CN213457239U - 测试电路及芯片电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片电路测试领域，具体涉及一种测试电路，用于对芯片电路进行测试，其包括：按键单元、第一单片机、第二单片机、第三单片机和显示单元，按键单元用于产生按键动作；第一单片机与按键单元连接，第一单片机用于响应按键单元的按键动作以选择测试项目；第二单片机用于与芯片电路连接，且与第一单片机连接，第二单片机根据测试项目控制芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当功能测试结果异常时生成故障信息；第三单片机与第二单片机连接，用于接收故障信息；显示单元与第三单片机连接，用于显示故障信息。本测试电路可以完成芯片电路的功能测试，且简单易用，成本低，有效的降低了对芯片电路进行功能测试的成本。

Description

测试电路及芯片电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片电路测试领域，特别是一种测试电路及芯片电路测试装置。

背景技术

芯片电路是把一定数量的电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过特殊工艺集成在一起的具有特定功能的电路。

为保证芯片电路的可靠性，需要对芯片电路进行功能测试。目前行业内的芯片电路大都使用测试机台，信号发生设备等各种复杂的专业测试设备来完成功能测试，但是，这些设备的购买成本基本上都是几十万上百万，成本非常昂贵，而且使用这些专业设备需要专业的操作人员。对于中小型企业来说，设备成本和人力成本都过高，导致研发芯片电路产品的前期投入过大，很容易导致产品还未研发成功就无法维持研发投入了。因此，需要设计一种测试电路，使该测试电路不仅可以完成芯片电路的功能测试，而且简单易用，成本低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种测试电路及芯片电路测试装置，旨在解决现有芯片电路功能测试成本高的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：第一方面，提供一种测试电路，用于对芯片电路进行测试，其包括：按键单元、第一单片机、第二单片机、第三单片机和显示单元，按键单元用于产生按键动作；第一单片机与所述按键单元连接，所述第一单片机用于响应所述按键单元的按键动作以选择测试项目；第二单片机用于与所述芯片电路连接，且与所述第一单片机连接，所述第二单片机根据所述测试项目控制所述芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当所述功能测试结果异常时生成故障信息；第三单片机与所述第二单片机连接，用于接收所述故障信息；显示单元与所述第三单片机连接，用于显示所述故障信息。

进一步地，所述显示单元还用于根据所述按键动作显示相应的所述故障信息。

进一步地，还包括电压检测单元，其与所述第三单片机连接，且用于与所述芯片电路连接，所述电压检测单元用于对所述芯片电路进行电压检测。

进一步地，还包括存储单元，所述存储单元与所述第三单片机连接，所述存储单元用于存储所述故障信息。

进一步地，还包括USB供电通讯单元，其与所述第一单片机连接，所述USB供电通讯单元用于与外界通讯连接。

进一步地，还包括电源单元，其与所述第一单片机、所述第二单片机和所述第三单片机连接。

进一步地，还包括至少一信号显示单元，所述信号显示单元与所述第一单片机或所述第二单片机或所述第三单片机连接，用于显示所述故障信息以及运行状态。

进一步地，所述按键单元为矩阵按键电路。

进一步地，所述第一单片机通过I\O接口与所述第二单片机连接，所述第二单片机通过I\O接口与所述第三单片机连接。

第二方面，提供一种芯片电路测试装置，所述芯片电路测试装置包括如第一方面所述的测试电路。

本实用新型的有益效果在于，通过控制按键单元产生按键动作，第一单片机响应该按键动作以选择测试项目，第二单片机根据所选择的测试项目控制芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，如果功能测试结果异常则生成故障信息，进一步地，将故障信息传送至第三单片机，第三单片机接收该故障信息后将其显示在显示单元上。由此，测试人员即可根据显示的故障信息检查该芯片电路，排除故障。此测试电路由按键单元、三个单片机以及显示单元组成，其不仅可以完成芯片电路的功能测试，而且简单易用，成本低，有效的降低了对芯片电路进行功能测试的成本。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明，附图中：

图1是本实用新型测试电路的结构框图；

图2是本实用新型按键单元的结构示意图；

图3是本实用新型第一单片机以及信号单元的结构示意图；

图4是本实用新型显示屏单元的结构示意图；

图5是本实用新型电压检测单元的结构示意图；

图6是本实用新型存储单元的结构示意图；

图7是本实用新型USB供电通讯单元的结构示意图；

图8是本实用新型电源单元的结构示意图；

图9是本实用新型单片机I\O接口的结构示意图。

具体实施方式

下面参照附图来描述本实用新型的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本实用新型的技术原理，并非旨在限制本实用新型的保护范围。

现结合附图，对本实用新型的较佳实施例作详细说明。

参见图1-4，本实用新型提供一种测试电路100，用于对芯片电路10进行测试，其包括：按键单元101、第一单片机102、第二单片机103、第三单片机104和显示单元105，按键单元101用于产生按键动作；第一单片机102与按键单元101连接，第一单片机102用于响应按键单元101的按键动作以选择测试项目；第二单片机103用于与芯片电路10连接，且与第一单片机102连接，第二单片机103根据测试项目控制芯片电路10进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当功能测试结果异常时生成故障信息；第三单片机104与第二单片机103连接，用于接收故障信息；显示单元105与第三单片机104连接，用于显示故障信息。

通过控制按键单元101产生按键动作，第一单片机102响应该按键动作以选择测试项目，第二单片机103根据所选择的测试项目控制芯片电路10进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，如果功能测试结果异常则生成故障信息，进一步地，将故障信息传送至第三单片机104，第三单片机104接收该故障信息后将其显示在显示单元105上。由此，测试人员即可根据显示的故障信息检查该芯片电路10，排除故障。此测试电路100由按键单元101、三个单片机以及显示单元105组成，其不仅可以完成芯片电路10的功能测试，而且简单易用，成本低，有效的降低了对芯片电路10进行功能测试的成本。

在本实施例中，为提高测试的效率，选用三个单片机分别运行三种不同的功能程序，可以有效的节约单片机的时间资源，使得每一个单片机可以快速实时地处理不同的工作任务，以保证该测试电路100的测试效率。当然可以理解的是，图3中所示的单片机可以是第一单片机102或第二单片机103或第三单片机104，这三个单片机的区别在于烧录的程序不同，以使三个单片机分别实现不同的功能。可选地，在第一单片机102上烧录有按键检测程序，以使第一单片机102可实时检测按键单元101的按键动作，以实时识别不同的按键动作产生的不同按键信号；在第二单片机103上烧录有芯片电路10检测程序，以对芯片电路10进行功能测试；在第三单片机104上烧录有信息储存程序，以接收故障信息。

可选地，参见图3，该三个单片机为STC89C51单片机。当然可以理解的是，也可以使用别的单片机替代STC89C51单片机，只要替换的单片机能实现STC89C51单片机的功能即可。

可选地，参见图4，该显示单元105为LCD1602液晶显示器。

在其中一个实施例中，显示单元105还用于根据按键动作显示相应的故障信息。在本实施例中，第三单片机104不会实时显示故障信息，而是根据按键动作控制第一单片机102发来的信号来确定是否需要显示故障信息以及是否需要退出故障信息显示。因为单片机在单位时间内能处理的信息有限，如果第三单片机104需要一边实时接收故障信息，一边又需要实时显示故障信息，则有可能导致第三单片机104无法完整的接收到故障信息，而将一些故障信息遗漏。为避免故障信息遗漏，造成芯片电路10有质量问题，因此在本实施例中，该测试电路100设置为显示单元105根据按键动作显示相应的故障信息。

在其中一个实施例中，参见图5，还包括电压检测单元106，其与第三单片机104连接，且用于与芯片电路10连接，电压检测单元106用于对芯片电路10进行电压检测。在一些实施例中，有些芯片电路10需要对输出电压大小和输入电压大小进行检测，因此，本测试电路100还设有电压检测单元106。当在对芯片电路10进行功能测试时，或芯片电路10功能测试结果正常后，第二单片机103可以发出同步信号，该同步信号通过控制第三单片机104以控制电压检测单元106，以对芯片电路10进行电压检测，以进一步保证芯片电路10的可靠性。进一步地，该电压检测单元106选用由XPT2046芯片电路10为主控中心以及外围电路构成。

在其中一个实施例中，参见图6，还包括存储单元107，存储单元107与第三单片机104连接，存储单元107用于存储故障信息。在本实施例中，为便于故障信息的储存以及在需要显示时进行调用，因此设有该存储单元107，用于存储故障信息。在需要显示故障信息时，由按键单元101产生按键动作，以发出按键信号，通过控制第三单片机104调用并将故障信息显示在显示单元105上。优选地，该故障信息包括故障次数以及故障位置等。可选地，该存储单元107为AT24C02存储单元107。

在其中一个实施例中，参见图7，还包括USB供电通讯单元108，其与第一单片机102连接，USB供电通讯单元108用于与外界通讯连接。不同的芯片电路10需要检测不同的功能，因此在对不同的芯片电路10进行测试时，单片机上的程序是不同的，为方便程序的烧录，因此设有该USB供电通讯单元108，以对该测试电路100进行供电，且使该测试电路100可与计算机等设备通讯连接，以对单片机进行程序烧录。当对第一单片机102的程序烧录完毕后可将该第一单片机102从其卡座上取下，并将第二单片机103装载在第一单片机102的卡座上，以对第二单片机103进行程序，第三单片机104的程序烧录以此类推。可选地，该USB供电通讯单元108以CH340G为主控中心并且加外围电路组成。

在其中一个实施例中，参见图8，还包括电源单元109，其与第一单片机102、第二单片机103和第三单片机104连接。在本实施例中，程序烧录完成后不需要再通过USB供电通讯单元108进行供电，此时则需要使用该电源单元109通过与第一单片机102、第二单片机103和第三单片机104连接，以对整个电路进行供电，以使测试电路100能正常使用。该电源单元109可使该测试电路100能脱离外接电源而使用，可极大的拓展该测试电路100的使用场景。可选地，该电源单元109以MCP4240LADJ芯片电路10为主控芯片电路10加外围电路组成。

在其中一个实施例中，参见图2，还包括至少一信号显示单元110，信号显示单元110与第一单片机102或第二单片机103或第三单片机104连接，用于显示故障信息以及运行状态。在一实施例中，为使该测试电路100使用时更加直观，因此，设有该信号显示单元110，该信号显示单元110与第一单片机102连接，用于显示故障信息以及电路的运行状态等。当然可以理解的是，第二单片机103和\或第三单片机104也可连接一个信号显示单元110，以显示更多的电路状态信息。可选地，信号显示单元110为LED灯。

在其中一个实施例中，参见图2，按键单元101为矩阵按键电路。通过该矩阵按键电路的不同按键方式可发出不同的按键信号，由此即可控制单片机进行芯片电路10功能测试或进行故障信息显示。

在其中一个实施例中，参见图9，第一单片机102通过I\O接口与第二单片机103连接，第二单片机103通过I\O接口与第三单片机104连接。该三个单片机分别有8个I\O接口，可以满足信息传输的要求，通过单片机自带的I\O接口进行连接可以有效的节约通讯连接成本。优选的，如果传输信息较多，则可以根据8位I/O口组合二进制数来确定传输的信息，8位二进制总共可以传输256个信息，完全可以满足测试需要。

本实用新型还提供一种芯片电路测试装置，该芯片电路测试装置包括如上所述的测试电路100。通过使用包括如上所述的测试电路100的芯片电路10测试装置，可有效的节约芯片电路10的测试成本，以节约研发投入。例如，本实用新型可应用在各类电源管理芯片电路10以及电机驱动芯片电路10的检测上，尤其可应用在对信号频率要求较高的LIN与CAN等信号传输芯片电路10的功能测试，老化测试上。

应当理解的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制，对本领域技术人员来说，可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而所有这些修改和替换，都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试电路，用于对芯片电路进行测试，其特征在于，包括：

按键单元，其用于产生按键动作；

第一单片机，其与所述按键单元连接，所述第一单片机用于响应所述按键单元的按键动作以选择测试项目；

第二单片机，其用于与所述芯片电路连接，且与所述第一单片机连接，所述第二单片机根据所述测试项目控制所述芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当所述功能测试结果异常时生成故障信息；

第三单片机，其与所述第二单片机连接，用于接收所述故障信息；

显示单元，其与所述第三单片机连接，用于显示所述故障信息。

2.根据权利要求1所述的一种测试电路，其特征在于：所述显示单元还用于根据所述按键动作显示相应的所述故障信息。

3.根据权利要求1或2所述的一种测试电路，其特征在于：还包括电压检测单元，其与所述第三单片机连接，且用于与所述芯片电路连接，所述电压检测单元用于对所述芯片电路进行电压检测。

4.根据权利要求3所述的一种测试电路，其特征在于：还包括存储单元，所述存储单元与所述第三单片机连接，所述存储单元用于存储所述故障信息。

5.根据权利要求4所述的一种测试电路，其特征在于：还包括USB供电通讯单元，其与所述第一单片机连接，所述USB供电通讯单元用于与外界通讯连接。

6.根据权利要求5所述的一种测试电路，其特征在于：还包括电源单元，其与所述第一单片机、所述第二单片机和所述第三单片机连接。

7.根据权利要求6所述的一种测试电路，其特征在于：还包括至少一信号显示单元，所述信号显示单元与所述第一单片机或所述第二单片机或所述第三单片机连接，用于显示所述故障信息以及运行状态。

8.根据权利要求7所述的一种测试电路，其特征在于：所述按键单元为矩阵按键电路。

9.根据权利要求2所述的一种测试电路，其特征在于：所述第一单片机通过I\O接口与所述第二单片机连接，所述第二单片机通过I\O接口与所述第三单片机连接。

10.一种芯片电路测试装置，其特征在于：所述芯片电路测试装置包括如权利要求1-9任一项所述的测试电路。

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