检测相机对硅片的外观及边缘进行视觉检测，分拣出存在裂痕或者边缘存在破损的硅片，并通过碎料剔除机构将不合格硅片分选至收料盒中，实现碎料硅片的预先剔除。此外，本实用新型碎料检测剔除装置中，还在检测工位中设置吹气嘴，该吹气嘴可吹掉硅片上的杂质、灰尘等，以避免影响检测的结果和精度。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (9)

1.一种碎料检测剔除装置，其特征在于，所述碎料检测剔除装置包括：检测机构以及碎料剔除机构；

所述检测机构包括：视觉检测相机、光源以及进料输送带，所述视觉检测相机位于所述光源的上方，二者之间形成检测工位，所述进料输送带经过所述检测工位；所述检测机构还包括：多个位于所述检测工位处且分布于所述光源一侧或两侧的吹气嘴；

所述碎料剔除机构包括：剔料组件、收料盒以及出料输送带，所述剔料组件包括：剔料输送带以及摆动结构，所述摆动结构与所述剔料输送带传动连接，所述出料输送带位于所述剔料输送带的下游，所述摆动结构能够带动所述剔料输送带于所述出料输送带和收料盒之间进行往复运动。

2.根据权利要求1所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述视觉检测相机、光源集成于一框架中，所述视觉检测相机安装于所述框架的顶部，所述光源安装于所述框架的底部。

3.根据权利要求1所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，各吹气嘴在所述视觉检测相机进行检测之前进行吹气，或者在检测之前和之后进行吹气。

4.根据权利要求1所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述光源为面光源。

5.根据权利要求1所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述剔料输送带靠近所述进料输送带的一端枢转设置，所述摆动结构能够带动所述剔料输送带在所述出料输送带和收料盒之间进行枢转运动。

6.根据权利要求5所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述剔料输送带左右设置，任一侧的剔料输送带套装于安装于一支架两端的带轮上，两侧的支架靠近所述进料输送带的一端通过一转轴枢转连接。

7.根据权利要求6所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述摆动结构包括：电机、连杆以及连接块，所述电机的输出端通过偏心轮与所述连杆的一端相连接，所述连杆的另一端经所述连接块与两个支架的底部相连接。

8.根据权利要求1或5所述的碎料检测剔除装置，其特征在于，所述收料盒设置于所述出料输送带的下方，所述收料盒一侧开口，且其开口面向所述剔料组件倾斜向上设置。

9.一种硅片检测分选设备，其特征在于，所述硅片检测分选设备包括如权利要求1至8任一项所述的碎料检测剔除装置。

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