CN213544696U - 一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构 - Google Patents

一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及电子产品老化测试技术领域,公开了一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,包括测试箱,测试箱为下端开口结构,测试箱的内箱顶连接有放置架,测试箱的下端箱口连接有水箱,测试箱和水箱通过测试机构相连接;测试机构包括呈“十”字型的支撑架,支撑架固定连接在水箱的内箱壁上,水箱的箱顶中心处通过密封轴承转动连接有上端密封的导管,且密封轴承镶嵌在水箱的箱顶,导管的两端穿过密封轴承设置,位于水箱内导管的管壁上连通有呈“L”型的出气管,出气管的另一端为密封状态。本实用新型对放置架上的电子产品均匀的喷出湿热气体,对其进行老化测试,提高了测试精度,且结构紧凑。

Description

一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构
技术领域
本实用新型涉及电子产品老化测试技术领域,尤其涉及一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构。
背景技术
老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程,该实验主要针对塑胶材料,如常见的热风湿热老化。在电子产品的生产中,常常需要对生产的电子产品或电子产品组装零配件等进行热风湿热老化测试。目前一般是,抽风机把蒸汽发生器中的蒸汽从多组喷气嘴中喷向工作腔内,热风机把热空气出入工作腔内,对工作腔内的电机产品进行加热,产品受湿热程度不均匀,降低了测试精度。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中产品受湿热程度不均匀,降低了测试精度的问题,而提出的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,包括测试箱,所述测试箱为下端开口结构,所述测试箱的内箱顶连接有放置架,所述测试箱的下端箱口连接有水箱,所述测试箱和水箱通过测试机构相连接;
所述测试机构包括呈“十”字型的支撑架,所述支撑架固定连接在水箱的内箱壁上,所述水箱的箱顶中心处通过密封轴承转动连接有上端密封的导管,且密封轴承镶嵌在水箱的箱顶,所述导管的两端穿过密封轴承设置,位于所述水箱内导管的管壁上连通有呈“L”型的出气管,所述出气管的另一端为密封状态,所述出气管靠近放置架的竖直端管壁上均匀等距的设有若干个喷气口,所述支撑架的上端中心处固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出端通过联轴器连接有转动轴,所述转动轴的另一端延伸至导管内并连接有螺旋扇叶,位于所述导管内转动轴的轴壁上对称固定连接有传动杆,两根所述传动杆的另一端均固定连接在导管的内管壁上,位于所述支撑架下方的水箱内填充有液态水,所述水箱的内箱底对称安装有加热板。
优选的,所述测试箱的正面安装有箱门,且箱门上连接有把手。
优选的,位于所述支撑架下方的水箱一侧竖直箱壁上镶嵌有透明的观察板,且观察板上设有刻度值。
优选的,所述水箱靠近箱顶位置的一侧箱壁上连通有补液管,且补液管远离水箱的管口塞有管塞。
优选的,所述水箱靠近箱底位置的一侧箱壁上连通有出液管,且出液管上安装有阀门。
优选的,所述水箱的一侧箱壁上安装有温度计。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,具备以下有益效果:
该用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,通过设置测试机构,将待测试电子产品放置在放置架上,启动加热板和驱动电机,加热板对水箱中液态水进行加热,加热后产生的湿热蒸汽通过出气管上的喷气口喷出,同时出气管以放置架为中心进行转动,对放置架上的电子产品均匀的喷出湿热气体,对其进行老化测试,提高了测试精度,且结构紧凑。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现,本实用新型对放置架上的电子产品均匀的喷出湿热气体,对其进行老化测试,提高了测试精度,且结构紧凑。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构的结构示意图;
图2为图1中A部分的放大图。
图中:1测试箱、2放置架、3水箱、4支撑架、5密封轴承、6导管、7出气管、8喷气口、9驱动电机、10转动轴、11螺旋扇叶、12传动杆、13液态水、14加热板、15观察板、16补液管、17出液管、18温度计。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
参照图1-2,一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,包括测试箱1,测试箱1为下端开口结构,测试箱1的内箱顶连接有放置架2,测试箱1的下端箱口连接有水箱3,测试箱1和水箱3通过测试机构相连接;
测试机构包括呈“十”字型的支撑架4,支撑架4固定连接在水箱3的内箱壁上,水箱3的箱顶中心处通过密封轴承5转动连接有上端密封的导管6,且密封轴承5镶嵌在水箱3的箱顶,导管6的两端穿过密封轴承5设置,位于水箱3内导管6的管壁上连通有呈“L”型的出气管7,出气管7的另一端为密封状态,出气管7靠近放置架2的竖直端管壁上均匀等距的设有若干个喷气口8,支撑架4的上端中心处固定连接有耐高温型的驱动电机9,驱动电机9的输出端通过联轴器连接有转动轴10,转动轴10的另一端延伸至导管6内并连接有螺旋扇叶11,位于导管6内转动轴10的轴壁上对称固定连接有传动杆12,两根传动杆12的另一端均固定连接在导管6的内管壁上,位于支撑架4下方的水箱3内填充有液态水13,水箱3的内箱底对称安装有加热板14,将待测试电子产品放置在放置架2上,启动加热板14和驱动电机9,加热板14对水箱3中液态水13进行加热,驱动电机9通过转动轴10带动螺旋扇叶11和传动杆12转动,传动杆12转动时带动导管6发生转动,进而带动出气管7以放置架2为中心进行转动,螺旋扇叶11转动时,将水箱3内液态水13加热后产生的湿热蒸汽,吸入导管6中,再通过出气管7上的喷气口8喷向放置架2上的电子产品,对放置架2上的电子产品均匀的喷出湿热气体,对其进行老化测试,提高了测试精度,且结构紧凑。
测试箱1的正面安装有箱门,且箱门上连接有把手,通过箱门便于对放置架2上的电子产品进行取放。
位于支撑架4下方的水箱3一侧竖直箱壁上镶嵌有透明的观察板15,且观察板15上设有刻度值,便于对水箱3内剩余液态水13含量进行观察。
水箱3靠近箱顶位置的一侧箱壁上连通有补液管16,且补液管16远离水箱3的管口塞有管塞,通过补液管16便于向水箱3中补充液态水13。
水箱3靠近箱底位置的一侧箱壁上连通有出液管17,且出液管17上安装有阀门,便于排出水箱3内剩余的液态水13。
水箱3的一侧箱壁上安装有温度计18,通过温度计18便于对水箱3内液态水13的水温进行实时显示。
本实用新型中,将待测试电子产品放置在放置架2上,启动加热板14和驱动电机9,加热板14对水箱3中液态水13进行加热,驱动电机9通过转动轴10带动螺旋扇叶11和传动杆12转动,传动杆12转动时带动导管6发生转动,进而带动出气管7以放置架2为中心进行转动,螺旋扇叶11转动时,将水箱3内液态水13加热后产生的湿热蒸汽,吸入导管6中,再通过出气管7上的喷气口8喷向放置架2上的电子产品,对放置架2上的电子产品均匀的喷出湿热气体,对其进行老化测试,提高了测试精度,且结构紧凑。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,包括测试箱(1),其特征在于,所述测试箱(1)为下端开口结构,所述测试箱(1)的内箱顶连接有放置架(2),所述测试箱(1)的下端箱口连接有水箱(3),所述测试箱(1)和水箱(3)通过测试机构相连接;
所述测试机构包括呈“十”字型的支撑架(4),所述支撑架(4)固定连接在水箱(3)的内箱壁上,所述水箱(3)的箱顶中心处通过密封轴承(5)转动连接有上端密封的导管(6),且密封轴承(5)镶嵌在水箱(3)的箱顶,所述导管(6)的两端穿过密封轴承(5)设置,位于所述水箱(3)内导管(6)的管壁上连通有呈“L”型的出气管(7),所述出气管(7)的另一端为密封状态,所述出气管(7)靠近放置架(2)的竖直端管壁上均匀等距的设有若干个喷气口(8),所述支撑架(4)的上端中心处固定连接有驱动电机(9),所述驱动电机(9)的输出端通过联轴器连接有转动轴(10),所述转动轴(10)的另一端延伸至导管(6)内并连接有螺旋扇叶(11),位于所述导管(6)内转动轴(10)的轴壁上对称固定连接有传动杆(12),两根所述传动杆(12)的另一端均固定连接在导管(6)的内管壁上,位于所述支撑架(4)下方的水箱(3)内填充有液态水(13),所述水箱(3)的内箱底对称安装有加热板(14)。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,其特征在于,所述测试箱(1)的正面安装有箱门,且箱门上连接有把手。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,其特征在于,位于所述支撑架(4)下方的水箱(3)一侧竖直箱壁上镶嵌有透明的观察板(15),且观察板(15)上设有刻度值。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,其特征在于,所述水箱(3)靠近箱顶位置的一侧箱壁上连通有补液管(16),且补液管(16)远离水箱(3)的管口塞有管塞。
5.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,其特征在于,所述水箱(3)靠近箱底位置的一侧箱壁上连通有出液管(17),且出液管(17)上安装有阀门。
6.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,其特征在于,所述水箱(3)的一侧箱壁上安装有温度计(18)。
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