CN213210353U - 一种触控芯片电性测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种触控芯片电性测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定连接有工作台，所述工作台的顶部固定连接有滑板，所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台，多个所述放置台的顶部放置有芯片，所述工作台上设有转动槽，所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮，所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴，两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮，两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条，本实用新型中，通过测试针做上下往复运动，移动板和推动杆自行输送芯片，全过程无需人工操作，既节省劳动力，又提高了工作效率，简单实用。

Description

一种触控芯片电性测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种触控芯片电性测试装置。

背景技术

触控芯片目前大多数用于“指纹加密芯片”，“指纹加密芯片”是指内嵌指纹识别技术的芯片产品，近年来国家大力支持互联网加概念的背景下，国内互联网技术蓬勃发展，带动移动互联网技术和智能终端的快速发展，移动支付已经融入了人们的生活。指纹加密支付是生物识别技术与金融支付的跨领域深度融合，这种新型的支付方式正逐步改变人们的支付方式。智能手机指纹加密芯片也将成为智能手机的标配，指纹加密芯片采用全新的(Strip)条状封装工艺，芯片表面布设有Sense(感应)区，测试时需要模拟手指按压前后测试。

目前测试方法主要是人工操作进行测试，而且工作繁琐，劳动强度较大，测试效率低，且增加了品质异常的概率，同时使人工成本居高不下，无法满足大规模生产的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种触控芯片电性测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种触控芯片电性测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定连接有工作台，所述工作台的顶部固定连接有滑板，所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台，多个所述放置台的顶部放置有芯片，所述工作台上设有转动槽，所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮，所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴，两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮，两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条，两个所述第一链轮的一侧均固定连接有转盘，两个所述转盘的一侧均转动连接有转动支杆，两个所述转动支杆的顶端固定连接有同一个移动板，所述移动板的顶部固定连接有等距排布的多个推动杆，所述底座的顶部固定连接有支撑架，所述支撑架的一侧固定连接有转动电机，所述转动电机的输出轴贯穿支撑架并固定连接有第一齿轮，所述支撑架的一侧转动连接有第二齿轮，且第二齿轮和第一齿轮相啮和，所述第二齿轮偏离圆心的一侧固定连接有滑动块，所述第二齿轮的一侧滑动连接有滑动板，所述滑动板上设有滑动槽，且滑动块的一端延伸至滑动槽并与滑动槽滑动连接，所述支撑架的一侧固定连接有上滑套，所述支撑架的一侧固定连接有下滑套，所述滑动板的顶部和底部分别固定连接有上滑杆和下滑杆，上滑杆和下滑杆分别贯穿上滑套和下滑套并与上滑套和下滑套滑动连接，所述下滑杆的底部固定连接有测试针。

优选的，所述下滑杆的底部设有滑块槽，所述滑块槽的内壁顶部固定连接有弹簧，所述弹簧的底部固定连接有滑块，且滑块与滑块槽滑动连接，所述滑块的底部和测试针固定连接，当下滑杆向下移动进行测试，测试针碰到芯片时，测试针受到芯片的抵挡向上滑动，当下滑杆向上移动时，滑块受到弹簧的弹力向下滑动，防止测试针向下移动测试芯片时，对芯片造成损坏。

优选的，所述工作台的顶部一侧固定连接有支架，支架的顶部和支撑架固定连接，支架对支撑架有一定的支撑力，防止支撑架倾斜。

优选的，所述滑动块的一端固定连接有限位盘，防止滑动板在上下移动时脱离滑动块，进而影响该触控芯片电性测试装置本体的运行。

优选的，所述底座的底部四角位置均固定连接有滚轮，方便该触控芯片电性测试装置本体移动。

优选的，所述下滑杆的底部固定连接有限位块，对滑块向下移动起到限位作用，防止滑块从滑块槽中脱落。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、转动第一齿轮带动第二齿轮随之转动，第二齿轮上的滑动块带动下滑杆做上下往复运动，不需要人工对芯片进行电性测试，节省劳动力，降低劳动成本。

2、转动轴驱动转盘转动，转动支杆和转盘转动连接，使移动板、推动杆做往复运动，可将芯片自动向前推动至测试针下方进行测试，简单方便，不需人工移动芯片，本过程无需人工。

本实用新型中，通过测试针做上下往复运动，移动板和推动杆自行输送芯片，全过程无需人工操作，既节省劳动力，又提高了工作效率，简单实用。

附图说明

图1为本实用新型的主视局部剖视结构示意图；

图2为本实用新型的侧视结构示意图；

图3为本实用新型的A处放大结构示意图；

图4为本实用新型的B处放大结构示意图。

图中：1、底座；2、滚轮；3、工作台；4、滑板；5、放置台；6、芯片；7、支撑架；8、第一齿轮；9、第二齿轮；10、上滑套；11、下滑套；12、上滑杆；13、滑动板；14、滑动块；15、滑动槽；16、下滑杆；17、移动板；18、推动杆；19、转动支杆；20、转盘；21、链条；22、第一链轮；23、转动轴；24、滑块槽；25、弹簧；26、滑块；27、限位块；28、测试针；29、限位盘；30、驱动电机；31、第二链轮；32、转动电机；33、转动槽；34、支架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1至图4，本实用新型提供的一种实施例：一种触控芯片电性测试装置，包括底座1，底座1的顶部固定连接有工作台3，工作台3的顶部固定连接有滑板4，滑板4的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台5，多个放置台5的顶部放置有芯片6，工作台3上设有转动槽33，转动槽33的内壁一侧固定连接有驱动电机30，驱动电机30的输出轴固定连接有第二链轮31，转动槽33的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴23，两个转动轴23的一端均固定连接有第一链轮22，两个第一链轮22和第二链轮31外侧套设有同一个链条 21，两个第一链轮22的一侧均固定连接有转盘20，两个转盘20的一侧均转动连接有转动支杆19，两个转动支杆19的顶端固定连接有同一个移动板17，移动板17的顶部固定连接有等距排布的多个推动杆18，底座1的顶部固定连接有支撑架7，支撑架7的一侧固定连接有转动电机32，转动电机32的输出轴贯穿支撑架7并固定连接有第一齿轮8，支撑架7的一侧转动连接有第二齿轮9，且第二齿轮9和第一齿轮8相啮和，第二齿轮9偏离圆心的一侧固定连接有滑动块 14，第二齿轮9的一侧滑动连接有滑动板13，滑动板13上设有滑动槽15，且滑动块14的一端延伸至滑动槽15并与滑动槽15滑动连接，支撑架7的一侧固定连接有上滑套10，支撑架7的一侧固定连接有下滑套11，滑动板13的顶部和底部分别固定连接有上滑杆12和下滑杆16，上滑杆12和下滑杆16分别贯穿上滑套10和下滑套11并与上滑套10和下滑套11滑动连接，下滑杆16的底部固定连接有测试针28，当然，如本领域技术人员所熟知的，驱动电机30和转动电机32的工作原理和接线方法均是司空见惯的，其均属于常规手段或者公知常识，在此就不再赘述，本领域技术人员可以根据其需要或者便利进行任意的选配。

下滑杆16的底部设有滑块槽24，滑块槽24的内壁顶部固定连接有弹簧25，弹簧25的底部固定连接有滑块26，且滑块26与滑块槽24滑动连接，滑块26的底部和测试针28固定连接，当下滑杆16 向下移动进行测试，测试针28碰到芯片6时，测试针28受到芯片6 的抵挡向上滑动，当下滑杆16向上移动时，滑块26受到弹簧25的弹力向下滑动，防止测试针28向下移动测试芯片6时，对芯片6造成损坏，工作台3的顶部一侧固定连接有支架34，支架34的顶部和支撑架7固定连接，支架34对支撑架7有一定的支撑力，防止支撑架7倾斜，滑动块14的一端固定连接有限位盘29，防止滑动板13 在上下移动时脱离滑动块14，进而影响该触控芯片电性测试装置本体的运行，底座1的底部四角位置均固定连接有滚轮2，方便该触控芯片电性测试装置本体移动，下滑杆16的底部固定连接有限位块27，对滑块26向下移动起到限位作用，防止滑块26从滑块槽24中脱落。

工作原理：首先将芯片6放置在放置台5上，启动驱动电机30 驱动第二链轮31转动，进而带动两个第一链轮22转动，两个转盘 20固定在两个第一链轮22上，所以两个转盘20随之转动，从而带动转盘20上的移动板17、推动杆18和转动支杆19做往复运动，可以推动滑板4上的放置台5和芯片6移动到测试区测试针28的下方，启动转动电机32带动第一齿轮8转动，第一齿轮8和第二齿轮9啮合，第二齿轮9随之转动，由于滑动块14固定在第二齿轮9上，所以上滑杆12、滑动板13和下滑杆16在滑动块14作用下开始做上下往复运动，测试针28也随之上下移动对芯片6进行测试，测试完成后推动杆18不断推动放置台5和芯片6到测试针28下方进行下一轮测试。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (6)

1.一种触控芯片电性测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定连接有工作台(3)，所述工作台(3)的顶部固定连接有滑板(4)，所述滑板(4)的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台(5)，多个所述放置台(5)的顶部放置有芯片(6)，所述工作台(3)上设有转动槽(33)，所述转动槽(33)的内壁一侧固定连接有驱动电机(30)，所述驱动电机(30)的输出轴固定连接有第二链轮(31)，所述转动槽(33)的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴(23)，两个所述转动轴(23)的一端均固定连接有第一链轮(22)，两个所述第一链轮(22)和第二链轮(31)外侧套设有同一个链条(21)，两个所述第一链轮(22)的一侧均固定连接有转盘(20)，两个所述转盘(20)的一侧均转动连接有转动支杆(19)，两个所述转动支杆(19)的顶端固定连接有同一个移动板(17)，所述移动板(17)的顶部固定连接有等距排布的多个推动杆(18)，所述底座(1)的顶部固定连接有支撑架(7)，所述支撑架(7)的一侧固定连接有转动电机(32)，所述转动电机(32)的输出轴贯穿支撑架(7)并固定连接有第一齿轮(8)，所述支撑架(7)的一侧转动连接有第二齿轮(9)，且第二齿轮(9)和第一齿轮(8)相啮和，所述第二齿轮(9)偏离圆心的一侧固定连接有滑动块(14)，所述第二齿轮(9)的一侧滑动连接有滑动板(13)，所述滑动板(13)上设有滑动槽(15)，且滑动块(14)的一端延伸至滑动槽(15)并与滑动槽(15)滑动连接，所述支撑架(7)的一侧固定连接有上滑套(10)，所述支撑架(7) 的一侧固定连接有下滑套(11)，所述滑动板(13)的顶部和底部分别固定连接有上滑杆(12)和下滑杆(16)，上滑杆(12)和下滑杆(16)分别贯穿上滑套(10)和下滑套(11)并与上滑套(10)和下滑套(11)滑动连接，所述下滑杆(16)的底部固定连接有测试针(28)。

2.根据权利要求1所述的一种触控芯片电性测试装置，其特征在于：所述下滑杆(16)的底部设有滑块槽(24)，所述滑块槽(24)的内壁顶部固定连接有弹簧(25)，所述弹簧(25)的底部固定连接有滑块(26)，且滑块(26)与滑块槽(24)滑动连接，所述滑块(26)的底部和测试针(28)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种触控芯片电性测试装置，其特征在于：所述工作台(3)的顶部一侧固定连接有支架(34)，支架(34)的顶部和支撑架(7)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种触控芯片电性测试装置，其特征在于：所述滑动块(14)的一端固定连接有限位盘(29)。

5.根据权利要求1所述的一种触控芯片电性测试装置，其特征在于：所述底座(1)的底部四角位置均固定连接有滚轮(2)。

6.根据权利要求2所述的一种触控芯片电性测试装置，其特征在于：所述下滑杆(16)的底部固定连接有限位块(27)。

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