CN213181905U - 一种集成电路测试探针及相应的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试探针及相应的测试装置，包含测试箱、压合组件及探针组件，所述测试箱的上表面一侧设有压合组件，且测试箱中等距地固定安装有探针组件，所述测试箱的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件，本实用新型针对夹持位置的调整方式作出了改进，利用卡条的卡接控制齿条的逐齿滑动和有效防松动，在保证调节精度的同时，在调节完成后不容易松动，避免了采用电气驱动结构带来的装置复杂，体积庞大，成本较高的一系列不适用的问题，另外转移组件中导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，避免经过第二弹簧，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。

Description

一种集成电路测试探针及相应的测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，具体为一种集成电路测试探针及相应的测试装置。

背景技术

集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。

现有的集成电路测试往往是通过特定的探针来进行的，探针的一侧与集成电路的引脚进行对接，另一侧与检测终端相连接，在进行检测时，需要对装有集成电路的PCB板先进行夹持，再压合使其与探针接触，而PCB板的大小不一，所以夹持作用需要一定的调节结构，但现有的机械式调节结构很难保证调节精度，同时在调节完成后不容易松动，采用电气驱动结构虽然可以很好地完成上述要求，但是电气驱动要求的装置复杂，体积庞大，成本较高，不是十分适用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种通过自动止停结构来使得装置的夹持组件在位置调整后具有难以松动的特性，并且调节的距离具有均衡的尺度，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试探针，包含外筒、内筒、卡槽、转移组件、触头、隔离柱、第二弹簧及卡头，所述外筒中滑动插接有内筒，且内筒的外壁上开设有卡槽，所述外筒与内筒间设有转移组件，且转移组件远离内筒的一侧设有触头，所述转移组件远离触头的一侧设有隔离柱，所述内筒中设有第二弹簧，所述第二弹簧一端与隔离柱固定连接，且第二弹簧另一端插接在卡头中，所述卡头与卡槽相配合，在进行测试时，触头与集成电路的引脚相接触，在受到压合作用时，在第二弹簧的作用下，转移组件、触头及隔离柱会相对内筒筒壁进行滑动，卡头与卡槽的配合为滑动作用提供限位。

优选的，所述转移组件包括导通环、传输线、固定块及电容，所述隔离柱远离第二弹簧的一侧固定安装有导通环，且导通环中固定插接有触头，所述导通环的外壁上对称地固定连接有传输线，所述固定块对称地固定安装在隔离柱的外壁上，且传输线与固定块穿插连接，所述固定块远离导通环的一侧设有电容，且电容固定穿插在传输线上，在原有的探针结构中，触头与第二弹簧直接相连接，由于第二弹簧具有导电性，且呈螺旋状，导致整个探针组件的自感较大，因此导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，通过固定块的限位作用，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。

优选的，所述测试箱、压合组件及探针组件，所述测试箱的上表面一侧设有压合组件，且测试箱中等距地固定安装有探针组件，所述测试箱的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件。

优选的，所述压合组件包括限位框、电动推杆、顶盖及压板，所述测试箱上表面探针组件的外侧固定安装有限位框，且测试箱四角处均固定安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端与顶盖的下表面固定连接，所述顶盖的下表面上固定安装有压板，在进行测试时先将集成电路的引脚部位与限位框中探针组件的位置对齐，然后使用夹持组件对集成电路的安装部位进行夹持，再通过电动推杆的收缩使顶盖下移，压板对集成电路进行挤压，使得集成电路的引脚部位与探针组件的感应端挤压接触并通电即可。

优选的，所述夹持组件包括基座、挡板、滑槽、齿条、夹头、半齿轮、扳手、卡条及第一弹簧，所述测试箱的一侧对称地固定安装有基座，且基座远离测试箱的一侧固定安装有挡板，所述基座上表面开设有滑槽，且滑槽中滑动连接有齿条，所述齿条远离挡板的一端固定安装有夹头，所述基座靠近齿条的一侧转动连接有半齿轮，且半齿轮的上表面固定连接有扳手，所述半齿轮一侧与齿条啮合，所述基座远离半齿轮的一侧转动连接有卡条，所述卡条远离的挡板一侧与齿条啮合，且卡条的另一侧通过第一弹簧与挡板弹性连接，在夹持时，首先将装有集成电路的PCB板插接在一侧的夹头中，然后摆动另一侧的扳手，使得半齿轮逐齿转动，齿条逐齿滑动伸长，直至将PCB板稳定插接即可，另外齿条远离半齿轮一侧的卡条在第一弹簧的弹力作用下，会不断对卡条形成卡接，这样，当齿条停止滑动时，卡条的卡接作用会有效地防止齿条的松动。

优选的，所述滑槽的底部槽面上固定安装有弹性橡胶垫，且橡胶垫与齿条下表面挤压接触，为压合组件的压合作用提供一定的配合。

优选的，所述夹头远离齿条的一端内侧对称地固定安装有海绵块，既可以绝缘又可以在测试时保护集成电路的安装部位免受损伤。

优选的，所述基座与测试箱的外壁间固定安装有加强筋，提高夹持组件的结构强度，保证精确的调节效果。

优选的，所述扳手远离半齿轮一侧的外壁上均匀分布有网状斜纹，增加扳手与人手接触面的摩擦力，更加方便人手的反复提拉。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型在分析现有的集成电路相关的测试步骤后，针对夹持位置的调整方式作出了改进，利用卡条的卡接控制齿条的逐齿滑动和有效防松动，在保证调节精度的同时，在调节完成后不容易松动，避免了采用电气驱动结构带来的装置复杂，体积庞大，成本较高的一系列不适用的问题，另外转移组件中导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，避免经过第二弹簧，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型夹持组件第一结构示意图；

图3为本实用新型夹持组件第二结构示意图；

图4为图1中A处结构放大示意图。

图中：1、测试箱；2、压合组件；21、限位框；22、电动推杆；23、顶盖；24、压板；3、夹持组件；31、基座；32、挡板；33、滑槽；34、齿条；35、夹头；36、半齿轮；37、扳手；38、卡条；39、第一弹簧；4、探针组件；41、外筒；42、内筒；43、卡槽；44、转移组件；441、导通环；442、传输线；443、固定块；444、电容；45、触头；46、隔离柱；47、第二弹簧；48、卡头。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，图示中的一种集成电路测试探针及相应的测试装置，包含测试箱1、压合组件2及探针组件4，所述测试箱1的上表面一侧设有压合组件2，且测试箱1中等距地固定安装有探针组件4，所述测试箱1的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件3。

请参阅图1，所述压合组件2包括限位框21、电动推杆22、顶盖23及压板24，所述测试箱1上表面探针组件4的外侧固定安装有限位框21，且测试箱1四角处均固定安装有电动推杆22，所述电动推杆22的输出端与顶盖23的下表面固定连接，所述顶盖23的下表面上固定安装有压板24，在进行测试时先将集成电路的引脚部位与限位框21中探针组件4的位置对齐，然后使用夹持组件3对集成电路的安装部位进行夹持，再通过电动推杆22的收缩使顶盖23下移，压板24对集成电路进行挤压，使得集成电路的引脚部位与探针组件4的感应端挤压接触并通电即可。

请参阅图2和图3，所述夹持组件3包括基座31、挡板32、滑槽33、齿条34、夹头35、半齿轮36、扳手37、卡条38及第一弹簧39，所述测试箱1的一侧对称地固定安装有基座31，且基座31远离测试箱1的一侧固定安装有挡板32，所述基座31上表面开设有滑槽33，且滑槽33中滑动连接有齿条34，所述齿条34远离挡板32的一端固定安装有夹头35，所述基座31靠近齿条34的一侧转动连接有半齿轮36，半齿轮36可拆卸的连接在基座31上，可活动取放，且半齿轮36的上表面固定连接有扳手37，所述半齿轮36一侧与齿条34啮合，所述基座31远离半齿轮36的一侧转动连接有卡条38，所述卡条38远离的挡板32一侧与齿条34啮合，且卡条38的另一侧通过第一弹簧39与挡板32弹性连接，在夹持时，首先将装有集成电路的PCB板插接在一侧的夹头35中，然后摆动另一侧的扳手37，使得半齿轮36逐齿转动，齿条34逐齿滑动伸长，直至将PCB板稳定插接即可，另外齿条34远离半齿轮36一侧的卡条38在第一弹簧39的弹力作用下，会不断对卡条38形成卡接，这样，当齿条34停止滑动时，卡条38的卡接作用会有效地防止齿条34的松动。

请参阅图3，所述滑槽33的底部槽面上固定安装有弹性橡胶垫，且橡胶垫与齿条34下表面挤压接触，为压合组件2的压合作用提供一定的配合。

请参阅图2，所述夹头35远离齿条34的一端内侧对称地固定安装有海绵块，既可以绝缘又可以在测试时保护集成电路的安装部位免受损伤。

请参阅图2，所述基座31与测试箱1的外壁间固定安装有加强筋，提高夹持组件3的结构强度，保证精确的调节效果。

请参阅图2，所述扳手37远离半齿轮36一侧的外壁上均匀分布有网状斜纹，增加扳手37与人手接触面的摩擦力，更加方便人手的反复提拉。

请参阅图4，所述探针组件4包括外筒41、内筒42、卡槽43、转移组件44、触头45、隔离柱46、第二弹簧47及卡头48，所述外筒41中滑动插接有内筒42，且内筒42的外壁上开设有卡槽43，所述外筒41与内筒42间设有转移组件44，且转移组件44远离内筒42的一侧设有触头45，所述转移组件44远离触头45的一侧设有隔离柱46，所述内筒42中设有第二弹簧47，所述第二弹簧47一端与隔离柱46固定连接，且第二弹簧47另一端插接在卡头48中，所述卡头48与卡槽43相配合，在进行测试时，触头45与集成电路的引脚相接触，在受到压合作用时，在第二弹簧47的作用下，转移组件44、触头45及隔离柱46会相对内筒42筒壁进行滑动，卡头48与卡槽43的配合为滑动作用提供限位。

请参阅图4，所述转移组件44包括导通环441、传输线442、固定块443及电容444，所述隔离柱46远离第二弹簧47的一侧固定安装有导通环441，且导通环441中固定插接有触头45，所述导通环441的外壁上对称地固定连接有传输线442，所述固定块443对称地固定安装在隔离柱46的外壁上，且传输线442与固定块443穿插连接，所述固定块443远离导通环441的一侧设有电容444，且电容444固定穿插在传输线442上，在原有的探针结构中，触头45与第二弹簧47直接相连接，由于第二弹簧47是具有导电性，且呈螺旋状，导致整个探针组件4的自感较大，因此导通环441的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，通过固定块443的限位作用，实现良好的导通性，提高探针组件4通过高频信号的能力。

本方案中，一种集成电路测试探针及相应的测试装置的使用原理如下；首先将集成电路的引脚部位与限位框21中探针组件4的位置对齐，然后使用夹持组件3对集成电路的安装部位进行夹持，在夹持作用中，首先将装有集成电路的PCB板插接在一侧的夹头35中，然后摆动另一侧的扳手37，使得半齿轮36逐齿转动，齿条34逐齿滑动伸长，直至将PCB板稳定插接即可，另外齿条34远离半齿轮36一侧的卡条38在第一弹簧39的弹力作用下，会不断对卡条38形成卡接，这样，当齿条34停止滑动时，卡条38的卡接作用会有效地防止齿条34的松动，再通过电动推杆22的收缩使顶盖23下移，压板24对集成电路进行挤压，使得集成电路的引脚部位与探针组件4的感应端挤压接触并通电即可，探针组件4中，在第二弹簧47的作用下，转移组件44、触头45及隔离柱46会相对内筒42筒壁进行滑动，卡头48与卡槽43的配合为滑动作用提供限位，此处需要特殊说明的是，在原有的探针结构中，触头45与第二弹簧47直接相连接，由于第二弹簧47是具有导电性，且呈螺旋状，导致整个探针组件4的自感较大，难以通过高频信号，因此导通环441的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，通过固定块443的限位作用，实现良好的导通性，提高探针组件4通过高频信号的能力。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包含”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包含一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包含那些要素，而且还包含没有明确列出的其他要素，或者是还包含为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种集成电路测试探针，其特征在于：包含外筒(41)、内筒(42)、卡槽(43)、转移组件(44)、触头(45)、隔离柱(46)、第二弹簧(47)及卡头(48)，所述外筒(41)中滑动插接有内筒(42)，且内筒(42)的外壁上开设有卡槽(43)，所述外筒(41)与内筒(42)间设有转移组件(44)，且转移组件(44)远离内筒(42)的一侧设有触头(45)，所述转移组件(44)远离触头(45)的一侧设有隔离柱(46)，所述内筒(42)中设有第二弹簧(47)，所述第二弹簧(47)一端与隔离柱(46)固定连接，且第二弹簧(47)另一端插接在卡头(48)中，所述卡头(48)与卡槽(43)相配合。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针，其特征在于：所述转移组件(44)包括导通环(441)、传输线(442)、固定块(443)及电容(444)，所述隔离柱(46)远离第二弹簧(47)的一侧固定安装有导通环(441)，且导通环(441)中固定插接有触头(45)，所述导通环(441)的外壁上对称地固定连接有传输线(442)，所述固定块(443)对称地固定安装在隔离柱(46)的外壁上，且传输线(442)与固定块(443)穿插连接，所述固定块(443)远离导通环(441)的一侧设有电容(444)，且电容(444)固定穿插在传输线(442)上。

3.一种使用权利要求1-2中任一所述集成电路测试探针的测试装置，其特征在于：包含测试箱(1)、压合组件(2)及探针组件(4)，所述测试箱(1)的上表面一侧设有压合组件(2)，且测试箱(1)中等距地固定安装有探针组件(4)，所述测试箱(1)的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件(3)。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述压合组件(2)包括限位框(21)、电动推杆(22)、顶盖(23)及压板(24)，所述测试箱(1)上表面探针组件(4)的外侧固定安装有限位框(21)，且测试箱(1)四角处均固定安装有电动推杆(22)，所述电动推杆(22)的输出端与顶盖(23)的下表面固定连接，所述顶盖(23)的下表面上固定安装有压板(24)。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述夹持组件(3)包括基座(31)、挡板(32)、滑槽(33)、齿条(34)、夹头(35)、半齿轮(36)、扳手(37)、卡条(38)及第一弹簧(39)，所述测试箱(1)的一侧对称地固定安装有基座(31)，且基座(31)远离测试箱(1)的一侧固定安装有挡板(32)，所述基座(31)上表面开设有滑槽(33)，且滑槽(33)中滑动连接有齿条(34)，所述齿条(34)远离挡板(32)的一端固定安装有夹头(35)，所述基座(31)靠近齿条(34)的一侧转动连接有半齿轮(36)，且半齿轮(36)的上表面固定连接有扳手(37)，所述半齿轮(36)一侧与齿条(34)啮合，所述基座(31)远离半齿轮(36)的一侧转动连接有卡条(38)，所述卡条(38)远离的挡板(32)一侧与齿条(34)啮合，且卡条(38)的另一侧通过第一弹簧(39)与挡板(32)弹性连接。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述滑槽(33)的底部槽面上固定安装有弹性橡胶垫，且橡胶垫与齿条(34)下表面挤压接触。

7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述夹头(35)远离齿条(34)的一端内侧对称地固定安装有海绵块。

8.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述基座(31)与测试箱(1)的外壁间固定安装有加强筋。

9.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述扳手(37)远离半齿轮(36)一侧的外壁上均匀分布有网状斜纹。

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