CN213091809U - 一种多功能闪存芯片测试架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多功能闪存芯片测试架，包括主测试板和辅助测试板，主测试板的一侧活动连接有辅助测试板；在使用辅助板体时可以将其从放置槽中利用铰接件转出，在不使用或存放测试架时，亦可将辅助板体利用铰接件转入放置槽的内腔中。该测试架在主板体的表面开设有若干第一插槽，第一插槽的内腔中还插接有主测试座，每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，且每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，使得在对闪存芯片进行测试时，可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座和辅助测试座内，且分别接通USB接口和电源接口，同时对多个闪存芯片进行测试，与传统的单闪存芯片测试方法相比，测试效率也更高。

Description

一种多功能闪存芯片测试架

技术领域

本实用新型涉及芯片测试架技术领域，具体为一种多功能闪存芯片测试架。

背景技术

现有技术中缺少对闪存芯片行之有效的测试方法，一般是将闪存芯片和电子设备的其余元器件一起装配完毕后，对整个电子产品进行测试。以固态硬盘为例，它是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘，由控制单元和存储单元组成。由于固态硬盘的元器件较多，因此找出故障元器件需要耗费一定时间，而闪存芯片一般为TSOP、BGA等封装，其引脚较多，因此如果闪存芯片为不良产品，则更换闪存芯片将浪费更多的测试时间。

现有的芯片测试架，大多不能对多个闪存芯片同时进行测试，不够便携且固定效果较差。

针对这些面对的问题和挑战，我们提出了一种多功能闪存芯片测试架，它具有能对多个闪存芯片同时进行测试、便携且固定效果较好等优点。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种多功能闪存芯片测试架，它具有能对多个闪存芯片同时进行测试、便携且固定效果较好等优点，从而解决了传统芯片测试架，大多不能对多个闪存芯片同时进行测试，不够便携且固定效果较差的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多功能闪存芯片测试架，包括主测试板和辅助测试板，主测试板的一侧活动连接有辅助测试板，所述主测试板包括主板体、第一插槽和主开关，主板体的表面开设有若干第一插槽，主板体的表面边沿处设置有若干主开关，且主板体的一侧外壁上分别安装有主USB接口和主电源接口，主板体的内侧外壁边沿处还设置有铰接件，铰接件的另一端活动连接有辅助测试板；

所述辅助测试板包括辅助板体、第二插槽和辅助开关，辅助板体的表面加工有若干第二插槽，辅助板体的表面边沿处设置有若干辅助开关，且辅助板体与主USB接口和主电源接口相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口和辅助电源接口。

进一步地，所述第一插槽的一侧内壁上加工有第一卡槽，第一插槽相对第一卡槽的一侧边沿处安装有第一夹柱，且第一插槽的内腔中还插接有主测试座，每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，主测试座与第一卡槽相对应的一侧外壁上设置有主卡块，且主卡块与第一卡槽相互配合。

进一步地，所述第二插槽的一侧内壁上加工有第二卡槽，第二插槽相对第二卡槽的一侧边沿处安装有第二夹柱，且第二插槽的内腔中还插接有辅助测试座，每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，辅助测试座与第二卡槽相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块，且辅助卡块与第二卡槽相互配合。

进一步地，所述主板体的底面开设有放置槽，辅助板体的内侧通过铰接件活动连接主板体且放置槽与辅助板体相互匹配。

进一步地，所述主板体的底面四角处均设置有固定吸盘，且固定吸盘为一种丁腈橡胶材质制成的构件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本多功能闪存芯片测试架，在主板体的表面开设有若干第一插槽，第一插槽的内腔中还插接有主测试座，每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，且每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，使得在对闪存芯片进行测试时，可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座和辅助测试座内，且分别接通USB接口和电源接口，同时对多个闪存芯片进行测试，与传统的单闪存芯片测试方法相比，测试效率也更高。

2、本多功能闪存芯片测试架，在主板体的底面开设有放置槽，辅助板体的内侧通过铰接件活动连接主板体且放置槽与辅助板体相互匹配，使得在使用辅助板体时可以将其从放置槽中利用铰接件转出，在不使用或存放测试架时，亦可将辅助板体利用铰接件转入放置槽的内腔中，节约了空间便于携带也更加灵活。

3、本多功能闪存芯片测试架，在主板体的底面四角处均设置有固定吸盘，使得在测试闪存芯片的过程中，主板体可以利用固定吸盘吸住接触面，避免发生晃动或倾斜影响测试精确度。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的主测试板和辅助测试板连接结构示意图；

图3为本实用新型的A处放大结构示意图；

图4为本实用新型的主测试板和辅助测试板背面结构示意图。

图中：1、主测试板；11、主板体；111、主USB接口；112、主电源接口；113、铰接件；114、放置槽；115、固定吸盘；12、第一插槽；121、第一卡槽；122、第一夹柱；123、主测试座；1231、主卡块；13、主开关；2、辅助测试板；21、辅助板体；211、辅助USB接口；212、辅助电源接口；22、第二插槽；221、第二卡槽；222、第二夹柱；223、辅助测试座；2231、辅助卡块；23、辅助开关。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1、图2和图4，一种多功能闪存芯片测试架，包括主测试板1和辅助测试板2，主测试板1的一侧活动连接有辅助测试板2，主测试板1包括主板体11、第一插槽12和主开关13，主板体11的表面开设有若干第一插槽12，主板体11的表面边沿处设置有若干主开关13，且主板体11的一侧外壁上分别安装有主USB接口111和主电源接口112，主板体11的内侧外壁边沿处还设置有铰接件113，铰接件113的另一端活动连接有辅助测试板2；第一插槽12的一侧内壁上加工有第一卡槽121，第一插槽12相对第一卡槽121的一侧边沿处安装有第一夹柱122，且第一插槽12的内腔中还插接有主测试座123，每个主测试座123的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，主测试座123与第一卡槽121相对应的一侧外壁上设置有主卡块1231，且主卡块1231与第一卡槽121相互配合；主板体11的底面开设有放置槽114，辅助板体21的内侧通过铰接件113活动连接主板体11且放置槽114与辅助板体21相互匹配；主板体11的底面四角处均设置有固定吸盘115，且固定吸盘115为一种丁腈橡胶材质制成的构件。

请参阅图1-3，一种多功能闪存芯片测试架，辅助测试板2包括辅助板体21、第二插槽22和辅助开关23，辅助板体21的表面加工有若干第二插槽22，辅助板体21的表面边沿处设置有若干辅助开关23，且辅助板体21与主USB接口111和主电源接口112相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口211和辅助电源接口212；第二插槽22的一侧内壁上加工有第二卡槽221，第二插槽22相对第二卡槽221的一侧边沿处安装有第二夹柱222，且第二插槽22的内腔中还插接有辅助测试座223，每个辅助测试座223的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，辅助测试座223与第二卡槽221相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块2231，且辅助卡块2231与第二卡槽221相互配合。

综上所述：本多功能闪存芯片测试架，主板体11的表面开设有若干第一插槽12，第一插槽12的内腔中还插接有主测试座123，每个主测试座123的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，且每个辅助测试座223的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，使得在对闪存芯片进行测试时，可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座123和辅助测试座223内，且分别接通USB接口和电源接口，同时对多个闪存芯片进行测试，与传统的单闪存芯片测试方法相比，测试效率也更高，主板体11的表面边沿处设置有若干主开关13，且主板体11的一侧外壁上分别安装有主USB接口111和主电源接口112，主板体11的内侧外壁边沿处还设置有铰接件113，铰接件113的另一端活动连接有辅助测试板2，在主板体11的底面开设有放置槽114，辅助板体21的内侧通过铰接件113活动连接主板体11且放置槽114与辅助板体21相互匹配，使得在使用辅助板体21时可以将其从放置槽114中利用铰接件113转出，在不使用或存放测试架时，亦可将辅助板体21利用铰接件113转入放置槽114的内腔中，节约了空间便于携带也更加灵活，在主板体11的底面四角处均设置有固定吸盘115，使得在测试闪存芯片的过程中，主板体11可以利用固定吸盘115吸住接触面，避免发生晃动或倾斜影响测试精确度，辅助板体21的表面加工有若干第二插槽22，辅助板体21的表面边沿处设置有若干辅助开关23，且辅助板体21与主USB接口111和主电源接口112相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口211和辅助电源接口212。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种多功能闪存芯片测试架，包括主测试板(1)和辅助测试板(2)，主测试板(1)的一侧活动连接有辅助测试板(2)，其特征在于：所述主测试板(1)包括主板体(11)、第一插槽(12)和主开关(13)，主板体(11)的表面开设有若干第一插槽(12)，主板体(11)的表面边沿处设置有若干主开关(13)，且主板体(11)的一侧外壁上分别安装有主USB接口(111)和主电源接口(112)，主板体(11)的内侧外壁边沿处还设置有铰接件(113)，铰接件(113)的另一端活动连接有辅助测试板(2)；

所述辅助测试板(2)包括辅助板体(21)、第二插槽(22)和辅助开关(23)，辅助板体(21)的表面加工有若干第二插槽(22)，辅助板体(21)的表面边沿处设置有若干辅助开关(23)，且辅助板体(21)与主USB接口(111)和主电源接口(112)相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口(211)和辅助电源接口(212)。

2.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架，其特征在于：所述第一插槽(12)的一侧内壁上加工有第一卡槽(121)，第一插槽(12)相对第一卡槽(121)的一侧边沿处安装有第一夹柱(122)，且第一插槽(12)的内腔中还插接有主测试座(123)，每个主测试座(123)的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，主测试座(123)与第一卡槽(121)相对应的一侧外壁上设置有主卡块(1231)，且主卡块(1231)与第一卡槽(121)相互配合。

3.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架，其特征在于：所述第二插槽(22)的一侧内壁上加工有第二卡槽(221)，第二插槽(22)相对第二卡槽(221)的一侧边沿处安装有第二夹柱(222)，且第二插槽(22)的内腔中还插接有辅助测试座(223)，每个辅助测试座(223)的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，辅助测试座(223)与第二卡槽(221)相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块(2231)，且辅助卡块(2231)与第二卡槽(221)相互配合。

4.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架，其特征在于：所述主板体(11)的底面开设有放置槽(114)，辅助板体(21)的内侧通过铰接件(113)活动连接主板体(11)且放置槽(114)与辅助板体(21)相互匹配。

5.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架，其特征在于：所述主板体(11)的底面四角处均设置有固定吸盘(115)，且固定吸盘(115)为一种丁腈橡胶材质制成的构件。

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