CN213041993U - 一种磁环高度和尺寸综合测量设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种磁环高度和尺寸综合测量设备，涉及测量设备设计技术领域，本实用新型包括综合测量设备框架、激光测距仪、视觉测量仪、待测平台以及总控机箱，综合测量设备框架包括激光测距仪固定架以及相机高度调节架，激光测距仪包括滑动电机，激光测距仪固定架一表面设有滑槽，滑动电机一端与滑槽滑动配合，视觉测量仪包括相机固定架，相机固定架一表面与相机高度调节架通过螺纹螺孔连接，综合测量设备框架下表面设有定位孔，待测平台一表面与定位孔旋转配合，待测平台包括传动履带，传动履带一表面与旋转轴滑动配合，本实用新型中，无损测量保证产品生产质量，本发明有效的融合两者的功能，将2台设备综合成一台。

Description

一种磁环高度和尺寸综合测量设备

技术领域

本实用新型涉及展示平台设计技术领域，特别涉及一种磁环高度和尺寸综合测量设备。

背景技术

传统的测量一般是人工用游标卡尺或千分尺进行测量，这种方法有几个问题：一、需要人工，费时费力，效率低下，人工效率完全满足不了需求；二、接触式测量，会对产品表面产生压痕或划伤，例如对手机屏幕、太阳能极片等易划易碎品不适合测量；三、测量精度有限，受测量工具及人为操作的影响，精度仅能达到0.01mm左右，对于高要求产品无法满足需求。

目前市场上虽然也有很多非接触式激光或者视觉测量设备，但是由于这些设备只是单方面测量产品的高度尺寸或者平面尺寸，没有办法满足同时测量的需求，对于既需要测量产品高度有需要测量产品平面尺寸的磁环来说，必须要同时购买激光测量和视觉测量才能满足要求，这样大大加大了产品生产成本，而且测量时只能单独重复测量，也加大了人工和时间成本，为了解决此问题，我们就此研发了一种能同时满足不同测量需求的设备，即一种磁环高度和尺寸综合测量设备。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种磁环高度和尺寸综合测量设备，融合了激光测量和视觉测量非接触式的特点两者结合后测量的高效方便易、产品只需放置一次即可同时测量高度尺寸和平面尺寸、激光视觉同时工作、模组和转盘的完美配合、结合软件对数据的处理、电脑端输出最终判断结果，可以有效解决传统测量设备难以实现的自动化、全方位的查看，且节约电源等问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种磁环高度和尺寸综合测量设备，包括综合测量设备框架、激光测距仪、视觉测量仪、待测平台以及总控机箱，所述综合测量设备框架包括激光测距仪固定架以及相机高度调节架，所述激光测距仪包括滑动电机，所述激光测距仪固定架一表面设有滑槽，所述滑动电机一端与滑槽滑动配合，所述视觉测量仪包括相机固定架，所述相机固定架一表面与相机高度调节架通过螺纹螺孔连接，所述综合测量设备框架下表面设有定位孔，所述待测平台一表面与定位孔旋转配合，所述待测平台包括传动履带，所述总控机箱包括旋转轴，所述传动履带一表面与旋转轴滑动配合。

优选地，所述综合测量设备框架还包括承载板，所述视觉测量仪安装于承载板上表面，所述承载板上表面设有定位槽，所述激光测距仪固定架一端与定位槽连接，通过增加承载板，使得装置具有优良的稳定性。

优选地，所述激光测距仪还包括激光测距仪本体、指示亮灯、激光头以及PLC线缆，所述指示亮灯安装于激光测距仪本体一表面，所述激光测距仪本体一表面与滑动电机通过螺纹螺孔连接，所述PLC线缆一端与激光测距仪本体连接，所述PLC线缆另一端与指示亮灯焊接，通过激光测距仪，使得装置可以通过激光进行测距，提高装置的精确度。

优选地，所述视觉测量仪包括视觉测量仪相机以及相机固定架，所述视觉测量仪相机安装于相机固定架一表面，通过增加视觉测量仪，使得装置具有优良的视觉测量功能。

优选地，所述待测平台还包括待测平台本体以及旋转平台，若干所述待测平台本体均安装于旋转平台上表面，所述传动履带与旋转平台一表面滑动配合，通过增加待测平台，使得装置可以快速旋转进行测量。

优选地，所述总控机箱还包括总控机箱本体以及集成电路板，所述旋转轴焊接于总控机箱本体一表面，所述集成电路板安装于总控机箱内部一表面，通过增加总控机箱，使得装置具有优良的控制效果。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，测量效率高，可实现自动化测量，省时省力；非接触式，无损测量保证产品生产质量；测量精度高，可达0.001mm甚至更高，保证了产品出厂质量。

本实用新型中，相对于单一的激光或者视觉测量，本发明有效的融合两者的功能，将2台设备综合成一台，大大减少了成本，一个人，一个动作即可同时测量，无论是能耗、工序和使用上都是测量史上一次大大的进步。

附图说明

图1为本实用新型一种磁环高度和尺寸综合测量设备的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种磁环高度和尺寸综合测量设备的左视结构示意图；

图3为本实用新型一种磁环高度和尺寸综合测量设备的右视结构示意图；

图4为本实用新型一种磁环高度和尺寸综合测量设备的上视结构示意图。

图中：1、测量设备框架；101、承载板；102、激光测距仪固定架；103、相机高度调节架；2、激光测距仪；201、指示亮灯；202、激光头；203、PLC线缆；204、滑动电机；3、视觉测量仪；301、视觉测量仪相机；302、相机固定架；4、待测平台；401、旋转平台；402、传动履带；5、总控机箱；501、集成电路板；502、旋转轴。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例一：

请参照图1—4所示，本实用新型为一种磁环高度和尺寸综合测量设备包括综合测量设备框架1、激光测距仪2、视觉测量仪3、待测平台4以及总控机箱5，综合测量设备框架1包括激光测距仪固定架102以及相机高度调节架103，激光测距仪2包括滑动电机204，激光测距仪固定架102一表面设有滑槽，滑动电机204一端与滑槽滑动配合，视觉测量仪3包括相机固定架302，相机固定架302一表面与相机高度调节架103通过螺纹螺孔连接，综合测量设备框架1下表面设有定位孔，待测平台4一表面与定位孔旋转配合，待测平台4包括传动履带402，总控机箱5包括旋转轴502，传动履带402一表面与旋转轴502滑动配合。

进一步地，综合测量设备框架1还包括承载板101，视觉测量仪(3)安装于承载板101上表面，承载板101上表面设有定位槽，激光测距仪固定架102一端与定位槽连接，通过增加承载板101，使得装置具有优良的稳定性。

进一步地，激光测距仪2还包括激光测距仪本体、指示亮灯201、激光头202以及PLC线缆203，指示亮灯201安装于激光测距仪本体一表面，激光测距仪本体一表面与滑动电机204通过螺纹螺孔连接，PLC线缆203一端与激光测距仪本体连接，PLC线缆203另一端与指示亮灯201焊接，通过激光测距仪2，使得装置可以通过激光进行测距，提高装置的精确度。

进一步地，视觉测量仪3包括视觉测量仪相机301以及相机固定架302，视觉测量仪相机301安装于相机固定架302一表面，通过增加视觉测量仪3，使得装置具有优良的视觉测量功能。

进一步地，待测平台4还包括待测平台本体以及旋转平台401，若干待测平台本体均安装于旋转平台401上表面，传动履带402与旋转平台401一表面滑动配合，通过增加待测平台4，使得装置可以快速旋转进行测量。

进一步地，总控机箱5还包括总控机箱本体以及集成电路板501，旋转轴502焊接于总控机箱本体一表面，集成电路板501安装于总控机箱5内部一表面，通过增加总控机箱5，使得装置具有优良的控制效果。

实施例二：

请参照图1-4所示，本实用新型为一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其工作原理为：连接好激光头202、PLC线缆203，并给总控机箱5上电，先调整激光的和相机高度，使激光头202上的指示亮灯201亮绿灯，视觉测量仪相机301能拍摄到产品完整清晰图片，打开软件，按下设备上的归零按钮，激光头202回到零位，系统自动获取激当前坐标，通过电机或鼠标点击软件上的上下左右按钮控制激光移动，当激光移动到待测点时，再获取当前位置，系统标定好此时的坐标，定位好后，再进行软件其他设置，手工上料到待测平台4上，按下检测按钮，旋转平台401会旋转90度，激光头202也会移动到产品待测去，瞬间扫描产品后，系统根据扫描结果分析磁环高度，激光头202移到零位，同时旋转平台401继续旋转90度到视觉检测区域，此时相机快速拍下产品清晰照片，系统对照片进行分析得出产品所要测量的平面尺寸，最后系统综合分析激光和视觉所测得的数据最终判断出产品是否合格,其中滑动电机204型号为YSZ80-4-0.8kw，集成电路板501型号为PCB。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.一种磁环高度和尺寸综合测量设备，包括综合测量设备框架(1)、激光测距仪(2)、视觉测量仪(3)、待测平台(4)以及总控机箱(5)，其特征在于：所述综合测量设备框架(1)包括激光测距仪固定架(102)以及相机高度调节架(103)，所述激光测距仪(2)包括滑动电机(204)，所述激光测距仪固定架(102)一表面设有滑槽，所述滑动电机(204)一端与滑槽滑动配合，所述视觉测量仪(3)包括相机固定架(302)，所述相机固定架(302)一表面与相机高度调节架(103)通过螺纹螺孔连接，所述综合测量设备框架(1)下表面设有定位孔，所述待测平台(4)一表面与定位孔旋转配合，所述待测平台(4)包括传动履带(402)，所述总控机箱(5)包括旋转轴(502)，所述传动履带(402)一表面与旋转轴(502)滑动配合。

2.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述综合测量设备框架(1)还包括承载板(101)，所述视觉测量仪(3)安装于承载板(101)上表面，所述承载板(101)上表面设有定位槽，所述激光测距仪固定架(102)一端与定位槽连接。

3.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述激光测距仪(2)还包括激光测距仪本体、指示亮灯(201)、激光头(202)以及PLC线缆(203)，所述指示亮灯(201)安装于激光测距仪本体一表面，所述激光测距仪本体一表面与滑动电机(204)通过螺纹螺孔连接，所述PLC线缆(203)一端与激光测距仪本体连接，所述PLC线缆(203)另一端与指示亮灯(201)焊接。

4.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述视觉测量仪(3)包括视觉测量仪相机(301)以及相机固定架(302)，所述视觉测量仪相机(301)安装于相机固定架(302)一表面。

5.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述待测平台(4)还包括待测平台本体以及旋转平台(401)，若干所述待测平台本体均安装于旋转平台(401)上表面，所述传动履带(402)与旋转平台(401)一表面滑动配合。

6.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述总控机箱(5)包括总控机箱本体以及集成电路板(501)，所述旋转轴(502)焊接于总控机箱本体一表面，所述集成电路板(501)安装于总控机箱(5)内部一表面。

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