CN213423393U - 一种芯片检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片检测治具，包括检测底座，检测底座顶端的中部开设有检测槽，检测槽的内部嵌设有芯片检测块，芯片检测块与检测槽之间通过紧固螺栓固定连接，芯片检测块的顶部固定设有芯片通电针，芯片通电针通过外接PLC控制器与配套的指示灯电性连接，检测底座的顶端盖设有盖板；本实用新型通过芯片检测块顶端设有的芯片通电针与外接指示灯连接，通过显示不同的颜色辨别芯片的合格度，取代人工检测，不仅提高了检测效率，而且提高芯片的产品质量。

Description

一种芯片检测治具

技术领域

本实用新型涉及一种治具，特别涉及一种芯片检测治具，属于芯片生产技术领域。

背景技术

将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。

目前芯片在生产的过程中，为了保证芯片的产品质量需要对芯片进行检测，目前的芯片检测一般通过人工检测，检测效率低下，不仅增加了劳动成本，而且影响芯片的生产效率，因此需要设计一种芯片检测治具。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测治具，以解决上述背景技术中提出的目前的芯片检测一般通过人工检测，检测效率低下，不仅增加了劳动成本，而且影响芯片的生产效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：包括检测底座，所述检测底座顶端的中部开设有检测槽，所述检测槽的内部嵌设有芯片检测块，所述芯片检测块与检测槽之间通过紧固螺栓固定连接，所述芯片检测块的顶部固定设有芯片通电针，所述芯片通电针通过外接PLC控制器与配套的指示灯电性连接，所述检测底座的顶端盖设有盖板，所述盖板的两侧均开设有两个安装孔，所述盖板顶端的两侧均螺纹连接有锁紧螺栓，所述检测底座顶端的两侧均开设有固定孔，两个所述锁紧螺栓与对应的固定孔螺纹连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测底座的两侧均固定安装有稳定机构，所述稳定机构由两个连接块和拉杆组成，两个所述连接块之间固定安装有拉杆，两个所述连接块的一侧与检测底座内壁的两侧固定连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述盖板顶端的两边侧均固定安装有连接柱，两个所述连接柱的顶端与外接电动推杆的伸缩端固定连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测底座的底端固定设有多根连为一体的固定柱，多根所述固定柱外接工作台的顶端固定连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测底座顶端的四个边角处均开设有限位孔，四个所述限位孔与外接的限位柱穿插连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测底座和盖板均由金属铝材质制成。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测底座的长度为50mm±0.01mm，所述检测底座的宽度为38mm±0.01mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型一种芯片检测治具，通过芯片检测块顶端设有的芯片通电针与外接指示灯连接，通过显示不同的颜色辨别芯片的合格度，取代人工检测，不仅提高了检测效率，而且提高芯片的产品质量；

2.本实用新型一种芯片检测治具，通过检测底座两侧设有的稳定机构，稳定机构通过拉杆连接，从而保证了检测底座的稳定，从而保证芯片与芯片通电针稳定接触，避免检测底座晃动影响检测。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型正面结构示意图；

图3为本实用新型俯视结构示意图。

图中：1、检测底座；2、固定柱；3、盖板；4、安装孔；5、连接柱；6、锁紧螺栓；7、连接块；8、拉杆；9、限位孔；10、检测槽；11、紧固螺栓；12、芯片通电针；13、芯片检测块；14、固定孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供了一种芯片检测治具的技术方案：

根据图1-3所示，包括检测底座1，检测底座1顶端的中部开设有检测槽10，检测槽10的内部嵌设有芯片检测块13，芯片检测块13与检测槽10之间通过紧固螺栓11固定连接，芯片检测块13的顶部固定设有芯片通电针12，芯片通电针12通过外接PLC控制器与配套的指示灯电性连接，通过指示灯显示不同的颜色，辨别芯片是否合格，检测底座1的顶端盖设有盖板3，盖板3的两侧均开设有两个安装孔4，盖板3顶端的两侧均螺纹连接有锁紧螺栓6，检测底座1顶端的两侧均开设有固定孔14，两个锁紧螺栓6与对应的固定孔14螺纹连接，保证盖板3与检测底座1之间牢固连接。

根据图1、图2和图3所示，检测底座1的两侧均固定安装有稳定机构，稳定机构由两个连接块7和拉杆8组成，两个连接块7之间固定安装有拉杆8，两个连接块7的一侧与检测底座1内壁的两侧固定连接，通过设有的拉杆8保证检测底座1的稳定，盖板3顶端的两边侧均固定安装有连接柱5，两个连接柱5的顶端与外接电动推杆的伸缩端固定连接，检测底座1的底端固定设有多根连为一体的固定柱2，多根固定柱2外接工作台的顶端固定连接，通过设有的固定柱2便于检测底座1的固定，检测底座1顶端的四个边角处均开设有限位孔9，四个限位孔9与外接的限位柱穿插连接，检测底座1和盖板3均由金属铝材质制成，检测底座1的长度为50mm±0.01mm，检测底座1的宽度为38mm±0.01mm，控制治具的尺寸。

具体使用时，本实用新型一种芯片检测治具，当需要使用该芯片检测治具时，首先将芯片检测块13顶端的芯片通电针12通过外接PLC控制器与外接弱点电性连接，在检测时将芯片放入至检测槽10的内部，通过PLC控制器将芯片的电路进行显示在外接显示屏表面，并通过配套的指示灯进行显示颜色，当显示颜色为红色时芯片为不合格产品，当显示颜色为黄色时需要进一步检测芯片，当芯片颜色为绿色时为正常芯片，取代人工检测，有效的提高芯片的检测效率，保证芯片的产品质量。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种芯片检测治具，包括检测底座（1），其特征在于，所述检测底座（1）顶端的中部开设有检测槽（10），所述检测槽（10）的内部嵌设有芯片检测块（13），所述芯片检测块（13）与检测槽（10）之间通过紧固螺栓（11）固定连接，所述芯片检测块（13）的顶部固定设有芯片通电针（12），所述芯片通电针（12）通过外接PLC控制器与配套的指示灯电性连接，所述检测底座（1）的顶端盖设有盖板（3），所述盖板（3）的两侧均开设有两个安装孔（4），所述盖板（3）顶端的两侧均螺纹连接有锁紧螺栓（6），所述检测底座（1）顶端的两侧均开设有固定孔（14），两个所述锁紧螺栓（6）与对应的固定孔（14）螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的两侧均固定安装有稳定机构，所述稳定机构由两个连接块（7）和拉杆（8）组成，两个所述连接块（7）之间固定安装有拉杆（8），两个所述连接块（7）的一侧与检测底座（1）内壁的两侧固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述盖板（3）顶端的两边侧均固定安装有连接柱（5），两个所述连接柱（5）的顶端与外接电动推杆的伸缩端固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的底端固定设有多根连为一体的固定柱（2），多根所述固定柱（2）外接工作台的顶端固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）顶端的四个边角处均开设有限位孔（9），四个所述限位孔（9）与外接的限位柱穿插连接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）和盖板（3）均由金属铝材质制成。

7.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的长度为50mm±0.01mm，所述检测底座（1）的宽度为38mm±0.01mm。

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