CN114355172A - 一种高温高湿老化测试箱 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高温高湿老化测试箱,包括箱体、烘箱、水箱、老化组件、驱动组件、控制组件和去湿线架组,驱动组件、控制组件和去湿线架组均设置在所述箱体内,老化组件设置在所述烘箱内,老化组件包括老化架和设置在所述老化架上的老化板,控制组件包括工控机,驱动组件包括驱动板架和设置在驱动板架上的驱动板,老化板通过驱动板与工控机电性连接,水箱固定在烘箱的下端,水箱与烘箱连通,去湿线架组包括风机、漏斗罩、集风罩和集线罩,集线罩设置在所述集风罩的一侧,集线罩和集风罩均设置在漏斗罩的上端,集风罩和漏斗罩均与所述集线罩相通,风机的出风口与集风罩的进风口相对设置。能通过独立的烘箱和水箱,对芯片进行高温高湿测试。
Description
技术领域
本发明涉及半导体测试领域,尤其涉及一种高温高湿老化测试箱。
背景技术
在半导体芯片测试中,高温测试利于测试芯片的耐温性能,随着芯片在不同领域应用,芯片的防水性能也越来越重要,因此对芯片的耐湿或防水性能的测试也越来越重要。
由于在测试装置中设置有易遇水气短路的线路和电子电路,而给芯片的耐湿测试造成不便,从而导致现有的芯片耐湿测试装置测试的湿度不高。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种高温高湿老化测试箱,其设置有去湿线架组,能通过独立的烘箱和水箱,对芯片进行高温高湿测试。
本发明的目的采用以下技术方案实现:
一种高温高湿老化测试箱,包括箱体、烘箱、水箱、老化组件、驱动组件、控制组件和去湿线架组,所述驱动组件、所述控制组件和所述去湿线架组均设置在所述箱体内,所述老化组件设置在所述烘箱内,所述老化组件包括老化架和设置在所述老化架上的老化板,所述控制组件包括工控机,所述驱动组件包括驱动板架和设置在所述驱动板架上的驱动板,所述老化板通过所述驱动板与所述工控机电性连接,其特征在于:所述水箱固定在所述烘箱的下端,所述水箱与所述烘箱连通,所述去湿线架组包括风机、漏斗罩、集风罩和集线罩,所述风机设置在所述箱体内,所述集线罩设置在所述集风罩的一侧,所述集线罩和所述集风罩均设置在所述漏斗罩的上端,所述集风罩和所述漏斗罩均与所述集线罩相通,所述风机的出风口与所述集风罩的进风口相对设置。
优选的,所述去湿线架组还包括U型罩脚,所述U型罩脚固定在所述漏斗罩的下端,所述去湿线架组通过所述U型罩脚与所述驱动组件固定连接。
优选的,所述集风罩为L型集风罩,所述集线罩上设置有多个用于线路进出的开孔。
优选的,所述驱动组件还包括保险丝架和设置在所述保险丝架上的保险丝板,所述保险丝架与所述驱动板架固定连接,所述保险丝板与所述驱动板电性连接。
优选的,所述驱动组件还包括第一导轨板、第二导轨板和两个连接板,所述第一导轨板和所述第二导轨板均设置在两个连接板之间,所述驱动板通过所述第一导轨板与所述驱动板架滑动连接,所述保险丝板通过所述第二导轨板与所述保险丝架滑动连接。
优选的,所述驱动组件还包括对接件,所述对接件包括两个连接座和支架,所述两个连接座通过所述支架固定连接,一个连接座与所述驱动板电性连接,另一个连接座与所述保险丝板电性连接。
优选的,所述控制组件还包括电源柜,所述电源柜设置在所述箱体内,所述电源柜内设置有多个1U电源,所述1U电源与所述保险丝板电性连接,所述工控机也设置在所述电源柜内。
优选的,所述老化组件还包括固定在所述老化架上的第三导轨板和密封座,所述老化板通过所述第三导轨板与所述老化架滑动连接,所述密封座与所述老化板电性连接。
优选的,所述控制组件还包括辅助电源,所述辅助电源包括弱电隔板、强电隔板、保护罩、稳压电源和安全板,所述强电隔板设置在所述保护罩内,所述弱电隔板固定在所述保护罩上,所述稳压电源和安全板均设置在所述弱电隔板上,所述稳压电源分别与所述安全板和所述驱动板电性连接,所述强电隔板上设置有稳压器,所述稳压器与所述工控机电性连接。
优选的,所述高温高湿老化测试箱还包括底板和显示屏,所述箱体和所述烘箱均固定在所述底板上,所述显示屏固定在所述烘箱上,所述显示屏与所述老化板电性连接。
相比现有技术,本发明的有益效果在于:
本申请公开了去湿线架组、独立的烘箱和水箱,所述去湿线架组能把线路上的湿气(水气)去除,而防止短路,所述烘箱能对芯片进行高温测试,所述水箱内的水气可以上升到所述烘箱内,而对半导体芯片进行高湿测试。
附图说明
图1为本发明的高温高湿老化测试箱的立体结构示意图;
图2为本发明的去湿线架组去掉风机后的立体结构示意图;
图3为本发明的驱动组件的立体结构示意图;
图4为本发明的对接件的立体结构示意图;
图5为本发明的老化组件的立体结构示意图;
图6为本发明的电源柜的立体结构示意图;
图7为本发明的辅助电源的立体结构示意图。
图中:100、高温高湿老化测试箱;10、箱体;11、底板;12、侧门;20、控制组件;21、电源柜;211、1U电源;22、工控机;23、辅助电源;231、稳压电源;232、弱电隔板;234、安全板;235、保护罩;236、强电隔板;30、烘箱;31、显示屏;40、水箱;50、去湿线架组;51、集风罩;52、集线罩;521、开孔;53、漏斗罩;54、U型罩脚;60、驱动组件;61、驱动板架;611、第一导轨板;62、保险丝架;621、第二导轨板;63、连接板;64、对接件;641、金手指;642、连接座;643、支架;70、老化组件;71、老化架;72、第三导轨板;73、密封座。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的具体技术方案、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
如图1-图5所示,本申请公开的一种高温高湿老化测试箱100,包括箱体10、烘箱30、水箱40、老化组件70、驱动组件60、控制组件20和去湿线架组50,所述驱动组件60、所述控制组件20和所述去湿线架组50均设置在所述箱体10内,所述老化组件70设置在所述烘箱30内,所述老化组件70包括老化架71和设置在所述老化架71上的老化板,所述控制组件70包括工控机22,所述驱动组件60包括驱动板架61和设置在所述驱动板架61上的驱动板,所述老化板通过所述驱动板与所述工控机22电性连接,所述去湿线架组50包括风机、漏斗罩53、集风罩51和集线罩52,所述风机设置在所述箱体10内,所述集线罩52设置在所述集风罩51的一侧,所述集线罩52和所述集风罩51均设置在所述漏斗罩53的上端,所述集风罩51和所述漏斗罩53均与所述集线罩52相通,所述风机的出风口与所述集风罩51的进风口相对设置;所述水箱40固定在所述烘箱30的下端,所述水箱40与所述烘箱30连通。
在上述实施方式中,所述高温高湿老化测试箱100包括去湿线架组50、独立的烘箱30和水箱40,所述去湿线架组50能把线路上的湿气(水气)去除,而防止短路,所述烘箱30能对芯片进行高温测试,所述水箱40内的水气可以上升到所述烘箱30内,而对半导体芯片进行高湿测试。
其中,所述控制组件20能发出测试指令给所述驱动组件60,所述驱动组件60能根据所述测试指令生成测试信号(包括温度信号或湿度信号)给所述老化组件70上的老化板,所述老化板再对半导体器件进行测试。所述烘箱30通过细孔与所述水箱40连通,所述烘箱30内可设置由所述控制组件20控制的加湿器,该加湿器内的水从所述水箱40内获得,该加湿器与所述控制组件20电性连接。所述烘箱30内的线路通过所述去湿线架组50上的集线罩52进入集风罩51,线路再从所述集风罩51或漏斗罩53与所述控制组件20或驱动组件60电性连接。所述风机对所述集风罩51内的线路进行去湿,去湿时所产生的细水珠可以顺着所述漏斗罩53流出或者流入所述水箱40。
如图2所示,优选的,所述去湿线架组50还包括U型罩脚54,所述U型罩脚54固定在所述漏斗罩53的下端,所述去湿线架组50通过所述U型罩脚54与所述驱动组件60固定连接。所述集风罩51为L型集风罩51,所述集线罩51上设置有多个用于线路进出的开孔521。所述U型罩脚54更利于排水,所述去湿线架组50与所述驱动板架51固定连接。所述L型集风罩51更利于与所述漏斗罩53连通,所述开孔521利于线路的进出。
如图3-图4所示,在一种优选的实施方式中,所述驱动组件60还包括第一导轨板611、第二导轨板621、两个连接板63、对接件64、保险丝架62和设置在所述保险丝架62上的保险丝板,所述保险丝架62与所述驱动板架61固定连接,所述保险丝板与所述驱动板电性连接。所述第一导轨板611和所述第二导轨板621均设置在两个连接板63之间,所述驱动板通过所述第一导轨板611与所述驱动板架61滑动连接,所述保险丝板通过所述第二导轨板621与所述保险丝架62滑动连接。所述对接件64包括两个连接座642和支架643,所述两个连接座642通过所述支架643固定连接,一个连接座642与所述驱动板电性连接,另一个连接座642与所述保险丝板电性连接。
在上述实施方式中,所述驱动板通过所述第一导轨板611与所述驱动板架61滑动连接,所述保险丝板通过所述第二导轨板621与所述保险丝架62滑动连接,所述连接板63呈L型,所述去湿线架组50设置在L型连接板63的缺口处,两个连接板63分别设置在所述保险丝架62和所述驱动板架61的上下端。所述对接件64利于所述驱动板与所述保险丝板的电性连接,所述支架643呈棱形且中空,利于散热和调整方向。由于所述烘箱30内的湿气较大,容易出现短路,因此在所述驱动组件60上设置保险丝板。其中,所述保险丝板与所述老化板一一电性连接,所述保险丝板上设置有多个保险丝,每个保险丝可与所述老化板上的待测半导体(芯片)一一电性连接,当连接某个待测芯片的线路出现短路,则与该待测芯片电性连接的保险丝熔断,而使该条线路断开,从而防止了整个线路因短路被烧坏。
如图5所示,在一种优选的实施方式中,所述老化组件70还包括固定在所述老化架71上的第三导轨板72和密封座73,所述老化板通过所述第三导轨板72与所述老化架71滑动连接,所述密封座73与所述老化板电性连接。所述高温高湿老化测试箱100还包括底板11和显示屏31,所述箱体10和所述烘箱30均固定在所述底板11上,所述显示屏31固定在所述烘箱30上,所述显示屏31与所述老化板电性连接。
在上述实施方式中,所述老化板通过所述密封座73与所述保险丝板电性连接,所述老化板与所述密封座73插接,所述老化板上设置有用于实现高温测试的加热丝,所述老化架71设置在所述烘箱的腔室内。所述显示屏31能显示测试信息,所述底板11的下端还设置有万向轮,所述箱体10还设置有侧门12和报警器,所述报警器与所述工控机22电性连接。
如图6-图7所示,在一种优选的实施方式中,所述控制组件20还包括电源柜21和辅助电源23,所述电源柜21设置在所述箱体10内,所述电源柜21内设置有多个1U电源211,所述1U电源211与所述保险丝板电性连接,所述工控机22也设置在所述电源柜21内。所述辅助电源23包括弱电隔板232、强电隔板236、保护罩235、稳压电源231和安全板234,所述强电隔板236设置在所述保护罩235内,所述弱电隔板232固定在所述保护罩235上,所述稳压电源231和安全板234均设置在所述弱电隔板232上,所述稳压电源231分别与所述安全板234和所述驱动板电性连接,所述强电隔板236上设置有稳压器,所述稳压器与所述工控机22电性连接。
在上述实施方式中,所述工控机22最优为PC机,所述1U电源211给所述驱动板提供直流电源,所述稳压电源231能给所述驱动板补充稳定的电压,所述弱电隔板232可防止所述稳压电源231短路,所述保护罩235有支撑和屏蔽电磁感应的作用,所述安全板234可安装保险丝和继电器等电子元件,所述强电隔板236能防止强电漏电烧坏电子元件,所述控制组件20还包括操作面板,所述操作面板与所述工控机22电性连接,所述操作面板上设置有触摸屏和按钮。
综述,本高温高湿老化测试箱100通过所述去湿线架组50把线路上的湿气(水气)去除,而防止短路,所述烘箱30能对待测芯片进行高温测试,所述水箱40内的水气可以上升到所述烘箱30内,而对待测芯片进行高湿测试。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (10)
1.一种高温高湿老化测试箱,包括箱体、烘箱、水箱、老化组件、驱动组件、控制组件和去湿线架组,所述驱动组件、所述控制组件和所述去湿线架组均设置在所述箱体内,所述老化组件设置在所述烘箱内,所述老化组件包括老化架和设置在所述老化架上的老化板,所述控制组件包括工控机,所述驱动组件包括驱动板架和设置在所述驱动板架上的驱动板,所述老化板通过所述驱动板与所述工控机电性连接,其特征在于:所述水箱固定在所述烘箱的下端,所述水箱与所述烘箱连通,所述去湿线架组包括风机、漏斗罩、集风罩和集线罩,所述风机设置在所述箱体内,所述集线罩设置在所述集风罩的一侧,所述集线罩和所述集风罩均设置在所述漏斗罩的上端,所述集风罩和所述漏斗罩均与所述集线罩相通,所述风机的出风口与所述集风罩的进风口相对设置。
2.根据权利要求1所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述去湿线架组还包括U型罩脚,所述U型罩脚固定在所述漏斗罩的下端,所述去湿线架组通过所述U型罩脚与所述驱动组件固定连接。
3.根据权利要求2所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述集风罩为L型集风罩,所述集线罩上设置有多个用于线路进出的开孔。
4.根据权利要求1所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述驱动组件还包括保险丝架和设置在所述保险丝架上的保险丝板,所述保险丝架与所述驱动板架固定连接,所述保险丝板与所述驱动板电性连接。
5.根据权利要求4所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述驱动组件还包括第一导轨板、第二导轨板和两个连接板,所述第一导轨板和所述第二导轨板均设置在两个连接板之间,所述驱动板通过所述第一导轨板与所述驱动板架滑动连接,所述保险丝板通过所述第二导轨板与所述保险丝架滑动连接。
6.根据权利要求5所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述驱动组件还包括对接件,所述对接件包括两个连接座和支架,所述两个连接座通过所述支架固定连接,一个连接座与所述驱动板电性连接,另一个连接座与所述保险丝板电性连接。
7.根据权利要求6所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述控制组件还包括电源柜,所述电源柜设置在所述箱体内,所述电源柜内设置有多个1U电源,所述1U电源与所述保险丝板电性连接,所述工控机也设置在所述电源柜内。
8.根据权利要求1所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述老化组件还包括固定在所述老化架上的第三导轨板和密封座,所述老化板通过所述第三导轨板与所述老化架滑动连接,所述密封座与所述老化板电性连接。
9.根据权利要求1所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述控制组件还包括辅助电源,所述辅助电源包括弱电隔板、强电隔板、保护罩、稳压电源和安全板,所述强电隔板设置在所述保护罩内,所述弱电隔板固定在所述保护罩上,所述稳压电源和安全板均设置在所述弱电隔板上,所述稳压电源分别与所述安全板和所述驱动板电性连接,所述强电隔板上设置有稳压器,所述稳压器与所述工控机电性连接。
10.根据权利要求1所述的高温高湿老化测试箱,其特征在于:所述高温高湿老化测试箱还包括底板和显示屏,所述箱体和所述烘箱均固定在所述底板上,所述显示屏固定在所述烘箱上,所述显示屏与所述老化板电性连接。
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